测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种能够在电子产品主板进行测试时进行精 密对位的测试装置。
【背景技术】
[0002] 电子产品以其方便、高效的优点受到了人们的欢迎，在工业生产和家庭使用中都 能看到电子产品的身影。电子产品在生产过程中需要对各个部分的性能进行测试，以保证 产品合格，其中，主板作为电子产品中最重要的组成部分，其合格与否关系到产品的最终性 能。现阶段对主板的测试主要是将主板上的柔性电路手动插接到测试装置，或者使用探针 连接主板上的电路或柔性电路的连接头，以上测试方式都需要测试人员手动操作，在主板 集成度日益增大的今天，这样的测试方法显然已经不能满足生产的要求。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，有必要提供一种能够提高主板测试效率的测试装置，以解决上述问题。
[0004] 一种测试装置，用于对一主板进行测试，该主板上设有多个连接头，每一连接头上 均设有多个引脚，该测试装置包括底座以及安装于该底座上的测试部，该测试部包括： 活动部，该活动部包括上盖板以及控制该上盖板移动的气缸； 固定部，该固定部包括： 下盖板，该下盖板上设有与所述主板形状和大小相同的凹槽，该凹槽中设有多个贯穿 该下盖板的第一开口； 固定板，该固定板在与所述下盖板具有所述多个第一开口的位置一一对应的设有多个 第二开口； 多个定位件，该多个定位件中每一定位件一端固定于所述固定板的第二开口中，另一 端穿过所述下盖板的第一开口并收纳于所述凹槽中，每一定位件设有多个通孔，每一通孔 中安装有一探针； 所述上盖板在所述气缸的带动下向靠近所述下盖板的方向移动，并驱动所述下盖板向 靠近所述固定板的方向移动，使所述探针一端与所述主板上连接头的引脚接触并电连接。
[0005] 本发明之测试装置，所述主板在被所述上盖板压下时，所述探针即与该主板上连 接头的引脚接触并电连接，免去了人工连接的麻烦，提高了测试精度和生产效率。
【附图说明】
[0006] 图1为本发明一实施方式中的测试装置的立体图。
[0007] 图2为图1中测试部的分解图。
[0008] 图3为图2中第一定位件的立体图。
[0009] 图4为图2中第二定位件的立体图。
[0010] 图5为本发明中使用到的待测主板的立体图。
[0011] 图6为图5中第一连接头的立体图。
[0012] 图7为图5中第二连接头的立体图。
[0013] 图8为图2中测试部与待测主板的组装图。
[0014] 图9为图8中测试部和待测主板沿I-I方向的部分剖视图。
[0015] 主要元件符号说明
如下【具体实施方式】将结合上述附图进一步说明本友明。
【具体实施方式】
[0016] 下面将结合附图，对本发明作进一步的详细说明。
[0017] 请一并参阅图1和图2,本发明提供了一种测试装置100,该测试装置100包括底 座10以及安装于该底座10上的测试部20,该测试部20包括相对设置的活动部21和固定 部22。该活动部21包括固定于测试装置100上的固定件210以及可相对于该固定件210 沿坚直方向移动的上盖板211。在本实施方式中，活动部21 -侧面上设有一气缸2101，上 盖板211上也设有滑竿2110,该滑竿2110插入气缸2101中，进而由该气缸2101控制上盖 板211的移动。
[0018] 固定部22包括下盖板220、固定板221、转接电路板222和支撑座223,该下盖板 220与上盖板211的形状和大小相同，该下盖板220上设有第一凹槽2201，该第一凹槽2201 中开设有多个贯穿该下盖板220的第一开口 2202。
[0019] 固定板221与下盖板220的形状和大小相同，该固定板221在与下盖板220的第一 开口 2202的位置--对应的设有多个第二开口 2210。该固定板221通过多个连接柱226 与下盖板220连接，在本实施方式中，该多个连接柱226中每一连接杆上均套设有一弹簧， 使下盖板220在上盖板211的驱动下可相对于固定板221沿轴向上下移动。
[0020] 转接电路板222固定于支撑座223上，该转接电路板222与测试设备（图未示）电 连接，以实现数据传输。支撑座223上设有第二凹槽2230,该第二凹槽2230的形状和大小 与转接电路板222相同，该转接电路板222通过多个螺钉固定于该第二凹槽2230内。
[0021] 请一并参阅图3和图4,固定部22还包括多个第一定位件224和第二定位件225， 该第一定位件224和第二定位件225的数量总和与下盖板220上第一开口 2202的数量相 同，且每个第一定位件224和每个第二定位件225的一端均固定于固定板221的第二开口 2210内，另一端均穿过下盖板220的第一开口 2202并收纳于第一凹槽2201中。
[0022] 第一定位件224包括第一主体2241以及从该第一主体2241 -端延伸出的第一凸 出部2242,该第一凸出部2242在远离第一主体2241的一端凸设有多个限位柱2243以及多 个贯穿该第一凸出部2242和第一主体2241的第一通孔2244。在本实施方式中，该多个限 位柱2243的数量为两个，分别设置于第一凸出部2242的两端，第一通孔2244设置于该两 个限位柱2243之间。
[0023] 第一定位件224还包括多个探针2245,该多个探针2245的数量与第一通孔2244 的数量相同，且该多个探针2245中每一探针2245均一一对应的安装于第一通孔2244中。 在本实施方式中，每一探针2245包括外壳2246以及安装于该外壳2246两端的由金属材料 制成的第一端部2247和第二端部2248,该第一端部2247和第二端部2248在外壳2246内 通过一金属弹簧（图未示）连接，使该第一端部2247和第二端部2248可在外力的驱动下在 外壳2246内沿轴向移动。
[0024] 第二定位件225包括第二主体2251以及从该第二主体2251 -端延伸出的第二凸 出部2252,该第二凸出部2252在远离第二主体2251的一端凹设有一限位槽2253,该限位 槽2253的底面上设有多个第二通孔2254,每一第二通孔2254中均安装有一探针2245。
[0025] 请一并参阅图5、图6和图7,测试装置100用于对一待测主板30进行测试，该待 测主板30的形状和大小与下盖板220上的第一凹槽2201相配合，该待测主板30上设有多 个第一连接头31和第二连接头32,其中每一第一连接头31和每一第二连接头32均与该待 测主板30电连接。该第一连接头31在一侧面上设有第三凹槽310,该第三凹槽310上凸设 有第三凸出部311。多个第一引脚312设置于该第一连接头31上，每一第一引脚312 -端 与待测主板30电连接，另一端固定于第三凹槽310中。
[0026] 第二连接头32在一侧面上设有第四凹槽320,多个第二引脚321设置于第二连接 头32上，每一第二引脚321 -端与待测主板30电连接，另一端固定于第四凹槽320的内侧 壁上。
[0027] 请一并参阅图8和图9,在对待测主板30进行测试时，先将待测主板30放入下盖 板220的第一凹槽2201中，此时由于下盖板220和固定板221之间连接柱226上的弹簧弹 力作用，该下盖板220和固定板221之间具有一个较大的距离，同时探针2245 -端插接在 转接电路板222上，另一端收纳于下盖板220的第一凹槽2201中。然后由气缸2101控制 上盖板211向下移动，并将下盖板220向下压，下盖板220和待测主板30向靠近固定板221 的方向移动。直到下盖板220抵持在第一定位件224的第一主体2241或第二定位件225 的第二主体2251上。此时探针2245收纳于第一凹槽2201中的一端与第一连接头31上的 第一引脚312或第二连接头32上的第二引脚321接触并电连接，使待测主板30与转接电 路板222进行数据交换，以测试该待测主板30。
[0028] 本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明， 而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围之内，对以上实施方式所作 的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围之内。
【主权项】
1. 一种测试装置，用于对一主板进行测试，该主板上设有多个连接头，每一连接头上均 设有多个引脚，其特征在于，该测试装置包括底座以及安装于该底座上的测试部，该测试部 包括： 活动部，该活动部包括上盖板，该上盖板在一气缸的控制下移动； 固定部，该固定部包括： 下盖板，该下盖板上设有与所述主板形状和大小相同的凹槽，用于承载所述主板于该 凹槽中，该凹槽中设有多个贯穿该下盖板的第一开口； 固定板，该固定板上设有多个第二开口，该多个第二开口的位置与所述下盖板上的多 个第一开口一一对应； 多个定位件，该多个定位件中每一定位件一端固定于所述固定板的第二开口中，另一 端穿过所述下盖板的第一开口并收纳于所述凹槽中，每一定位件设有多个通孔，每一通孔 中安装有一探针； 所述上盖板在所述气缸的带动下向靠近所述下盖板的方向移动，并驱动所述下盖板向 靠近所述固定板的方向移动，使所述探针一端与所述主板上连接头的引脚接触并电连接。2. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述多个定位件包括多个第一定位件 和多个第二定位件，该第一定位件包括第一主体以及从该第一主体上延伸出的第一凸出 部，该第一凸出部上设有两个限位柱，所述多个通孔设于该两个限位柱之间；所述第二定位 件包括第二主体以及从该第二主体延伸出的第二凸出部，该第二凸出部上设有一限位槽， 所述多个通孔设于该限位槽的底面上。3. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述下盖板和固定板之间通过多个连 接柱连接，每个连接柱上套设有一弹簧，使该下盖板能够在所述上盖板的驱动下向靠近所 述固定板的方向移动。4. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述探针包括外壳以及安装于该外壳 两端的两端部，该两端部在所述外壳内通过一金属弹簧连接，使该两端部能够在外力驱动 下在所述外壳内沿轴向移动。5. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述固定部还包括一转接电路板，该转 接电路板固定于所述底座上并与其他测试设备连接，所述主板在测试时，所述探针一端插 接在该转接电路板上，另一端与所述连接头的引脚接触并电连接。
【专利摘要】一种测试装置，用于对一主板进行测试，该主板上设有多个连接头，每一连接头上均设有多个引脚，该测试装置包括底座以及安装于该底座上的测试部，该测试部包括活动部和固定部，该活动部包括上盖板以及控制该上盖板移动的气缸；该固定部包括下盖板、固定板和多个定位件，该下盖板上设有与所述主板形状和大小相同的凹槽，所述定位件一端固定于所述固定板上，另一端穿过所述下盖板并收纳于所述凹槽内，每一定位件上均安装有多个探针，所述上盖板在所述气缸的带动下向靠近所述下盖板的方向移动，并驱动所述下盖板向靠近所述固定板的方向移动，使所述探针一端与所述主板上连接头的引脚接触并电连接。
【IPC分类】G01R1/04, G01R31/00
【公开号】CN105093000
【申请号】CN201410212293
【发明人】刘宇青, 苏柏霖, 杨富吉, 王志军, 陈顺东, 张利权, 杨炜达, 康杰朋
【申请人】鸿富锦精密电子(郑州)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2014年5月19日
【公告号】US20150331037