的输出作为输入耦合至多路复用器307。多路复用器307的输出耦合至重新定时触发器308。 重新定时触发器308的输出提供WS0 310。
[0063]在操作中，解码器212接收地址总线204、控制总线205和嵌入式系统接口 102上的 信号。
[0064]地址总线上的信号表示该特定的解码器是否正在被寻址。解码器212的地址可以 被存储在地址寄存器303中。地址寄存器可以预加载地址，或者当控制总线表示将被执行的 操作被写入地址寄存器时，地址可以被写入地址寄存器。地址寄存器中的地址可以对应于 由测试器分配给该寄存器的地址。
[0065]比较逻辑302将在地址总线204上接收的地址与保持在地址寄存器303中的地址进 行比较以确定该IP模块212是否正在被寻址。应该理解，保持在地址寄存器303中的地址对 于IP模块212不是唯一的。例如，一个或多个IP模块可以共享地址。这可以是具有相同功能 的IP模块将被一起测试的情况。
[0066] 还应该理解，地址总线可以寻址具有不同地址的两个或多个模块。地址总线可以 寻址在其地址中部分共享相同位的所有模块。例如，可以寻址具有地址的相同高阶位的解 码器。
[0067]比较器302的输出确定什么连接在包装器串行输入309和包装器串行输出310之 间。以这种方式，比较器的输出确定包装器串行输入309上的数据是否将用于IP模块212的 测试。
[0068] 应该理解，虽然示出了比较逻辑302、地址寄存器303和多路复用器307,但其他方 式可以被实施以确定IP模块212是否正在被寻址并且响应于这种确定选择测试数据输出。 例如，如果确定IP模块212没有被寻址，则WS0 310可以耦合至旁路寄存器，使得WSI 309上 的测试输入数据旁路IP模块111。例如如果确定IP模块正在被寻址，则WS0 310可以耦合至 局部测试控制寄存器306以输出来自IP模块111的测试数据。
[0069]测试控制总线205表示将在IP模块111上执行的测试的配置或类型。在测试控制总 线205上接收的信息被解码逻辑301解码以提供控制信号，从而根据将被执行的测试配置局 部测试控制寄存器(LTCR)306。应该理解LTCR 306可以包括一个或多个寄存器。LTCR 306可 以在执行测试时提供输入至IP模块111的测试信号。
[0070]备用寄存器304被设置为寄存器，其可以用于附加的测试器定义的功能(如果需要 的话）。
[0071]应该理解，不是图3所示解码器212的所有特征都是必要的。某些测试环境可以不 要求解码器的所有功能，并且可以省略对应的特征。
[0072] 还应该理解，解码器212和/或包装器接口可以包括附加的信号，诸如测试时钟、测 试重置、扫描使能信号和扫描进/出信号。
[0073] 现在参照表格1描述可以在实施例中执行的操作的测试模式的示例。应该理解，解 码器212可以被配置为根据在测试控制和地址总线信号上接收的信息来实施这些模式中的 一种或多种。还应该理解，该表格不是排他性的，并且可以实施其他模式。
[0074] 表格 1
[0075]
[0076] 串行加载所有LTCR:
[0077] 在该实施例中，地址总线确定LTCR 306寄存器将被耦合在WSI 309和WS0 310之 间，用于耦合至TMC的所有IP模块。所有IP模块的LTCR可以串联耦合，并且可以通过经过所 有LTCR顺次偏移数据来加载。这种模式允许将柔性接口 212用作纯串行测试控制寄存器。
[0078] 为了寻址所有IP模块，地址总线可以针对所有IP模块设置为默认地址。例如，默认 地址可以对应于0。比较器可以确定IP模块是否正在通过其默认地址被寻址并且相应地耦 合LTCR。任选地，测试控制总线可以被设置为其默认值以表示将发生的串行加载。
[0079] 在没有加载总线的情况下，它们可以恢复到默认地址，例如0。
[0080] 在所有LTCR的串行加载的一个示例中，可以进行以下步骤：
[0081] 1.应用重置；
[0082] 2.在移除重置之后，所有柔性接口212LTCR串联并且可以通过FI-TMC 201加载。
[0083] 串行加载被寻址LTCR和旁路其他LTCR:
[0084]在该实施例中，被选择的LTCR可以被串行加载，同时剩余的LTCR被旁路。地址总线 确定一个或多个IP模块的LTCR将被耦合在WSI 309和WS0 310之间，同时在剩余IP模块中， 旁路寄存器耦合在WSI 309和WS0 310之间。
[0085]在该实施例中，在将被加载的一个或多个IP模块之间共享的地址被施加至地址总 线。对于每个IP模块，比较器确定地址总线上的地址是否与地址寄存器303中的地址相匹 配。如果匹配，则该柔性接口的LTCR就耦合在WSI 309和WS0 310之间。如果地址不匹配，则 旁路寄存器304耦合在WSI 309和WS0 310之间。
[0086]然后，用于耦合的LTCR的数据可以串行偏移通过WSI。
[0087] 在一个示例中，可以发生以下步骤：
[0088]该模式允许将柔性接口用作局部TCR以执行串行加载中的测试，但是仅加载特定 IP模块的LTCR。例如当特定的测试信号配置没有被预测(该配置不存在宏指令)和/或用于 调试时，可以使用该模式。
[0089] 1.应用重置；
[0090] 2.在移除重置之后，加载ADD REG(参见表格1)，将唯一的地址放在将被测试的柔 性接口 212上。如果同时需要测试多于一个的IP模块，则必须针对这些IP的FI加载相同的地 址；
[0091] 3.将测试地址总线设置为与想要的IP模块匹配的地址；
[0092] 4.串行加载被寻址的柔性接口的LTCR;
[0093] 5.重复步骤3和4以加载其他LTCR和/或执行其他测试。
[0094] 加载地址寄存器:
[0095] 在实施例中，地址总线上的值可以确定寄存器将耦合在WSI 309和WS0 310之间。 在该示例中，地址总线确定地址寄存器将耦合在WSI 309和WS0 310之间。
[0096]在该操作模式中，包装器柔性接口的地址寄存器串行耦合，并且经由WSI 309通过 地址信息的偏移来填充。地址总线204上的地址可以对应于地址寄存器的地址。例如，在一 个实施例中，可以通过诸如h'3F的预留地址来寻址地址寄存器。测试控制总线不需要保持 值。
[0097]比较逻辑302可以接收地址寄存器的预留地址并且将输入提供值多路复用器307， 以在WSI 309和WS0 310之间耦合地址寄存器303。然后，对应于IP模块或柔性接口的地址的 串行数据可以串联偏移通过地址寄存器，以在地址存储器303中存储IP模块或接口的地址。 [0098] 应该理解，可以通过IP模块的测试器来分配包装器柔性接口 212的地址寄存器中 存储的地址。地址寄存器可以存储0的默认地址。如果它们在解码模式时一起被并行测试的 话，一个或多个FI 212可以加载相同的地址。
[0099]响应于接口上的重置操作，保持在地址寄存器303中的地址可以被重置为0。
[0100] 例如，如果没有地址被加载到地址寄存器，则地址总线上的默认地址（例如，0)将 寻址TMC的所有IP模块。在这种情况下，控制总线205上的每个指令都将被传输至所有IP模 块。这被认为是操作的广播模式，并且例如被诸如基于ATPG的测试或MemBI ST测试的测试使 用。
[0101] 解码:
[0102] 在该模式中，特定IP模块的局部测试控制寄存器可以通过发送用于并行配置LTCR 的测试指令来配置。换句话说，在该实施例中，数据不是必须顺次偏移到局部测试控制寄存 器中。在两个IP模块共享地址的情况下，它们的局部测试控制寄存器可以被并行加载。
[0103] 在这种情况下，地址总线承载被一个或多个IP模块共享的地址。地址总线确定哪 个寄存器被耦合至WS0 310,并且在这种情况下，每个被寻址的解码器212的LTCR 306都耦 合至WS0 310。
[0104]测试控制形状承载与将执行的测试的配置相关的指令。解码逻辑301可以解码指 令以确定LTCR 306的配置并利用相关数据加载LTCR 306。
[0105] 在多于一个的IP模块共享地址的示例中，每个被寻址的IP模块都在测试控制总线 上接收指令，并且它们的对应解码器31相应地配置它们的LTCR。
[0106] 在解码操作的一个示例中，可以执行以下步骤：
[0107] 1.应用重置；
[0108] 2.在移除重置之后，加载将唯一的地址放在被测试的IP的FSI上的ADDR REG;
[0109] 3.将测试地址总线设置为与想要的IP/IPs匹配的地址；
[0110] 4.将测试控制总线设置为有效指令以执行想要的测试；
[0111] 5.重复步骤