色谱数据处理装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种显示判定在色谱的峰中是否含有杂质的结果的数据处理装置，所 述色谱是对包含经色谱仪，特别是经液相色谱仪(LC)的管柱分离的成分的试料或通过流动 注射(flow injection)法而导入的试料进行分光分析而获得。
【背景技术】
[0002] 在使用光电二极管阵列(Photo Diode Array，PDA)检测器等多通道型检测器作为 检测器的液相色谱仪中，通过以试料向移动相的注入时点为基点，对来自管柱的溶出液反 复获取吸光度光谱，可获得具有时间、波长及吸光度的三个维度的三维色谱数据。图9是这 种三维色谱数据的示意图。通过从所述三维色谱数据之中提取特定波长下的时间-吸光度 数据，可以制作所述特定波长下的色谱(波长色谱）。并且，通过从所述三维色谱数据之中提 取在特定时点的波长-吸光度数据，也可以制作在所述时点的吸光度光谱。
[0003] 在这样的液相色谱仪中，进行已知的目标成分的定量分析时，通常是求出与所述 目标成分相对应的吸收波长下的波长色谱，对所述色谱中出现的来源于目标成分的峰的面 积(或高度)对照校准曲线而算出定量值。
[0004]在如上所述对目标成分进行定量时，如果波长色谱中出现的峰只来源于所述目标 成分，则不存在问题。但是，峰不一定来源于单一成分（目标成分），而经常存在含有分析者 不想要的杂质（即，目标成分以外的成分）的情况。因此，从先前以来，进行调查色谱中所出 现的某个峰是否只来源于目标成分或者是否含有杂质的峰纯度判定处理。
[0005] 例如在专利文献1及2中，揭示了从具有时间、波长及吸光度的三个维度的三维色 谱数据获得的色谱中的峰纯度判定处理的方法。
[0006] 在专利文献1所揭示的方法中，将与目标成分相对应的吸收波长下的波长色谱中 目标峰的峰顶点所对应的时间T0下的吸光度光谱设为S0(A)，将其前后的任意的时间T下的 吸光度光谱设为S(A)，通过以下的（1)式，算出S0(A)与S(A)的一致度P。
[0007] [数式 1]
[0008]
[0009] 然后，如图10所示，以一致度P如果为1.0~0.8则称为绿色，如果为0.8~0.6则称 为黄色，如果为0.6以下则称为橙色的方式，利用与其峰顶点的一致度P所对应的颜色（图中 以影线来表现)沿时间轴方向将目标峰加以分割显示。当目标峰只来源于目标成分时，如图 10(a)所示，一致度P在峰顶点附近高，越远离峰顶点越低，所述经分割显示的形状夹着峰的 中心轴而大致成左右对称。与此相对，当在目标峰的峰顶点之前或之后存在其它峰时（即， 当目标峰含有杂质时），包含其它峰的时间范围的一致度P下降，因此在目标峰的峰顶点之 前或之后一致度P不同。例如在图10(b)所示的示例中，夹着峰顶点，与左侧相比右侧(时间 上为后侧）的一致度P较低，经分割显示的形状呈左右非对称。由此，可判断为在其附近的时 间范围内含有杂质的可能性高（以下，将所述方法称为"一致度判定法"）。
[0010] 在专利文献2所揭示的方法中，利用三维色谱数据制作与目标成分相对应的吸收 波长下的波长色谱，在所述波长色谱中的来源于目标成分的目标峰的起点至终点的时间范 围内，针对各时点的吸光度光谱求出目标成分的吸光度光谱的极大或极小吸收波长下的微 分系数。当在目标峰中只含有目标成分时所述微分系数为零，而当在目标峰中含有杂质时 所述微分系数则成为零以外的值。因此，揭示了如下方法:制作表示所述微分系数的时间变 化的色谱（以下，将所述色谱称为"微分色谱"），当在所述波形中出现峰时（图11的虚线）判 定为含有杂质（以下，将所述方法称为"微分光谱法"）。
[0011] 现有技术文献 [0012]专利文献
[0013] 专利文献1:日本专利第2936700号公报
[0014] 专利文献2:国际公开W02013/035639号 [0015]非专利文献
[0016]非专利文献1:水户康敬、北冈光夫著《岛津HPLC用光电二极管阵列UV-VIS检测器 SH)-M6A》岛津评论第46卷第1期，21-28页，1989
【发明内容】
[0017]发明所要解决的问题
[0018] 在专利文献1所述的一致度判定法中，以在与目标峰的峰顶点相对应的时间To下 的吸光度光谱为基准，计算出与峰顶点的前后的吸光度光谱的一致度P。因此，当在紧邻峰 顶点的附近存在杂质峰时，无法正确地判定杂质的存在。
[0019] 另一方面，在专利文献2所述的微分光谱法中，当在目标成分的吸光度光谱的微分 值为零的波长下杂质的吸光度光谱的微分值也为零时，在微分色谱中不会出现杂质的峰， 因此无法检测杂质。
[0020] 如上所述，已提出有若干个判定在目标峰中是否含有杂质的方法，但是根据目标 成分的吸收波长与杂质的吸收波长的关系，有时无法正确地检测杂质的存在。
[0021] 再者，在这里，是列举将其中一者设为目标成分，将另一者设为杂质的情况为例进 行说明，但是也可以替换成在包含两个以上的目标成分的试料的色谱中，判定目标峰中所 含的成分为单一成分还是多个成分的情况。
[0022] 本发明是为了解决所述问题而完成的，其目的在于提供一种可容易地判定在来源 于目标成分的目标峰中是否含有杂质的色谱数据处理装置。
[0023]解决问题的技术手段
[0024]为了解决所述问题而完成的本发明的色谱数据处理装置的特征在于包括：
[0025] a)三维数据存储部，存储将时间、波长及吸光度作为维度的三维色谱数据；
[0026] b)波长色谱制作部，从所述三维色谱数据之中，提取目标成分的吸收波长即特定 波长下的数据，制作表示所述特定波长下的时间与吸光度的关系的波长色谱；
[0027] c)峰检测部，对所制作的所述波长色谱的峰进行检测；
[0028] d)杂质检测部，利用基于所述三维色谱数据的两个以上的检测方法，检测在检测 到的所述峰中有无杂质；以及
[0029] e)显示部，将通过所述两个以上的检测方法而获得的用于杂质检测的曲线图与所 述波长色谱重合地加以显示。
[0030] 再者，在这里所谓的"两个以上的检测方法"中，包括检测原理相同但所使用的参 数不同的情况。具体而言，例如，当如下所述，在微分光谱法中所使用的波长(微分波长)不 同时，作为不同的检测方法来处理。
[0031] 根据本发明的色谱数据处理装置，目标成分的吸收波长即特定波长下的峰中的杂 质的有无是通过利用两个以上的检测方法对所存储的三维色谱数据进行数据分析来进行 检测，将作为其结果而制作的两个以上的用于杂质检测的曲线图与所述特定波长下的色谱 重合地显示在显示部中。在这里，所述两个以上的曲线图既可以全部同时与特定波长色谱 重叠显示，也可以设为通过操作员的指定来使任意的两个以上的曲线图重叠显示。
[0032]本发明的色谱数据处理装置理想的是更包括：
[0033] f)输入部，用于选择在所述杂质检测部中使用的所述两个以上的检测方法，或者 输入在所述两个以上的检测方法中设定的参数(以下，称为"设定参数"）。
[0034]所述两个以上的检测方法理想的是选自于由一致度判定法、微分光谱法、纯净度 判定法所组成的群组。如上所述，一致度判定法是计算在所述波长色谱中的目标峰的峰顶 点所对应的时间To下的吸光度光谱、与在其前后的任意的时间T下的吸光度光谱的一致度 的方法。微分光谱法是针对吸光度光谱求出目标成分的极大或极小吸收波长下的波长方向 上的微分系数，当在表示所述微分系数的时间变化的微分色谱的波形中出现峰时判定为含 有杂质的方法。纯净度判定法的详细情况将在后文描述，它是通过对所述目标峰上的光谱 与参考光谱的相似度和考虑到噪声成分的相似度的阈值进行比较来判定杂质的有无的方 法。
[0035]并且，设定参数例如是用于制作波长色谱的目标成分的一个吸收波长即特定波 长、或微分光谱法中所需要的目标成分的极大或极小吸收波长等。
[0036]发明的效果
[0037] 根据本发明的色谱数据处理装置，利用两个以上的检测方法来检测杂质的有无， 将其结果获得的用于检测两个以上的杂质的有无的曲线图与目标成分的吸收波长即特定 波长的波长色谱重合地显示在显示部中。即使在利用一个检测方法未检测到杂质的存在的 情况下，有时通过其它检测方法也可以辨识出杂质的存在，因此能够更可靠地进行在目标 色谱峰中是否存在杂质的判断。
【附图说明】
[0038] 图1是包含本发明的第1实施例的色谱数据处理装置的液相色谱仪的概略构成图。 [0039]图2是表示同实施例的色谱数据处理装置中的峰纯度判定处理动作的流程图。
[0040] 图3是表示同实施例的色谱数据处理装置中的制作用于杂质检测的曲线图的动作 的流程图。
[0041] 图4是表示纯净度判定法中的用于检测有无杂质的曲线图（纯净度曲线）的一例的 图。
[0042]图5是表示第1实施例的色谱数据处理装置的处理结束后的显示部的显示的一例 的图。
[0043] 图6是表示第2实施例的色谱数据处理装置中的峰纯度判定处理动作的流程图。
[0044] 图7是表示同实施例的色谱数据处理装置中的制作用于杂质检测的曲线图的动作 的流程图。
[0045]图8是表示同实施例的色谱数