的位置的周边进行异物检查，能够更加高效地检测成为缺件的元件P。
[0054]进而，安装检查装置40取得与安装检测出的缺件所涉及的元件P时的基板S上的搬运路线相关的信息即缺件搬运信息，优先对根据基板S中的缺件搬运信息所确定的区域进行异物检查。成为缺件的元件P存在于到被检测出缺件的元件P的正确的位置为止的搬运路线上的可能性较高。因此，通过优先对基板S中的包含该搬运路线在内的区域进行异物检查，能够更加高效地检测成为缺件的元件P。
[0055]另外，安装检查装置40基于图像处理进行异物检查，取得与缺件所涉及的元件P的大小相关的信息即缺件尺寸信息，基于取得的缺件尺寸信息，忽略基于图像处理检测出的异物中的比缺件所涉及的元件P小的异物而进行异物检查。因此，例如，能够进一步抑制将焊接的偏移等比元件P小的异物作为异物而进行误检测，能够进一步高效地检测成为缺件的元件P。另外，安装检查装置40在缺件所涉及的元件P存在多个的情况下，基于缺件所涉及的元件P中的最小的元件P的缺件尺寸信息，忽略基于图像处理所检测出的异物中的比最小的元件P小的异物而进行异物检查。这样，在成为缺件的元件P存在多个的情况下，能够进一步高效地检测成为缺件的元件P。
[0056]另外，安装检查装置40在基板S为多连片基板的情况下，也对多连片基板中的除被检测出缺件的子基板以外的子基板进行异物检查。因此，即使在除被检测出缺件的子基板以外的子基板上存在成为缺件的元件P的情况下，也能够检测该元件P。
[0057]另外，安装检查装置40在异物检查中检测出异物时将异物的存在显示于显示部57。而且，由于也显示了异物在基板S上的位置，因此能够基于显示的位置高效地进行基板S上的异物的去除。
[0058]此外，本发明并不局限于上述任何实施方式，不言而喻地，只要从属于本发明的技术的范围，就能够通过各种实施方式进行实施。
[0059]例如，在上述实施方式中，安装检查装置40最优先地进行关于包含缺件位置周边在内的异物检查区域的异物检查，接着，优先进行关于包含缺件搬运路线在内的异物检查区域的异物检查，但是并不局限于此。例如，也可以颠倒两者的优先顺序。或者也可以省略关于包含缺件位置周边在内的异物检查区域的异物检查和关于包含缺件搬运路线在内的异物检查区域的异物检查中的一个以上。
[0060]在上述实施方式中，安装检查装置40在缺件所涉及的元件P存在多个的情况下，基于缺件所涉及的元件P中的最小的元件P的缺件尺寸信息来设定阈值Eth，忽略比该最小的元件P小的异物而进行异物检查，但是并不局限于此。例如，安装检查装置40也可以与缺件尺寸信息无关地将预先设定的值作为阈值Eth。另外，在缺件所涉及的元件P存在多个的情况下，也可以针对各元件P设定不同的阈值Eth。例如，在存在缺件所涉及的元件Pl、P2的情况下，安装检查装置40也可以在步骤S240中对于元件Pl的缺件位置的周边的异物检查区域，使用基于元件Pl的阈值Ethl来进行异物检查，对于元件P2的缺件位置的周边的异物检查区域，使用基于元件P2的阈值Eth2来进行异物检查。步骤S290中的包含缺件搬运路线在内的异物检查区域内的异物检查也相同。
[0061]在安装检查装置40中，也可以在存在多个缺件所涉及的元件P的情况下，在基于缺件位置或缺件搬运路线设定的多个异物检查区域中的小于一个以上缺件数的异物检查区域内检测出异物时，基于未检测出异物的异物检查区域所涉及的元件P的信息来设定以下异物检查区域。换言之，也可以在检测出异物时，将检测出异物的异物检查区域所涉及的元件P看作是检测出的异物而进行以下的处理。例如，在存在缺件所涉及的元件P1、P2的情况下，安装检查装置40也可以在步骤S240中在元件Pl的缺件位置的周边的异物检查区域内检测出一个以上异物且在元件P2的缺件位置的周边的异物检查区域内未检测出异物之后，在步骤S280中设定基于元件P2的缺件搬运路线的异物检查区域而不设定基于元件Pl的缺件搬运路线的异物检查区域。在该情况下，也可以基于元件P2的缺件尺寸信息重新设定在步骤S290中使用的阈值Eth。
[0062]在上述实施方式中，安装检查装置40在基板S为多连片基板的情况下，也对多连片基板中的除被检测出缺件的子基板以外的子基板进行异物检查，但是并不局限于此。例如，安装检查装置40也可以仅对被检测出缺件的子基板进行异物检查。或者，安装检查装置40也可以仅对被检测出缺件的子基板及与该子基板相邻的子基板进行异物检查。
[0063]在上述实施方式中，安装检查装置40将异物的存在、异物的基板S上的位置显示于显示部57，但是只要是进行报告，则并不局限于显示。例如，安装检查装置40也可以通过声音向操作者进行报告。
[0064]在上述实施方式中，安装检查装置40对于通过缺件检查未检测出缺件的基板S不进行异物检查，但是并不局限于此。例如，检查控制单元41也可以在经由操作部58输入了来自操作者的异物检查的执行指示时，与缺件检查的结果无关地进行异物检查。
[0065]在上述实施方式中，安装检查装置40在异物检查中也使用在缺件检查中取得的拍摄图像数据，但是也可以通过基板相机53另行取得拍摄图像数据来用于异物检查。
[0066]在上述实施方式中，将基板S设为包含多个子基板的多连片基板，但是并不局限于此，基板S也可以是单体的基板。
[0067]在上述实施方式中，安装检查装置40通过比较安装前基准图像数据、安装后基准图像数据与拍摄图像数据来进行缺件检查、异物检查，但是并不局限于此。例如，也可以基于拍摄图像数据中的各像素的亮度信息等，检测拍摄图像数据中的成为边缘的像素，基于检测出的边缘来检测物体(元件、异物)的轮廓，基于检测出的物体与安装条件信息86来进行缺件的检查、异物的检查。另外，安装检查装置40也可以通过除图像处理以外的方法来进行缺件检查、异物检查。
[0068]在上述实施方式中，将安装头33的吸嘴34设为吸附元件P的装置，但是只要将安装头33设为保持元件P的结构，则并不限定于进行吸附的方式。例如，也可以将安装头33设为在把持部钩住并保持元件P。
[0069]在上述实施方式中，作为具备了本发明的功能的安装检查装置40进行了说明，但是并未特别局限于此，也可以作为安装检查方法及其程序的形态。
[0070]工业实用性
[0071]本发明能够应用于检查安装于基板的元件的安装状态的安装检查的技术领域中。
[0072]附图标记说明
[0073]10元件安装系统、12LAN、20安装处理装置、21安装控制单元、22CPU、23R0M、24RAM、25HDD、30基板处理单元、32安装处理单元、33安装头、34吸嘴、35头移动部、37供给单元、38零件相机、39输入输出接口、40安装检查装置、41检查控制单元、42CPU、43R0M、44RAM、45HDD、50基板处理单元、52检查处理单元、53基板相机、54相机移动部、56操作面板、57显示部、58操作部、59输入输出接口、80管理计算机、81控制装置、82CPU、83R0M、84RAM、85HDD、86安装条件信息、87输入装置、88显示器、89输入输出接口、P元件、S基板
【主权项】
1.一种安装检查装置，具备: 缺件检查单元，对安装于基板上的元件进行缺件检查;及 异物检查单元，基于所述缺件检查单元的所述缺件检查的结果，对被检测出所述缺件的基板进行检查该基板上的异物的异物检查。2.根据权利要求1所述的安装检查装置，其中， 所述异物检查单元取得与所述基板中的被检测出所述缺件的位置相关的信息即缺件位置信息，并优先对所述基板中的根据所述缺件位置信息所确定的所述位置的周边进行所述异物检查。3.根据权利要求1所述的安装检查装置，其中， 所述异物检查单元取得与安装被检测出的所述缺件所涉及的元件时的所述基板上的搬运路线相关的信息即缺件搬运信息，并优先对所述基板中的根据所述缺件搬运信息所确定的区域进行所述异物检查。4.根据权利要求1?3中任一项所述的安装检查装置，其中， 所述异物检查单元基于图像处理来进行所述异物检查，取得与被检测出的所述缺件所涉及的元件的大小相关的信息即缺件尺寸信息，并基于取得的该缺件尺寸信息，忽略基于所述图像处理检测出的异物中的比所述缺件所涉及的元件小的异物而进行所述异物检查。5.根据权利要求1?4中任一项所述的安装检查装置，其中， 所述基板是包含多个子基板的多连片基板， 所述异物检查单元对由所述缺件检查单元检测出所述缺件的所述多连片基板进行所述异物检查，也对该多连片基板中的除被检测出该缺件的子基板以外的一个以上子基板进行所述异物检查。
【专利摘要】安装检查装置(40)基于缺件检查的结果，对被检测出安装的元件(P)的缺件的基板进行基板上的异物检查。另外，安装检查装置(40)对通过缺件检查未检测出缺件的基板不进行异物检查。安装检查装置(40)取得与基板中的被检测出缺件的位置相关的信息即缺件位置信息，并优先对基板中的根据缺件位置信息所确定的缺件位置的周边进行异物检查。安装检查装置(40)取得与安装被检测出的缺件所涉及的元件时的基板上的搬运路线相关的信息即缺件搬运信息，优先对基板中的根据缺件搬运信息所确定的区域进行异物检查。
【IPC分类】G01N21/956, G01B11/30, H05K13/08
【公开号】CN105531582
【申请号】CN201380079577
【发明人】中岛干雄, 稻垣光孝
【申请人】富士机械制造株式会社
【公开日】2016年4月27日
【申请日】2013年9月17日
【公告号】EP3048439A1, WO2015040667A1