一种镜检识别方法及装置的制造方法_5

文档序号:9348472阅读:来源:国知局
介质中。
[0194]最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
[0195]以上对本发明所提供的方案进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【主权项】
1.一种镜检识别方法,应用于具有低倍物镜和高倍物镜的镜检识别装置中,其特征在于,包括: 采用所述低倍物镜对待检测样本进行低倍放大,采集低倍放大后的第一组样本图像;所述待检测样本中包括至少一个待检测目标; 根据预设条件从所述第一组样本图像中查找所述至少一个待检测目标,并确定查找到的待检测目标所在的目标位置; 采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大,采集高倍放大后的第二组样本图像,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于, 在所述根据预设条件从所述第一组样本图像中查找所述至少一个待检测目标,并确定查找到的待检测目标所在的目标位置之后,还包括: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 根据查找到的待检测目标的形态学特征参数确定与查找到的待检测目标相对应的高倍放大倍数; 贝1J,所述采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大,包括: 根据与查找到的待检测目标相对应的高倍放大倍数,采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于, 在所述根据预设条件从所述第一组样本图像中查找所述至少一个待检测目标,并确定查找到的待检测目标所在的目标位置之后,还包括: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 判断查找到的待检测目标的形态学特征参数是否在预设阈值范围内,将形态学特征参数位于预设阈值范围内的待检测目标确定为第一待检测目标; 计算从所述第一组样本图像中查找到的第一待检测目标的第一目标数量,并根据所述第一目标数量确定需要采集的所述第二组样本图像的图像数量; 贝ij,所述采集高倍放大后的第二组样本图像,包括: 按照根据所述第一目标数量确定的需要采集的所述第二组样本图像的图像数量,采集高倍放大后的第二组样本图像。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于, 在所述根据预设条件从所述第一组样本图像中查找所述至少一个待检测目标,并确定查找到的待检测目标所在的目标位置之后,还包括: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 判断查找到的待检测目标的形态学特征参数是否在预设阈值范围内,将形态学特征参数位于预设阈值范围内的待检测目标确定为第一待检测目标; 贝1J,在所述识别所述第二组样本图像中的待检测目标之后,还包括: 确定从所述第二组样本图像中识别出的第一待检测目标的目标类型,并计算每个目标类型中的目标数量,根据各个目标类型中的目标数量的比例确定是否需要增加所述第二组样本图像的图像数量,并在需要增加所述第二组样本图像的图像数量时,继续采集高倍放大后的第二组样本图像,直到所述第二组样本图像的图像数量达到第一预设数量,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于, 在所述根据预设条件从所述第一组样本图像中查找所述至少一个待检测目标,并确定查找到的待检测目标所在的目标位置之后,还包括: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 判断查找到的待检测目标的形态学特征参数是否在预设阈值范围内,将形态学特征参数位于预设阈值范围内的待检测目标确定为第一待检测目标; 计算从所述第一组样本图像中查找到的第一待检测目标的第一目标数量; 且,在所述识别所述第二组样本图像中的待检测目标之后,还包括: 计算从所述第二组样本图像中识别的第一待检测目标的第二目标数量,并计算所述第一目标数量与所述第二目标数量的比值,作为第一比值; 获取所述采用所述低倍物镜对待检测样本进行低倍放大的低倍放大倍数,并获取所述采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大的高倍放大倍数,计算所述高倍放大倍数与所述低倍放大倍数的比值,作为第二比值; 判断所述第一比值是否大于所述第二比值的平方与预设阈值的和,如果大于,继续采集高倍放大后的第二组样本图像,直到所述第二组样本图像的图像数量达到第二预设数量,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标。6.一种镜检识别装置,其特征在于,包括: 采集模块,用于采用所述低倍物镜对待检测样本进行低倍放大,采集低倍放大后的第一组样本图像;所述待检测样本中包括至少一个待检测目标; 确定模块,用于根据预设条件从所述第一组样本图像中查找所述至少一个待检测目标,并确定查找到的待检测目标所在的目标位置; 识别模块,用于采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大,采集高倍放大后的第二组样本图像,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标。7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于, 所述确定模块,还用于: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 根据查找到的待检测目标的形态学特征参数确定与查找到的待检测目标相对应的高倍放大倍数; 贝1J,所述用于采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大的识别模块,用于根据与查找到的待检测目标相对应的高倍放大倍数,采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大。8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于, 所述确定模块,还用于: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 判断查找到的待检测目标的形态学特征参数是否在预设阈值范围内,将形态学特征参数位于预设阈值范围内的待检测目标确定为第一待检测目标; 计算从所述第一组样本图像中查找到的第一待检测目标的第一目标数量,并根据所述第一目标数量确定需要采集的所述第二组样本图像的图像数量; 贝1J,所述用于采集高倍放大后的第二组样本图像的识别模块,用于按照根据所述第一目标数量确定的需要采集的所述第二组样本图像的图像数量,采集高倍放大后的第二组样本图像。9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于, 所述确定模块,还用于: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 判断查找到的待检测目标的形态学特征参数是否在预设阈值范围内,将形态学特征参数位于预设阈值范围内的待检测目标确定为第一待检测目标; 贝1J,所述识别模块,在所述识别所述第二组样本图像中的待检测目标之后,还用于:确定从所述第二组样本图像中识别出的第一待检测目标的目标类型,并计算每个目标类型中的目标数量,根据各个目标类型中的目标数量的比例确定是否增加所述第二组样本图像的图像数量,并在需要增加所述第二组样本图像的图像数量时,继续采集高倍放大后的第二组样本图像,直到所述第二组样本图像的图像数量达到第一预设数量,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标。10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于, 所述确定模块,还用于: 确定查找到的待检测目标的目标信息,所述目标信息包括待检测目标的形态学特征参数; 判断查找到的待检测目标的形态学特征参数是否在预设阈值范围内,将形态学特征参数位于预设阈值范围内的待检测目标确定为第一待检测目标; 计算从所述第一组样本图像中查找到的第一待检测目标的第一目标数量; 且,所述识别模块,在所述识别所述第二组样本图像中的待检测目标之后,还用于:计算从所述第二组样本图像中识别的第一待检测目标的第二目标数量,并计算所述第一目标数量与所述第二目标数量的比值,作为第一比值; 获取所述采用所述低倍物镜对待检测样本进行低倍放大的低倍放大倍数,并获取所述采用所述高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大的高倍放大倍数,计算所述高倍放大倍数与所述低倍放大倍数的比值,作为第二比值; 判断所述第一比值是否大于所述第二比值的平方与预设阈值的和,如果大于,继续采集高倍放大后的第二组样本图像,直到所述第二组样本图像的图像数量达到第二预设数量,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标。
【专利摘要】本申请公开了一种镜检识别方法,通过低倍物镜对待检测样本进行低倍放大,根据预设条件从低倍放大后的第一组样本图像中查找待检测目标,并确定查找到的待检测目标所在的目标位置,然后采用高倍物镜对查找到的待检测目标所在的目标位置进行高倍放大,采集高倍放大后的第二组样本图像,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标,即可准确定位从第一组样本图像中查找到的待检测目标,并识别所述第二组样本图像中的待检测目标。使得高倍物镜可以直接准确定位并采集目标图像,能够提高镜检效率,同时能够减少造成目标漏检,提高目标检出率。
【IPC分类】G01N21/01
【公开号】CN105067520
【申请号】CN201510449693
【发明人】丁建文
【申请人】爱威科技股份有限公司
【公开日】2015年11月18日
【申请日】2015年7月28日
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