一种复合材料低电阻测量转接头的制作方法
【专利摘要】本实用新型属于机械领域，提供一种复合材料低电阻测量转接头，包括：固定件、活动接头和探针，所述固定件中心有空腔，空腔侧壁设有内螺纹，活动接头尺寸与固定件中心空腔适配，且活动接头外周侧壁设有外螺纹，活动接头螺接在固定件的空腔内，活动接头开有上下贯穿的螺孔，探针向下螺接在活动接头的螺孔内，且探针前端接触待检测的搭铁带。
【专利说明】
一种复合材料低电阻测量转接头
技术领域
[0001 ]本发明属于机械领域，涉及一种复合材料低电阻测量转接头。
【背景技术】
[0002]我公司现有各型号机型总装生产过程中，在低电阻测量探针不适用的复合材料结构上，只能通过打磨除去搭铁带上部复材层，露出搭铁带后才能测量。测量后需修复被打磨掉的上部复材层，费时费力。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题:提供一种复合材料低电阻测量转接头，能够方便快捷地测量复合材料飞机整流罩低电阻。
[0004]本发明的技术方案:一种复合材料低电阻测量转接头，包括:
[0005]固定件、活动接头和探针，所述固定件中心有空腔，空腔侧壁设有内螺纹，活动接头尺寸与固定件中心空腔适配，且活动接头外周侧壁设有外螺纹，活动接头螺接在固定件的空腔内，活动接头开有上下贯穿的螺孔，探针向下螺接在活动接头的螺孔内，且探针前端接触待检测的搭铁带。
[0006]具体的，所述探针为8-10个，且探针前端尖角为20°至25°之间。
[0007]或者，所述探针为I个，且探针前端尖角为100°至120°之间。
[0008]或者，所述探针为8-10个，探针不规则排列，探针前端尖角为25°至30°之间，且探针前端沿径向开槽。
[0009]本发明的有益效果:不必选用专用的低电阻测量仪就能实现对不同结构复合材料的测量，并且能够保证测量精度。
【附图说明】
[0010]图1a铜箔低电阻测量转接头轴向图。
[0011 ]图1b铜箔低电阻测量转接头A-A剖视图。
[0012]图2a导电漆低电阻测量转接头轴向图。
[0013]图2b导电漆低电阻测量转接头A-A剖视图。
[0014]图3a铜网低电阻测量转接头轴向图。
[0015]图3b铜网低电阻测量转接头A-A剖视图。
【具体实施方式】
[0016]本发明为组合式电阻测量转接头，通过不同的组合，可以在不更换低电阻测量仪的前提下，完成对不同复合材料结构的测量工作。
[0017]本发明包括固定件、活动接头和探针，所述固定件中心有空腔，空腔侧壁设有内螺纹，活动接头尺寸与固定件中心空腔适配，且活动接头外周侧壁设有外螺纹，活动接头螺接在固定件的空腔内，活动接头开有上下贯穿的螺孔，探针向下螺接在活动接头的螺孔内，且探针前端接触待检测的搭铁带。本发明有三种变形，下面分别进行描述:
[0018]铜箔低电阻测量操作步骤:
[0019]如图la、b所示，其中:1-固定件和2-活动接头采用螺纹连接，2-活动接头和3-探针采用螺纹连接。由于铜箔均匀铺在上部复材层下。3-探针需穿过上部复材层接触到铜箔。才能测出电阻值(上部复材层由几层玻璃布和漆层组成)。所以3-探针前端尖角应在20°至25°之间。由于3-探针接触铜箔面积小，影响低电阻测量准确度，所以应增加探针数量，通常探针数量为8?1个。
[0020]用手将8-低电阻测量转接头面按在复合材料表面上，调整2-活动接头至8-低电阻测量转接头面与复合材料上表面之间的距离，保证两面之间距离为I?2mm。调整3-探针至接触到复合材料上表面，根据图纸上标注的上部复材层的厚度，结合理论厚度值，旋转进给3-探针扎入复合材料内部至相应厚度。将低电阻测量仪上探针接触到2-活动接头上，读出测量值。
[0021]导电漆低电阻测量操作步骤:
[0022]如图2a、b所示，其中:1_固定件和4-活动接头采用螺纹连接，4-活动接头和5-探针采用螺纹连接。由于导电漆均匀喷涂在上部漆层下。5-探针需穿过上部漆层接触到导电漆，才能测出电阻值，且漆层很薄，所以5-探针前端尖角应在100°至120°之间。由于探针接触导电漆面积大，所有探针数量应为I个。
[0023]用手将8-低电阻测量转接头面按在复合材料表面上，调整4-活动接头至8-低电阻测量转接头面与漆层之间的距离，保证两面之间距离为I?2mm。调整5-探针至接触到上部漆层，根据图纸上标注的漆层的厚度，结合理论厚度值，旋转进给5-探针扎入漆层内部至相应厚度。将低电阻测量仪上探针接触到4-活动接头上，读出测量值。
[0024]铜网低电阻测量操作步骤:
[0025]如图3a、b所示，其中:1-固定件和6-活动接头采用螺纹连接，6-活动接头和7-探针采用螺纹连接。由于铜网为网状结构均匀铺在上部复材层下。7-探针需穿过上部复材层接触到铜网。才能测出电阻值(上部复材层由几层玻璃布和漆层组成)。由于铜网网格分布均匀，为确保7-探针能够接触到铜网上的铜丝，7-探针应不规则分布在6-活动接头上。7-探针前端尖角应在25°至30°之间，由于7-探针接触铜箔面积小，影响低电阻测量准确度，所以应增加探针数量，通常探针数量为8?10个。
[0026]注:为保证7-探针扎入铜网网心，仍能接触到铜网，且不破坏铜网。可在7-探针头部增加槽口，用于切除网心内的复材，保证7-探针接触铜网。
[0027]用手将8-低电阻测量转接头面按在复合材料表面上，调整6-活动接头8-低电阻测量转接头面与复合材料上表面之间的距离，保证两面之间距离为I?2mm。调整7-探针至接触到复合材料上表面，根据图纸上标注的上部复材层的厚度，结合理论厚度值，旋转进给7-探针扎入复合材料内部至相应厚度。将低电阻测量仪上探针接触到6-活动接头上，读出测量值。
【主权项】
1.一种复合材料低电阻测量转接头，其特征在于，包括: 固定件、活动接头和探针，所述固定件中心有空腔，空腔侧壁设有内螺纹，活动接头尺寸与固定件中心空腔适配，且活动接头外周侧壁设有外螺纹，活动接头螺接在固定件的空腔内，活动接头开有上下贯穿的螺孔，探针向下螺接在活动接头的螺孔内，且探针前端接触待检测的搭铁带。2.如权利要求1所述的一种复合材料低电阻测量转接头，其特征在于，包括: 所述探针为8-10个，且探针前端尖角为20°至25°之间。3.如权利要求1所述的一种复合材料低电阻测量转接头，其特征在于，包括: 所述探针为I个，且探针前端尖角为100°至120°之间。4.如权利要求1所述的一种复合材料低电阻测量转接头，其特征在于，包括: 所述探针为8-10个，探针不规则排列，探针前端尖角为25°至30°之间，且探针前端沿径向开槽。
【文档编号】G01R1/04GK205506938SQ201520976293
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2015年11月30日
【发明人】李长鑫, 王大光, 陈雪艳, 王春艳, 吕楠
【申请人】哈尔滨飞机工业集团有限责任公司