脱落检测仪的制作方法
【专利摘要】本发明公开一种脱落检测仪，用于检测键盘的键帽，包括基座、移动支架以及设置与该移动支架上的测试结构和限位结构，当该移动支架相对该待测试装置自该键盘的第一端移动至该键盘的第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用，即本发明在测试时可以防止受力键盘被带起而降低检出率，降低漏检风险。
【专利说明】
脱落检测仪
技术领域
[0001]本发明描述一种脱落检测仪，尤指一种用于检测键盘的键帽的脱落检测仪。
【背景技术】
[0002]—般来说，键帽会因组装不良以及结合力不足等情况而发生脱落，为了确保键帽组装在键盘上后可与键盘稳定的结合在一起，以防止使用过程中或运输过程中键帽发生脱离，需要对每颗键帽进行拉拔力测试，即需要对每块键帽的结合情况进行逐一检查，从而保证键盘的质量。
[0003]在对键帽的结合情况进行检测时，需要向键帽提供一个预设的拉拔力，若受力的该键帽未脱落，则表示该键帽的结合情况良好，反之，则表示结合情况不达标。但是，在检测过程中，会发生键帽受拉拔力而使得整个键盘被带起的情况，此种情况会使得结合情况不合格的键帽无法被检出，导致检出率较低，检测的可靠性降低，进而降低产品品质，无法满足客户及消费者对品质的严格要求。
[0004]因此，有必要提供一种新的脱落检测仪，以克服上述缺陷。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种脱落检测仪，可避免检测过程中键盘被带起而导致检出率降低的情况。
[0006]为达上述目的，本发明提供一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检测装置包括本体和设置于该本体上的多个待检测元件，该待测试装置具有相对的第一端和第二端，该脱落检测仪包含:
[0007]基座，用于放置该待测试装置；
[0008]移动支架，设置于该基座上方，并可相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端；
[0009]测试结构，设置于该移动支架上，用以向该待检测元件提供第一方向上的力，其中，该第一方向为该待检测元件脱离该本体的方向；以及
[0010]限位结构，设置于该移动支架上且位于该待测试元件的上方，用于与该待测试元件相配合；
[0011 ]其中，该移动支架相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用。
[0012]较佳的，该限位结构包括支撑结构和限位部，该支撑结构的第三端用以与该移动支架相连接，该支撑结构的第四端用以与该限位部相连接，该限位部用以与该待测试元件相配合，其中，该第三端与该第四端相对。
[0013]较佳的，该支撑结构与该移动支架枢接，该支撑结构可相对该移动支架移动以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。
[0014]较佳的，该限位结构可相对该移动支架旋转，以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。
[0015]较佳的，该限位结构相对该移动支架绕第一轴方向旋转，该第一轴方向为该限位部的设置方向。
[0016]较佳的，该支撑结构穿设于该移动支架，该支撑结构相对该移动支架移动，实现该限位部与该待测试元件之间的距离的调节。
[0017]较佳的，该支撑结构可相对该移动支架沿该第一方向移动，以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。
[0018]较佳的，该限位部与该待测试元件之间具有第一预设间距，或者该限位部与该待测试元件相接触。
[0019]较佳的，该限位部与该待测试元件滑动配合;或者，该限位部为滚轴设计，以与该待测试元件滚动配合。
[0020]较佳的，该限位部沿第二方向横跨该待测试元件，该第二方向平行于该待测试装置所在的平面且垂直于该第一端指向该第二端的方向。
[0021]较佳的，该待测试装置为键盘，该待测试元件为键帽。
[0022]与现有技术相比，本发明提供一种脱落检测仪，用于检测键盘的键帽，包括基座、移动支架以及设置与该移动支架上的测试结构和限位结构，当该移动支架相对该待测试装置自该键盘的第一端移动至该键盘的第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用，即本发明在测试时可以防止受力键盘被带起而降低检出率，降低漏检风险。
【附图说明】
[0023]图1为本发明第一实施例的脱落检测仪100的结构示意图。
[0024]图2为本发明第二实施例的脱落检测仪100的结构示意图。
【具体实施方式】
[0025]为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。
[0026]参照图1和图2所示，揭示了本发明脱落检测仪100的结构示意图。图1为本发明第一实施例的脱落检测仪100的结构示意图，图2为本发明第二实施例的脱落检测仪100的结构示意图。本发明脱落检测仪100用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，本实施例中，该待检测装置为键盘10，该待检测元件为键帽101，但不以此为限，脱落检测仪100亦可以用于检测其它元件与其本体的结合牢固程度，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。其中，键盘10具有本体102和设置于本体102上的键帽101。进一步的，键盘10具有相对的第一端103和第二端104。本发明脱落检测仪100包括底座11、移动支架12、测试结构13和限位结构14。下面对脱落检测仪100的各组件的具体功能进行描述。另外，为便于说明，特定义具有两两彼此垂直的X轴、Y轴以及Z轴，其中该X轴、该Y轴共同限定本体102所在的平面，第一端103和第二端104为键盘10的沿该X轴方向的相对的两端。
[0027]底座11用于放置键盘10。较佳的，底座11具有容置空间，该容置空间用于容置并定位键盘10，且该容置空间的形状与键盘10的形状相匹配，以定位键盘10，防止键盘10于水平方向上的移动，便于对键盘10的键帽101的检测，以避免在检测过程中因键盘10发生水平方向的移动导致的脱落检测仪或键盘10受到损坏。
[0028]移动支架12设置于底座11上方，并且可相对键盘10自第一端103移动至第二端104。
[0029]测试结构13设置在移动支架12上，测试结构13用以向键帽101提供第一方向上的力，其中，该第一方向为键帽101脱离本体102的方向，例如该第一方向为图1中该Z轴方向。进一步的，测试结构13包括一个或者多个测试元件，但不以此为限。其中，测试结构13可以是任何可以给键帽101施加该第一方向的力的结构，例如为可提供该第一方向的力的结构，或者为卡勾、拨片、棒状等结构，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不在赘述。
[0030]限位结构14设置于移动支架12上且位于键帽101的上方，用于与键帽101相配合，以限制键盘10于该第一方向上的移动。且移动支架12于该X轴方向上具有相对的两侧，限位结构14可以设置于两侧，也可以设置于移动支架12的两侧的中间位置，具体由设计人员根据实际请客而定，在此不再赘述。
[0031]于测试时，首先将键盘10放置于底座11上，然后控制移动支架12相对键盘10自第一端103移动至第二端104，使得测试结构13和限位结构14相对键盘10自第一端103移动至第二端104，于移动过程中，测试结构13与键帽101接触，且在接触时测试结构13对键帽101施加该第一方向上的拉拔力于键帽101上，以对键帽101进行拉拔力测试，同时，限位结构14限制受该第一方向力的键盘1于该第一方向上的移动，防止检测过程中键盘10被测试结构13带起而使得与本体102结合力小于该拉拔力的键帽101无法被检出，可提高检出率和检测的可靠性，进而提高产品品质和竞争力，且可满足客户及消费者对品质的严格要求。并且，由于限位结构14是与键帽101配合来限制键盘10于该第一方向上的移动，而测试结构13是向键帽101施加该第一方向上的力，因此测试结构13和限位结构14不能同时与相同的键帽101相作用，否则，当键帽101与本体102的结合力小于该拉拔力时，由于该键帽101配合的限位结构14限制了该键帽101于该第一方向上的移动键帽101，使得原本会自该第一方向脱离本体102的该键帽101不脱离本体102，从而导致影响键帽101的检测，降低检出率。
[0032]请继续参照图1和图2所示，限位结构14包括两个支撑结构141和限位部142，两个支撑结构141的第三端1411用以与移动支架12相连接，两个支撑结构141的第四端1412用以与限位部142相连接，限位部142用以与键帽101相配合，其中，第三端1411与第四端1412相对。
[0033]进一步的，两个支撑结构141与移动支架12枢接，两个支撑结构141可相对移动支架12移动以调节限位部142与键帽101之间的距离，以更好的与键帽101配合，限制键盘10于该第一方向上的移动。
[0034]如图1所示，限位结构14可相对移动支架12旋转，以调节限位部142与键盘10之间的距离。即，通过旋转限位结构14来改变限位结构14所在的平面(即两个支撑结构141和限位部142所在的平面)与移动支架12所在平面(如图1所示该Y轴和该Z轴所在平面)之间的夹角，以调节限位部142与键盘10之间的距离。进一步的，限位部142沿该Y轴方向设置，限位结构14相对移动支架绕该Y轴旋转，但不以此为限。进一步的，移动支架12上设置有两个安装部121，两个安装部121分别与两个支撑结构141枢接，以使限位结构14可绕该Y轴旋转。较佳的，限位结构14上还设置有定位部，以当限位部142位于预期位置，即两个支撑结构141位于预期位置，该定位部与支撑结构141配合以定位限位部142，但不以此为限，当限位结构14自身的重量达到可以限制键盘10被向上带起，即限位结构14自身的重量大于等于限制键盘10所受的被向上带起的力，则可无需该定位部来固定支撑结构141的位置，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。进一步的，限位部142可以是棒状、板状或者棍状，但不以此为限。
[0035]当然，于本发明第二实施例中，如图2所示，限位结构14亦可以设计成如下结构:两个支撑结构141穿设于移动支架12，且两个支撑结构141可相对移动支架12移动，以实现限位部142与键帽101之间的距离的调节。具体而言，移动支架12上设置有两个安装孔，两个支撑结构141的第三端1411穿设于该两个安装孔，两个支撑结构141与该两个安装孔滑动配合，以通过拉拔的方式移动两个支撑结构141，以调整限位部142与键帽101之间的距离，较佳的，该两个安装孔具有导向作用，以导引两个支撑结构141相对移动支架12移动的方向，但不以此为限。或者，两个支撑结构141与该两个安装孔螺接，且两个支撑结构141分别与限位部142枢接，以使两个支撑结构141可分别相对移动支架12和限位部142旋转，使用者通过分别相对移动支架12旋转两个支撑结构141来调节限位部142与键帽101之间的距离。进一步的，两个支撑结构141可相对移动支架12沿该Z轴方向移动，以调节限位部142与键帽101之间的距离，但不以此为限。进一步的，限位结构14还包括两个连接器，该两个连接器分别用于连接支撑结构141的第四端1412与限位部142的端部，两个支撑结构141可与该两个连接器固定连接，或者两个支撑结构141可与该两个连接器枢接，以使两个支撑结构141可分别相对该两个连接器旋转，但不以此为限。较佳的，两个支撑结构141的第三端1411上设置有操作部，以便于操作，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不在赘述。较佳的，限位结构14或者移动支架12上设置有多个档位，不同的档位对应限位部142与键帽101之间的不同间距大小，以便于调节限位部142与键帽101之间的距离，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
[0036]进一步的，如图1所示，限位部142为滚轴设计，以与键帽101滚动配合，如此，当限位部142与键帽接触时，限位部142与键帽101滚动接触，可减小限位部142与键帽101的摩擦力，而不会损坏键帽101，且可实现较大限度限制键盘10于该第一方向上的移动。当然，限位部142亦可为非滚轴设计，即限位部142不可相对两个支撑结构141绕其中心轴选择，也即当限位部142与键帽101接触时，限位部142与键帽101为滑动接触，较佳的，为了减小限位部142与键帽的摩擦力，防止损坏键帽101和限位部142，限位部142可与键帽101之间具有第一预设间距，以限制键盘10于该第一方向上的移动的同时减小限位结构14相对键帽101移动的阻力，降低键帽101和限位部142的磨损，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。例如，该第一预设间距为0.lmm-6mm，较佳为。
[0037]本实施例中，多个键帽101沿该X轴方向排列，如此，当测试结构13自第一端103移动至第二端104时，可以对至少一行键帽101进行检测，方便、快捷。进一步的，测试结构13包括多个测试元件，该多个测试元件可同时对不同行的键帽101进行检测，当键帽101的行数等于该测试元件的个数，测试结构13自第一端103移动至第二端104即可完成对整片键盘的键帽一次性完成检测，方便、快捷，在保证键盘品质的同时，还可以提高生产效率。
[0038]进一步的，如图1和图2所示，限位部142沿该Y轴方向(第二方向)横跨键盘10设置，以更好的限制键盘10于该第一方向上的移动，特别是键盘10包括多行沿该X轴方向排列的键帽101，测试结构13同时对多行键帽101进行测试时，此种方式设置的限位部142可以确保键盘10于该第一方向上不发生移动，而不会因为因限位部142未横跨键盘10设置而导致键盘10于该第一方向发生移动或者倾斜。当然，限位部142的设置不一定要横跨键盘10，亦可以设计成与测试结构13相匹配的宽度，例如，测试结构13—次可同时检测于该Y轴方向上相邻排列的三行键帽101，那么限位部142于该Y轴方向的长度要大于等于该三行键帽101于该Y轴方向上的宽度，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
[0039]于实际应用中，还包括驱动装置，用以驱动移动支架12移动。进一步的，还包括感测装置和处理模块，该处理模块耦接于该感测装置和该驱动装置，该感测装置用于感测键盘10，当键盘10脱离底座11时，该感测装置发送第一信号给该处理模块，该处理模块16根据该第一信号控制该驱动装置驱动移动支架12返回第一端103，即返回初始位置，随时准备开始新一轮的检测；当该处理模块收到第二信号时，该处理模块根据该第二信号控制该驱动装置驱动移动支架12自第一端103移动至第二端104，即开始检测键盘10的键帽101。即，本发明为自动化设备，只需要使用者将键盘10放入底座11并发出该第一信号，脱落检测仪100即可自行对键盘10进行检测，当检测完毕后，若使用者肉眼观察无键帽脱落，即可判断键盘1上的每个键帽101与本体102的结合强度符合要求，也说明该键盘1质量合格。其中，该第二信号是由脱落检测仪100上的启动按钮被按压或者触控后产生的，或者，该第人信号是由遥控器产生，或者该第二信号由使用者点脱落检测仪100上的显示器上的选项产生，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
[0040]进一步的，脱落检测仪100上设置有滑轨，用于导引移动支架12于第一端103和第二端104之间沿该X轴方向移动，但不以此为限，具体由设计人员根据实际情况而定。较佳的，滑轨设置于基座11的相对的两侧，以分别与移动支架12的相对的两端相配合，但不以此为限。
[0041]进一步的，限位部142由塑料制成，但不以此为限，限位部142亦可以由满足测试需求，且耐磨的其它材料制成，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
[0042]需要特别说明的是，上述实施例以限位结构14具有两个支撑结构141为例进行说明，于实际应用中，一个或者三个支撑结构亦可以实现上述效果，具体由设计人员根据实际情况而定，在此不再赘述。
[0043]综上，本发明提供一种脱落检测仪，用于检测键盘的键帽，包括基座、移动支架以及设置与该移动支架上的测试结构和限位结构，当该移动支架相对该待测试装置自该键盘的第一端移动至该键盘的第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用，即本发明在测试时可以防止受力键盘被带起而降低检出率，降低漏检风险。
[0044]本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地，在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。
【主权项】
1.一种脱落检测仪，用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力，该待检测装置包括本体和设置于该本体上的多个待检测元件，该待测试装置具有相对的第一端和第二端，其特征在于，该脱落检测仪包含: 基座，用于放置该待测试装置； 移动支架，设置于该基座上方，并可相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端； 测试结构，设置于该移动支架上，用以向该待检测元件提供第一方向上的力，其中，该第一方向为该待检测元件脱离该本体的方向；以及 限位结构，设置于该移动支架上且位于该待测试元件的上方，用于与该待测试元件相配合； 其中，该移动支架相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，使得该测试结构和该限位结构相对该待测试装置自该第一端移动至该第二端，且在移动过程中，该测试结构对该待测试元件施加该第一方向上的力，该限位结构限制受该第一方向力的该待测试装置于该第一方向上的移动，且该测试结构和该限位结构不同时与相同的该待测试元件相作用。2.如权利要求1所述的脱落检测仪，其特征在于，该限位结构包括支撑结构和限位部，该支撑结构的第三端用以与该移动支架相连接，该支撑结构的第四端用以与该限位部相连接，该限位部用以与该待测试元件相配合，其中，该第三端与该第四端相对。3.如权利要求2所述的脱落检测仪，其特征在于，该支撑结构与该移动支架枢接，该支撑结构可相对该移动支架移动以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。4.如权利要求3所述的脱落检测仪，其特征在于，该限位结构可相对该移动支架旋转，以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。5.如权利要求4所述的脱落检测仪，其特征在于，该限位结构相对该移动支架绕第一轴方向旋转，该第一轴方向为该限位部的设置方向。6.如权利要求3所述的脱落检测仪，其特征在于，该支撑结构穿设于该移动支架，该支撑结构相对该移动支架移动，实现该限位部与该待测试元件之间的距离的调节。7.如权利要求6所述的脱落检测仪，其特征在于，该支撑结构可相对该移动支架沿该第一方向移动，以调节该限位部与该待测试元件之间的距离。8.如权利要求2所述的脱落检测仪，其特征在于，该限位部与该待测试元件之间具有第一预设间距，或者该限位部与该待测试元件相接触。9.如权利要求2所述的脱落检测仪，其特征在于，该限位部与该待测试元件滑动配合；或者，该限位部为滚轴设计，以与该待测试元件滚动配合。10.如权利要求2所述的脱落检测仪，其特征在于，该限位部沿第二方向横跨该待测试元件，该第二方向平行于该待测试装置所在的平面且垂直于该第一端指向该第二端的方向。11.如权利要求1-10所述的脱落检测仪，其特征在于，该待测试装置为键盘，该待测试元件为键帽。
【文档编号】G01N19/04GK106018272SQ201610464527
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年6月23日
【发明人】周云峰, 王运涛, 张驰
【申请人】淮安达方电子有限公司