变换器测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试系统，特别涉及一种变换器测试系统。
【背景技术】
[0002]随着电子信息技术的快速发展，DC-DC变换器广泛应用于通信、医疗以及大规模数字电路应用领域，常用的例如有LXM05060W型DC-DC变换器。传统的测试LXM05060W型DC-DC变换器电性能指标的方法是手工测试，手工测试存在测试周期长、无法实现高低温在线实时测试、测试数据一致性差的问题。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种变换器测试系统，以解决上述技术问题中的至少一个。
[0004]根据本实用新型的一个方面，提供了一种变换器测试系统，包括控制电路、处理电路和输出接口，控制电路向处理电路发送控制信号，处理电路依次对控制信号进行译码、选择、放大，并将处理后的信号发送给输出接口。
[0005]本实用新型中控制电路发出的控制信号经过处理电路处理后发送给输出接口，输出接口可以与外围的DC-DC变换器连接，当DC-DC变换器上连接输入电源、负载和数字多用表时，由于处理电路可以对控制电路发出的控制信号进行选择，DC-DC变换器接收不同的控制信号，通过控制电路发出的控制信号的变化，可以通过数字多用表可以实现测试DC-DC变换器的输入电压范围、输出电压温漂、线性调整变化范围差、负载调整变化范围差、总输出电压变化、效率、过流保护阈值、Margin up功能、Margin down功能、输入欠压保护、输出禁止功能等电性能指标参数，提高了测试效率和测试精度，结构简单、使用方便、性能可靠。
[0006]在一些实施方式中，变换器测试系统还可以包括DC-DC变换器、变换器输入电源、负载和数字多用表，输出接口将处理后的控制信号发送给DC-DC变换器，变换器输入电源向DC-DC变换器输入电压信号，DC-DC变换器将固定电压输出给负载，DC-DC变换器向数字多用表发送电性能参数信号进行显示。由此，由于处理电路可以对控制电路发出的控制信号进行选择，DC-DC变换器接收不同的控制信号，通过控制电路发出的控制信号的变化，可以通过数字多用表实现测试DC-DC变换器的输入电压范围、输出电压温漂、线性调整变化范围差、负载调整变化范围差、总输出电压变化、效率、过流保护阈值、Margin up功能、Margin down功能、输入欠压保护、输出禁止功能等电性能指标参数。
[0007]在一些实施方式中，处理电路可以包括译码电路、驱动电路和电子开关阵列，译码电路接收控制电路发送的控制信号并进行解码，并将解码后的控制信号发送给驱动电路，驱动电路将解码后的控制信号进行放大处理，放大后的控制信号选择电子开关阵列中的其中一个电子开关接通，驱动电路将放大后的控制信号通过接通的电子开关发送给输出接口。由此，译码电路解码控制电路发送的控制信号，驱动电路将解码后的控制信号进行放大处理，放大后的控制信号选择电子开关阵列中的其中一个电子开关接通，驱动电路将放大后的控制信号通过接通的电子开关发送给输出接口，从而可以使外围的DC-DC变换器接收不同的控制信号。
[0008]在一些实施方式中，电子开关阵列可以是继电器阵列。由此，控制电路发出的控制信号可以选择继电器阵列中不同的继电器进行动作，从而可以使外围的DC-DC变换器接收不同的控制信号。
[0009]在一些实施方式中，控制电路可以采用74ALVC164245芯片。由此，通过74ALVC164245芯片可以实现对外围的LXM05060W型DC-DC变换器进行控制测试。
[0010]在一些实施方式中，译码电路可以采用SN74HCT238N芯片。由此，通过SN74HCT238N芯片可以对控制电路发出的控制信号进行解码。
[0011]在一些实施方式中，驱动电路可以采用ULN2803芯片。由此，通过ULN2803芯片可以将解码后的控制信号进行放大处理。
[0012]在一些实施方式中，电子开关阵列可以是由832HA-1A-F-C型继电器、H JR-410 2L-12 V型继电器和HRS2H-S-DC12 V-N型继电器组成的继电器阵列。由此，通过832HA-1A-F-C型继电器、HJR-4102L-12V型继电器和HRS2H-S-DC12V-N型继电器组成的继电器阵列，可以实现对控制电路发出的控制信号的选择，从而可以使外围的LXM05060W型DC-DC变换器接收不同的控制信号。
[0013]在一些实施方式中，输出接口可以采用8.25mm间距接线端子。由此，通过8.25mm间距接线端子可以方便变换器测试系统中导线的连接以及排布。
[0014]在一些实施方式中，还可以包括输入接口，输出接口将放大后的控制信号发送给输入接口，输入接口将放大后的控制信号发送给DC-DC变换器，输入接口可以采用跳线连接端子。由此，处理后的控制信号通过输出接口、输出接口发送给DC-DC变换器，采用跳线连接端子可以方便变换器测试系统中导线的连接以及排布。
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型一种实施方式的变换器测试系统的结构示意图；
[0016]图2为图1所示的变换器测试系统中电子开关阵列的排布结构示意图；
[0017]图3为本实用新型另一种实施方式的变换器测试系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图对本实用新型作进一步详细地说明。
[0019]实施例一:
[0020]图1和图2示意性地显示了本实用新型一种实施方式的变换器测试系统的结构。
[0021]如图1所示，变换器测试系统，包括控制电路1、处理电路2和输出接口 3。
[0022]控制电路I向处理电路2发送控制信号，处理电路2依次对控制信号进行译码、选择、放大，并将处理后的信号发送给输出接口 3。
[0023]如图1所示，处理电路2包括译码电路21、驱动电路22和电子开关阵列23。
[0024]如图1所示，控制电路I向译码电路21发出控制信号。本实施例中，控制电路I采用74ALVC164245芯片。在其它实施例中，控制电路I也可以采用其它合适型号的控制芯片。
[0025]如图1所示，译码电路21接收控制电路I发送的控制信号并进行解码，并将解码后的控制信号发送给驱动电路22。
[0026]本实施例中，译码电路21采用SN74HCT238N芯片。在其它实施例中，译码电路21也可以采用其它合适型号的译码芯片，能对控制电路I发出的控制信号进行解码即可。
[0027]如图1所示，驱动电路22将解码后的控制信号进行放大处理，如把译码电路21发出的弱电流控制信号转换为强电流控制信号，放大后的控制信号可以选择电子开关阵列23中的其中一个电子开关接通，驱动电路22将放大后的控制信号通过接通的电子开关发送给输出接口 3。
[0028]本实施例中，驱动电路22采用ULN2803芯片。在其它实施例中，驱动电路22也可以采用其它合适型号的驱动芯片，能对解码后的控制信号进行放大处理即可。
[0029]如图2所示，本实施例中，电子开关阵列23是继电器阵列。在其它实施例中，电子开关阵列23也可以采用可控硅组成的阵列。
[0030]如图2所示，本实施例中，继电器阵列中继电器Κ1-1、Κ1-2、Κ2-1、Κ2-2、Κ3-1、Κ3-2采用 832HA-1A-F-C 型继电器，Κ1-3、Κ1-4、Κ1-5、Κ1-6、Κ2-3、Κ2-4、Κ2-5、Κ2-6、Κ3-3、Κ3_4、Κ3-5、Κ3-6 采用 HJR-4102L-12V 型继电器，Κ1-7、Κ1-8、Κ1-9、Κ2-7、Κ2-8、Κ2-9、Κ3-7、Κ3_8、Κ3-9采用HRS2H-S-DC12V-N型继电器。在其它实施例中，继电器的型号可以根据测试需要进行变更。
[0031]如图2所示，本实施例中，继电器阵列中R1-1、R1-2、R1-3、R1-4、R1-5、R1-6、R1_7、Rl-8、Rl-9、R2-1、R2-2、R2-3、R2-4、R2-5、R2-6、R2-7、R2-8、R2-9、R3-1、R3-2、R3-3、R3-4、R3-5、R3-6、R3-7、R3-8、R3-9 的阻值是 2K。在其它实施例中，R1