一种封装材料的水汽透过率测试设备及方法
【专利摘要】本发明公开了一种封装材料的水汽透过率测试设备及方法。该设备包括测试腔体、拍摄设备及测试电路，其中，测试腔体内设置承载平板/架和拍摄设备，测试电路连接至承载平板/架，用于电连接承载平板/架上的待测试物体，并对待测试物体进行电性测试；拍摄设备用于在测试电路对待测试物体进行电性测试的至少部分时间内，对待测试物体进行光学测试。通过这种设备和方法，实现了一台设备上可以同时进行电学测试和光学测试的目的，降低成本，提高工作效率。
【专利说明】
一种封装材料的水汽透过率测试设备及方法
技术领域
[0001]本发明涉及材料透湿性测量技术领域，特别是一种封装材料的水汽透过率测试设备及方法。
【背景技术】
[0002]OLED器件具有对比度高、色域广、柔性、轻薄、节能等突出优点，在显示领域有着光明的前景，但是，OLED器件中用于形成金属阴极的活泼金属对空气中的水汽和氧气非常敏感，非常容易与渗透进来的水汽发生反应，影响电荷的注入。另外，渗透进来的水汽和氧气还会与有机材料发生化学反应，这些反应是引起OLED器件性能下降、OLED器件寿命缩短的主要因素，因此，封装技术尤其是封装材料的透湿性对OLED器件非常重要。目前，对封装材料的透湿性测试方法主要包括对封装材料的水汽透过滤的电性测试和光学测试，但是，在现有技术中，这两种测试方法只能进行单一测定，一种设备只能进行一种测试，成本高，效率低。
【发明内容】
[0003]本发明主要提供一种封装材料的水汽透过率测试设备及方法，旨在解决一种设备对封装材料的水汽透过滤只能进行一种测试方法而产生的成本高、效率低的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是:提供一种封装材料的水汽透过率测试设备，该设备包括:测试腔体、拍摄设备及测试电路，
[0005]其中，测试腔体内设置承载平板/架和所述拍摄设备；
[0006]测试电路连接至所述承载平板/架，用于电连接所述承载平板/架上的待测试物体，并对待测试物体进行电性测试；
[0007]拍摄设备用于在测试电路对待测试物体进行电性测试的至少部分时间内，对待测试物体进行光学测试。
[0008]其中，进一步包括:
[0009]光源；
[0010]其中，承载平板/架安放待测试物体的区域透光，且位于光源与拍摄设备的光路之间。
[0011]其中，进一步包括:
[0012]承载平板/架设置有连接/接插待测试物体的电极，电极与测试电路连接。
[0013]其中，电极包括正负电极，分别位于承载平板/架两端。
[0014]其中，电性测试包括测试待测试物体电压、电流及电阻中至少一种。
[0015]其中，光学测试包括测试待测试物体的透光率、透光阴影、发光缺陷中至少一种。
[0016]为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是:提供一种封装材料的水汽透过率测试方法，该方法包括:
[0017]提供测试腔体、拍摄设备及测试电路，测试腔体内设置承载平板/架和拍摄设备，测试电路连接至承载平板/架，用于电连接承载平板/架上的待测试物体；
[0018]利用测试电路对待测试物体进行电性测试，且利用拍摄设备在测试电路对待测试物体进行电性测试的至少部分时间内对，对待测试物体进行光学测试。
[0019]其中，进一步包括:
[0020]对待测试物体进行光学测试包括:
[0021]提供光源，使得承载平板/架位于光源与拍摄设备的光路之间；
[0022]利用拍摄设备采集自光源发出、并透过待测试物体的光线。
[0023]本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况，本发明提供一种包括测试腔体、拍摄设备及测试电路的设备，其中，测试腔体内设置承载平板/架和拍摄设备，测试电路连接至承载平板/架，用于电连接承载平板/架上的待测试物体，并对待测试物体进行电性测试；拍摄设备用于在测试电路对待测试物体进行电性测试的至少部分时间内，对待测试物体进行光学测试，通过该设备及方法，实现了一台设备上可以同时进行电学测试和光学测试的目的，降低成本，提高工作效率。
【附图说明】
[0024]图1是本发明封装材料的水汽透过率测试装置一实施方式的结构示意图；
[0025]图2是本发明封装材料的水汽透过率测试装置另一实施例的结构示意图；
[0026]图3是本发明封装材料的水汽透过率测试方法一实施方式的流程示意图。
【具体实施方式】
[0027]为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和【具体实施方式】对本发明所提供的一种封装材料的水汽透过率测试设备及方法做进一步详细描述
[0028]参阅图1，本发明一种封装材料的水汽透过率测试设备包括:测试腔体10、拍摄设备11、测试电路12及光源13。
[0029]其中，测试腔体10为一个恒温恒湿的环境，本实施方案以恒温恒湿箱为例。
[0030]测试腔体10内设置承载平板/架101，在本实例中，承载平板/架101为一块整体的平板/架。承载平板/架101上放置待测试物体102，测试电路12连接至承载平板/架101，用于电连接待测试物体102，其中待测试物体102为活泼金属，导电性良好并易于与水蒸气和氧气发生反应。
[0031]此外，承载平板/架1I上设置有电极13，用于连接/接插待测试物体1 2，电极1 3有正负电极，分别设置在承载平板/架101两端，与待测试物体102两端连接/接插，电极103与测试电路12连接。此时，测试电路12、电极103和待测试物体102形成一个电流回路，当测试电路12通电时，电流从电极103和待测试物体102中通过，根据待测试物体102电流、电压和电阻中至少一个的变化值，测试待测试物体102的电学特性。
[0032]进一步地，拍摄设备11用于在测试电路12对待测试物体102进行电性测试的至少部分时间内，对待测试物体102进行光学测试。光源13发出的光线被拍摄设备11接收，形成光路，拍摄设备11和光源13分别置于待测试物体102两边，且光源13和拍摄设备11之间形成的光路通过待测试物体102。
[0033]其中，承载平板/架101上放置待测试物体102的区域透光，光源13发出的光线通过承载平板/架101的透光区域穿透待测试物体102，被拍摄设备11接收，拍摄设备11可获得包括但不限于待测试物体102的透过光强度及区域的信息，测试出待测试物体102的透光率、透光阴影、发光缺陷中至少一种的光学特性。
[0034]参阅图2，本发明封装材料的水汽透过率测试设备另一实施方式包括:
[0035]在图1所示技术方案的基础上，在承载平板/架201上安装一个密封罩24，把待测试物体202与空气隔开，其中密封罩24包括金属覆盖层241、盖板243及两者之间的密封胶242。金属覆盖层241设置于承载平板/架201上，数量为二，分别位于承载平板/架201两端并与待测试物体202两端的电极203连接，盖板243位于待测试物体202和拍摄设备21之间，盖住待测试物体202，两者之间涂满密封胶242，其中，金属覆盖层201为导电性良好的金属，密封胶242具有多孔性，盖板243透光性良好，本实施案例盖板243以玻璃盖板为例。
[0036]使用时，测试电路22通电，与金属覆盖层241、电极203和待测试物体202形成电流回路;打开光源23及拍摄设备21，光源23发出光线，经过承载平板/架201上的透光区域照射到待测试物体202。与此同时，恒温恒湿箱20里包含水蒸气和氧气的空气通过具有多孔性的密封胶242进入密封罩24内，与待测试物体202接触，并发生反应，随着时间的延续，待测试物体202逐渐变薄直至局部进而全部透光。在此过程中，待测试物体202的电流、电阻及电压发生变化，可以此测出待测试物体的电流、电阻及电压中至少一项电学特性;与此同时，随着待测试物体202的变薄并透光，光源23发出的光线可穿透待测试物体202，进而通过玻璃盖板243被上方的拍摄设备21接收，拍摄设备21可获得包括但不限于待测试物体202的透过光强度及区域的信息，以此测试待测试物体202的透光率、透光阴影、发光缺陷中至少一种的光学特性。
[0037]对于测试待测试物体202的发光缺陷等来说，光源23可以省略，拍摄设备21直接获取待测试物体202的发光情况。
[0038]可以看出，在本发明实施案例中，在一个恒温恒湿箱20内，上述装置在对待测试物体202进行电学特性测试的时候可同时对待测试物体进行光学特性测试，实现了一台设备上可以同时进行电学测试和光学测试的目的，降低了成本，提高了工作效率。
[0039]本实施案例中待测试物体202为活性金属，在其他实施案例中，上述设备亦可将OLED样品作为待测试物体202，进行OLED样品的在恒温恒湿环境下对水蒸气和氧气的耐久性测试，此时，OLED样品与电极203连接，测试电路22通电，OLED样品发光，发出的光线穿过玻璃盖板243被上方的拍摄设备21接收，恒温恒湿箱20内的水蒸气和氧气穿过密封胶242与OLED样品的金属电极发生反应或破坏有机层，随着时间的延续，OLED样品的发光区域逐渐失效，暗点区域数量变多、面积变大，上方的拍摄设备21记录变化的图像，以此测试出OLED样品对水蒸气和氧气的耐久性。
[0040]参阅图1和图3，本发明还提供了一种封装材料的水汽透过率测试方法，该方法使用图1实施例中的装置，包括:
[0041]S1:提供测试腔体10、拍摄设备11及测试电路12，测试腔体10内设置承载平板/架101和拍摄设备11，测试电路12连接至承载平板/架101，用于电连接承载平板/架101上的待测试物体102;
[0042]S2:利用测试电路12对待测试物体102进行电性测试，且利用拍摄设备11在测试电路12对待测试物体102进行电性测试的至少部分时间内对，对待测试物体102进行光学测试。
[0043]其中，进一步包括:
[0044]对待测试物体102进行光学测试包括:
[0045]提供光源13，使得承载平板/架101位于光源13与拍摄设备11的光路之间；
[0046]利用拍摄设备11采集自光源13发出、并透过待测试物体12的光线。
[0047]S3:随着时间的延续，记录待测试物体102电流、电阻、电压的数据变化，同时记录拍摄设备11拍摄的图像信息。
[0048]S4:根据S4所记录的数据及信息计算出待测试物体102的电学特性和光学特性。
[0049]以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围。
【主权项】
1.一种封装材料的水汽透过率测试设备，其特征在于，包括:测试腔体、拍摄设备及测试电路； 其中，所述测试腔体内设置承载平板/架和所述拍摄设备； 所述测试电路连接至所述承载平板/架，用于电连接所述承载平板/架上的待测试物体，并对所述待测试物体进行电性测试； 所述拍摄设备用于在所述测试电路对所述待测试物体进行电性测试的至少部分时间内，对所述待测试物体进行光学测试。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，进一步包括: 光源； 其中，所述承载平板/架安放所述待测试物体的区域透光，且位于所述光源与所述拍摄设备的光路之间。3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，进一步包括: 所述承载平板/架设置有连接/接插所述待测试物体的电极，所述电极与所述测试电路连接。4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述电极包括正负电极，分别位于所述承载平板/架两端。5.根据权利要求1至4任一项所述的设备，其特征在于，所述电性测试包括测试所述待测试物体电压、电流及电阻中至少一种。6.根据权利要求1至4任一项所述的设备，其特征在于，所述光学测试包括测试所述待测试物体的透光率、透光阴影、发光缺陷中至少一种。7.一种封装材料的水汽透过率测试方法，其特征在于，包括:提供测试腔体、拍摄设备及测试电路，所述测试腔体内设置承载平板/架和所述拍摄设备，所述测试电路连接至所述承载平板/架，用于电连接所述承载平板/架上的待测试物体；利用所述测试电路对所述待测试物体进行电性测试，且利用所述拍摄设备在所述测试电路对所述待测试物体进行电性测试的至少部分时间内对，对所述待测试物体进行光学测试。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括: 所述对所述待测试物体进行光学测试包括: 提供光源，使得所述承载平板/架位于所述光源与所述拍摄设备的光路之间； 利用所述拍摄设备采集自所述光源发出、并透过所述待测试物体的光线。
【文档编号】G01N15/08GK106092854SQ201610456983
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月21日
【发明人】沐俊应
【申请人】武汉华星光电技术有限公司