3所示，其中图2为本实用新型的弹性接触结构一实施例的示意 图，图3则是本实用新型的测试装置中的上、下导引板一实施例的示意图。请先参照图2,当 弹性接触结构130处于自然状态，即未受到外力影响时，将接触结构尖段132视为垂直往下 指（即是朝向接触结构尖端1321方向）。接触结构尾段136与接触结构身段134之间具有交点 P，交点P的位置上，接触结构身段134与接触结构尾段136分别朝向不同的方向延伸。接触结 构身段134在邻近接触结构尾段136的位置具有弹性部1341，接触结构身段134在弹性部 1341的曲率大于接触结构身段134在邻近接触结构尖段132的部分的曲率。接触结构身段 134与接触结构尖段132之间亦具有交点0,而在交点0的位置处，接触结构身段134与接触结 构尖段132大致上朝向同一方向延伸，弹性接触结构130可以由接触结构尖段132的接触结 构尖端13 21自其中心轴拉出第一假想线1 i，对应地，在接触结构身段13 4与接触结构尾段 136的交点P的位置可以垂直(竖直)拉出一条平行于接触结构尖段132的第二假想线12,第 一假想线li与第二假想线12之间的距离即为弹性接触结构130的接触结构尖段132与接触结 构尾段136之间的弹性接触结构偏移量cKoffset)。如前所述，由于接触结构尾段136不会平 行于接触结构尖段132,因此在接触结构尾段136与第二假想线1 2之间会形成非零的夹角Θ。
[0044] 理想状态下，一个测试装置100中的这些/同一批弹性接触结构130应具有相同的 目标弹性接触结构偏移量cU，也就是说，这些/同一批弹性接触结构130的弹性接触结构偏 移量d也应该要相同，但是因为这些/同一批弹性接触结构130会有制造公差的缘故，因此每 根弹性接触结构130实际的弹性接触结构偏移量d可能会跟理想状态（即不考虑制作公差的 状态）下的目标弹性接触结构偏移量cU之间会有着正负25微米不等的差异。即一个测试装 置100中的这些/同一批弹性接触结构130中具有最小弹性接触结构偏移量者，其实际的弹 性接触结构偏移量d，即为这些/同一批弹性接触结构130中的最小弹性接触结构偏移量大 致上应为目标弹性接触结构偏移量cU减去25微米;这些/同一批弹性接触结构130中具有最 大弹性接触结构偏移量者，其实际的弹性接触结构偏移量d，即为这些/同一批弹性接触结 构130中的最大弹性接触结构偏移量大致上应为目标弹性接触结构偏移量cU加上25微米。 更具体地说，以一个测试装置中的这些/同一批弹性接触结构的目标弹性接触结构偏移量 cU为500微米的弹性接触结构为例，其各个弹性接触结构实际的弹性接触结构偏移量d可能 会从475微米至525微米不等。
[0045] 要特别说明的是，请继续参照图2,在此所述的「交点P」是指自接触结构尾段136的 中心轴拉出的第三假想线13与自接触结构身段134的弹性部1341的中心轴拉出的第四假想 线14的交点。
[0046]接着请参照图3,上导引板110与下导引板120之间具有测试装置偏移量d2,使得上 导引板110的这些上贯穿开口 112不会对齐下导引板120的这些下贯穿开口 122,借以限制弹 性接触结构130的位移。以上导引板110的其中一个上贯穿开口 112以及所述上贯穿开口 112 相对的下导引板120的其中一个下贯穿开口 122为例，上导引板110的所述上贯穿开口 112具 有中心轴X:，下导引板120的所述下贯穿开口 122亦具有中心轴X2,相邻两中心轴Xi、中心轴 X2之间的距离即为上导引板110与下导引板120之间的测试装置偏移量山。上导引板110与下 导引板120之间的测试装置偏移量办为呈相对设置，亦即若是将上导引板110视为基础，则 下导引板120相对上导引板110往左或往右偏移一测试装置偏移量d 2，反之亦然。
[0047] 请同时参照图1至图3,弹性接触结构130的目标弹性接触结构偏移量di与上导引 板110、下导引板120之间的测试装置偏移量办较佳需符合一定的关系式，以使得测试装置 100组装完成后，这些弹性接触结构130大致上可以朝同一方向偏摆。需注意的是，由于弹性 接触结构130在摆入上导引板110与下导引板120之后，接触结构尾段136及/或接触结构尖 段132会分别抵靠于上导引板110、下导引板120而有些微变形，因此，以下所提到的弹性接 触结构130的弹性接触结构偏移量d或是目标弹性接触结构偏移量cU，均是指如图2所示的， 弹性接触结构130在自然状态下的弹性接触结构偏移量d或是目标弹性接触结构偏移量cU。
[0048] 更具体地说，当在组装测试装置100的时候，可包含先将弹性接触结构130的接触 结构尖段132分别置入下导引板120的下贯穿开口 122中，接着，再将弹性接触结构130的接 触结构尾段136分别置入上导引板110的上贯穿开口 112中。此时，上导引板110的一上贯穿 开口 112的中心轴与对应的下导引板120的下贯穿开口 122的中心轴，二者中心轴之间的距 离（即测试装置偏移量d2)，约等同于弹性接触结构130的目标弹性接触结构偏移量du然而， 此时会出现弹性接触结构130左右偏摆的方向不一致的问题。因此，本实用新型便进一步地 调整测试装置100中上导引板110、下导引板120之间的测试装置偏移量办符合本实用新型 的关系式= (^ = ^±50~200微米，以让组装完成后的测试装置100中的这些弹性接触结构 130大致上可以朝向同一方向偏摆。
[0049] 具体而言，可以在将弹性接触结构130置入上导引板110与下导引板120后，若是以 下导引板120视为基础的话，进一步可以将上导引板110往右拉，让上导引板110、下导引板 120在X轴方向的距离增大，即是符合本实用新型的关系式:(12 = (^+50~200微米;或是进一 步可以将上导引板110往左拉，让上导引板110、下导引板120在X轴方向的距离减少，即是符 合本实用新型的关系式:d2 = di-50~200微米。如此一来，便可以在将弹性接触结构130-- 置入上导引板110、下导引板120后，通过横向拉动上导引板110,使得上导引板110、下导引 板120之间的测试装置偏移量办符合本实用新型的关系式^ = ^±50~200微米的方式，可 以让组装完成后的测试装置100中的这些弹性接触结构130大致上朝向同一方向偏摆。当然 地，由于上导引板110、下导引板120二者之间的测试装置偏移量d2为呈相对设置，亦可以将 上导引板110视为基础，进一步将下导引板120往右或往左拉动，使得上导引板110、下导引 板120之间的测试装置偏移量d2符合本实用新型的关系式:d2 = dl±50~200微米，不应用 以限制本实用新型。
[0050] 在此要特别说明的是，本实用新型中的「测试装置组装完成后」是指，将一个测试 装置100中的这些/同一批弹性接触结构130置入上导引板110、下导引板120后，进一步需将 上导引板110或下导引板120往左或往右拉（以视上导引板110、下导引板120其中之一为基 础而定），使得上导引板110、下导引板120之间的测试装置偏移量山得以符合本实用新型的 关系式:(12 = (11±50~200微米。
[0051] 本实用新型中，将一个测试装置100中的这些/同一批弹性接触结构130的目标弹 性接触结构偏移量cU与上导引板110、下导引板120的测试装置偏移量d 2的关系设计为d2 = cU±50~200微米。换言之，当上导引板110、下导引板120之间的测试装置偏移量山的关系 设计为d2 = di+50~200微米时，即是指d2 = di+50微米至di+200微米之间，此时上导引板110、 下导引板120之间的测试装置偏移量办至少大于这些/同一批弹性接触结构130中具有最大 弹性接触结构偏移量者。此时除了可以使得这些弹性接触结构130于测试装置100组装完成 后大致上均朝向同一方向偏摆之外;进行测试时，更可以降低这些弹性接触结构130与待测 物之间的接触力，亦可以提升这些待测物在被接触时的完整性。
[0052] 或者，当上导引板110、下导引板120之间的测试装置偏移量办的关系设计为d2 = di-50~200微米时，即是指d2 = di-200微米至di-50微米之间，此时上导引板110、下导引板 120之间的测试装置偏移量办至少小于这些弹性接触结构130中具有最小弹性接触结构偏 移量者。此时除了可以使得这些弹性接触结构130于测试装置100组装完成后大致上均朝向 同一方向偏摆之外;进行测试时，进而可以提供这些弹性接触结构130与待测物之间的稳定 接触。
[0053]请参照图4A至图5B，其分别为本实用新型的测试装置采用不同的测试装置偏移量 的测试结果的折线图。图4A至图5B中的折