一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法
【专利摘要】本发明公开了一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，使用示差扫描量热分析仪在一定快速加热速率下，测定铜基记忆合金向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af；确定快速加热及超低速加热的温度区间；根据已确定的所述快速加热及超低速加热的温度区间设定加热程序并加热，测量获得实验结果。本发明实验方法步骤安全简单、实验数据可靠，不需要额外复杂设备；本发明的实验方法设计巧妙，将相变温度区间进行进一步划分，并通过转变加热速率最终实现对铜基记忆合金不同微区相变温度的准确测量，为进一步揭示微区相变机理及应用设计奠定了基础。
【专利说明】
一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法
技术领域
[0001]本发明涉及一种相变温度的实验方法，尤其是一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法。
【背景技术】
[0002]对于铜基形状记忆合金元件来说，加热时的相变温度也就是该记忆合金元件的动作温度。有时为了满足记忆材料对性能的某些特殊需要，时常会在铜基记忆合金的原材料中再添加某些少量其它元素。但在添加了某些极微量的其它元素后，用常规的通用的实验方法有时很难检出相变温度的微小变化，尤其是微区相变温度的微小变化。但是，这种极其微小的微区相变温度的细微变化，若能检测出来，对于揭示微区相变机理及设计应用，都是极其重要的。然而，现有技术中未发现有对铜基记忆合金微区相变温度的微小温度变化进行测定的方法。
【发明内容】
[0003]本发明的目的就是为了解决上述问题，提供一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法。
[0004]为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案:
[0005]—种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，使用示差扫描量热分析仪测定在一定快速加热速率下铜基记忆合金向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af;确定快速加热及超低速加热的温度区间;根据已确定的所述快速加热及超低速加热的温度区间设定加热程序并加热，测量获得实验结果。
[0006]具体的，一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，包括以下步骤:
[0007](I)将封装好的待测铜基记忆合金样品和标样分别放置在示差扫描量热分析仪的两个样品台上；
[0008](2)采用快速加热速率确定添加了微量元素的待测铜基记忆合金样品向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af;
[0009](3)确定快速加热及超低速加热的温度区间；
[0010](4)按步骤(3)中确定的温度区间设定加热程序并加热，测量获得实验结果。
[0011]优选的，所述步骤(I)中待测铜基记忆合金样品和标样的质量相同，均为70-80毫克；
[0012]优选的，所述步骤(I)中的标样为Ct-Al2O3；
[0013]优选的，所述步骤(2)中快速加热速率为5°C/min-15°C/min;
[0014]优选的，所述步骤(3)中快速加热的温度区间范围为室温至比向母相开始转变的相变温度As低5-10°C;
[0015]优选的，所述步骤(3)中超低速加热的温度区间范围为比向母相开始转变的相变温度As低5-10°C至比转变结束温度Af高5-10°C ;
[0016]优选的，所述步骤(4)中加热程序为:在快速加热的温度区间范围内以5°C/min-15°C/min的加热速率加热，在超低速加热的温度区间范围内以0.1°C/min的加热速率加热。
[0017]样品经过上述实验方法加热试验后，原来在快速加热速度下所呈现的一个大吸热峰就呈现为多个小的吸热峰，从而实现对不同微区的相变温度的准确测量。与现有技术相比，本发明有如下有益效果:
[0018](I)本发明实验方法步骤安全简单、实验数据可靠，不需要额外复杂设备；
[0019](2)本发明的实验方法设计巧妙，将相变温度区间进行进一步划分，并通过转变加热速率首次实现对铜基记忆合金不同微区相变温度的准确测量，为进一步揭示微区相变机理及应用设计奠定了基础。
【具体实施方式】
[0020]下面结合实施例对本发明作进一步说明。
[0021 ]实施例1:一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，包括以下步骤:
[0022](I)将封装好的待测铜基记忆合金样品和标样分别放置在示差扫描量热分析仪的两个样品台上，所述待测铜基记忆合金样品和标样质量均为70毫克，所述标样为Ct-Al2O3;[0023 ] (2)以5 °C /min的快速加热速率进行加热，确定添加了微量元素的铜基记忆合金向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af;
[0024](3)确定快速加热及超低速加热的温度区间，即快速加热的温度区间为室温至比As低10°C ;超低速加热的温度区间为As-10°C至Af+10°C ；
[0025](4)在室温至比As-10°C的温度区间内按5°C/min的加热速率加热，在As-10°C至Af+10C的温度区间内按0.1 °C/min的加热速率加热，对实验结果进行测量。
[0026]实施例2:—种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，包括以下步骤:
[0027](I)将封装好的待测铜基记忆合金样品和标样分别放置在示差扫描量热分析仪的两个样品台上，所述待测铜基记忆合金样品和标样质量均为75毫克，所述标样为Ct-Al2O3;
[0028](2)以10°C/min的快速加热速率进行加热，确定添加了微量元素的铜基记忆合金向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af;
[0029](3)确定快速加热及超低速加热的温度区间，即快速加热的温度区间为室温至比As低7°C ;超低速加热的温度区间为As-7°C至Af+7°C ；
[0030](4)在室温至比As-7 °C的温度区间内按15 °C /min的加热速率加热，在As_7 °C至Af+7 0C的温度区间内按0.1 °C/min的加热速率加热，对实验结果进行测量。
[0031 ]实施例3: —种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，包括以下步骤:
[0032](I)将封装好的待测铜基记忆合金样品和标样分别放置在示差扫描量热分析仪的两个样品台上，所述待测铜基记忆合金样品和标样质量均为80毫克，所述标样为Ct-Al2O3;
[0033](2)以15°C/min的快速加热速率进行加热，确定添加了微量元素的铜基记忆合金向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af;
[0034](3)确定快速加热及超低速加热的温度区间，即快速加热的温度区间为室温至比As低5°C ;超低速加热的温度区间为As-5°C至Af+5°C ；
[0035](4)在室温至比As-5 °C的温度区间内按15 °C /min的加热速率加热，在As_5 °C至Af+5 0C的温度区间内按0.1 °C/min的加热速率加热，对实验结果进行测量。
[0036]实施例4: 一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，包括以下步骤:
[0037](I)将封装好的待测铜基记忆合金样品和标样分别放置在示差扫描量热分析仪的两个样品台上，所述待测铜基记忆合金样品和标样质量均为80毫克，所述标样为Ct-Al2O3;
[0038](2)以15°C/min的快速加热速率进行加热，确定添加了微量元素的铜基记忆合金向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af;
[0039](3)确定快速加热及超低速加热的温度区间，即快速加热的温度区间为室温至比As低10°C ;超低速加热的温度区间为As-10°C至Af+10°C ；
[0040](4)在室温至比As-10°C的温度区间内按8°C/min的加热速率加热，在As-10°C至Af+10C的温度区间内按0.1 °C/min的加热速率加热，对实验结果进行测量。
[0041]上述虽然对本发明的【具体实施方式】进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或调整仍在本发明的保护范围以内。
【主权项】
1.一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，使用示差扫描量热分析仪在一定快速加热速率下，测定铜基记忆合金向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af;确定快速加热及超低速加热的温度区间；根据已确定的所述快速加热及超低速加热的温度区间设定加热程序并加热，测量获得实验结果。2.如权利要求1所述的一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，包括以下步骤: (1)将封装好的待测铜基记忆合金样品和标样分别放置在示差扫描量热分析仪的两个样品台上； (2)采用快速加热速率确定添加了微量元素的待测铜基记忆合金样品向母相开始转变的相变温度As以及转变结束温度Af; (3)确定快速加热及超低速加热的温度区间； (4)按步骤(3)中确定的温度区间设定加热程序并加热，测量获得实验结果。3.如权利要求2所述的一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，所述步骤(I)中待测铜基记忆合金样品和标样的质量相同，均为70-80毫克。4.如权利要求2所述的一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，所述步骤(I)中的标样为C1-Al2O3。5.如权利要求2所述的一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，所述步骤(2)中快速加热速率为5°C/min-15°C/min。6.如权利要求2所述的一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，所述步骤(3)中快速加热的温度区间范围为室温至比向母相开始转变的相变温度As低5-10°C。7.如权利要求2所述的一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，所述步骤(3)中超低速加热的温度区间范围为比向母相开始转变的相变温度As低5-10°C至比转变结束温度Af高5-10°C。8.如权利要求2所述的一种铜基记忆合金微区相变温度的实验方法，其特征在于，所述步骤⑷中加热程序为:在快速加热的温度区间范围内以5°C/min-15°C/min的加热速率加热;在超低速加热的温度区间范围内以0.1 °C/min的加热速率加热。
【文档编号】G01N25/12GK105973923SQ201610285354
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年4月30日
【发明人】耿贵立, 白玉俊
【申请人】山东大学