而制 作的纯净度曲线与通常色谱重合地加以显示。在所述通常色谱中，在时间To上存在试料的 目标成分的峰，在时间T^T^d：存在杂质的峰，但是在波长色谱中未看见杂质的峰。根据图5， 在时间!^存在杂质是在微分色谱中示出，而未在纯净度曲线中示出。而且，在时间!^存在杂 质是未在微分色谱中示出，而在纯净度曲线中示出。假设当只利用微分光谱法或纯净度判 定法中的任一者来进行杂质判定时，利用微分光谱法，只示出在时间!^存在杂质，而无法辨 识出在时间T 2#在杂质，另一方面，利用纯净度判定法，则只示出在时间T2#在杂质，而无法 辨识出在时间!^存在杂质。但是，在本实施例的数据处理装置2中，利用微分光谱法示出在 时间!^存在杂质，利用纯净度判定法示出在时间T2#在杂质，从而可全部检测出只利用其中 一个杂质判定法所无法检测到的杂质。即，能够更可靠地判断是否存在杂质。
[0077][第2实施例]
[0078]在第1实施例中，微分色谱制作部25a及纯净度曲线制作部25b分别制作微分色谱 及纯净度曲线(步骤S6)。当得知在目标成分的吸光度光谱中存在多个极大、极小时，作为变 形例，可设为微分色谱制作部25a除了目标成分的一个极大或极小吸收波长λ 5〇以外，进而还 制作并显示其它极大或极小吸收波长(例如，λ2、λ3)的微分色谱。
[0079]图6及图7是表示所述第2实施例的色谱数据处理装置中的峰纯度判定处理动作的 流程图。以下，一边参照图6及图7,一边对第2实施例中的数据处理动作之中与第1实施例的 不同点进行说明。
[0080]在本实施例中，在所述步骤S2中，操作员利用操作部4输入试料中所含的目标成分 的多个极大或极小吸收波长的波长值(步骤S2'）。这时，操作员指定用于制作波长色谱的目 标成分的吸收波长Xso。
[0081 ]在所述步骤S5中，针对所选择的所有峰吸收波长λ5〇、λ2、λ3分别进行来源于目标成 分的目标峰的选择(步骤S5'）。
[0082]在所述步骤S6中，微分色谱制作部25a制作表示在峰吸收波长λ5〇、λ2、λ 3的各自的 目标峰中是否含有杂质的曲线图（微分色谱）（步骤S6'）。即，关于这些波长λ5〇、λ2、λ 3下的波 长色谱，依次从三维数据存储部21获取在各自的峰的起点Ts至终点ΤΕ的时间范围内的吸光 度光谱，并针对各吸光度光谱，分别对极大或极小吸收波长λ 5〇、λ2、λ3下的吸光度沿波长方 向进行微分，由此求出波长微分系数(步骤S6'a-1)。然后，制作在横轴上绘制有时间，在纵 轴上绘制有所算出的波长微分系数的微分色谱1、2、3(步骤S6'a-2)。
[0083] 然后，在本实施例中，判定部26根据所制作的用于杂质检测的曲线图来判定杂质 的有无，并将其结果显示在显示部3中。具体而言，判定本实施例中所制作的微分色谱在目 标峰的起点T s至终点TE的时间范围内是否平坦，如果微分色谱平坦，则判定部26判定为目标 峰不含杂质。另一方面，如果微分色谱不平坦，则判定部26判定为目标峰含有杂质。微分色 谱是否平坦的判定例如只要通过判定是否存在基线的噪声强度的平均的N倍或规定的峰面 积以上的峰来进行即可。并且，也可以利用除此以外的判定方法。
[0084] 再者，当为了杂质检测而制作的曲线图是纯净度曲线时，判定纯净度曲线在目标 峰的起点Ts至终点TE的时间范围内是否低于零辅助线，如果不低于零辅助线，则判定部26判 定为目标峰不含杂质，如果低于零辅助线，则判定为含有杂质。
[0085]判定部26当在任一检测方法中判定为含有杂质时，最终判定含有杂质，并在显示 部3中显示为"杂质:有"。当在所有检测方法中均判定为不含杂质时，最终判定为不含杂质， 并在显示部3中显示为"杂质:无"。
[0086]其它步骤与第1实施例相同。
[0087]图8是同实施例的色谱数据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例。图8 中，在目标峰的波长λ5〇的波长色谱（图8中，称为"通常色谱"）中，设为在时间To存在试料的 目标成分的峰，在时间ThTs#在杂质A、B的峰，然而在所述波长色谱上未看见杂质的峰。杂 质A、B设为在λ%下杂质的微分值也为零。而且，杂质A、B设为分别在λ 3、λ2下，杂质的光谱的 微分值也为零。
[0088] 在目标成分的峰波长λ5〇的微分色谱1中，杂质的光谱的微分值为零，因此杂质的峰 被噪声所覆盖，从而未检测到在时间!^存在杂质以及在时间T 2#在杂质。在波长12的微分色 谱2中，检测到在时间Τι存在杂质A，但未检测到在时间T 2存在杂质B。在目标成分的极小吸收 波长λ3的微分色谱3中，检测到在时间1~2存在杂质Β，但未检测到在时间1\存在杂质Α。
[0089] 如上所述，在目标成分的峰波长λ5〇下，试料中所含的杂质的光谱的微分值为零时， 目标峰即λ5〇的微分色谱保持为零而不变，因此未被检测到。但是，基本上不认为在目标成分 的其它极大或极小吸收波长λ 2、λ3下，杂质的光谱的微分值也为零。因此，通过显示目标成分 的多个极大或极小吸收波长下的多个微分色谱，能够更可靠地进行是否存在杂质的判断。
[0090] 本发明并不限于所述第1实施例、第2实施例，可在本发明的主旨的范围内适当加 以变形、追加、修正。
[0091 ]例如，当使用微分光谱法时，也可以将目标成分的光谱显示在画面中，操作员可据 此适当选择用作微分波长的极大或极小吸收波长。通过设为这样的构成，可使操作员的经 验反映到用于杂质检测的判断中。此外，也可以设为将纯净度判定法等其它杂质判定法也 添加至画面显示，操作员可从这些方法之中任意选择。
[0092]并且，最终显示在显示部中的波长色谱（图5、图8中的"通常色谱"）的获取波长在 所述实施例中是设为目标成分的极大或极小吸收波长λ5〇,但是不需要严格地为极大或极小 吸收波长，只要是目标成分的目标峰内的波长即可。
[0093]符号的说明
[0094] 1:LC部
[0095] 11:移动相容器
[0096] 12:送液栗
[0097] 13:试料注入部
[0098] 14:管柱
[0099] 15:PDA 检测器
[0100] 16:A/D 转换器
[0101] 2:数据处理装置
[0102] 21:三维数据存储部
[0103] 22:波长色谱制作部
[0104] 23:峰检测部
[0105] 24:杂质检测部
[0106] 25a:微分色谱制作部
[0107] 25b:纯净度曲线制作部
[0108] 26:判定部
[0109] 3:显示部
[0110] 4:操作部
【主权项】
1. 一种色谱数据处理装置，其特征在于包括： a) 三维数据存储部，存储将时间、波长及吸光度作为维度的三维色谱数据； b) 波长色谱制作部，从所述三维色谱数据之中，提取目标成分的吸收波长即特定波长 下的数据，制作表示所述特定波长下的时间与吸光度的关系的波长色谱； c) 峰检测部，对所制作的所述波长色谱的峰进行检测； d) 杂质检测部，利用基于所述三维色谱数据的两个以上的检测方法，检测在检测到的 所述峰中有无杂质；以及 e) 显示部，将通过所述两个以上的检测方法而获得的用于杂质检测的曲线图与所述波 长色谱重合地加以显示。2. 根据权利要求1所述的色谱数据处理装置，其特征在于更包括： f) 输入部，用于选择在所述杂质检测部中使用的所述两个以上的检测方法，或者输入 在所述两个以上的检测方法中设定的参数。3. 根据权利要求1或2所述的色谱数据处理装置，其特征在于： 所述两个以上的检测方法是选自于由如下方法所组成的群组：一致度判定法，计算与 所述波长色谱中的目标峰的峰顶点相对应的时间To下的吸光度光谱、与在其前后的任意时 间T下的吸光度光谱的一致度;微分光谱法，针对吸光度光谱求出目标成分的极大或极小吸 收波长下的波长方向上的微分系数，当在表示所述微分系数的时间变化的微分色谱的波形 中出现峰时判定为含有杂质；以及纯净度判定法，通过对所述目标峰上的光谱与参考光谱 的相似度和考虑到噪声成分的两光谱的相似度进行比较来判定杂质的有无。
【专利摘要】本发明目的在于提供一种能更可靠地判定在来源于目标成分的目标峰中是否含有杂质的色谱数据处理装置。作为本发明一实施例的色谱数据处理装置2包括含有微分色谱制作部25a、纯净度曲线制作部25b及判定部26的杂质检测部24。微分色谱制作部25a针对吸光度光谱求出目标成分的极大或极小吸收波长下的波长方向上的微分系数，制作表示所述微分系数的时间变化的微分色谱。纯净度曲线制作部25b制作纯净度曲线，所述纯净度曲线表示所述目标峰上的光谱与参考光谱的相似度和考虑到噪声成分的相似度的阈值的差的时间变化。将微分色谱及纯净度曲线与由波长色谱制作部22制作的波长色谱重合地显示在显示部3中。
【IPC分类】G01N30/86, G01N30/74
【公开号】CN105518456
【申请号】CN201480047162
【发明人】三嶋贤一, 鎌田悦辅, 三浦宏, 水戸康敬, 柳沢年伸
【申请人】株式会社岛津制作所
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2014年5月20日
【公告号】US20160209380, WO2015029508A1