所有权测试控制要求将测试 控制信号提供给第一 IP模块111。第二IP模块包装器120可以类似地工作。
[0032] IP模块包装器110和120例如可以包括去往和来自TMC 101和其他IP模块的功能输 入和输出以及包装器边界寄存器、旁路寄存器和包装器指令寄存器。
[0033]每个IP模块处的嵌入式系统接口的示例可以是根据IEEE 1500标准，并且例如包 括包装器指令寄存器、包装器旁路寄存器和包装器边界寄存器。在接口 102处接收的信号例 如可以包括捕获、偏移、更新、时钟、重置以及WSI 103和WSO信号。
[0034] 应该理解，虽然SoC 100被示为包括两个IP模块，但通常可以在实际系统中实施更 多的IP模块。
[0035] 加载到第一和第二IP模块的寄存器中的数据可以通过所谓的"菊花链"形式中的 模块顺次加载。这导致要求非常大的测试控制寄存器。具有数百个IP模块的系统中的测试 变得非常复杂并且设置消耗很多时间。在这种系统中，测试能力不是非常灵活的。
[0036] 实施例可以涉及在测试控制器和IP模块之间提供接口，其允许非常大的灵活性。 例如，一些实施例可以提供比现有的IEEE 1500标准具有更高层级的灵活性的接口，同时仍 然保持与该标准兼容。
[0037] 在实施例中，测试模式控制器和IP模块可以形成芯片上系统的一部分。除嵌入式 系统测试接口之外，一些实施例可以在测试模式控制器和局部IP模块包装器之间提供地址 连接和控制连接。嵌入式系统测试接口例如可以是根据IEEE 1500标准。
[0038] 地址和控制连接中的一个或多个上的信号可以设置IP模块的操作模式。测试接口 可以包括用于解码控制连接上的控制信息的解码器以及用于确定IP模块是否正在被寻址 的地址寄存器。
[0039] 在测试接口处接收的控制和地址信息可以确定IP模块是根据嵌入式系统测试标 准进行操作还是根据操作的又一模式进行操作。
[0040] 图2示出了根据本发明的实施例的SoC 200的示例。
[0041 ]图2的SoC 200包括柔性接口（FI)测试模式控制器(TMC) 201、第一 IP模块111、第一 IP模块包装器210、第二IP模块121和第二IP模块包装器22CLFI TMC 201经由嵌入式系统测 试接口 102耦合至第一和第二IP模块包装器210和220,经由包装器串行输入(WSI) 103耦合 至第一 IP模块包装器210以及经由包装器串行输出(WS0) 104耦合至第二IP模块包装器220。 第一IP模块包装器210的串行输出在105处耦合至第二IP模块包装器220的串行输入。
[0042] 应该理解，SoC 200的一些部件可以类似于SoC 100的部件，并且类似的参考标号 示出这些部件。
[0043] FI TMC 201还包括测试地址寄存器202和测试控制寄存器203。第一IP包装器210 还包括包装器柔性接口 212，第二IP包装器220还包括包装器柔性接口 222。测试地址寄存器 202可经由测试地址总线204耦合至包装器柔性接口 212和222。测试控制寄存器可以经由测 试控制总线205耦合至包装器柔性接口 212和222。
[0044] 可以从图2中看出，除标准测试接口电路装置之外，一些实施例的柔性接口测试模 式控制器201可以包括地址寄存器202和控制寄存器203。地址寄存器可以被配置为存储与 一个或多个IP模块或IP模块包装器相关的地址信息。例如，IP模块/包装器可以与地址相关 联，并且地址寄存器可以包含通过其相关的地址识别IP模块包装器的信息。
[0045] 控制寄存器可以被配置为存储与将在一个或多个IP模块上执行的测试相关的控 制信息。例如，控制寄存器可以存储与一个或多个包装器接口 212、222的配置相关的测试配 置信息用于测试。在一些实施例中，控制信息可以是宏指令。
[0046] 地址和控制寄存器可以通过测试模式控制器写入。将被写入这些寄存器的数据可 以源于芯片外测试主机。可以经由测试接口（例如，JTAG接口）向TMC 101提供数据。
[0047] 提供给IP模块的柔性接口 212和222的地址和控制总线上的信息可以被配置为确 定一个或多个IP模块的操作模式。例如，接口 212、222可以确定对应的IP模块是否正在被地 址总线上的信息寻址。附加地或可选地，接口 212、222可以解码在控制总线205上接收的控 制指令。控制和/或地址总线上的信息可以配置用于测试操作的柔性接口。
[0048] 例如，柔性接口可以基于在控制总线上接收的控制指令配置接口的局部测试控制 寄存器。在另一实施例中，控制信息和地址信息可以向柔性接口表明是否根据嵌入式系统 接口 102信号执行测试或者是否需要由控制总线表示的其他功能。
[0049] 应该理解，响应于在控制和地址总线上接收到的信息，柔性接口可以被配置用于 各种测试模式或条件。此外，稍后讨论这些示例。
[0050] 图3示出了根据实施例的包装器柔性接口和IP模块的示例。图3例如可以对应于图 2的接口 212和/或222。
[0051 ]图3包括了包装器柔性接口 212和IP模块111。包装器柔性接口可以是解码器212。 解码器212可以耦合至测试控制总线205、测试地址总线204、嵌入式系统测试接口 102、包装 器串行输入(WSI)309和包装器串行输出(WS0)310。应该理解，在一些实施例中，测试控制总 线205、测试地址总线204和嵌入式系统接口 102可以对应于图2的类似的参考特征。
[0052] 在一些实施例中，可以从柔性接口TMC(例如，图2的TMC 201)接收WSI 309。在其他 或又一些实施例中，可以从另一包装器柔性接口接收WSI 309,例如如图2中的耦合105所 不。
[0053] 在图3的示例中，嵌入式系统测试接口 102对应于IEEE 1500标准接口，然后应该理 解，在其他实施例和示例中，该接口 102可以不同。
[0054]嵌入式系统测试接口 102可以包括多个信号，例如包装器重置信号(WRSTN)、包装 器捕获信号(updateWR)、包装器偏移信号（shiftWR)和包装器时钟(WRCK)。应该理解，接口 102可以包括如在相关标准限定的信号和终端。在对应的标准中定义这些信号/终端的功 能。
[0055] 解码器212可以用于解码在地址总线204上承载的地址信息和在控制总线205上承 载的测试控制信息，以提供符合IP模块111的要求的测试信号。解码器可以根据在地址和/ 或控制总线上接收的信息配置被传输至其自身IP模块111的测试信号。以这种方式，解码器 可以配置IP模块的测试操作。
[0056]解码器可以经由一个或多个嵌入式系统接口 102、测试控制总线205和测试地址总 线204接收测试信号，并将通过它们接收的任何测试指令转换为用于IP模块111的测试设 置。例如，解码器212可以将用于测试(DFT)宏指令的接收的设计转换为IP模块111的输入测 试信号中的相关信号。在图3的示例中，IP模块111可以要求来自解码器的一个或多个信号 tst_signal 1-n 312,与执行测试。
[0057]应该理解，可以通过IP模块的供应商来限定IP模块所要求的具体测试信号。例如， IP模块111处的测试信号输入可以是测试扫描模式信号（tst_SCanm〇de)、测试时钟使能信 号(七81：_8(311^1^1316)和/或刺激内建测试信号(^81：_16/11813_13181：_1'1111)。例如在图2中示出 这些信号。
[0058] 在图3的示例中，解码器212另外耦合至来自TMC的标准化测试信号。解码器212因 此可以与现有的管理芯片上测试信号的通信的测试接口标准兼容。例如，虽然标准化测试 信号可以提供用于测试的信息，但解码器可以被配置为根据在解码器处接收的地址和控制 信息将该信息加载到相关的测试寄存器。
[0059] 相关测试寄存器可以是局部测试控制寄存器306的一部分，其在IP模块111上执行 测试时提供测试控制寄存器。
[0060] 解码器212包括解码逻辑301、比较逻辑302、地址寄存器303、任选的备用寄存器 304(也称为砖墙寄存器）、局部测试控制寄存器(LTCR)306、多路复用器307、旁路触发器305 和重新定时触发器308。1^〇?被耦合以将测试信号提供给IP模块111。
[0061] 解码逻辑301耦合至测试控制总线205,并且解码逻辑的输出被提供为LTCR 306的 输入。比较逻辑302被耦合以作为输入接收测试地址总线204和来自地址寄存器303的输出。 比较逻辑302向多路复用器307提供选择输入。WSI 309作为输入耦合至地址寄存器304、备 用寄存器304(如果存在的话）、旁路触发器305和LTCR 306。
[0062] 来自地址寄存器303、备用寄存器304(如果存在的话）、旁路触发器305和LTCR 306