触摸面板检查装置和方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及用于触摸面板的检查的装置和方法。
【背景技术】
[0002]触摸面板(touch panel)作为使移动电话、智能手机、平板PC、便携式计算机、桌面计算机等计算机装置的用户进行触摸显示装置的手势而将能够与计算机装置通信的功能赋予显示装置的器件已广泛地使用。
[0003]触摸面板能以在玻璃片(glass sheet)上将在X轴方向和Y轴方向上图案化的传感器电极蒸镀的方式制造。以往的大量的触摸面板制造方式，应用了在以对层叠于显示面板的触摸面板适合的大小的单元(cell)单位将玻璃片切断后，将传感器电极在各个单元单位的玻璃上配置的工序，但最近为了提高上述的工序的收率，也尝试了在包含多个单元区域的玻璃片上形成了传感器电极后最终将玻璃片切断成与多个单元区域分别对应的触摸面板的制造方式。
[0004]在实际的触摸面板制造工序的进行过程中，由于各种原因，有时在触摸面板的表面或内部附着异物，或者产生污染、损伤，在触摸面板上出现各种形态的缺陷。由此，有时后续有检测这样的缺陷的工序。作为用于这样的缺陷检测的检查方式，通常使用用照相机这样的摄像设备捕捉触摸面板的外观的图像、对其图像进行分析的光学检查方式。
[0005]但是，在经过多个工序制造的触摸面板上，存在规则的图案存在的区域、非规则的图案存在的区域、需要用于缺陷检测的检查的区域、可省略这样的检查的区域等多样的区域。此外，对于各区域和各图案的检查条件也未必相同。因此，要求用于更高效率地、以更高正确率检测由多样的区域发生的不同形态的缺陷的新的手法。
[0006]韩国公开专利公报第2011-0020437号公开了为了晶片的缺陷检查而比较候补模具(die)与平均标准模具的灰度等级来判定缺陷的方法，但仍然存在考虑模具上的多个区域的各自的特性的必要性。
[0007]现有技术文献
[0008]专利文献
[0009]专利文献:韩国公开专利公报第2011-0020437号
【发明内容】
[0010]发明要解决的课题
[0011]本发明的目的在于提供对于触摸面板上的多样的区域能够根据各区域的特性和检查条件更高效率地、更正确地检测触摸面板上的缺陷的触摸面板检查装置。
[0012]本发明的目的在于提供这样的触摸面板检查方法。
[0013]用于解决课题的手段
[0014]1.一种触摸面板检查装置，其包含:
[0015]图像获得部，其中，获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glasssheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像；
[0016]区域设定部，其中，接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell-to-cell)比较区域的输入；和
[0017]缺陷检测部，其中，在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷，所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素，所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域。
[0018]2.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述图像获得部包含:使用上述玻璃片的布置信息识别上述多个单元区域的输入部；和对经识别的上述多个单元区域进行摄像而获得上述图像的摄像设备。
[0019]3.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述输入还在上述单元对单元比较区域内指定检查区域和对于上述检查区域的不同的检查条件，上述缺陷检测部根据上述检查条件进行上述第2图像检查。
[0020]4.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述输入还对上述图像指定非检查区域，上述缺陷检测部还对上述非检查区域省略图像检查。
[0021]5.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，上述缺陷检测部在上述多个划分的下位区域分别进行上述第1图像检查和上述第2图像检查。
[0022]6.上述5的触摸面板检查装置，其中，上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案相同。
[0023]7.上述5的触摸面板检查装置，其中，上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案与上述多个划分的下位区域中的其他的下位区域内的单位单元图案不同。
[0024]8.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述周期比较区域的相对位置指定为同样位置，在上述多个划分的下位区域分别指定上述单元对单元比较区域的相对位置以使其不同。
[0025]9.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，在上述多个划分的下位区域分别指定上述周期比较区域的相对位置以使其不同，在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述单元对单元比较区域的相对位置指定为同样位置。
[0026]10.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含单位单元图案。
[0027]11.上述10的触摸面板检查装置，其中，上述输入还指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域，在上述至少2个划分的下位区域中各自包含在不包括上述非检查区域的区域具有相同图案的单位单元图案，上述缺陷检测部还对于上述非检查区域省略图像检查。
[0028]12.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域，在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含在上述非检查区域具有不同图案的单位单元图案，上述缺陷检测部还对于上述非检查区域省略图像检查。
[0029]13.上述1的触摸面板检查装置，其中，上述缺陷检测部还包含显示通过上述第1图像检查和上述第2图像检查中的至少一个检测的缺陷的位置的输出部。
[0030]14.上述13的触摸面板检查装置，其中，上述输出部还响应对于上述显示的选择，显示表示上述缺陷的图像。
[0031]15.—种触摸面板检查方法，其包含:
[0032]获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片作为一个整体区域进行摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像的阶段；
[0033]接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元比较区域的输入的阶段；和
[0034]在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷的阶段，所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素，所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域。
[0035]16.上述15的触摸面板检查方法，其中，上述获得的阶段包括:使用上述玻璃片的布置信息识别上述多个单元区域的阶段；和对经识别的上述多个单元区域进行摄像而获得上述图像的阶段。
[0036]17.上述15的触摸面板检查方法，其中，上述输入还在上述单元对单元比较区域内指定检查区域和对于上述检查区域的不同的检查条件，上述第2图像检查根据上述检查条件进行。
[0037]18.上述15的触摸面板检查方法，其中，上述输入还对上述图像指定非检查区域，上述检测的阶段对于上述非检查区域省略图像检查。
[0038]19.上述15的触摸面板检查方法，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，上述检测的阶段包含对上述多个划分的下位区域分别进行上述第1图像检查和上述第2图像检查的阶段。
[0039]20.上述19的触摸面板检查方法，其中，上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案相同。
[0040]21.上述19的触摸面板检查方法，其中，上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案与上述多个划分的下位区域中的其他下位区域内的单位单元图案不同。
[0041]22.上述15的触摸面板检查方法，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述周期比较区域的相对位置指定为同样位置，在上述多个划分的下位区域分别指定上述单元对单元比较区域的相对位置以使其不同。
[0042]23.上述15的触摸面板检查方法，其中，上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域，在上述多个划分的下位区域分别指定上述周期比较区域的相对位置以使其不同，在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述单元对单元比较区域的相对位置指定为同样位置。
[0043]24