一种ltcc材料介电常数的测试夹具的制作方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及属于微波材料电磁参数测试技术领域，尤其涉及一种LTCC材料 介电常数的测试夹具。
【背景技术】
[0002] LTCC低温共烧陶瓷材料现已广泛应用于航空航天、LNB卫星接收系统、手机、蓝牙 耳机，笔记本等领域，因此掌握LTCC材料参数对其研发、生产以及使用有很重要的意义。目 前，大部分LTCC厂家测试LTCC的材料介电常数，基本都用腔体谐振法，基于这种方法存在 以下几点不足：1.被测材料的制成工艺与LTCC射频元器件的制成工艺不同，因此会存在一 定误差；2.腔体谐振法的谐振频点基本在9GHz左右，甚至更高，而民用的LTCC射频元器件 的使用频段基本在900MHz到6GHz之间，众所周知，同一介质材料在不同的频段其介电常数 会有所不同，因此测试存在一定的偏值；3.用LTCC材料压的圆块，能用于测试的圆块合格 率不尚。
【发明内容】
[0003] 针对普遍应用的LTCC圆块腔体测试方法的技术问题，本实用新型的目的提出了 一种LTCC材料介电常数的测试夹具，该夹具具有结构简单，使用方便特点。
[0004] 为了实现上述的目的，本实用新型采用了以下的技术方案：
[0005] -种LTCC材料介电常数的测试夹具，该测试夹具包括两个测试弹簧片、PCB基板 和塑料板，所述的PCB基板的两端分别设置SM头，所述的SM头分别通过设置输入输出线 与所述的测试弹簧片相连接，所述的塑料板安装设置在PCB基板上端，且中部设置孔槽，所 述的测试弹簧片分别位于孔槽的两端，且部分伸入孔槽内部。
[0006] 作为进一步改进，所述的输入输出线为50欧姆阻抗线。
[0007] 本实用新型由于采用了上述的技术方案，该夹具具有结构简单，使用方便特点。采 用本实用新型夹具进行的LTCC材料介电常数的测试方法具有以下的有益效果：
[0008] 1.用于测量的谐振环是基于LTCC制成工艺，因此其测试结果更能反映 LTCC元器 件所用材料的介电常数值；
[0009] 2.其测试的谐振频率在800MHz-2500MHz之间，这个频道是LNB大部分LTCC射频 器件应用于LNB领域的通信频段，因此更能反映出测试的真实数据；
[0010] 3.利用现成的LTCC制成工艺，制作和测试上更为方便。
【附图说明】
[0011] 图1是本实用新型LTCC材料介电常数的测试装置的结构示意图。
[0012] 图2是本实用新型LTCC谐振环的外表面结构示意图。
[0013] 图3是本实用新型LTCC谐振环的分解透视图。
[0014] 图4是LTCC谐振环的尺寸定义。
[0015] 图5是本实用新型LTCC谐振环的仿真结果。
[0016] 图6是本实用新型测试方法的测试结果、仿真结果以及计算结果的数据对比。
【具体实施方式】
[0017] 下面结合附图对发明的【具体实施方式】做一个详细的说明。
[0018] 实施例1
[0019] 如图1所示的一种LTCC材料介电常数的测试装置，该测试装置包括两个测试弹 簧片105,1051、PCB基板102和塑料板103,所述的PCB基板102的两端分别设置SM头 101，1011，所述的SM头101，1011分别通过设置输入输出线106,1061与所述的测试弹簧 片105,1051相连接，所述的塑料板103安装设置在PCB基板102上端，且中部设置孔槽104， 孔槽104为被测件的放置位置，所述的测试弹簧片105,1051分别位于孔槽104的两端，且 部分伸入孔槽104内部，该两个弹簧片是用来提高器件接触的可靠性和稳定性。上述的输 入输出线106,1061为50欧姆阻抗线。
[0020] 实施例2
[0021] 如图2,如3所示一种LTCC谐振环，该LTCC谐振环包括层叠体202,所述的层叠体 202由沿层叠方向由多层薄膜片层叠而成绝缘介质层；所述的层叠体202两侧面分别设置 有输入输出电极202, 204,所述的层叠体202上端设置一个环形谐振圈201，所述的环形谐 振圈201包括一个圆环3031 ;所述的圆环3031两端分别通过设置两个输入输出引线303， 3032与所述的输入输出电极202, 204相连，该圆环3031的大小和介电常数主要决定了该谐 振环的谐振频率。所述的层叠体202下端设置接地外电极301，所述的接地外电极301的两 端分别设置凹槽3011，3012,所述的输入输出电极202, 204的下端分别置于凹槽3011，3012 内。图2、3中带斜线的斜线阴影部分为金属导体，例如Ag、Cu、Au、或其它金属化合物等材 料，通过印刷、蒸发涂覆等技术形成。
[0022] 实施例3
[0023] -种LTCC材料介电常数的测试方法，该方法包括以下步骤：
[0024] 1)先用同一批生瓷片通过LTCC工艺进行制作LTCC谐振环，LTCC谐振环的大小为 生瓷片1/16,故可同时检测生瓷片的16个区域的介电常数值；
[0025] 2)利用光学显微镜的自带测量工具量测LTCC谐振环的内外半径，线宽，厚度，并 保存数据；
[0026] 3)将网络分析仪的两个端口通过同轴线与测试夹具的两个SM头连接好，再将制 作好的LTCC谐振环放入测试夹具的制定区域内进行测试，即能得到一个谐振频率如图4所 示；保存测试数据；
[0027] 4)根据光学显微镜的测量数据和网络分析仪的测试结果，利用换算公式
【主权项】
1. 一种LTCC材料介电常数的测试夹具，其特征在于：该测试夹具包括两个测试弹簧 片（105,1051)、PCB基板（102)和塑料板（103)，所述的PCB基板（102)的两端分别设置SMA 头（101，1011)，所述的SMA头（101，1011)分别通过设置输入输出线（106,1061)与所述的 测试弹簧片（105,1051)相连接，所述的塑料板（103)安装设置在PCB基板（102)上端，且中 部设置孔槽（104)，所述的测试弹簧片（105,1051)分别位于孔槽（104)的两端，且部分伸入 孔槽（104)内部。
2. 根据权利要求1所述的一种LTCC材料介电常数的测试夹具，其特征在于：所述的 输入输出线（106,1061)为50欧姆阻抗线。
【专利摘要】本实用新型涉及一种LTCC材料介电常数的测试夹具，该测试夹具包括两个测试弹簧片、PCB基板和塑料板，PCB基板的两端分别设置SMA头，SMA头分别通过设置输入输出线与测试弹簧片相连接，塑料板安装设置在PCB基板上端，且中部设置孔槽，测试弹簧片分别位于孔槽的两端，且部分伸入孔槽内部。本实用新型的夹具具有结构简单，使用方便特点。
【IPC分类】G01R1-20, G01R27-26, G01R1-04
【公开号】CN204462256
【申请号】CN201520099535
【发明人】罗昌桅, 孙超, 王莉, 唐雄心, 陆德龙
【申请人】嘉兴佳利电子股份有限公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年2月11日