据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例的 图。
[0046]图9是表示三维色谱数据及根据所述三维色谱数据制作的极大或极小吸收波长色 谱的示意图。
[0047]图10是通过一致度判定法而获得的结果的显示例，（a)是不含杂质的峰的示例， (b)是含有杂质的峰的示例。
[0048] 图11是表示作为通过微分光谱法而获得的结果的微分色谱的一例的图。
【具体实施方式】
[0049] 参照附图，对本发明的色谱数据处理装置的若干实施例进行说明。首先，以下对在 本实施例中使用的用于判定峰纯度的方法进行说明。
[0050] [用于判定峰纯度的方法]
[0051] 在本实施例中，是利用一致度判定法、微分光谱法及纯净度判定法。关于一致度判 定法及微分光谱法，已在"【背景技术】"的栏目中予以说明，因此在这里，对利用纯净度判定法 来判定杂质的有无的原理进行简单说明。再者，关于纯净度判定法，例如在非专利文献1中 已予以说明。
[0052] 在纯净度判定法中，计算色谱峰内的光谱(实测光谱)与参考光谱的相似度(SI)， 对其值与考虑到噪声成分的相似度的阈值(t)进行比较。当实测光谱与参考光谱的相似度 (SI)在所述阈值(t)以上时，判断为两者来源于大致相同成分。反之，当两者的相似度(SI) 小于阈值(t)时，则判断为在所述色谱峰中存在杂质。
[0053] 在这里两个光谱的相似度SI是如下所述进行计算。一个光谱可作为各波长下的强 度的值的排列来考虑，因此能够以将各波长下的强度的值作为要素的向量来表示。具体而 言，当将波长λ?下的强度设为a(Ai)时，两个光谱的向量S1、S2可表示如下。
[0054] SI = (al (λ?) ,al (λ2),......,al (λη))
[0055] S2 = (a2(Al),a2(A2),……,a2(An))
[0056] 可认为所述两个向量S1、S2越接近（即，两者之间的角度越小），两光谱越相似，因 此可将两向量S1、S2所成的角度Θ的余弦的值( COS0)用作两光谱的相似度的指标。
[0057] 如果两个光谱的形状完全相同，那么两向量S1、S2之间的角度Θ为零，COS0为1。但 是，实际上，例如在吸光度光谱的情况下，由于检测器主体的背景噪声(background noise) 或伴随着移动相的吸收的噪声等不确定部分，两向量所成的角度Θ会大于零。因此，当将由 噪声的不确定部分所引起的两向量所成的角度的最大值设为9 th，两向量S1、S2所成的角Θ小 于0th时，判断为其差异因噪声等而产生，并且判定为两向量由相同的吸光度光谱（即，相同 成分)所产生，当两向量SI、S2所成的角Θ大于0 th时，g卩，当COS0小于cos0th时可判定为含有 杂质。即，c 〇S0th成为阈值(t)。将从相似度SI减去所述阈值t所得的值称为纯净度指数。 [0058]图4表示将横轴设为峰的保持时间，在纵轴上绘制有纯净度指数（ = SI_t)的纯净 度曲线。在这里，图4中的所谓"通常色谱"，是指目标成分的吸收波长即特定波长下的波长 色谱。在所述图4中，在时间!^，纯净度曲线出现有低于纯净度指数为零的零辅助线的部分。 在所述部分，纯净度指数（ = SI-t)低于零，相似度低于阈值，因而判断为在所述部分含有杂 质。
[0059]如上所述，在纯净度判定法中，可根据纯净度曲线判定在目标峰中是否含有杂质。
[0060] [第1实施例]
[0061] 参照图1，对本发明的色谱数据处理装置的第1实施例进行说明。图1是包含本实施 例中的色谱数据处理装置（以下，仅称为"数据处理装置"）的液相色谱仪系统的概略构成 图。
[0062] 在用于收集三维色谱数据的LC部1中，送液栗12从移动相容器11抽吸移动相，并以 固定的流量供给至试料注入部13。试料注入部13以规定的时序将试料注入至移动相中。将 试料通过移动相而送入至管柱14,在穿过管柱14期间，使试料中的各成分沿时间方向分离， 并从管柱14溶出。
[0063] 在管柱14的出口，设置有一种多通道型检测器即PDA检测器15,作为用于对来自管 柱14的溶出液中的试料成分进行检测的检测器。PDA检测器15对溶出液照射来自未图示的 光源的光，使透过溶出液的光波长分散而通过Η)Α线性传感器(1 inear sensor)对各波长的 光的强度大致同时进行检测。由所述PDA检测器15反复获得的检测信号经A/D转换器16转换 成数字信号之后，作为三维色谱数据而输出至数据处理装置2。
[0064]数据处理装置2包括:三维数据存储部21，用于存储从A/D转换器16输出的三维色 谱数据;波长色谱制作部22,利用三维色谱数据制作表示规定波长下的吸光度的时间变化 的波长色谱；峰检测部23，对所述波长色谱中的峰进行检测；以及杂质检测部24，对检测到 的峰之中由操作员指定的目标峰中的杂质进行检测。再者，在本实施例中，波长色谱制作部 22制作极大或极小吸收波长色谱，所述极大或极小吸收波长色谱表示目标成分的极大或极 小的吸收波长下的吸光度的时间变化。
[0065]杂质检测部24包括对三维色谱数据进行数据处理而制作用于杂质检测的曲线图 的微分色谱制作部25a及纯净度曲线制作部25b。微分色谱制作部25a根据三维色谱数据及 目标成分的极大或极小吸收波长λ 5〇,制作微分色谱。纯净度曲线制作部25b根据三维色谱数 据及目标成分的极大或极小吸收波长λ5〇,利用目标峰上的光谱与参考光谱的相似度和只考 虑到噪声成分时的相似度制作纯净度曲线。此外，杂质检测部24包括根据微分色谱的形状 或纯净度曲线的形状判定在目标峰中有无杂质的判定部26。关于所述各部的动作将在后文 描述。
[0066]显示部3是用于显示目标成分的极大或极小吸收波长λ5〇的波长色谱、吸光度光谱、 微分色谱、纯净度曲线及判定结果等各种信息的构件。操作部4是为了操作员输入设定杂质 的有无的判定方法的选择、或目标成分的极大或极小吸收波长λ 5〇、微分光谱法中所需要的 最大或最小吸收波长等数据分析所需要的信息等而被操作。
[0067] 再者，数据处理装置2的一部分或全部功能可通过执行安装在个人计算机或工作 站(work station)内的专用的控制及处理软件来实现。并且，显示部3为一般的液晶监视器 等，操作部4可设为个人计算机或工作站的标准装备即键盘或鼠标等指向构件(pointing) 等。
[0068] 其次，参照图2及图3的流程图，对所述第1实施例的液相色谱仪系统中的特征性数 据处理动作进行说明。
[0069] 首先，在LC部1中执行对目标试料的色谱仪分析，将表示规定的波长范围内的吸光 度光谱的时间变化的三维色谱数据（参照图9(a))从PDA检测器15输出至三维数据存储部 21，并存储至所述三维数据存储部21 (步骤S1)。
[0070] 其次，操作员通过操作部4输入试料中所含的目标成分的极大或极小吸收波长λ50 的波长值(步骤S2)。接收到所述波长值，波长色谱制作部22根据所输入的极大或极小吸收 波长及三维数据存储部21中所存储的三维色谱数据，制作在横轴上绘制有时间，在纵轴 上绘制有极大或极小吸收波长下的吸光度的极大或极小吸收波长色谱，并显示在显示部 3中（步骤S3)。图9(b)表示根据图9(a)所示的三维色谱数据而制作的极大吸收波长色谱的 一例。
[0071] 峰检测部23沿时间方向依次调查由波长色谱制作部22制作的极大或极小吸收波 长色谱的曲线的倾斜量，当所述倾斜量为规定值以上时判断为是峰的起点!^，当倾斜量从 正变为零然后转为负时判断为是峰顶点To,当倾斜量的绝对值为规定值以下时判断为是峰 的终点T E，从而检测出峰(步骤S4)。峰在试料中含有多个成分时，通常检测到多个。检测到 的峰的信息被显示在显示部3的画面上，操作员通过操作部4从所述多个峰之中选择来源于 目标成分的目标峰(步骤S5)。
[0072]当选择目标峰后，微分色谱制作部25a及纯净度曲线制作部25b依次制作表示在目 标峰中是否含有杂质的曲线图（步骤S6)。各功能块25a、25b内的数据处理动作如以下所述。 [0073]微分色谱制作部25a从三维数据存储部21获取目标峰的起点T s至终点TE的时间范 围内的吸光度光谱，并针对各吸光度光谱，分别对极大或极小吸收波长下的吸光度沿波 长方向进行微分，由此求出波长微分系数(步骤S6a_l)。然后，制作在横轴上绘制有时间，在 纵轴上绘制有所算出的波长微分系数的微分色谱(步骤S6a_2)。图11中表示微分色谱的一 例。
[0074]纯净度曲线制作部25b从三维数据存储部21获取在目标峰的起点Ts至终点TE的时 间范围内的吸光度光谱，并针对各吸光度光谱，分别求出相似度与阈值的差即纯净度指数 (步骤S6b-1)。然后，制作在横轴上绘制有时间，在纵轴上绘制有所算出的纯净度指数的纯 净度曲线(步骤S6b-2)。
[0075]将如以上所述而获得的各判定方法中的用于判定杂质的有无的曲线图（微分色谱 及纯净度曲线)与步骤S3中所显示的波长色谱重合地显示在显示部3中（步骤S7)。
[0076]图5是本实施例的色谱数据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例。在这 里，所谓"通常色谱"，是指目标成分的极大或极小吸收波长下的波长色谱。在所述第1实 施例的数据处理装置2中，将基于微分光谱法而制作的微分色谱与基于纯净度判定法