一种导轨式三维形貌测量实验系统的制作方法

文档序号:8605839阅读:310来源:国知局
一种导轨式三维形貌测量实验系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测量装置,具体涉及三维形貌测量。
【背景技术】
[0002]现有的三维形貌测量实验系统一般将投影系统和图像采集系统的位置固定,且封装在一个密闭结构内,载物平台水平或垂直放置。这种结构里,投影系统和图像采集系统的位置是固定的,它们的俯仰可调节性差,很难使投影出来的影栅图正好覆盖到参考平面的合适位置和范围。投影系统和图像采集系统密闭结构一般放置在三脚架上,重心不稳,且载物平台到投影系统之间的距离测量很不方便。

【发明内容】

[0003]本实用新型的目的是解决投影仪和相机的位置和俯仰角度调节困难、系统稳定性差、载物平台与投影仪之间的距离测量不方便等问题。
[0004]为实现本实用新型目的而采用的技术方案是这样的,一种导轨式三维形貌测量实验系统,包括第一导轨、第二导轨、第一滑块、第一支架、投影仪、第二滑块、第二支架、照相机、第三滑块、第三支架和载物平台。
[0005]所述第一导轨与第二导轨垂直放置,所述第二导轨的一端固定连接在第一导轨的一侧。
[0006]所述第一导轨上安装有第一滑块和第二滑块。所述第一支架的下端铰接在所述第一滑块的上面,所述投影仪固定在所述第一支架的上端。所述第二支架的下端铰接在所述第二滑块的上面,所述照相机固定在所述第二支架的上端。
[0007]所述第二导轨上安装有第三滑块,所述第三支架的下端铰接在所述第三滑块的上面,所述载物平台固定在第三支架的上端。
[0008]所述投影仪和所述照相机的镜头面向载物平台。
[0009]进一步,所述第一导轨和/或第二导轨上带有刻度尺。
[0010]进一步,所述第一支架、所述第二支架和/或第三支架是伸缩杆。
[0011]采用上述技术方案,不仅可以解决投影仪和相机之间的位置、俯仰调节困难,而且可以解决系统稳定性差、载物平台与投影仪之间的距离测量不方便等问题,不但提高了系统的可调节性和灵活性,并且还具有操作简单,成本低廉等突出优点。
[0012]本实用新型的技术效果是毋庸置疑的。
【附图说明】
[0013]图1为导轨式三维形貌测量实验系统示意图。
[0014]图中:第一导轨(1)、第二导轨(2)、第一滑块(301)、第一支架(302)、投影仪(303)、第二滑块(401)、第二支架(402)、照相机(403)、第三滑块(501)、第三支架(502)、载物平台(503) ο
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明,但不应该理解为本实用新型上述主题范围仅限于下述实施例。在不脱离本实用新型上述技术思想的情况下,根据本领域普通技术知识和惯用手段,做出各种替换和变更,均应包括在本实用新型的保护范围内。
[0016]实施例1:一种导轨式三维形貌测量实验系统,包括第一导轨1、第二导轨2、第一滑块301、第一支架302、投影仪303、第二滑块401、第二支架402、照相机403、第三滑块501、第三支架502和载物平台503。
[0017]所述第一导轨I与第二导轨2垂直放置,所述第二导轨2的一端固定连接在第一导轨I的一侧。优选地,第二导轨2到第一导轨I两端的距离相等。
[0018]所述第一导轨I上安装有第一滑块301和第二滑块401。
[0019]所述第一支架302的下端铰接在所述第一滑块301的上面,所述第一支架302的俯仰角度可调。所述投影仪303固定在所述第一支架302的上端,改变第一支架302的俯仰角度可以改变所述投影仪303的俯仰角度。
[0020]所述第二支架402的下端铰接在所述第二滑块401的上面,所述第二支架402的俯仰角度可调。所述照相机403固定在所述第二支架402的上端,改变第二支架402的俯仰角度可以改变所述照相机403的俯仰角度。
[0021]在第一导轨I上移动所述第一滑块301和/或所述第二滑块401,可以调节所述投影仪303和所述照相机403之间的距离。
[0022]所述第二导轨2上安装有第三滑块501,所述第三支架502的下端铰接在所述第三滑块501的上面,所述载物平台503固定在第三支架502的上端。在第二导轨2移动所述第三滑块501可以调节载物平台503到第一导轨I的距离。
[0023]所述载物平台503安装有用于固定被拍摄物体的部件,所述部件可以是挂钩、软绳和/或大头针等。
[0024]所述投影仪303和所述照相机403的镜头面向载物平台503。所述投影仪303投影图像为影栅图像。
[0025]使用本实施例装置时,将参考平面和被拍摄物体固定在载物平台503上;投影仪303投影影栅图像于参考平面上,调节第三支架502的俯仰角度使影栅图覆盖到参考平面的合适位置和范围;通过调节第一滑块301、第二滑块401和/或第三滑块501的位置,以及调节第一支架302、第二支架402和/或第三支架502的俯仰角度,使参考平面上的影栅图像成像在照相机403视场的中部。调节完毕后,测量并记录投影仪303与照相机403之间,以及载物平台503和第一导轨I之间的距离,然后利用软件采集图像并送入计算机进行后续处理,得到物体的三维形貌。
[0026]实施例2:
[0027]本实施例公开一种导轨式三维形貌测量实验系统,主要结构同实施例1,进一步,所述第一导轨I和/或第二导轨2上带有刻度尺。
[0028]进一步,所述第一支架302、所述第二支架402和/或第三支架502是伸缩杆,支架的长度可调。
【主权项】
1.一种导轨式三维形貌测量实验系统,其特征在于:包括第一导轨(I)、第二导轨(2)、第一滑块(301)、第一支架(302)、投影仪(303)、第二滑块(401)、第二支架(402)、照相机(403)、第三滑块(501)、第三支架(502)和载物平台(503); 所述第一导轨(I)与第二导轨(2)垂直放置,所述第二导轨(2)的一端固定连接在第一导轨⑴的一侧; 所述第一导轨(I)上安装有第一滑块(301)和第二滑块(401);所述第一支架(302)的下端铰接在所述第一滑块(301)的上面,所述投影仪(303)固定在所述第一支架(302)的上端;所述第二支架(402)的下端铰接在所述第二滑块(401)的上面,所述照相机(403)固定在所述第二支架(402)的上端; 所述第二导轨(2)上安装有第三滑块(501),所述第三支架(502)的下端铰接在所述第三滑块(501)的上面,所述载物平台(503)固定在第三支架(502)的上端; 所述投影仪(303)和所述照相机(403)的镜头面向载物平台(503)。
2.根据权利要求1所述的一种导轨式三维形貌测量实验系统,其特征在于:所述第一导轨(I)和/或第二导轨(2)上带有刻度尺。
3.根据权利要求1所述的一种导轨式三维形貌测量实验系统,其特征在于:所述第一支架(302)、所述第二支架(402)和/或第三支架(502)是伸缩杆。
【专利摘要】为实现本实用新型目的而采用的技术方案是这样的,一种导轨式三维形貌测量实验系统,包括第一导轨、第二导轨、第一滑块、第一支架、投影仪、第二滑块、第二支架、照相机、第三滑块、第三支架和载物平台。第一导轨与第二导轨垂直放置,第二导轨的一端固定连接在第一导轨的一侧。第一导轨上安装有第一滑块和第二滑块。第一支架的下端铰接在第一滑块的上面,投影仪固定在第一支架的上端。第二支架的下端铰接在第二滑块的上面,照相机固定在第二支架的上端。第二导轨上安装有第三滑块,第三支架的下端铰接在第三滑块的上面,载物平台固定在第三支架的上端。投影仪和照相机的镜头面向载物平台。
【IPC分类】G01B11-25
【公开号】CN204313804
【申请号】CN201420818308
【发明人】何光宏, 王高, 范鹏飞, 张莉
【申请人】重庆大学
【公开日】2015年5月6日
【申请日】2014年12月22日
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1