曝光装置和用于制造曝光装置的方法

专利名称：曝光装置和用于制造曝光装置的方法
技术领域：
本发明涉及，在其中预存校正值，用于校正所要施加到发光设备的电流值，以及用于校正在光调制设备中所包含的多个像素之间光量变化的曝光装置，和用于制造这种曝光装置的方法。
背景技术：
已知通过使用装配有多个光调制元件的曝光头，可提供通过曝光彩色感光材料等而形成彩色图像的光打印机。由于这样的曝光头具有包含多个像素的光调制设备，从而存在光调制设备的像素中出现光量变化导致不能获得高质量图像的问题。为克服该问题，在实现中通常预先测量来自光调制设备的每个像素的光量，并通过检测像素之间的变化来应用阴影校正。
用于阴影校正的光量测量的现有技术方法中，保持发光设备的发光强度在固定值的同时测量光量。然而，这具有这样的问题如果发光强度过高，来自光调制设备的像素的光量超过可测量的范围(即，超过A/D转换器的极限值)，将导致不能精确地测量光量变化。反过来，如果发光强度过低，所测量的来自多个光调制元件的光量变化的差距过小，以致不能精确地测量光量变化。

发明内容
本发明的目的在于，提供在其中存储有被适当确定用于向发光设备供电的电流值的曝光装置，和用于制造这种曝光装置的制造方法。
本发明的另一目的在于，提供在其中存储有被适当确定用于校正光调制设备的像素之间光量变化的校正值的曝光装置，和用于制造这种曝光装置的制造方法。
本发明的又一目的在于，提供在其中存储有被适当确定用于向发光设备供电的电流值，以及被适当确定用于校正光调制设备的像素之间光量变化的校正值的曝光装置，和用于制造这种曝光装置的制造方法。
为实现上述目标，根据本发明，提供了包括如下操作步骤的制造方法向发光设备提供参考电流，测量来自光调制设备多个像素中各像素的光量，确定所测来自多个像素的光量中的最小值是否处在预定范围内，当光量的最小值处在预定范围之外时，确定所要提供给发光设备的电流值以使光量的最小值落在预定范围内。由于可将电流值确定为，使来自光调制设备的像素的光量最小值落在预定范围内，从而能够将发光设备的发光强度设置成用于阴影校正的最佳值。
为实现上述目标，根据本发明的制造方法最好包括步骤向发光设备提供参考电流，测量来自光调制设备多个像素中各像素的光量，确定所测来自多个像素的光量中的最小值是否处在第一预定范围内，以及所测来自多个像素的光量中的最大值是否处在第二预定范围内，当光量的最小值处在第一预定范围之外时或当光量的最大值处在第二预定范围之外时，确定所要提供给发光设备的电流值，以使光量的最小值落在第一预定范围内，以及使光量的最大值落在第二预定范围内。由于可将电流值确定为，使来自光调制设备的像素的光量最小值和最大值分别落在预定范围内，从而能够将发光设备的发光强度设置成用于阴影校正的最佳值。
此外，为实现上述目标，根据本发明的制造方法最好包括步骤向发光设备提供参考电流，测量来自光调制设备多个像素中各像素的第一光量，确定所测来自多个像素的第一光量中的第一最小值是否处在预定范围内，当第一光量的第一最小值处在预定范围之外时，确定所要提供给发光设备的电流值以使第一光量的第一最小值落在预定范围内，向发光设备提供确定出的电流值，通过以规定的驱动灰度级驱动所有多个像素来测量来自光调制设备的多个像素中各像素的第二光量；检测出所测来自多个像素的第二光量中的第二最小值，并参考第二最小值确定用于校正在多个像素中第二光量变化的校正值，以使自多个像素中各像素的第二光量处在规定范围内。由于将光调制设备中产生最小光量的像素设定作为参考，有可能在有效利用曝光头所具有的光量范围的同时获得校正值(用于阴影校正)。
为实现上述目标，根据本发明，还提供了包括如下操作步骤的制造方法向发光设备提供参考电流，测量来自光调制设备多个像素中各像素的第一光量，确定所测来自多个像素的第一光量中的第一最小值是否处在第一预定范围内，以及所测来自多个像素的第一光量中的最大值是否处在第二预定范围内，然后当第一光量的第一最小值处在第一预定范围之外时或当第一光量的最大值处在第二预定范围之外时，确定所要提供给发光设备的电流值，以使第一光量的第一最小值落在第一预定范围内，以及使第一光量的最大值落在第二预定范围内，向发光设备提供确定出的电流值；通过以规定的驱动灰度级驱动所有多个像素来测量来自光调制设备的多个像素中各像素的第二光量，检测出所测来自多个像素的第二光量中的第二最小值，并参考第二最小值确定用于校正在多个像素中第二光量变化的校正值，以使自多个像素中各像素的第二光量处在规定范围内。由于将光调制设备中产生最小光量的像素设定作为参考，有可能在有效利用曝光头所具有的光量范围的同时获得校正值(用于阴影校正)。
最好是，在根据本发明的制造方法中，发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，且对于每个彩色LED设备确定并存储电流值。
为实现上述目标，根据本发明，提供了一种曝光装置，该曝光装置包括，曝光头，该曝光头装配有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自发光设备的光导向至光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于向发光设备提供与存储在存储器中的电流值数据相匹配的电流值，其中，与电流值数据相匹配的电流值为，使所测来自光调制设备多个像素的光量中的最小值落在预定范围内的值。
为实现上述目标，根据本发明，还提供了一种曝光装置，该曝光装置包括，曝光头，该曝光头装配有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自发光设备的光导向至光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于向发光设备提供与存储在存储器中的电流值数据相匹配的电流值，其中，与电流值数据相匹配的电流值为，使所测来自光调制设备多个像素的光量中的最小值落在第一预定范围内，以及使所测来自光调制设备多个像素的光量中的最大值落在第二预定范围内的值。
为实现上述目标，根据本发明，还提供了一种曝光装置，该曝光装置包括，曝光头，该曝光头装配有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自发光设备的光导向至光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于向发光设备提供与存储在第一存储器中的电流值数据相匹配的电流值，以及用于根据存储在第二存储器中的校正值数据校正输入灰度图像数据，其中，与电流值数据相匹配的电流值为，使所测来自光调制设备多个像素的光量中的最小值落在预定范围内的值，且校正值数据提供用于参考所测来自多个像素的光量的最小值对多个像素中的光量变化进行校正的值，从而当以与电流值数据相匹配的电流值驱动发光设备时，以及当以规定的驱动灰度级驱动光调制设备的所有多个像素时，使来自多个像素中每个像素的光量处在规定范围内。
为实现上述目标，根据本发明，还提供了一种曝光装置，该曝光装置包括，曝光头，该曝光头装配有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自发光设备的光导向至光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于向发光设备提供与存储在第一存储器中的电流值数据相匹配的电流值，以及用于根据存储在第二存储器中的校正值数据校正输入灰度图像数据，其中，与电流值数据相匹配的电流值为，使所测来自光调制设备多个像素的光量中的最小值落在第一预定范围内，并使所测来自光调制设备多个像素的光量中的最大值落在第二预定范围内的值，且校正值数据提供用于参考所测来自多个像素的光量的最小值对多个像素中的光量变化进行校正的值，从而当以与电流值数据相匹配的电流值驱动发光设备时，以及当以规定的驱动灰度级驱动光调制设备的所有多个像素时，使来自多个像素中每个像素的光量处在规定范围内。
最好是，在根据本发明的曝光装置中，发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，且对于每个彩色LED设备在存储器中存储电流值数据。
此外，最好是，在根据本发明的曝光装置中，光调制设备为液晶快门设备。
对于根据本发明用在曝光装置中的校正值确定方法，且该曝光装置包括有发光设备，各光量随所提供驱动灰度级变化的多个光调制元件和用于将来自发光设备的光导向至多个光调制元件的光导向设备，在该方法中，通过向所有多个光调制元件应用规定的驱动灰度级来测量来自多个光调制元件中每个的光量，对所测来自多个光调制元件的光量中的最小值进行检测，并通过参考最小值对于每个光调制元件获得用于对多个光调制元件中的光量变化进行校正的校正值。
此外，对于根据本发明用在曝光装置中的校正值确定方法，且该曝光装置包括有发光强度随所施加电流值变化的发光设备，各光量随所提供驱动灰度级变化的多个光调制元件和用于将来自发光设备的光导向至多个光调制元件的光导向设备，在该方法中，通过向发光设备施加规定的电流值且同时向所有多个光调制元件应用规定的驱动灰度级来测量来自多个光调制元件中每个的第一光量，对所测来自多个光调制元件的第一光量中的第一最小值进行检测，改变所要施加到发光设备的电流值，以使第一最小值落在规定光量范围内，通过向发光设备施加由此所改变的电流值且同时向所有多个光调制元件应用规定的驱动灰度级来测量来自多个光调制元件中每个的第二光量，对所测来自多个光调制元件的第二光量中的第二最小值进行检测，并通过参考第二最小值对于每个光调制元件获得用于对多个光调制元件中的光量变化进行校正的校正值。
为实现上述目标，对于根据本发明用在曝光装置中的校正值确定方法，且该曝光装置包括有发光强度随所施加电流值变化的发光设备，各光量随所提供驱动灰度级变化的多个光调制元件和用于将来自发光设备的光导向至多个光调制元件的光导向设备，在该方法中，通过向发光设备施加第一电流值且同时向所有多个光调制元件应用规定的驱动灰度级来测量来自多个光调制元件中每个的第一光量，对所测来自多个光调制元件的第一光量中的最大值进行检测，改变所要施加到发光设备的电流值至第二电流值，以使最大值落在规定光量范围内，通过向发光设备施加第二电流值且同时向所有多个光调制元件应用规定的驱动灰度级来测量来自多个光调制元件中每个的第二光量，对所测来自多个光调制元件的第二光量中的第一最小值进行检测，将所要施加到发光设备的电流值改变至第三电流值，以使第一最小值落在规定的光量范围内，通过向发光设备施加第三电流值且同时向所有多个光调制元件应用规定的驱动灰度级来测量来自多个光调制元件中每个的第三光量，对所测来自多个光调制元件的第三光量中的第二最小值进行检测，并通过参考第二最小值对于每个光调制元件获得用于对多个光调制元件中的光量变化进行校正的校正值。
最好是，对于每个光调制元件存储电流值和校正值。
而且，最好是，规定的驱动灰度级为最大驱动灰度级或中间驱动灰度级。


图1的原理图显示根据本发明的系统的一个示例。
图2表示根据本发明的系统的一个示例的外部视图。
图3用于说明用在根据本发明的系统中的CCD线状传感器。
图4的分解透视图显示曝光头的一个示例。
图5表示如图4所示曝光头的剖面图。
图6的剖面图显示根据本发明的曝光装置的一个示例。
图7表示如图6所示曝光装置的透视图。
图8表示用于如图4所示曝光头中的液晶快门的剖面图。
图9A显示在液晶快门阵列中开口形状的一个示例，以及图9B显示在液晶快门阵列中开口形状的另一示例。
图10用于说明在系统中的光路。
图11的原理图显示曝光控制电路的一个示例。
图12表示用于校正所加电流值的流程图。
图13显示由CCD线状传感器所检测光量数据分布的一个示例。
图14显示相邻值之间变化量分布的一个示例。
图15显示对于每个驱动像素的光量分布的一个示例。
图16表示用于获得阴影校正的校正值的流程图。
图17显示校正参考值的分布的一个示例。
图18显示在液晶快门阵列中驱动像素的驱动特性的一个示例。
图19显示感光材料敏感特性的一个示例。
图20显示，对于液晶快门阵列中的驱动像素，在归一化曝光光量和归一化驱动时间之间的关系。
图21显示关系方程的一个示例。
图22示例性显示，根据图16的流程图所获得的校正值。
图23用于说明通过参考Fmin获得校正值的优点。
图24显示，使用根据图16的流程图所获得的校正值，所实现阴影校正结果的一个示例。
图25显示用于获得照度的第二过程流程图。
图26显示在加权函数，独特照度和照度分布之间的关系。
图27用于说明在驱动像素，光接收元件，和每个驱动像素的照度之间的关系。
图28显示在理想光量分布和连续性光量分布之间的关系。
图29显示用于获得峰值和峰位置的第二过程流程图。
图30A显示对于具有矩形形状开口的液晶快门阵列的独特照度分布和连续性光量分布，图30B显示对于具有平行四边形形状开口的液晶快门阵列的独特照度分布和连续性光量分布。
图31用于说明，当使用具有平行四边形形状开口的液晶快门阵列时所检测的光量数据特性。
图32A显示当仅驱动奇数像素时所检测光量数据的一个示例，图32B显示当仅驱动偶数像素时所检测光量数据的一个示例。
具体实施例方式
以下将结合附图，描述根据本发明的第一实施例，图1显示出制造系统的大致结构。图2用于说明系统的外部结构。
如图1和图2所示，制造系统包括所要测量的曝光头100，测量装置200，和用于执行控制的个人计算机(以后称之为PC)300。
曝光头100通过附着装置(未示出)被安置在测量装置200上，信号线126与测量装置200的接口(以后称之为IF)240相连。测量装置200和PC 300通过总线260互连，从而能在它们之间传递数据。此外，曝光头100与曝光控制电路150相连，它们一起构成曝光装置500。
如图1所示，测量装置200包括驱动条件信号发生装置210，电流供给电路220，用于和曝光头100连接的IF 240，用于和PC 300连接的IF 250，和光量测量装置270。
驱动条件信号发生装置210包括，CPU 211，用于控制全部操作；液晶快门驱动电路212；LED驱动条件存储存储器213，用于对包含在曝光头100中的LED进行控制条件数据的存储；液晶快门驱动条件存储存储器214，用于对包含在曝光头100中的液晶快门阵列118(后面将会描述)的测量进行驱动条件数据的存储(诸如对每个驱动像素的驱动灰度数据)；光量存储存储器215，用于对液晶快门阵列118的每个驱动像素的照度F(N)(后面将会描述)进行存储；和校正值存储存储器216，用于校正在液晶快门阵列118中每个驱动像素的光量变化。
CPU 211通过IF 250和总线260与PC 300相连，并从PC 300接收关于测量开始定时，测量结束定时，对曝光头100的驱动条件等的控制数据。CPU 211通过根据所接收的控制数据对曝光头100、测量装置200等进行控制，来控制光量测量(曝光装置的形成/设置)。
液晶快门驱动电路212通过IF 240和线126对包含在曝光头100中液晶快门阵列118的多个驱动像素的驱动进行控制。
电流供给电路220通过IF 240和线126向包含在曝光头100中的LED 120(蓝LED，绿LED，和红LED)(后面会描述)提供电流；通过改变所提供的电流值可控制每个LED的发光强度。
光量测量装置270包括，CCD线状传感器230；CCD控制电路276，用于控制包含在CCD线状传感器230中的多个光接收元件；接收光量检测电路274，用于对CCD线状传感器230中所包含的多个光接收元件的各个元件所接收的光量进行检测；和积分电路272，用于通过将接收光量检测电路274的检测输出进行积分，来获得每单位时间的接收光量数据。
电流供给电路220和液晶快门驱动电路212各自通过IF 240传送LED驱动信号和液晶快门驱动信号，以分别驱动LED 120和液晶快门阵列118。
测量装置200还包括，ROM，用于存储CPU 211的控制程序；RAM，用于临时存储多种数据；和多种信号线和总线，用于在构成元件之间传递数据。
测量装置200和PC 300根据后面所述的测量过程获得对于LED120的LED驱动条件数据和对于液晶快门阵列118的阴影校正值数据，并分别将数据临时存储在LED驱动条件存储存储器213和校正值存储存储器216中。PC 300将LED驱动条件数据和对于液晶快门阵列118的阴影校正值数据发送(如302所示)到曝光装置500中的曝光控制电路150，且分别将这些数据存储在曝光控制电路150中所包含的LED驱动条件存储存储器160(后面会描述)和校正值存储存储器153(后面会描述)中；从而使曝光装置500能够执行正确的LED驱动和阴影校正。
此处，如以上描述，当实现测量时，可将由测量装置200所测量的LED驱动条件数据和阴影校正值数据存储在曝光控制电路150中。在此情形，可省略测量装置200中的LED驱动条件存储存储器213和校正值存储存储器216。
或者，可采用以下过程(1)同样使用测量装置200依次测量多个曝光头，(2)将对于多个曝光头100的LED驱动条件数据(电流值数据)和阴影校正数据临时存储在PC 300中，(3)将数据传送或转移(通过诸如FD或CD的介质)到另一PC，(4)将曝光头与各自的曝光控制电路相连，和(5)使用其他PC，将数据依次记录在各自的曝光控制电路中。在此情形，最好是通过使用印在序列号片132(后面会描述)上的序列号来标识每个曝光头。
图3显示出CCD线状传感器230的示意图。CCD线状传感器230具有2048个细长(vertically long)的光接收元件232，每个光接收元件232的长度“a”为2500μm，宽度“c”为25μm，排列间距为“d”(25μm)。因此，光接收元件实际上以非常接近的间距排列在一起，它们之间几乎没有什么空隙，只不过在图3中，所示在每个光接收元件之间的间隙是为了便于说明。
在图3中还显示出后面描述的液晶快门阵列118的驱动像素234；每个驱动像素234的长度“b”为150μm(或200μm)，宽度“e”为76μm，排列间距为“f”(100μm)。从而，将驱动像素234排列成四个光接收元件232对应一个驱动像素。在此实施例中，液晶快门阵列118总共具有480个驱动像素，且将驱动像素234沿如图3所示直线排列。不过，例如为匹配用于驱动驱动像素的电极的布线布局，可将驱动像素以交错形式排列。
此外，如图3所示，选择由光接收元件所构成的光接收表面的总长度比驱动像素所构成的发光表面的总长度更长。
在此实施例中，将驱动像素234排列成四个光接收元件232对应一个驱动像素，不过，排列方式并不限于该特定示例。例如，最好是，光接收元件的数量等于驱动像素数量的整数倍，可采用三，五，或七个光接收元件对应一个驱动像素的排列。特别是，最好排列驱动像素，以使三个或更多光接收元件对应一个驱动像素。
下面将参照图4和图5，描述用作为根据本发明的系统中所测对象的曝光头100的结构。图4表示曝光头100的分解透视图，图5表示曝光头100的剖面图。如图所示，曝光头100包括上壳体104和下壳体130，在上、下壳体104、130之间设置有上反射板106，光导向设备108，反射镜112，下反射板114，液晶快门阵列118，和LED 120。上下壳体104、130通过夹子140而固定在一起，从而不会相互分开。
上壳体104的上表面附着有遮光片102，以遮挡外部光。此外，图中下壳体的下表面附着有用于标识曝光头100的序列号片132和驱动开关136，将SELFOC lens array(注册商标，SELFOC透镜阵列)138固定在下壳体130中的沟槽。
上反射板106被构造成环绕光导向设备108并将来自LED 120的光反射，以使光能够有选择地从光导向设备108的凸出部分110射出。反射镜112将来自LED 120的光反射入光导向设备108，而在下反射板114中形成可露过光导向设备108凸出部分110的狭缝116。液晶快门阵列118安置并固定到下壳体130上，同时，通过调节螺钉124和126来调节其光路位置。LED 120，即曝光头100的光源，由红、绿、和蓝LED组成。用于控制在液晶快门阵列118中每个驱动像素驱动时间以及为LED 120提供电流的信号线122与液晶快门阵列118相连，信号线122的另一端自上下壳体104和130之间伸到曝光头100的外面。图中的128表示用于移动曝光头100的轴承。驱动开关136是用于当使用滚珠轴承(未示出)和轴承128驱动曝光头100时与传感器等(未示出)一起确定曝光头的驱动定时等的元件。SELFOC lensarray 138是用于在焦距处形成具有一致放大倍率正像的光学设备，并包括以重叠方式沿纵向排列的许多柱面透镜。
此外，如图5所示，在图中光导向设备108的上表面上形成散射膜107，散射膜107沿光导向设备108的纵向伸展，以将来自LED 120的彩色光沿图中正好在光导向设备108下方液晶快门阵列118的方向集中。散射膜107通过以直线模式应用白色散射基片而形成。当在测量装置200上设置了曝光头100时，来自散射膜107的彩色光通过液晶快门阵列108和SELFOC lens array 138，聚焦在CCD传感器阵列230上。
图6显示曝光装置500的剖面图，图7显示去除上盖体15的透视图。在外壳1中，曝光装置500包含有曝光头100和曝光控制电路150中。曝光头100和曝光控制电路150通过信号线122相连。曝光控制电路150固定在外壳1的内壁。利用通过形成于下壳体130中的开孔的两个支杆128，支撑曝光头100沿支杆128移动。
在图中，以可拆卸(沿箭头A的方向)的方式，在外壳1的下面提供用于装载记录介质(打印纸)8的暗盒4。
当曝光头100沿支杆128移动时，在暗盒4所装载的记录介质8上形成图像(例如，形成潜像)。
在图6和7中所示曝光装置500仅作为一种示例，本发明并不限于所示结构。例如，可将曝光装置500构造成移动记录介质8，而曝光头100保持不动。暗盒4可与曝光装置500分开。此外，可通过包括用于将形成在记录介质上的潜像显影的处理部件，来构造曝光装置500。此外，还可通过仅使用曝光头100和曝光控制电路150来构造曝光装置500。
图8显示出如图4和5所示液晶快门阵列118的剖面图。在图8中，在上基片401的所有下表面上形成由透明ITO薄膜等制成的透明普通电极411，对透明普通电极411覆盖以由聚酰亚胺等制成的调整膜413。在下基片402的上表面形成精细透明像素电极416，对精细透明像素电极416覆盖以调整膜415。使用由环氧树脂等形成的密封元件403将两个基片的外边缘粘合在一起，在各个基片上所形成的调整膜413和415之间密封液晶414。选择液晶414的厚度为5μm。透明普通电极411也覆盖以铬材料等形成的挡光层412，且在与透明像素电极416相对应的一部分挡光层412中形成狭缝，从而使光仅能够通过该部分。在各个基片的外表面附着有偏振片410和417。液晶414例如以具有240°扭转角的STN模式操作，且可将两个偏振片410和417设置成其偏振轴取向相互之间角度与扭转角相匹配。
此外，各形成在透明普通电极412和一个透明像素电极416之间的驱动像素234，被设置在一条直线上以形成液晶快门阵列。形成液晶快门阵列的每个驱动像素234的长度(b)为150μm(或200μm)，宽度(e)为76μm，并以100μm的间距(f)进行排列，如前面参照图3的描述。
图9显示在液晶快门阵列中的驱动像素。图9A显示出参照图3所述的液晶快门阵列，如所示，驱动像素234的形状为矩形。每个驱动像素234的长度“b”为150μm(或200μm)，宽度“e”为76μm，间距“f”为100μm。图9B显示出另一液晶快门阵列118。如图9B中所示示例，在沿驱动像素(以后称之为“倾斜驱动像素”)的排列方向上具有沿规定角度倾斜的开口234’。在图9B中，每个驱动像素234’的长度“b”为150μm(或200μm)，宽度“e”为76μm，间距“f”为100μm，且倾角θ约为60°。
在此实施例中，可使用任何一种液晶快门阵列。不过，当使用倾斜驱动像素时，可消除因驱动像素之间间隙所导致的感光材料未曝光部分。从而，当使用具有倾斜驱动像素234’的液晶快门阵列118’时，有可能阻止因余留在感光材料上未曝光部分而导致垂直条纹的形成。不过，就像后面所要描述的，当使用倾斜驱动像素时，会出现当测量光量时不能清楚地检测峰位置的问题。
此处，最好将倾角θ设置在45°至80°的范围，以便能覆盖每个驱动像素之间的间隙。
图10用于说明从包含在曝光头100中的LED 120开始到CCD线状传感器230的光路。如图10所示，从每个LED 120发出的光沿纵向射入光导向设备108，并由散射膜107向下反射，通过光导向设备108下方的凸出部分110引向液晶快门阵列118。通过液晶快门阵列118每个驱动像素234的光通过SELFOC lens array 138以受控方式聚焦在CCD线状传感器230上。曝光头100包含有三种颜色的LED，自每个彩色LED发出的彩色光通过如图10所示的光路，聚焦在CCD线状传感器230上。
曝光头100被设计成，自各个彩色LED发出的彩色光和自液晶快门阵列118的驱动像素234出射的彩色光具有相同的光量，不过，会存在各个驱动像素之间光量出现变化的情形。下面，将以示例方式，描述此原因。
首先，为使来自光导向设备108下方突出部分110的光均匀地投射向液晶快门阵列118，散射膜107被构造成沿光导向设备108的纵向等宽。然而，难以形成沿纵向完全等宽的散射膜107。从而，散射膜107宽度的细微误差妨碍光均匀地进入液晶快门阵列118的驱动像素，这导致在各个驱动像素之间产生光量的随机变化。
其次，液晶快门阵列118的驱动像素234被构造成，每个像素的透明度随所施加在形成像素的透明电极上的电压而变化，从而有可能控制透明度。不过，难以使所有驱动像素的光透明度均匀，尤其是当打开各驱动像素时。从而，即使向所有驱动像素射入均匀的光，在各个驱动像素之间也会出现光量的变化。
此外，通过SELFOC lens array 138将液晶快门阵列118每个驱动像素234射出的光聚焦，SELFOC lens array 138通过沿纵向以重叠方式排列许多柱面透镜而构成。从而，即使向SELFOC lens array 138射入均匀的光，与柱面透镜排列周期相对应的出射光也会出现波动。
由于以上及其他原因在各个驱动像素之间出现光量变化，如果通过曝光头100在感光材料上执行曝光，就不可能形成高质量的图像。因此，必须测量在曝光头100中的每个驱动像素234的光量，而且应用阴影校正，以便当对任何特定驱动像素234施加相同的灰度级时，总能够获得相同的光量。
图11显示出曝光控制电路150的一个示例。曝光控制电路150包括输入IF 151，通过它可从个人计算机等输入灰度图像数据Dg；阴影校正电路152，用于对灰度图像数据Dg应用灰度校正；校正值存储存储器153，用于存储阴影校正电路152用来进行阴影校正的阴影校正数据；LCS控制电路154，通过使用校正的灰度图像数据Dg’和曝光定时数据Sc，产生用于驱动液晶快门阵列118的控制信号(LCS控制信号)；查询表(LUT)155，在产生LCS控制信号时使用；和LCS驱动电路156，根据LCS控制信号，产生实际用于驱动液晶快门阵列各个像素的驱动信号(LCS驱动信号)。
曝光控制电路150还包括曝光校正电路158，从灰度图像数据Dg产生曝光定时数据Sc；LED照明控制电路159，根据曝光定时数据Sc和LED驱动条件数据，产生用于驱动LED 120的LED驱动信号；和LED驱动条件存储存储器160，用于存储LED驱动条件数据。
LCS驱动信号和LED驱动信号通过信号线122传递至曝光头，并分别根据LCS驱动信号和LED驱动信号驱动液晶快门阵列188和LED 120。
这里假定，将所获得(获得方式将在后面描述)用于阴影校正的校正值和LED驱动条件数据(电流值数据)各预存在校正值存储存储器153和LED驱动条件存储存储器160中。
下面，将描述用于调节所要施加到每个LED的电流值的操作，以及确定每个驱动像素照度的方法。
图12显示出用于校正所要加到曝光头100的每个LED 120的电流值的流程。在启动校正之前，将所要测量的曝光头100设置在测量装置200上的规定位置，并将信号线122插入到IF 240中。此后，操作人员在PC 300上键入测量启动命令，该命令通过总线260传送到测量装置200的CPU 211以启动测量。之后，通过PC 300协同测量装置200的CPU 211，根据存储在PC 300中的系统控制软件，执行如图12所示的流程。
首先，自电流供给电路220向曝光头100中指定的一个LED设备120提供预定值的参考LED电流，从而使指定的LED设备打开(步骤1201)。该实施例的曝光头100具有三种颜色(蓝，绿和红)的LED设备，并对每种颜色的LED设备做出测量。在该实施例中，当执行测量时，液晶快门驱动电路212输出具有最大驱动时间(对应最高灰度级)的打开控制信号，以施加给液晶快门阵列118的所有驱动像素。在测量期间施加到每个驱动像素的控制信号并非必须是与最大驱动时间相对应的控制信号，而是也可施加与中间驱动灰度级相对应的控制信号。
然后，通过接收光量检测电路274，检测来自CCD线状传感器230的所有光接收元件232的接收光量，并通过积分电路272进行积分，通过A/D转换电路(未示出)将结果转换成数字信号，被CPU 211检测为光量数据E(X)(步骤1202)。在该实施例中，由于具有如前所述的2048个光接收元件232，从而获得2048片光量数据E(X)(X从0到2047)。所获得光量数据E(X)的分布如图13所示。在图13中，将光量数据显示为A/D转换电路的输出值(0至4095)。
接下来，从所有光接收元件的光量数据E(X)中获得最大值光量数据Emax(步骤1203)，并确定Emax是否处在预定范围内(步骤1204)。进行该确定的原因在于，如果Emax较大且值超过了A/D转换电路的A/D转换极限，转换后的数据很可能饱和，导致不能获得较好的测量结果。反过来，如果Emax较小，这意味着数据通常被压低，降低了谷值等(后面会进行讨论)的检测能力，也不能获得较好的测量结果。在该实施例中，设置使Emax处在不高于A/D转换极限90％，也不低于80％的范围内。
如果Emax处在预定范围外，程序将进行到步骤1205，将在步骤1201中所施加的参考LED电流值以规定比例变化，重复从步骤1202到1204的过程。在该实施例中，规定比例为10％。如果Emax高于预定范围的上限，则LED电流值减少10％，如果Emax低于预定范围的下限，则LED电流值增加10％。
如果能够使LED性能一致，例如可省略上述步骤1201至1205。
如果Emax处在预定范围内，则程序进行到步骤1206，从所检测光量数据E(X)中检测每个谷值V(N)的位置。作为示例，在图13中的1201处显示出所检测的谷位置。这里，N为表示每个谷的序列号，该值为0或不小于1的整数。谷值V(N)出现在与那些处在驱动像素234之间位置且不在驱动像素正下方的光接收元件232相对应的位置，如图3中Y1至Y2所示。因此，可通过检测谷值V(N)来识别驱动像素的位置。
接下来，从所检测光量数据E(X)中检测相邻谷值V(N)和V(N+1)之间的峰值P(N)(步骤1207)。作为示例，在图13中的1202处显示出峰值。同时，获得检测出峰值P(N)的峰位置，也就是，检测出峰值P(N)的光接收元件序号。
然后，检测相邻值之间的变化量R(N)，也就是谷值V(N)与其相邻峰值P(N)之间的变化量(步骤1208)。首先获得在谷值V(N)与其相邻峰值P(N)之间相邻值之间的变化量R(N)，然后获得在峰值P(N)与其相邻谷值V(N+1)之间相邻值之间的变化量。作为示例，在图14中显示出，对如图13所示光量数据E(X)进行检测的情形，在相邻值之间的变化量R(N)。此处，N为表示在具体相邻值对之间变化量的序列号，且N为0或不小于1的整数。在所示示例中，用(+)表示值从谷值V(N)上升到相邻峰值P(N)的方向，用(-)表示值从峰值P(N)下降到相邻谷值V(N+1)的方向。
接下来，获得增加的最大量Rmax和减少的最大量Rmin(步骤1209)。图14中以示例形式显示出Rmin和Rmax。
然后，通过查看Rmin和Rmax的位置，将它们之间的区域识别为像素区(步骤1210)。在图15中显示出由此所识别像素区(N＝0至479)的一个示例。
接下来，从所获的像素区的每个边缘去除五个像素，将剩余的区视为有效像素区(步骤1211)。在图15中显示出有效像素区的一个示例(N＝5至474)。由于如液晶快门结构以及透明电极排列之类的因素，处在液晶快门阵列118边缘的像素可具有不同于那些处在中心处驱动像素的驱动特性。因此，在每个边缘处的五个像素不用于图像记录，从而将其去除，以便不会测量或存储与这样的像素相关的光量。从而，有效像素区为N＝5至474。
随后，将有效像素区中包含的峰值P(N)视作液晶快门阵列118(在本实施例中有480个像素)中第N个驱动像素的照度F(N)，即从该驱动像素发射出的光量(步骤1212)。
对于设置在液晶快门阵列118的驱动像素区232边缘和外部的光接收元件，如图3中所示，所接收的光量急剧减少；因此，通过假设第一驱动像素(N＝0)位于接收光量首次突然增大的位置(Rmax)，最后一个驱动像素(N＝479)位于接收光量最后突然减小的位置(Rmin)，确定出像素位置。图15显示出在上述过程中得到的照度F(N)的分布。在图15中，通过将与各驱动像素相对应的光量连成一条曲线，来表示光量分布。
之后，从有效像素区(N＝5至474)内的照度F(N)中检测出最小光量Fmin(步骤1213)，并判断Fmin是否处于预定的光量范围内(步骤1214)。此处，根据曝光头100所适用的光敏材料的种类确定Fmin的值；特别是，在确定该值时考虑对于曝光图像的亮度设置。
如果Fmin处于预定光量范围之外，则在步骤1215中，及时将该时刻施加给LED的电流值以规定比例(5％)改变，且从电流供给电路220将经过改变的电流输送给LED，如同步骤1202中那样再次获取每个光接收元件的光量数据(步骤1216)。此处，如果Fmin低于预定范围的下限，则沿增大LED电流的方向改变电流值；反过来，如果Fmin高于预定范围的上限，则沿减小LED电流的方向改变电流值。之后，重复从步骤1206到步骤1216的过程，并且改变施加给LED的电流值，直至Fmin处于预定光量范围内为止。在上述过程中，如果Fmin处于预定范围外部，则此处所需的调节通常为微调，这是因为已经根据步骤1202到1205的循环进行控制使Emax处于预定范围之内。不过，如果任何灰尘粘附到与Fmin相对应的驱动像素，或者在LED120发生故障时，为了使Fmin处于预定范围内则需要粗调(步骤1215)。在此情形中，最好不执行Fmin调节步骤，而应考虑曝光头100有缺陷。
在步骤1214中，如果Fmin处于预定光量范围内，则流程进行到步骤1217。在步骤1217中，及时将该时刻的LED电流值存储到LED控制条件存储存储器213中，同时，及时将与液晶快门阵列118各驱动像素的驱动时间有关的控制数据(该数据定义打开各驱动像素的条件)存储在液晶快门驱动条件存储存储器214中。
然后，及时将该时刻的照度F(N)存储到光量存储存储器215中，以备后面所述的阴影校正之用(步骤1218)，以完成各驱动像素光量的测量。
存储在光量存储存储器215中的液晶快门阵列118的各驱动像素234的照度(F(N)等)，可以从PC 300输出(显示或打印)，并用于各种目的。在本实施例中，通过将所要测量的曝光头100设置在测量装置200上，执行光量测量，不过，测量装置也可以被包含在具有曝光头的图像形成装置中。
如上所述，由于将宽度比液晶快门阵列各驱动像素小的各光接收元件设置成，使多个光接收元件与一个驱动像素对应，可通过计算多个驱动像素的相互作用来测量光量，从而无需使用实际形成在光敏元件上的图像就可精确测量光量。
此外，由于并非从光敏材料上实际形成的图像的色密度而间接测量光量，而使用从与液晶快门阵列相对设置的光接收元件获得的数据进行测量，可以精确地检测各驱动像素的位置，从而可以以更高精度测量光量。
此外，由于无需使用实际形成在光敏材料上的图像即可精确测量光量，可以消除将光敏材料显影所需的时间，从而可迅速测量光量。
下面将描述获得用于阴影校正的校正值的方法。
图16表示通过使用在图12的步骤1218中存储在光量存储存储器215中的照度F(N)，获得阴影校正的校正值的流程图。
在此情形中，在图12的步骤1212中将P(N)设定成等于F(N)。这表明，将所检测光量数据E(X)的谷值V(N)之间的峰值P(N)，作为各驱动像素的表示值，从而作为用于阴影校正的照度。
可以在图12的流程之后，通过PC 300协同测量装置200的CPU211，根据存储在PC 300中的系统控制软件，执行图16的流程，或者仅在PC 300中单独执行该流程。
首先，准备对于液晶快门阵列118所有驱动像素所通用的，用于定义驱动灰度级(H)与归一化曝光照度量T之间关系的关系方程T(H)(步骤1601)。后面将详细描述关系方程T(H)。
然后，从光量存储存储器215读出根据图12的流程测量并存储的所有驱动像素的照度值F(N)(步骤1602)。
随后，从驱动像素的照度值F(N)中检测最小光量Fmin(步骤1603)。
然后，将N设为0，即选择第0个驱动像素234(步骤1604)。
接下来，参考步骤1603中检测出的Fmin，获得第N个驱动像素的校正参考值U(N)。此处，可由下式得出U(N)。
U(N)＝Fmin/F(N)图17示例性显示出对于从光量存储存储器215读出图15中所示的照度值F(N)情形的校正参考值U(N)。与最小光量Fmin相对应的校正参考值为1.00。
然后，将H设为0，即设置对于驱动灰度级0的校正值(步骤1606)。
下面，由校正值U(N)和关系方程T(H)，通过使用下式，得出对于第N个驱动像素当输入驱动灰度级H时所需的曝光照度量S(H)(步骤1607)。
S(H)＝T(H)/U(N)然后，获得对于第N个驱动像素满足S(H)＝T(H′)的实数值H’(步骤1608)。H’表示，如同将驱动灰度级H赋予与最小光量Fmin相对应的驱动像素那样，当将驱动灰度级H赋予第N个驱动像素时，获得相同曝光照度量所需的驱动灰度级。即，当将驱动灰度级H赋予第N个驱动像素时，通过将H改变到H’，执行阴影校正。
随后，通过将H’四舍五入为最接近的整数，得出具有整数值的校正值H”(步骤1609)。这是因为，包含本实施例曝光头100的系统只能处理具有0或者1到255整数值的驱动灰度级。因此，可根据情况省略这一步骤。
下面，将在步骤1609中获得的校正值H”存储在校正值存储器216中(步骤1610)。
之后，对第N个驱动像素执行相同过程(步骤1607至1611和1613)，直至对所有驱动灰度级(0至255)完成该过程，此外，对所有驱动像素(N＝0到479)重复与上述相同的过程(步骤1605至1614)，之后该流程终止。
此处，T(H)为通用于液晶快门阵列118所有驱动像素的关系方程，并且定义了驱动灰度(H)与归一化曝光照度量T之间的关系。预先根据曝光头100中所用液晶快门阵列118和所用光敏材料，由图18中所示的液晶快门阵列118的驱动特性，以及图19中所示所用光敏材料的灵敏度特性，得出关系方程T(H)。
图18中所示液晶快门阵列118的驱动特性表示，对于液晶快门阵列118的各驱动像素，归一化曝光照度量T与驱动时间t(驱动像素打开使光透过的时间)之间的关系。在图18中表示驱动特性的曲线不是线性的，这是因为液晶快门阵列118各驱动像素的归一化曝光照度量T，相对于对驱动像素的控制信号，具有图20中所示的特性。具体而言，当施加在t0时刻打开驱动像素，在t1时刻关闭驱动像素的控制信号时，来自液晶快门阵列的驱动像素的曝光照度量并非立即升高到最大值，而是逐渐接近最大曝光量。在图20中，曲线E1表示位于液晶快门阵列118中心部分(N＝20至460)的像素的性能，而曲线E0表示位于液晶快门阵列118边缘部分(N＝0至19或461至479)中的像素的性能。位于边缘部分的液晶像素的性能与位于中心部分的液晶像素的性能不同，这是因为位于边缘部分的驱动像素靠近密封元件403；即，认为用树脂制成的密封元件403形成时所产生的杂质，未固化树脂等，对靠近密封元件403的调整膜或者液晶有影响。
通常，E1与E0之间的差别非常小；从而，可以仅基于E1获得表示驱动特性的曲线，如图18中所示，并可根据该曲线得出T(H)。不过，当希望进行更详细的阴影校正时，其最好事先基于E1获得T1(H)，基于E0获得T0(H)，并且根据各驱动像素的序号或位置选择适当关系方程。
另一方面，图19中所示的光敏材料的敏感特性表示，色密度D与光敏材料上的曝光量E之间的关系，其中，色密度D相当于灰度级，曝光量E相应于曝光照度量。
在本实施例中，从图18和19中所示曲线获得惟一的关系方程T(H)，该关系方程定义灰度级数据H与归一化曝光照度量T之间的关系；为便于随后步骤中的计算，使用最小二乘近似方法通过下面的10阶多项式表示该关系方程。
T(H)=Σi=010AiHi=A0+A1·H+A2·H2+A3·H3+A4·H4+A5·H5+]]>A6·H6+A7·H7+A8·H8+A9·H9+A10·H10]]>此处，对于各种颜色LED，公式中的系数A0至A10具有下面表1中所示数值。


在本实施例中，使用上述10阶多项式得到T(H)，但关系方程不限于10阶多项式。不过，由于图18和19中所示特性为非线性，最好使用3阶或更高阶关系方程近似该关系。
图21显示出上述T(H)，S(H)等的示例。如图21中所示，由于对于与Fmin相对应的驱动像素，U(N)＝1.00，得出S(H)＝T(H)，并且与最高灰度级255相对应的归一化驱动时间为1.00，这表示最大曝光照度量。对于光量高于Fmin的驱动像素而言，当给定相同灰度级H1时，所需的曝光量为S(H1)，从而获得相同曝光量的驱动灰度为H1’。也就是，当将驱动灰度级H1赋予可用驱动像素时，应用阴影校正，将灰度校正到H1’。
图22举例说明通过这种方法得出的校正值。在图22中表示出，对于每个驱动像素N，与所给定的所有驱动灰度级相对应的校正驱动灰度。在图22的示例中，将第123个像素显示为与Fmin相对应的驱动像素。图22的示例显示出仅对于红色LED装置的校正值，但实际上，还要根据相同过程获得对于蓝色和绿色LED装置的校正值，并存储在校正值存储器中。
如前面所述，根据图16中的流程获得的校正值(参见图22)被存储到设置在与曝光头100相连的曝光控制电路150中的指定存储器，如校正值存储器153和LED驱动条件存储存储器163中。此处，对于各种颜色的LED，校正值可以与图12流程中得到的电流值一起被写入诸如FD或CD之类的记录介质，且记录介质可以安装有由此所进行测量的曝光头100。
下面，将参照图23简要描述参考最小光量Fmin获得校正值的原因。选择Fmin作为参考值是为了有效利用全部驱动灰度的范围。例如，当将Fmin设为参考值时，具有最低曝光照度量的驱动像素为与Fmin相对应的驱动像素；如果赋予该驱动像素最高灰度级255，则校正值也为255。不过，如果通过参考最大光量Fmax要获得每个驱动像素的校正参考值，则必须将参考校正值U(N)＝1.00映射到最大光量Fmax，从而对于与Fmax相对应的驱动像素，Smax(X)＝T(H)。此处，如果与Fmax相对应的驱动像素设定为，在最高灰度255提供最大归一化曝光照度量(1.00)(参见Smax(H))，那么当最高驱动灰度(255)被赋予与Fmin相对应的驱动像素时，则必须进行校正，以获得比Fmax更高的光量。在此情形中，如图23中所示，为了获得所需的最大归一化曝光照度量，必须进行校正，以提供比最高灰度级255更高的驱动灰度H2(参见Smin(H))。不过，不可能将驱动灰度级校正到比最高灰度级255更高的灰度级。
解决该问题的一种方法是，预先确定关系方程，该关系方程具有某些余量，以便与Fmax相对应的驱动像素在低于最高灰度级255的驱动灰度级H3将提供最大的归一化曝光照度量(参见Smax’(x))。然而，不能精确地预测驱动像素中随机发生的光量。此处，如果将对于与最小光量Fmin相对应的驱动像素的校正关系方程设为Smin’(H)，例如如图23中所示，则当将驱动灰度级H3赋予该驱动像素时，灰度级只能校正为H4。从而，不能利用直至最高灰度级255的全部范围(参见Smin’(H))。
相反，在参考最小光量Fmin校正校正值的情形中，由于可将与最小光量Fmin相对应的驱动像素设定为在最高灰度级产生最大的归一化曝光照度量，则有可能有效利用驱动灰度级的全部范围。
图24显示出，使用根据图16所示流程图所获得的校正值，进行阴影校正所得到的结果的一个示例。图24显示出光量的分布，其中以相对于最小光量Fmin的误差(％)表示各驱动像素的光量。
在所示示例中，通过施加根据图12的流程得到的LED电流，打开曝光头100中的红色LED，并且将最高灰度级数据(255)赋予所有驱动像素；然后，使用图22中所示的校正值执行驱动校正控制，并再次根据图12的流程测量光量。如图所示，480个驱动像素的光量中的误差最大为0.04％，这表明误差被校正到根本不会影响图像形成的级别。
此处，将概括图12中所示流程图的内容与下面所述实施例之间的关系。步骤1206和1207相当于峰值检测过程(A)，其中基于光量数据E(X)检测随特定像素出现的峰值(最大值)和谷值(最小值)及其出现位置(光接收元件序号)，以确定像素与光接收元件之间的对应性。通过两种方法之中的一种执行峰值检测过程(A)，例如这两种方法是在第一实施例的描述中所述的方法，或者后面将要描述的第三实施例中所述的方法，当驱动像素具有后面将要描述的倾斜形状时，易于通过采用第三实施例中所述的方法检测峰值。
步骤1208至1211对应有效像素区确定过程(B)，其中，在排成一行的驱动像素中，基于峰值检测过程中检测到的峰值和谷值确定可有效确定校正值的像素区。
步骤1212相当于照度确定过程(C)，该过程用于确定有效像素区内所包含的各驱动像素的照度。通过两种方法中的一种执行照度确定过程(C)，这两种方法为，如第一实施例的描述中所揭示的用峰值P(N)表示驱动像素照度(F(N))的方法，或者在后面所述的第二实施例中将要解释的方法；特别是，如果采用第二实施例中所述方法，则可以更精确地获得各驱动像素的照度(F’(N))。
下面，将描述第二实施例。
在第二实施例中，通过使用利用不同于在图12的流程中用于确定照度F(N)的方法所确定的驱动像素的照度F’(N)，来获得用于阴影校正的校正值。在通过以后将要描述的方法获得F’(N)之后的流程，除用F’(N)代替F(N)外，与在图16所示相对应的流程相同。
在以后所述的过程中，在所检测光量数据E(X)中谷值V(N)之间获得峰值P(N)的峰位置Xp，被视为每个驱动像素的表示位置，利用加权函数W(X)，获得F’(N)，并将其用作用于阴影校正的照度。
如前所述，在图16的流程中，将P(N)被视为各驱动像素照度F(N)的表示。这表明，由于多个光接收元件对应一个驱动像素，表现出峰值的光接收元件的测量值被视作驱动像素光量的表示。然而，实际上，来自多个驱动像素的光线以重叠方式入射在多个光接收元件上，峰值可不必总是与特定的一个驱动像素的光量相吻合。有鉴于此，在该实施例中，通过使用加权函数W(X)，由光接收元件(X为0至2047)所获得的检测光量数据E(X)，确定一特定驱动像素的照度F’(N)。也就是，由于所检测光量数据E(X)表示从多个驱动像素入射光线的混合，使用加权函数W(X)来估计一特定驱动像素的照度。只要估计出每个驱动像素的照度F’(N)，就能正确地控制每个驱动像素，以实现最佳的阴影校正。
下面，将参照图28，描述如何获得加权函数W(X)。在图28中，(N-1)，(N)和(N+1)表示在液晶快门阵列118中的三个驱动像素，E(X-6)至E(X+6)表示在CCD传感器阵列230中与三个驱动像素相对应的13个光接收元件的(组合)光量数据。在图28中，假设驱动像素(N-1)至(N+1)为在光量分布中无变化的理想驱动像素。在柱形图中，以无阴影的柱条显示出光量数据E(X-6)至E(X+6)。在所示示例中，对应像素N-1的峰值P(N)与光接收元件X-4相对应；同样，光接收元件X±0与驱动像素N对应，光接收元件X+4与驱动像素N+1相对应。
由于驱动像素N-1，N，和N+1彼此排列紧密，把打开所有驱动像素时由光接收元件X±0所接收的光量作为(组合)光量E(X)进行检测，将来自驱动像素N-1的光量，来自驱动像缩N的光量，和来自驱动像素N+1的光量进行组合。
此处，应注意，打开一特定驱动像素N，且仅打开驱动像素N，而其他驱动像素关闭，从而允许光仅通过驱动像素N，而阻止光通过其他像素；在该条件中，获得由各光接收元件(X)所检测的光量G(N，X-6)到G(N，X±0)至G(N，X+6)，在柱形图中以斜线阴影的柱条表示。
然后，计算光量G(N，X-6)至G(N，X+6)与对应于各个光接收元件(X-6至X+6)的光量E(X-6)至E(X+6)的比值，将每个比值视为加权函数W(X)。具体数值如表2所示。
使用该加权函数，从被检测为来自设置在光接收元件正上方的驱动像素光量和来自于该驱动像素相邻驱动像素的光量之和的组合光量，可精确获得仅来自设置在各光接收元件正上方的一特定驱动像素的入射光量。


图25显示为获得每个驱动像素的照度F’(N)(N为5至474)的流程图。用图25的流程代替在如图12所示流程中的步骤1212；其他步骤与图12所示那些步骤完全相同。
在图12中的步骤1213之后，通过使用加权函数W(X)以及在检测出峰值P(N)的光接收元件的位置X附近的检测光量数据E(X)，获得与峰值P(N)相对应的驱动像素N的净照度G(N，X)(步骤2501)。
然后，将净照度G(N，X)积分，以获得驱动像素N的照度F’(N)(步骤2502)。
之后，程序返回至图12并进行到步骤1213，将最后获得的照度F’(N)存储在光量存储存储器215中(步骤1218)。此后，程序进行到如图16所示的流程，基于照度F’(N)获得阴影校正值。
在第二实施例中，在步骤1216中再次获得光量数据E(X)之后，程序可直接进行到步骤1212，而无需返回到步骤1206，如图12中虚线1219所示。这是由于，即使在步骤1215中LED的电流值发生改变，峰位置X也不会改变。因此，如虚线1219所示，将以前所检测的峰位置在峰检测过程(A)和有效像素区确定过程(B)中同样使用(is usedas-is)。
图26显示出光接收元件(937至953)的位置，由各光接收元件所检测的(组合)光量数据E(X)，以及后面所要描述的净照度G(X，N)的关系。
在柱形图中以无阴影的柱条显示(组合)光量数据E(937)至E(953)(有些标记被省略)。在所示示例中，对应于驱动像素225的峰值P(225)与光接收元件939相对应；同样，光接收元件943与驱动像素226相对应，光接收元件947与驱动像素227相对应，光接收元件950与驱动像素228相对应。
这里，注意对于一特定驱动像素227，获得通过该特定驱动像素227入射到各个光接收元件(941至953)上的净照度G(227，941)至G(227，953)，并在柱形图中以斜线阴影的柱条表示。
获得净照度的方法如下将与驱动像素227的峰值P(227)相对应的光接收元件(947)的光量E(947)，和与光接收元件(947)左右相邻的光接收元件(在947的两侧总共六个光接收元件)的光量E(941)至E(946)和E(948)至E(953)，分别乘以其相应的加权函数W(X-6)至W(X+6)，仅求出假定通过驱动像素227入射到各个光接收元件(941至953)的净照度G(227，941)至G(227，953)。在该实施例中，通过基于从基本处在驱动像素227正上方的光接收元件(945至949)所获得的光量，以及从基本处在驱动像素227两侧的各个驱动像素226和228正上方的光接收元件(941至944)和(950至953)所获得的光量，进行计算，成功获得自驱动像素227出射的几乎所有的光。通过将净照度G(227，941)至G(227，953)积分获得如图27所使得照度F’(227)。
通过上述方法实现步骤1212“获得每个驱动像素的照度F(N)”。
在该实施例中，选择光接收元件941至953作为求解对象，以获得与驱动像素227相对应的照度，不过，可适当通过考虑各驱动像素之间的距离等来确定选择求解对象的范围。
图27显示出在与每个驱动像素相对应的照度F’(N)与峰值位置的关系。图中显示出与第224各至第229个驱动像素相对应的照度F’(224)至F’(229)。图27还显示出来自液晶快门阵列118的每个驱动像素234的光如何通过SELFOC透镜阵列138到达CCD传感器阵列230。由于形成自聚焦透镜阵列的微透镜的倾斜等，来自液晶快门阵列118的每个驱动像素的光可能不会沿直线传播，而是沿倾斜方向传播。因此，通过CCD传感器阵列230检测出峰值光量P(N)的峰值位置(各在图中以无阴影的圆形显示)可能不会总是等间距的。
如上所述，在第二实施例中，自每个驱动像素N的峰值位置，在峰值位置附近的光量数据E(X)，和加权函数W(X)获得净照度G(N，X)，从净照度G(N，X)获得每个驱动像素N的照度F’(N)。由于使用净照度G(N，X)可获得几乎所有从一特定驱动像素N射出的光量，通过校正照度F’(N)可实现正确的阴影校正。因此，即使在液晶快门阵列118的驱动像素之间光量分布中出现峰值变化，能够精确地对每个驱动像素获得用于阴影校正的校正值。
下面，将描述第三实施例。
在第三实施例中，使用具有前面如图9B所示倾斜驱动像素234’的液晶快门阵列118’，通过使用利用不同于在图12流程中的方法所确定的峰值P’(N)及其相应的峰值位置Xp’，来获得用于阴影校正的校正值。在通过以后所描述的方法获得值P’(N)和Xp’之后的流程，除分别用P’(N)和Xp’代替P(N)和Xp外，与在图12和16所示流程相同。在通过后面的方法获得P’(N)和Xp’之后，根据如图25所示的流程获得F’(N)可获得用于阴影校正的校正值。
图29显示出用于获得峰值P’(N)及其相对应的峰值位置Xp’的流程。用图29的流程代替在如图12所示流程中的步骤1206和步骤1207；其他步骤与图12所示那些步骤完全相同。
下面将描述使用具有如图9B所示倾斜驱动像素234’的液晶快门阵列118’的示例。图30A显示出当使用具有如图9A所示矩形驱动像素234的液晶快门阵列118时在理想光量分布L与连续性照度分布M之间的关系。在另一方面，图30B显示出当使用具有倾斜驱动像素234’的液晶快门阵列118’时在理想光量分布L’与连续性照度分布M’之间的关系。
如图30B所示，当使用倾斜驱动像素时，净照度分布L’的基底会展开，可使连续照度分布M’的变化减小(能够使其更扁平)。因此，当使用倾斜驱动像素时，可减少因驱动像素之间间隙所导致的感光材料未曝光部分，有可能阻止因余留在感光材料上未曝光部分而导致垂直条纹的形成。
然而，当使用具有倾斜驱动像素234’的液晶快门阵列118’时，可在CCD线状传感器230所检测的光量数据中出现谷峰差距极小的部分，使得不会精确地检测谷值V(N)(参见图12中的步骤1206)。在图31中显示出这样情形的一个示例。在图31中，附图标记3201显示当使用具有倾斜驱动像素234’的液晶快门阵列118’时所检测的光量数据(相当于图13中的E(X))的一个示例。在图31中以放大形式显示的中心部分3202中，谷峰差距非常小，以致不能精确地检测出谷值V(N)。这可能是由于应出现在如3203所示位置的谷被埋入其之前和之后的光量变化中。如果不能精确地检测出谷值V(N)，就不能精确地获得峰值P(N)以及出现峰值的峰值位置Xp。
有鉴于此，第三实施例提供了如图29所示的方法，在该方法中，为了对谷、峰值，和峰位置准确定位，仅驱动液晶快门阵列118’中的奇数或偶数的驱动像素。图32A显示出当仅驱动液晶快门阵列118’中奇数驱动像素时所检测出的光量数据3302(Eo(X))。同样，图32B显示出当仅驱动液晶快门阵列118’中偶数驱动像素时所检测出的光量数据3304(Ee(X))。图中，3301和3303所表示的部分各与图32中部分3203和表示图31中所示检测光量数据的3201相对应。
如图32A和32B所示，当仅驱动奇数或偶数的驱动像素时，由于不考虑来自每个驱动像素两侧的光量，谷峰差距增大，从而能精确定位谷值V(N)。
下面，将描述图29所示的流程。该流程与在图12中的峰值检测过程(A)相对应。
在该实施例中，当在图12的步骤1204中Emax处在预定范围之内时，程序进行到图29中的步骤3001。液晶快门驱动电路212向液晶快门阵列118’发送打开控制信号，以便使所有驱动像素中，仅将奇数驱动像素打开并持续最大驱动时间(对应最高灰度级)(步骤3001)。如前面参照图12的描述，施加到驱动像素的打开控制信号并非必须是与最大驱动时间相对应的控制信号，而是也可施加与中间驱动灰度级相对应的控制信号。
接下来，获得当仅打开液晶快门阵列118’中奇数驱动像素时由每个光接收元件232所检测的光量数据Eo(X)(参照图32A中3302)(步骤3002)。
然后，从光量数据Eo(X)检测出每个谷的位置Vo(No)(步骤3003)。从光量数据获得每个谷的方法与在图12中步骤1206所示方法相同。
此后，获得在相邻谷值Vo(No)和Vo(No+1)之间的峰值Po(No)以及出现峰值Po(No)的位置Xpo(对应相应光接收元件232的序号)(步骤3004)。获得在相邻谷之间的峰值及峰位置的方法与图12的步骤1207中的方法相同。
之后，液晶快门驱动电路212向液晶快门阵列118’发送打开控制信号，以便将所有驱动像素中仅偶数驱动像素打开并持续最大驱动时间(对应最高灰度级)(步骤3005)。
接下来，获得当仅打开液晶快门阵列118’中偶数驱动像素时由每个光接收元件232所检测的光量数据Ee(X)(参照图32B中3304)(步骤3006)。
然后，从光量数据Ee(X)检测出每个谷的位置Ve(Ne)(步骤3007)。从光量数据获得每个谷的方法与在图12中步骤1206所示方法相同。
此后，获得在相邻谷值Ve(Ne)和Ve(Ne+1)之间的峰值Pe(Ne)以及出现峰值Pe(Ne)的位置Xpe(对应相应光接收元件232的序号)(步骤3008)。获得在相邻谷之间的峰值及峰位置的方法与图12的步骤1207中的方法相同。
之后，将对应于奇数驱动像素的峰值Po(No)和对应于偶数驱动像素的峰值Pe(Ne)以交替方式组合，以获得对应于所有驱动像素的峰值P’(N)(N为5至474)。同样，将分别出现对应于奇数驱动像素的峰值Po(No)的峰值位置Xpo，和分别出现对应于偶数驱动像素的峰值Pe(Ne)的峰值位置Xpe，以交替方式组合，以获得分别出现对应于所有驱动像素的峰值P’(N)的峰值位置Xp’(步骤3009)。
之后，程序返回至图12并进行到步骤1208，将最后基于P’(N)和Xp’获得的照度F(N)存储在光量存储存储器215中(步骤1218)。此后，程序进行到如图16所示的流程，基于照度F(N)获得阴影校正值。此处，如前所述，当根据该实施例的方法获得峰值P’(N)和峰位置Xp’之后，可通过根据在第二实施例中所述的方法获得照度F’(N)来获得阴影校正值。
在具有如图9B所示倾斜驱动像素的液晶快门阵列118’中，将驱动像素234’排列成单行，不过，也可将驱动像素以交错形式排列。在这种情形中，最好是将奇数驱动像素以交错形式沿一行排列，将偶数驱动像素以交错形式沿一行排列。
当按如上所述使用如图9B所示倾斜驱动像素时，可抑制因驱动像素之间间隙所导致的感光材料未曝光部分，有可能阻止因余留在感光材料上未曝光部分而导致垂直条纹的形成。此外，根据图29的流程通过分别打开奇数驱动像素和偶数驱动像素，可精确地获得峰值P’(N)和峰位置Xp’。
权利要求
1.一种用于控制曝光装置的方法，曝光装置包括曝光头，该曝光头具有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；以及控制装置，用于控制所述曝光头，所述方法包括步骤向所述发光设备提供参考电流，并测量来自所述光调制设备的所述多个像素中各像素的光量；确定从所述多个像素测得的光量中的最小值是否处在预定范围内；以及当所述光量的所述最小值处在所述预定范围之外时，确定所要提供给所述发光设备的电流值，以使所述光量的所述最小值落在所述预定范围内。
2.根据权利要求1的方法，其中，所述控制装置具有第一存储器，且将所述控制装置配置成基于存储在所述第一存储器中的数据来控制所述曝光头，并且，所述方法还包括将所述确定出的电流值存储在所述第一存储器中的步骤。
3.根据权利要求1的方法，其中，所述发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，并且，对于每个所述彩色LED设备确定并存储所述电流值。
4.根据权利要求1的方法，还包括步骤向所述发光设备提供所述确定出的电流值；通过以规定的驱动灰度级驱动所有所述多个像素，来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中各像素的第二光量；检测出从所述多个像素测得的所述第二光量中的第二最小值；以及参考所述第二最小值，确定用于校正在所述多个像素中所述第二光量变化的校正值，以使来自所述多个像素中各像素的所述第二光量处在规定范围内。
5.根据权利要求4的方法，其中，所述控制装置具有第二存储器，且将所述控制装置配置成基于存储在所述第二存储器中的数据来控制所述曝光头，并且其中，所述方法还包括将所述确定出的校正值存储在所述第二存储器中的步骤。
6.一种用于控制曝光装置的方法，曝光装置包括曝光头，该曝光头具有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；以及控制装置，用于控制所述曝光头，所述方法包括步骤向所述发光设备提供参考电流，并测量来自所述光调制设备的所述多个像素中各像素的光量；确定从所述多个像素测得的光量中的最小值是否处在第一预定范围内，以及从所述多个像素测得的光量中的最大值是否处在第二预定范围内；以及当所述光量的所述最小值处在所述第一预定范围之外时或当所述光量的所述最大值处在所述第二预定范围之外时，确定所要提供给所述发光设备的电流值，以使所述光量的所述最小值落在所述第一预定范围内，以及使所述光量的所述最大值落在所述第二预定范围内。
7.根据权利要求6的方法，其中，所述控制装置具有第一存储器，且将所述控制装置配置成基于存储在所述第一存储器中的数据来控制所述曝光头，并且其中，所述方法还包括将所述确定出的电流值存储在所述第一存储器中的步骤。
8.根据权利要求6的方法，其中，所述发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，并且，对于每个所述彩色LED设备确定并存储所述电流值。
9.根据权利要求6的方法，还包括步骤向所述发光设备提供所述确定出的电流值；通过以规定的驱动灰度级驱动所有所述多个像素，来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中各像素的第二光量；检测出从所述多个像素测得的所述第二光量中的第二最小值；以及参考所述第二最小值，确定用于校正在所述多个像素中所述第二光量变化的校正值，以使来自所述多个像素中各像素的所述第二光量处在规定范围内。
10.根据权利要求9的方法，其中，所述控制装置具有第二存储器，且将所述控制装置配置成基于存储在所述第二存储器中的数据来控制所述曝光头，并且其中，所述方法还包括将所述确定出的校正值存储在所述第二存储器中的步骤。
11.一种曝光装置，包括曝光头，所述曝光头具有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，具有存储器，用于向所述发光设备提供与存储在所述存储器中的电流值数据相匹配的电流值，其中，与所述电流值数据相匹配的所述电流值为，使从所述光调制设备的所述多个像素测得的光量中的最小值落在预定范围内的值。
12.根据权利要求11的曝光装置，其中，所述发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，并且，对于每个所述彩色LED设备将所述电流值数据存储在所述存储器中。
13.一种曝光装置，包括曝光头，所述曝光头具有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，具有存储器，用于向所述发光设备提供与存储在所述存储器中的电流值数据相匹配的电流值，其中，与所述电流值数据相匹配的所述电流值为，使从所述光调制设备的所述多个像素测得的光量中的最小值落在第一预定范围内，并使从所述光调制设备的所述多个像素测得的光量中的最大值落在第二预定范围内的值。
14.根据权利要求13的曝光装置，其中，所述发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，并且，对于每个所述彩色LED设备将所述电流值数据存储在所述存储器中。
15.一种曝光装置，包括曝光头，所述曝光头具有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，具有第一存储器和第二存储器，用于向所述发光设备提供与存储在所述第一存储器中的电流值数据相匹配的电流值，用于根据存储在所述第二存储器中的校正值数据校正输入灰度图像数据，其中，与所述电流值数据相匹配的所述电流值为，使从所述光调制设备的所述多个像素测得的光量中的最小值落在预定范围内的值，以及所述校正值数据提供用于参考从所述多个像素测得的光量的所述最小值对所述多个像素中的光量变化进行校正的值，从而当以与所述电流值数据相匹配的所述电流值驱动所述发光设备时，以及当以规定的驱动灰度级驱动所述光调制设备的所有所述多个像素时，使来自所述多个像素中每个像素的光量落在规定范围内。
16.根据权利要求15的曝光装置，其中，所述发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，并且，对于每个所述彩色LED设备将所述电流值数据存储在所述第一存储器中。
17.一种曝光装置，包括曝光头，所述曝光头具有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，具有第一存储器和第二存储器，用于向所述发光设备提供与存储在所述第一存储器中的电流值数据相匹配的电流值，并用于根据存储在所述第二存储器中的校正值数据校正输入灰度图像数据，其中，与所述电流值数据相匹配的所述电流值为，使从所述光调制设备的所述多个像素测得的光量中的最小值落在第一预定范围内，并使从所述光调制设备的所述多个像素测得的光量中的最大值落在第二预定范围内的值，而且所述校正值数据提供用于参考从所述多个像素测得的光量的所述最小值对所述多个像素中的光量变化进行校正的值，从而当以与所述电流值数据相匹配的所述电流值驱动所述发光设备时，以及当以规定的驱动灰度级驱动所述光调制设备的所有所述多个像素时，使来自所述多个像素中每个像素的光量落在规定范围内。
18.根据权利要求17的曝光装置，其中，所述发光设备具有R彩色LED设备，G彩色LED设备，和B彩色LED设备，并且，对于每个所述彩色LED设备将所述电流值数据存储在所述第一存储器中。
19.一种用于制造曝光装置的方法，该曝光装置包括曝光头，该曝光头具有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于使用存储在存储器中的数据控制所述曝光头，所述方法通过使用以下装置产生所述曝光装置调节装置，具有光量测量装置，用于在其上装配所述曝光头并测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的光量；电流供给装置，用于向所述发光设备提供电流；驱动条件确定装置，用于根据自所述光量测量装置提供的所测值确定对于所述曝光头的驱动条件；和存储装置，用于将所述确定出的驱动条件存储在所述存储器中，所述方法包括步骤通过所述电流供给装置向所述发光设备提供参考电流，并通过所述光量测量装置来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的光量；通过所述驱动条件确定装置确定从所述多个像素测得的光量中的最小值是否处在预定范围内；当所述光量的所述最小值处在所述预定范围之外时，通过所述驱动条件确定装置确定所要提供给所述发光设备的电流值，以使所述光量的所述最小值落在所述预定范围内；以及通过所述存储装置将所述确定出的电流值存储在所述存储器中。
20.一种用于制造曝光装置的方法，该曝光装置包括曝光头，该曝光头装配有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于使用存储在存储器中的数据控制所述曝光头，所述方法通过使用以下装置产生所述曝光装置调节装置，具有光量测量装置，用于在其上装配所述曝光头并测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的光量；电流供给装置，用于向所述发光设备提供电流；驱动条件确定装置，用于根据自所述光量测量装置提供的所测值确定对于所述曝光头的驱动条件；和存储装置，用于将所述确定出的驱动条件存储在所述存储器中，所述方法包括步骤通过所述电流供给装置向所述发光设备提供参考电流，并通过所述光量测量装置来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的光量；通过所述驱动条件确定装置，确定从所述多个像素测得的光量中的最小值是否处在第一预定范围内，以及从所述多个像素测得的光量中的最大值是否处在第二预定范围内；当所述光量的所述最小值处在所述第一预定范围之外时，或当所述光量的所述最大值处在所述第二预定范围之外时，通过所述驱动条件确定装置，确定所要提供给所述发光设备的电流值，以使所述光量的所述最小值落在所述第一预定范围内，并使所述光量的所述最大值落在所述第二预定范围内；以及通过所述存储装置将所述确定出的电流值存储在所述存储器中。
21.一种用于制造曝光装置的方法，该曝光装置包括曝光头，该曝光头装配有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于使用存储在存储器中的数据控制所述曝光头，所述方法通过使用以下装置产生所述曝光装置调节装置，具有光量测量装置，用于在其上装配所述曝光头并测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的光量；电流供给装置，用于向所述发光设备提供电流；驱动条件确定装置，用于根据自所述光量测量装置提供的所测值确定对于所述曝光头的驱动条件；和存储装置，用于将所述确定出的驱动条件存储在所述存储器中，所述方法包括步骤通过所述电流供给装置向所述发光设备提供参考电流，并使所述光量测量装置来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的第一光量；通过所述驱动条件确定装置，确定从所述多个像素测得的所述第一光量中的第一最小值是否处在第一预定范围内；当所述第一光量的所述第一最小值处在所述预定范围之外时，通过所述驱动条件确定装置，确定所要提供给所述发光设备的电流值，以使所述第一光量的所述第一最小值落在所述预定范围内；通过所述电流供给装置，将所述确定出的电流值提供给所述发光设备；通过所述光量测量装置，以规定的驱动灰度级驱动所有所述多个像素，来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的第二光量；通过所述驱动条件确定装置，对从所述多个像素测得的所述第二光量中的第二最小值进行检测；由所述驱动条件确定装置，通过参考所述第二最小值，确定用于对所述多个像素的所述第二光量的变化进行校正的校正值，以使来自所述多个像素中每个像素的所述第二光量落在规定的范围内；以及通过所述存储装置将所述确定出的电流值和所述确定出的校正值存储在所述存储器中。
22.一种用于制造曝光装置的方法，该曝光装置包括曝光头，该曝光头装配有发光强度随所提供的电流值而变化的发光设备，具有多个像素的光调制设备，和用于将来自所述发光设备的光导向至所述光调制设备的光导向装置；和控制装置，用于使用存储在存储器中的数据控制所述曝光头，所述方法通过使用以下装置产生所述曝光装置调节装置，具有光量测量装置，用于在其上装配所述曝光头并测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的光量；电流供给装置，用于向所述发光设备提供电流；驱动条件确定装置，用于根据自所述光量测量装置提供的所测值确定对于所述曝光头的驱动条件；和存储装置，用于将所述确定出的驱动条件存储在所述存储器中，所述方法包括步骤通过所述电流供给装置向所述发光设备提供参考电流，并使所述光量测量装置来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的第一光量；通过所述驱动条件确定装置，确定从所述多个像素测得的所述第一光量中的第一最小值是否处在第一预定范围内，以及从所述多个像素测得的所述第一光量中的最大值是否处在第二预定范围内；当所述第一光量的所述第一最小值处在所述第一预定范围之外时，或当所述第一光量的所述最大值处在所述第二预定范围之外时，通过所述驱动条件确定装置，确定所要提供给所述发光设备的电流值，以使所述第一光量的所述第一最小值落在所述第一预定范围内，并使所述第一光量的所述最大值落在所述第二预定范围内；通过所述电流供给装置，将所述确定出的电流值提供给所述发光设备；通过所述光量测量装置，以规定的驱动灰度级驱动所有所述多个像素，来测量来自所述光调制设备的所述多个像素中每个像素的第二光量；通过所述驱动条件确定装置，对从所述多个像素测得的所述第二光量中的第二最小值进行检测；由所述驱动条件确定装置，通过参考所述第二最小值，确定用于对所述多个像素中所述第二光量的变化进行校正的校正值，以使来自所述多个像素中每个像素的所述第二光量落在规定的范围内；以及通过所述存储装置将所述确定出的电流值和所述确定出的校正值存储在所述存储器中。
全文摘要
本发明在于提供一种在其中存储有被适当确定的电流值，用于向发光设备供电的曝光装置，和用于制造这种曝光装置的方法。根据本发明的制造方法包括步骤向发光设备提供参考电流，并测量来自光调制设备的多个像素中各像素的光量；确定从多个像素测得的光量中的最小值是否处在预定范围内；以及当光量的最小值处在预定范围之外时，确定所要提供给发光设备的电流值，以使光量的最小值落在预定范围内。
文档编号G06K15/12GK1684837SQ20038010010
公开日2005年10月19日 申请日期2003年10月10日 优先权日2002年10月10日
发明者盐田聪, 安永真, 增渕贞夫, 岩子彰展 申请人:西铁城时计株式会社