专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，且特别涉及一种具有转档功能的测试装置。
背景技术：
无功能芯片的转接卡在电子装置中广为应用。譬如，无功能芯片的转接卡可与主 机板进行连接从而为电脑的主机提供输入输出接口。由此，外部装置能够与主机板进行连 接以传输数据。因此，转接卡上连接接口的质量将直接影响外部装置与主机板之间数据的 传输质量。现有技术中针对无功能芯片的转接卡进行测试时，首先需将转接卡连接至电子装 置的主机板，然后开机运行特定的程序，从而对转接卡上的待测接口进行测试。然而，此种 测试方法由于需要开机运行特定的程序，存在测试工时长、操作复杂等问题。并且，一种特 定的程序只能测试一种待测接口，因此，针对不同类型的待测接口，需要编写不同的程序， 导致测试成本的增加。
实用新型内容本实用新型提供一种测试装置，以避免测试工时长、操作复杂从而降低测试成本。本实用新型提供一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡。转接卡具有待测 接口和输出接口。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元 件发出测试信号至待测接口，并从输出接口接收输出信号。控制元件判断输出信号与测试 信号是否一致，据此产生测试结果。转档元件电性连接控制元件以接收测试结果并提供转 档信息。本实用新型有益效果为通过判断输出信号与测试信号是否一致从而测试无功能 芯片的转接卡的待测接口是否良好。相较于先前技术，本实用新型提供的测试装置测试工 时短、操作简单。并且，转档元件对测试结果可实现自动转档，使用者通过转档信息即可知 道测试结果，从而便于产线上的管理。
为让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下面将结合附图 对本实用新型的较佳实施例作详细说明，其中图1所示为本实用新型第一较佳实施例的测试装置的功能方块图。图2所示为本实用新型第一较佳实施例的转档元件的转档程序的执行流程图。图3所示为本实用新型第二较佳实施例的测试装置的功能方块图。图4所示为本实用新型第二较佳实施例的转档元件的转档程序的执行流程图。
具体实施方式
图1所示为本实用新型第一较佳实施例的测试装置的功能方块图。请参考图1。本实施例所提供的测试装置1用于测试无功能芯片的转接卡2。于本实施例中，转接卡2具有一个待测接口 21和一个输出接口 22。输出接口 22 电性连接待测接口 21。然而，本实用新型对待测接口 21和输出接口 22的数量不作任何限定。于本实施例中，待测接口 21为MINI接口，输出接口 22为USB接口。然而，本实用 新型对此不作任何限定。于其它实施例中，待测接口 21可为音频接口、VGA接口或者DVI接口等。于本实施例中，测试装置1包括控制元件11、转档元件12、指示元件13、转接元件 14以及终端元件15。控制元件11电性连接转接卡2的待测接口 21。转档元件12和指示 元件13分别电性连接控制元件11。转接元件14耦接控制元件11和转接卡2的输出接口 22。终端元件15电性连接转档元件12。于本实施例中，控制元件11具有输出接口 111和输入接口 112。输出接口 111的 类型对应于待测接口 21的类型，于本实施例中即为MINI接口。于本实施例中，控制元件11 为单芯片，其内储存有测试程序。通过测试程序，控制元件11可从输出接口 111发出测试 信号至待测接口 21，输入接口 112通过转接元件14从转接卡2的输出接口 22接收输出信 号，然后控制元件11判断输出信号与测试信号是否一致，据此产生测试结果。于本实施例中，转档元件12包括显示元件121和复位电路122。显示元件121可 显示转档元件12接收的测试结果和多个关于测试步骤的提示信息。于本实施例中，显示元 件121可为液晶显示屏幕。然而，本实用新型对此不作任何限定。复位电路122可连接复 位键(图未示)，当待测接口 21不良时可按下复位键，由此触发复位电路122以复位转档元 件12。于本实施例中，转档元件12为SBC (simple board computer)，其上插设储存有转 档程序的CF卡(compact flash)(图未示)。由此，转档元件12可进行SFIS (shop floor integrated system)转档并提供转档信息。关于转档元件12中转档程序的具体原理容后 详述。于本实施例中，指示元件13包括LED红灯131、LED绿灯132和蜂鸣器133。然而， 本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，指示元件13可仅包括一个LED灯。通过 指示元件13，操作人员可以直观地知道测试结果。于本实施例中，转接元件14具有输入接口 141和输出接口 142。输出接口 142电 性连接输入接口 141。转接元件14的输入接口 141电性连接转接卡2的输出接口 22。转 接元件14的输出接口 142电性连接控制元件11的输入接口 112。 于本实施例中，转接元件14的输入接口 141的类型对应于转接卡2的输出接口 22 的类型，于本实施例中即为USB接口。转接元件14的输出接口 142的类型对应于控制元件 11的输入接口 112的类型。于本实施例中，转接元件14的输出接口 142和控制元件11的 输入接口 112均为LAN接口。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，当控制元件11的输入接口 112和转接卡2的输出接口 22的类 型相同时，亦可不需要转接元件14，直接将控制元件11的输入接口 112电性连接于转接卡 2的输出接口 22。于实际应用中，因不同种类的转接卡2通常具有不同类型的输出接口 22，故通常需要不同种类的转接元件14以使其输入接口 141的类型与转接卡2的输出接口 22的类型 相匹配。因此，本实施例提供的转接元件14可具有多个不同类型的输入接口 141和输出接 口 142 (图中仅分别绘示一个)，例如MINI接口、VGA接口、DVI接口、LAN接口、IEEE1394接 口、USB 接口、IDE 接口、SCSI 接口、SATA 接口、AV 接口、音频接 口、PS/2 接 口、HDMI 接口、Jl 接口、串行接口以及并行接口等。由此，当测试装置1测试具有不同类型输出接口 22的转接卡2时，无需更换转接 元件14，即可在转接元件14上找到对应于输出接口 22的接口作为转接元件14的输入接 口 141，并将其连接于转接卡2的输出接口 22。因此，利用同一个转接元件14即可耦接控 制元件11的输入接口 112和不同类型的输出接口 22。于其它实施例中，转接元件14亦可用于耦接控制元件11的输出接口 111和转接 卡2的待测接口 21。同样，当测试装置1测试不同种类的无功能芯片的转接卡2时，因其具 有不同类型的待测接口 21，故需要不同种类的控制元件11以使其输出接口 111的类型与待 测接口 21的类型相匹配。利用本实施例提供的转接元件14，在转接元件14上找到对应于待测接口 21的接 口，将此接口作为转接元件14的输出接口 142与转接卡2的待测接口 21进行连接。然后 在转接元件14上找到对应于控制元件11的输出接口 111的接口，将此接口作为转接元件 14的输入接口 141与控制元件11的输出接口 111进行连接。由此，无需更换控制元件11， 即可将控制元件11的输出接口 111和不同类型的待测接口 21耦接。利用本实施例提供的转接元件14，控制元件11的输出接口 111和输入接口 112可 设计为较常见的接口，例如，输出接口 111和输入接口 112皆为USB接口。换言之，无需将 控制元件11设计为具有多个不同类型的输出接口 111和输入接口 112。由此，控制元件11 的设计和生产成本得以大幅度降低。于本实施例中，终端元件15为电脑。终端元件15通过网络与转档元件12进行连 接，从而接收并显示转档信息。使用者通过终端元件15读取转档信息。当转接卡2有问题 时，使用者可通过转档信息准确获知转接卡2的测试时间、测试站台以及操作人员，以便作 出有效的追踪管理并找出问题加以改善。于本实施例中，利用转档元件12和终端元件15，使用者仅仅通过区域网便可查 看任何作业数据，了解产线的作业进度，进行作业流程监控，监督生产质量以及统计测试结
^ ο以下将对本实施的测试装置1的测试步骤进行详细介绍。于本实施例中，首先按照图1所示的方式来连接测试装置1和转接卡2。然后将测 试装置1连接扫描仪(图未示)。于本实施例中，转档元件12的显示元件121在启动后可 依次显示各个提示信息，例如首先可显示“扫描站台号”，在操作人员扫描完站台号后，显示 元件121可显示“扫描操作人员工号”，在操作人员扫描完工号后，显示元件121可显示“扫 描转接卡的编号”。如此，在操作人员按照提示信息进行操作后，便可开始进行转接卡2的 测试。于本实施例中，控制元件11利用储存的测试程序发出测试信号。测试信号从控制 元件11的输出接口 111传输至转接卡2的待测接口 21，随后从转接卡2的输出接口 22输出以形成输出信号。输出信号分别经过转接元件14的输入接口 141和输出接口 142传回 控制元件11的输入接口 112。于本实施例中，控制元件11比较接收的输出信号和发出的测试信号是否一致，据 此产生测试结果。同时，转档元件12接收测试结果并自动生成转档信息。然后，转档元件 12将转档信息传输给终端元件15。于本实施例中，如果输出信号和测试信号一致，则表明待测接口 21良好，控制元 件11可据此输出高电平信号，以控制指示元件13的LED绿灯132发光。同时显示元件121 显示“PASS”信息。测试装置1可直接测试下一个转接卡2。如果输出信号和测试信号不 一致，则表明待测接口 21不良，控制元件11可据此输出低电平信号，以控制指示元件13的 LED红灯131发光并控制蜂鸣器133发出蜂鸣提醒操作人员。同时显示元件121显示“FAIL” 信息。此时可按压复位键，转档元件12即复位至待命状态以进行下一个转接卡2的测试和 转档。然而，本实用新型对此不作任何限定。以下将对本实施例的测试装置1的具体测试原理进行详细介绍。于本实施例中，当待测接口 21内部开路时，控制元件11的输入接口 112将会接收 不到输出信号，即控制元件11接收的输出信号和发出的测试信号不一致。由此，控制元件 11判断待测接口 21不良。当待测接口 21内部短路时，控制元件11的输入接口 112将会接 收到一个不同于发出信号的输出信号。例如，当控制元件11发出的测试信号为5V电压信 号时，则控制元件11接收到的输出信号为非5V的电压信号；当控制元件11发出的测试信 号为字符串时，则控制元件11接收到的输出信号即为不相同的字符串。由此，控制元件11 亦判断待测接口 21不良。因此，无论待测接口 21内部是开路抑或短路，本实施例提供的测试装置1均可提 供准确的判断，从而避免了漏判、误判的问题。以下将对本实施例的转档元件12中转档程序的具体原理进行详细介绍。图2所 示为本实用新型第一较佳实施例的转档元件12的转档程序的执行流程图。请一并参考图 1与图2。本实施例的转档程序的执行流程包括步骤S21至步骤S27。在步骤S21 中，分别定义数组 PPIDbuff、OPIDbuff、sysidbuff、failmsg 以及 time。数组PPIDbuff用于存放转接卡2的编号，数组OPIDbuff用于存放操作人员工号，数 组sysidbuff用于存放站台号，数组failmsg用于存放测试结果，数组time用于存放测试 时间。然而，本实用新型对此不作任何限定。在步骤S22中，显示提示信息并接收扫描仪的信息。于实际应用中，操作人员根据 显示元件121显示的提示信息用扫描仪分别扫描站台号、操作人员工号以及转接卡2的编 号。转档元件12接收扫描仪扫描到的信息，将其分别存放到对应的数组中。在步骤S23中，接收控制元件11的测试结果并对标记(flag)进行赋值。具体而 言，以控制元件11发出5V的电压信号为例，如果控制元件11接收的输出信号为5V的电压 信号，转档元件12中的A/D芯片令flag = 1。如果控制元件11接收的输出信号为非5V的 电压信号，则A/D芯片令flag = 0。在步骤S24中，判断flag的数值。如果flag = 1，则进行步骤S25，即将“PASS” 字符串存放到数组failmsg中。如果flag = 0，则进行步骤S26，即将“FAIL”字符串存放 到数组failmsg中并调用复位程序。于实际应用中，此时显示元件121显示“FAIL”信息，操作人员需按压复位键，使复位电路122产生复位信号才能使转档程序进行到下一步。若 没有按压复位键。转档程序将停留在步骤S26。当步骤S25或步骤S26运行完毕时，进入步骤S27，即令flag = 0，且数组 PPIDbuff, OPIDbuff, sysidbuff、failmsg以及time中的数据以一定格式拷贝到转档信息 中。随后转档元件12重复步骤S23至步骤S27直到测试结束。于本实施例中，控制元件11发出的测试信号为5V的电压信号。然而，本实用新型 对此不作任何限定。于其它实施例中，测试信号亦可为电流信号或者字符串。于本实施例中，转档信息为txt格式，其包括转接卡2的编号、测试结果、站台号、 操作人员工号以及测试时间。然而，本实用新型对转档信息的格式和内容不作任何限定。图3所示为本实用新型第二较佳实施例的测试装置的功能方块图。请参考图3。 本实施例所提供的测试装置3用于测试无功能芯片的转接卡4。于本实施例中，转接卡4具有三个待测接口 41和一个输出接口 42。三个待测接口 41分别电性连接输出接口 42。其中，三个待测接口 41均为USB接口，输出接口 42为Jl接 口。然而，本实用新型对待测接口 41和输出接口 42的数量和类型不作任何限定。于其它
实施例中，三个待测接口 41亦可为不同的接口，例如分别为USB接口、DVI接口以及VGA接□。于本实施例中，测试装置3包括控制元件31、转档元件32、指示元件33、转接元件 34以及终端元件35。控制元件31电性连接转接卡4。转档元件32和指示元件33分别电 性连接控制元件31。转接元件34耦接控制元件31和转接卡4的输出接口 42。终端元件 35电性连接转档元件32。于本实施例中，转档元件32和终端元件35皆如第一实施例所述，故在此不再赘 述。以下仅就不同之处给予说明。于本实施例中，控制元件31具有一组输出接口 311和一组输入接口 312。输出接 口 311和输入接口 312的数量和类型分别与待测接口 41的数量和类型相对应，即输出接口 311和输入接口 312分别包括三个USB接口。输出接口 311的三个USB接口分别连接三个 待测接口 41。于本实施例中，控制元件31为单芯片，其内储存有测试程序。于本实施例中，指示元件33包括三个LED红灯331、一个LED绿灯332和蜂鸣器 333。其中三个LED红灯331分别对应三个待测接口 41。然而，本实用新型对此不作任何限 定。于本实施例中，由于控制元件31的输入接口 312与转接卡4的输出接口 42的类 型不一致，因此为耦接转接卡4的输出接口 42和控制元件31的输入接口 312，本实施例将 另一个无功能芯片的转接卡作为转接元件34。即转接元件34与转接卡4相同，具有三个待 测接口 341和一个输出接口 342，待测接口 341为USB接口，输出接口 342为Jl接口。三个 待测接口 341分别电性连接输出接口 342。于本实施例中，由于转接元件34的输出接口 342和转接卡4的输出接口 42的类型 一致，故可通过一反向线将二者电性连接。同样，由于转接元件34的三个待测接口 341和 控制元件31的三个输入接口 312的类型一致，故可将上述这些接口分别对应连接。由此， 通过另一无功能芯片的转接卡即可耦接转接卡4的输出接口 42和控制元件31的输入接口 312。[0055]本实施例的测试装置3的测试步骤及测试原理大致如第一实施例所述，以下仅就 不同之处给予说明。于本实施例中，控制元件31利用储存的测试程序发出三个测试信号。三个测试信 号分别从控制元件31的三个输出接口 311传输至转接卡4相应的三个待测接口 41，随后从 转接卡4的输出接口 42输出以形成三个输出信号。三个输出信号分别经过转接元件34的 输出接口 342和对应的待测接口 341传回控制元件31对应的输入接口 312。于本实施例中，上述三个测试信号可利用控制元件31同时或分别发出。并且，上 述三个测试信号流经的三个测试回路之间相互独立。由此，控制元件31可对转接卡4的三 个待测接口 41分别作测试。然而，本实用新型对此不作任何限定。于本实施例中，控制元件31分别判断三个输出信号和三个测试信号是否一致，据 此产生三个控制信号以指示测试结果。三个控制信号分别传输至三个对应的LED红灯331 以及LED绿灯332与蜂鸣器333。当三个待测接口 41均良好时，LED绿灯332发光；当三个 待测接口 41中存在不良接口时，蜂鸣器333发出蜂鸣，并且对应不良接口的LED红灯331 发光。具体而言，如果控制元件31接收的三个输出信号和发出的三个测试信号一致，则 表明三个待测接口 41均良好，控制元件31可据此输出三个高电平信号以控制LED绿灯332 发光。显示元件321显示“PASS”信息。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施 例中，LED绿灯332亦可设置为接收三个低电平信号才发光。此处为便于说明，分别以第一待测接口、第二待测接口以及第三待测接口来表示 三个待测接口 41。如果第一待测接口不良，则相应的输出信号和测试信号不一致，控制元件 31输出的三个控制信号中对应于第一待测接口的控制信号为低电平，其余为高电平。随后三个控制信号分别传输至三个对应的LED红灯331。由于第一待测接口对应 的控制信号为低电平，因此蜂鸣器333发出蜂鸣提醒操作人员，第一待测接口对应的LED红 灯331发光。此时，显示元件321显示“第一个待测接口 FAIL”信息。同时转档元件32在 提供的转档信息中亦会显示第一个待测接口不良。然而，本实用新型对此不作任何限定。于 其它实施例中，LED红灯331与蜂鸣器333亦可设置为接收高电平信号才分别发光和发出 蜂鸣。由此，当待测接口 41存在不良时，本实施例提供的测试装置3可准确地指示出是 哪一个或者哪几个待测接口 41不良。图4所示为本实用新型第二较佳实施例的转档元件32的转档程序的执行流程图。 请一并参考图3与图4。本实施例的转档程序的执行流程包括步骤S41至步骤S47。步骤 S42 S45皆与第一实施例中对应的步骤S22 S25相同，故于此不再赘述。以下仅就不同 之处给予说明。在步骤S41 中，分别定义数组 PPIDbuff、OPIDbuff、sysidbuff、failmsg、faildata 以及time。数组faildata用于存放待测接口 41不良的具体信息，即哪一个或者哪几个待 测接口 41不良。然而，本实用新型对此不作任何限定。于步骤S46中，除将“FAIL”字符串存放到数组failmsg中外，还将待测接口 41不 良的具体信息存放到数组faildata中，譬如“USB1FAIL”。于步骤S47中，数组faildata中 的数据亦一并被拷贝到转档信息中。[0066]综上所述，本实用新型所揭露的测试装置通过判断输出信号与测试信号是否一致 从而测试无功能芯片的转接卡的待测接口是否良好。相较于先前技术，本实用新型提供的 测试装置测试工时短、操作简单。并且，转档元件对测试结果可实现自动转档，使用者通过 转档信息即可知道测试结果，便于产线上的管理。虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何 熟知此技术者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作出种种等同的改变或替换，因 此本实用新型的保护范围当视权利要求所界定的为准。
权利要求一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡，所述转接卡具有待测接口和输出接口，其特征是，所述测试装置包括控制元件，电性连接所述转接卡，所述控制元件发出测试信号至所述待测接口，并从所述输出接口接收输出信号，所述控制元件判断所述输出信号与所述测试信号是否一致，据此产生测试结果；以及转档元件，电性连接所述控制元件以接收所述测试结果并提供转档信息。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试装置还包括指示元件，电性连 接所述控制元件，用于指示所述测试结果。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试装置还包括转接元件，所述转 接元件耦接所述控制元件和所述转接卡的所述输出接口。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征是，所述转接元件为另一无功能芯片的转 接卡。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试装置还包括终端元件，所述终 端元件电性连接所述转档元件以接收并显示所述转档信息。
6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述测试信号为电压信号。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述转档元件包括显示元件，用于显示 所述测试结果与多个提示信息。
8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述转档元件包括复位电路，用于当所 述待测接口不良时复位所述转档元件。
9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，所述待测接口为Mmi接口。
专利摘要本实用新型提供一种测试装置，用于测试无功能芯片的转接卡。转接卡具有待测接口和输出接口。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元件发出测试信号至待测接口，并从输出接口接收输出信号。控制元件判断输出信号与测试信号是否一致，据此产生测试结果。转档元件电性连接控制元件以接收测试结果并提供转档信息。本实用新型优点是通过判断输出信号与测试信号是否一致从而测试无功能芯片的转接卡的待测接口是否良好，相较于先前技术，本实用新型提供的测试装置测试工时短、操作简单，并且转档元件对测试结果可实现自动转档，使用者通过转档信息即可知道测试结果，从而便于产线上的管理。
文档编号G06F11/22GK201654765SQ20102000384
公开日2010年11月24日 申请日期2010年1月12日 优先权日2010年1月12日
发明者余建国, 杨世扬, 杨庆文, 纪乐宇, 陈晓光 申请人:名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司