专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种测试信号完整性的测试装置。
背景技术：
存储桥接舱(Storage Bridge Bay, SBB)工作组是EMC、 Dell、 Intel和LSI Logic联手组建的致力于入门级外置存储标准化的非营利协作组织。该组织通过标准化 存储控制卡的插槽接口，使之适用于多厂商多类型的存储器产品，以节省供货商们在硬件 架构设计上的重复投入。SBB组织定义的存储控制卡插槽接口就是SBBMI (SBB Midplane Interconnect)接口。 SBBMI接口是基于SBB架构的存储器用来连接存储控制卡和存储单元(如硬盘) 的接口，存储控制卡通过SBBMI接口来实现和存储单元的数据交换。为了确保存储器产品 的品质，需对SBBMI接口中传输的SAS、SATA及FC等高频数字信号进行信号完整性测试，以 验证其是否符合SBB规范。 然而，SBB规范定义了 SBBMI接口中信号的测试点，并将测试点分为ITx， ITy及 IRy三类，且定义了三类测试点中各种信号(如SAS、PCIe及FC等)的测量规范，但却并未 给出如何进行信号采集的步骤和方法，业界也没有针对SBBMI接口进行测试的装置，这样 就造成以下弊端如果因没有捕获信号的治具而放弃对SBBMI接口中信号完整性测试，就 无法知道信号在到达SBBMI接口时的情况，从而使存储器产品存在着品质隐患；如果采用 将探棒直接接触SBBMI接口引脚的方式来捕获信号，则会因背板上较长走线引起的信号反 射，而使得测试结果不准确。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种对SBBMI接口中信号的完整性进行测试的测试装置。 —种测试装置，包括一连接一待测设备的连接器及一包括至少一测试单元的测试 电路，所述测试单元包括一第一输入端、一第二输入端、一第一电容、一第二电容、一第一电 阻、一第二电阻、一第一输出端及一第二输出端，所述第一输入端通过所述第一电容及第一 电阻接地，所述第二输入端通过所述第二电容及第二电阻接地，所述第一输出端连接在所 述第一电容与第一电阻之间的节点上，所述第二输出端连接在所述第二电容与第二电阻之 间的节点上，所述第一及第二输入端可通过所述连接器与所述待测设备对应的连接器相 连，用于接收所述待测设备输出的待测信号，所述第一及第二输出端用于输出所述待测信 号。 上述测试装置通过所述连接器与所述待测设备对应的连接器相连以接收所述待 测信号，并利用所述测试单元来隔离直流信号和降低传输线上的信号反射，再通过所述第 一及第二输出端将所述待测信号输出给一电子测试仪器，以对所述待测信号进行测量，提 高了测试的准确度和可靠性。
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述 图1为本发明测试装置第一测试治具的较佳实施方式的示意图。
图2为本发明测试装置第一测试治具的较佳实施方式的电路图。 图3为本发明测试装置第一测试治具的较佳实施方式借助电子测试仪器测试
SBBMI接口中输出信号完整性的示意图。
具体实施例方式
请共同参考图1至图3，本发明测试装置用于测试一存储器的背板200的SBBMI接 口中各个测试点输出信号的完整性，其较佳实施方式包括三个分别用于测试SBBMI接口中 ITx、ITy及IRy类测试点输出信号的测试治具。所述三个测试治具分别与所述ITx、ITy及 IRy类测试点的连接器类型及测试点引脚位置相匹配。其中，所述ITx及ITy类测试点的连 接器210及220均为公头连接器，所述IRy类测试点的连接器230为母头连接器。在本实 施方式中，仅以第一测试治具100为例来进行说明。 所述第一测试治具100用于测试所述SBBMI接口中ITx类测试点输出的待测信 号，其包括一母头连接器110、一测试电路120及六个接头J。所述母头连接器110与所述 公头连接器210相连。所述测试电路120包括六个测试单元123，所述六个测试单元123分 别用于捕获所述ITx类测试点输出的六个待测信号，并通过所述六个接头J将捕获到的六 个待测信号传输给一电子测试仪器(如示波器300)，以通过所述示波器300对所述待测信 号的进行测量。在其他实施方式中，所述测试单元123及接头J的具体数目可根据实际情 况而进行相应调整。 在所述测试电路120中，每一测试单元123均包括两输入端A1、A2，两电容C1、C2， 两电阻R1、R2及两输出端B1、B2。所述输入端Al通过所述电容CI及电阻Rl接地，所述输 入端A2通过所述电容C2及电阻R2接地，所述输出端Bl与所述电容CI及电阻Rl之间的节 点相连，所述输出端B2与所述电容C2及电阻R2之间的节点相连。所述六个测试单元123 的输入端Al、 A2分别与所述母头连接器110的六对引脚G1、H1， H2、 12， G3、H3， H4、 14， G5、 H5及H6、I6相连，用以接收所述公头连接器210输出的六个待测信号。所述六个测试单元 123的输出端B1、B2分别与所述六个接头J相连。所述示波器300可通过所述接头J的两 针脚对所述输出端Bl、 B2输出的信号进行测量。 在本实施方式中，所述电容C1、 C2均为耦合电容，用于隔离直流信号，所述电阻 R1、R2均为终结电阻，用于阻抗匹配以降低传输线上的信号反射。所述第一测试治具100及 所述背板200均为印刷电路板。在其他实施方式中，所述第一及第二输出端Bl、 B2可为测 试治具上的两焊盘，此时，将所述示波器300的两探针直接与焊盘接触，便可对信号进行测 试，故可省去所述接头J。 当运用所述第一测试治具100对所述SBBMI接口中ITx类测试点的信号进行测试 时，先对所述存储器的存储控制卡进行设置以生成测试所需的测试代码(具体设置过程及 生成测试代码的类型，在SBB规范中均有详细说明)，再将所述测试治具100的母头连接器 110与所述背板200的公头连接器210相连，然后将所述示波器300的两探针接触到与一待测信号(如SAS信号)相对应的测试单元相连的接头J的两个针脚上，此时所述示波器 300上显示出所述测试单元输出信号的波形，根据该波形即可判断所述待测信号是否符合 SBB规范，进而确定所述待测信号的完整性。 第二及第三测试治具分别用于测试所述SBBMI接口中ITy、IRy类测试点输出的待 测信号，其结构与所述第一测试治具100类似，区别仅在于连接器的类型、测试单元及接头 的数目不同。所述第二及第三测试治具的测试原理及测试过程也与所述第一测试治具100 的测试原理及测试过程相同，这里不再一一赘述。 上述测试装置通过所述第一测试治具100的母头连接器110、第二测试治具的母 头连接器及第三测试治具的公头连接器分别与所述背板200公头连接器210、220及母头连 接器230相连，用以接收所述SBBMI接口中各个测试点输出的待测信号，并利用所述测试单 元中的耦合电容及终结电阻来隔离直流信号和降低传输线上的信号反射，再通过所述示波 器来对接收到的待测信号进行测量，提高了测试的准确性和可靠性，确保了所测试存储器 产品的品质，且所述测试装置结构简单，成本较低，实用性强。
权利要求
一种测试装置，包括一连接一待测设备的连接器及一包括至少一测试单元的测试电路，所述测试单元包括一第一输入端、一第二输入端、一第一电容、一第二电容、一第一电阻、一第二电阻、一第一输出端及一第二输出端，所述第一输入端通过所述第一电容及第一电阻接地，所述第二输入端通过所述第二电容及第二电阻接地，所述第一输出端连接在所述第一电容与第一电阻之间的节点上，所述第二输出端连接在所述第二电容与第二电阻之间的节点上，所述第一及第二输入端可通过所述连接器与所述待测设备对应的连接器相连，用于接收所述待测设备输出的待测信号，所述第一及第二输出端用于输出所述待测信号。
2. 如权利要求l所述的测试装置，其特征在于所述连接器为一母头连接器，所述母头 连接器与所述待测设备对应的公头连接器相连。
3. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述第一电容及第二电容均为耦合电 容，用于隔离直流信号。
4. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述第一电阻及第二电阻均为终结电 阻，用于阻抗匹配以降低传输线上的信号反射。
5. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述第一及第二输出端可与一电子测 试仪器相连，以通过所述电子测试仪器对所述待测信号进行测量。
全文摘要
一种测试装置，包括一连接一待测设备的连接器及一包括至少一测试单元的测试电路，所述测试单元包括一第一输入端、一第二输入端、一第一电容、一第二电容、一第一电阻、一第二电阻、一第一输出端及一第二输出端。所述第一及第二输入端可通过所述连接器与所述待测设备对应的连接器相连，用于接收所述待测设备输出的待测信号，所述第一及第二输出端可与一电子测试仪器相连，以通过所述电子测试仪器对所述待测信号进行测量。所述测试装置结构简单，成本较低，且实用性强。
文档编号G11C29/56GK101752013SQ20081030596
公开日2010年6月23日 申请日期2008年12月4日 优先权日2008年12月4日
发明者黄发生 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司