可挠式触控面板,触控装置及其操作方法与流程

文档序号:11864126阅读:234来源:国知局
可挠式触控面板, 触控装置及其操作方法与流程

本发明是有关于一种可挠式触控面板,触控装置及其操作方法。



背景技术:

近年来,触控面板广泛的应用在可携式终端产品,例如,手机、平板计算机、笔记本电脑和个人计算机,此外,更先进的可携式终端产品有其需求是以可挠式材质取代传统硬性材质,因此,所谓的可挠式触控面板被发展至可藉由使用者施加的力量将之弯折。

然而,一旦可挠式触控面板处于弯折状态时,其电路特性也随之改变,并且可能引入不必要的触碰干扰,因此,有必要提供一种技术来处理上述问题。



技术实现要素:

本发明有关于一种可挠式触控面板,触控装置及其操作方法。

根据本发明,提出一种触控装置,触控装置包括可挠式触控面板、传感器及控制器。可挠式触控面板接收一触碰输入,传感器检测可挠式触控面板的弯折,控制器以负载驱动能力设定作为驱动可挠式触控面板,并且根据可挠式触控面板的弯曲状态来调整负载驱动能力设定。

根据本发明,提出一种触控装置的操作方法,触控装置包括可挠式触控面板接收一触碰输入以及控制器驱动可挠式触控面板,操作方法包括检测到可挠式触控面板的弯折,控制器的负载驱动能力设定根据可挠式触控面板的弯曲状态来作调整,以及以负载驱动能力设定驱动可挠式触控面板。

根据本发明,提出一种可挠式触控面板,可挠式触控面板包括多条扫描线用以传输扫描信号,多条感测线相交于扫描线并依据扫描信号提供触碰输入响应,其中扫描信号依据可挠式触控面板的弯曲状态作调整。

为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解,下文特举实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。

附图说明

图1为本发明的一实施例的触控装置的示意图。

图2为本发明的一流程图的触控装置的操作方法。

图3为本发明的一实施例的可挠式触控面板于不同弯曲状态下的触碰输入响应。

图4为本发明的一流程图的触控装置100的操作方法。

图5为本发明的一实施例的可挠式触控面板。

图6为本发明的一实施例的可挠式触控面板。

图7为本发明的一实施例的可挠式触控面板。

其中,附图标记:

100:触控装置

102、502、602、702:可挠式触控面板

104:传感器

106:控制器

S202、S204、S206、S404、S406:步骤

51、53、55、61、63、65、71、73、75:触碰区域

X1、X2:弯曲轴线

TL’:扫描线

RL’:感测线

606:子控制器

具体实施方式

以下,参考附图,详细说明依据本案的实施范例,以使本领域的相关技术人员易于了解。于一些地方,现有技术的结构与装置只简单显示已简化绘图,省略已熟知部分的描述,并且相同的参考号于本案中代表相同的元件。

本发明所提供的技术可应用于具有不同弯曲状态的可挠式触控面板。用以驱动可挠式触控面板的控制器(例如为一驱动集成电路)可动态地调整其负载驱动能力设定以符合此可挠式触控面板在不同弯曲类型下的RC负载,使得触控装置的总功率消耗量可以被降低。

图1绘示依据本发明的一实施例的触控装置100的示意图。触控装置100包括可挠式触控面板102、传感器104和控制器106。可挠式触控面板102,例如双面氧化铟锡(a double-sided indium tin oxide,DITO)触控面板、单面氧化铟锡(a single-sided ITO,SITO)触控面板、或是任何其他可以被弯曲的触控面板,用以接收触控输入。例如,使用者可通过一或多指对可挠式触控面板102进行单点或多点的触碰手势,藉此控制触控装置100。

于图1,可挠式触控面板102包括多条扫描线TL和多条相交于扫描线TL的感测线RL。扫描线TL可传递扫描信号以检测施加于可挠式触控面板102上的触碰输入。当检测到触碰输入,感测线RL可将响应于扫描信号所产生的触碰输入的响应回传给控制器106,使得触碰输入的触碰位置/轨迹可以被识别。

在一实施例中,各条感测线RL包括开关SW。当开关SW被开启,对应的感测线RL将被视为一致能线,此致能线可将信号回传给控制器106。相对的,当开关SW为关闭时,对应的感测线RL将被视为一个停用线,其会阻绝任何传递给控制器106的反馈。在本发明中,通过选择性地禁用感测线,可避免来自可挠式触控面板的非操作触碰区域的不必要触碰干扰。关于感测线的布线和致能/停用机制,将于稍后搭配图5至7作进一步说明。

传感器104用以检测可挠式触控面板102的弯曲。例如,传感器104可以被嵌入在可挠式触控面板102内以检测可挠式触控面板102在一弯曲位置(例如,一个折叠轴)的弯曲角度/速度/变形。传感器104可以是弯折传感器、光学传感器、压力传感器、加速度计或其它任何可用于检测可挠式触控面板102弯曲状态的传感器。在一实施例中,传感器104可以由多个子传感器所组成,此些子传感器分散地设置于可挠式触控面板102,以提供可挠式触控面板102弯曲信息给控制器106。

控制器106用以通过一负载驱动能力设定来驱动可挠式触控面板102。根据由传感器104检测出的可挠式触控面板102弯曲状态,控制器106可以调整其负载驱动能力设定以满足可挠式触控面板102当下的弯曲状态,也就是说,如果可挠式触控面板102的弯曲状态满足预定条件,控制器106可选择一个相应的负载驱动能力设定来驱动此可挠式触控面板102。

作此设计背后的理由在于,当可挠式触控面板102弯曲类型的变化时,控 制器106所看到的RC负载可能变得不同。举例来说,可挠式触控面板102在折叠与未折叠状态下的电容差可以高达0.27pF,其相当于一般驱动IC规格中6%的电容变化。这也意味着,有时控制器106可用较低的负载驱动能力来驱动可挠式触控面板102,而非使用固定的、最大化的负载驱动能力来涵盖可挠式触控面板102所有可能的弯曲类型。因此,通过动态地调整控制器106的负载驱动能力,低功率要求是可以被实现的。

图2为根据本发明实施例的触控装置100操作方法的流程图200。如图2所示,在传感器104检测到可挠式触控面板102的弯曲状态(步骤S202)之后,控制器106可以根据可挠式触控面板102(步骤S204)的弯曲状态来调节其负载驱动能力设定,然后以调整后的负载驱动能力设定(S206)来驱动可挠式触控面板102。

负载驱动能力设定的调整可以通过各种方式来实现,例如,控制器106可通过改变扫描信号的数量/工作周期/频率来调节负载驱动能力设定。

在一实施例中,触控装置100可预先存储多个预定的负载驱动能力设定,各个预定负载驱动能力设定分别对应可挠式触控面板102的一弯曲状态。接着,根据可挠式触控面板102的弯曲状态,控制器106可以选择其中之一的预定负载驱动能力设定作为负载驱动能力设定来驱动面板。对应于不同弯曲状态的预定负载驱动能力设定可包括一个或多个预定状态,例如,用以指示可挠式触控面板102被折叠或卷曲的第一状态,以及用以指示可挠式触控面板102是未折叠或非卷曲的第二状态。值得注意是,虽然上述仅显示了两个示例的可能弯曲状态,可理解的是,本发明并不局限于此,因为任何类型的弯曲状态可以根据实际的面板设计来定义。

另一个实施例中,在不需预先存储多个预定负载驱动能力设定的情况下,触控装置100可基于从感器测104获得弯曲信息而持续地监测和分析可挠式触控面板102的当下弯曲状态,并针对可挠式触控面板102及时地动态调整其负载驱动能力设定。

图3绘示可挠式触控面板102在不同弯曲状态下的触碰输入响应的例子,在图3中,波形P1代表施加在未折叠的可挠式触控面板102之上的触碰事件,而波形P2代表施加在折叠的可挠式触控面板102之上的触碰事件,其中TH1和TH2是阈值,用于判断是否接收到触碰输入。例如,如果触碰事件P1的感 测量(如,电压/电流)比阈值TH1高,这将被视为一个有意义的触碰输入;否则,它将被视为噪声,并在之后的信号处理中被忽略掉。

正如前面提到,可挠式触控面板102不同的弯曲状态可对控制器106产生不同RC负载。因此,当可挠式触控面板102是在不同的弯曲状态,相同触碰事件可以导致不同的响应,如图3中所示的波形P1和P2。在此情况下,控制器106可以动态地调整其负载驱动能力,以满足可挠式触控面板102在不同弯曲状态下的RC负载值,从而节省功率消耗并改善用以处理触碰输入的后端电路的分辨率,后端电路例如为模拟数字转换器。

如图3所示,由于控制器106的负载驱动能力的调整,当可挠式触控面板102从非折叠状态改变到折叠状态,触碰输入的信号感测范围可从RA1改变到RA2。在调整负载驱动能力设定后,控制器106可更新阈值以检测是否有接收触碰输入,也就是说,将阈值从TH1转换至TH2。在一实施例中,当可挠式触控面板102是在第一弯曲状态,控制器106可以选择预定负载驱动能力设定之一为负载驱动能力设定,并以第一信号感测范围感测触碰输入,当可挠式触控面板102是在第二弯曲状态,控制器106可以选择另外一个预定负载驱动能力作为负载驱动能力设定,并以第二信号感测范围作为感测触碰输入。

图4根据本发明实施例的触控装置100操作方法的流程图400,流程图400和流程图200之间的主要差别在于,流程图400更涉及了针对可挠式触控面板102于非操作触碰区域的噪声降低机制。

如图4所示,在传感器104检测可挠式触控面板102的弯曲状态(步骤S202)之后,控制器106即可判断出可挠式触控面板102的操作触碰区域(步骤S404)。控制器106可控制开关SW,致能在操作触碰区域内的感测线RL,并停用设置在非操作触碰区域内的感测线RL(步骤S406),使得来自非操作触碰区域的信号可以被阻断。然后,控制器106可以执行如图2所示的步骤S204和S206,选择一合适的负载驱动能力设定来驱动可挠式触控面板102。注意的是,本发明不限于上述例子,在另一实施例中,负载驱动能力设定的调整(步骤S204)可以在噪声降低过程(步骤S404和S406)之前先执行;又一实施例中,负载驱动能力设定的调整和噪声降低程序可以同时被执行。

图5根据本发明的实施例,绘示可挠式触控面板502的示意图。可挠式触控面板502被分成多个触碰区域51,53和55,其中弯曲轴线X1定义在触碰 区域51和53之间的连接处,而弯曲轴线X2定义在触碰区域53和55之间的连接处。可以理解的是,尽管在图5中触碰区域的数量是由三个示意,但本发明并不限于此,根据实际需求的不同,可挠式触控面板中可定义任意数量的触碰区域。另外,在一实施例中,具有多个触碰区域的可挠式触控面板502为单一完整面板,而非由多个子面板拼接组成。

为了检测可挠式触控面板502的弯曲状态,一个或多个传感器104可被嵌入在或设置在弯曲轴线X1和X2。可挠式触控面板502包括多条穿过可挠式触控面板502的扫描线TL'和多条相交于扫描线TL'的感测线RL'。相似于第1图所示的可挠式触控面板102,感测线RL'可以藉由控制器106而被致能或停用,例如,如果触碰区域53被选择为提供给使用者执行触碰操作的操作触碰区域,而另外的触碰区域51和55被选择为非操作触碰区域(例如,被弯曲至可挠式触控面板502的背面),则控制器106可致能位于触碰区域53的感测线RL'和停用位于非操作触碰区域51和55的感测线RL'。因此,即便非操作触碰区域51和55被弯曲时,它们的表面会接触到可挠式触控面板502的背面,产生自非操作触碰区域51和55的触碰干扰、非操作触碰区域51和55在持握或外在环境等产生的触碰干扰,或者同时产生前述两种触碰干扰皆可被忽略/阻断。类似地,当触碰区域51被选择为操作触碰区域时,控制器106可致能位于触碰区域51的感测线RL'和停用位于非操作触碰区域53和55的感测线RL'。又,当触碰区域55被选择为操作触碰区域时,控制器106可致能位于触碰区域55的感测线RL'和停用位于非操作触碰区域51和53感测线RL'。换句话说,控制器106可以仅致能位在操作触碰区域中的感测线RL',以减少可挠式触控面板502在各种弯曲状态下的触碰干扰。

图6根据本发明的实施例,绘示可挠式触控面板602的示意图。在此实施例中,扫描线和感测线被分成多组,每一组对应于可挠式触控面板602的一触碰区域。如图6所示,触碰区域61包括扫描线TL1和感测线RL1、触碰区域63包括扫描线TL2和感测线RL2、而触碰区域65包括扫描线TL3和感测线RL3。每个触碰区域之间的扫描/感测线的配线,基本上彼此互为独立。需要注意的是,在实施例中,可挠式触控面板602亦可为单一完整面板,而非多个子面板的拼接。

相较于图5所示的可挠式触控面板502,可挠式触控面板602的扫描线 TL1/TL2/TL3分别对应各自的触碰区域,而不是通过整个可挠式触控面板602。因此,若其中一个触碰区域(如触碰区域61)被选择为操作触碰区域,而其他(如触碰区域63和65)是非操作触碰区域时,控制器106可停用位在非操作触碰区域中的扫描线(如扫描线TL2和TL3)和感测线(如感测线RL2和RL3)以阻绝来自其中的触碰事件。此外,在一实施例中,控制器106可以包括多个子控制器606,各子控制器606可根据从传感器104获得的弯曲信息来控制相应的触碰区域,如图6所示。

图7根据本发明的实施例,绘示可挠式触控面板702的示意图。在此实施例中,触碰区域中的触碰事件是由延伸至触碰区域侧边的感测线所检测。如图7所示,触碰区域71,73和75配置成排,且被弯曲轴线X1和X2隔开。感测线RL1'可穿过触碰区域73和75而延伸至触碰区域71的一侧边,感测线RL2'可穿过触碰区域75而延伸至触碰区域73的一侧边,感测线RL3'可以延伸至触碰区域75的一侧边。其中,感测线RL1'、RL2'和RL3'分别用以检测触碰区域71、73和75中的触碰输入。类似于前面的描述,根据从传感器104获得的弯曲信息,控制器106可选择性地停用位在非操作触碰区域中的感测线。此外,在一实施例中,可挠式触控面板702亦可为单一完整面板,而非多个子面板的拼接。

总之,本发明所提供的技术以可调整的负载驱动能力设定来驱动可挠式触控面板,以符合对应于可挠式触控面板当下弯曲类型的RC负载,使得触控装置的整体功率消耗量可以减少。此外,本发明所提出的技术也可以选择性地停用位在可挠式触控面板的非操作触碰区域的感测线,以减少不必要的触碰干扰。

综上所述,虽然本发明已以实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域中的相关技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰,但这些更动与润饰均应属于本发明所附权利要求的保护范围。

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