一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法与流程

本发明涉及OGS触摸屏检测方法领域，具体是一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法。

背景技术：

OGS触摸屏中ITO走线中，由于ITO走线整体面积较大，线路之间空白较多，因此在点亮OGS触摸屏时易出现线路阴影。同时，在对OGS触摸屏的ITO走线进行反光检查时，也会由于相对的原因出现线路阴影，影响产品的整体品质和检查效果。

技术实现要素：
本发明的目的是提供一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，以解决现有技术OGS触摸屏ITO走线线路阴影导致的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为：

一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：在ITO走线相邻线路之间空白处、每个线路内部空白处分别设置空心长方形阵列，利用空心长方形阵列减小ITO走线面积，以消除反光检查时ITO走线线路影子，然后再进行反光检查。

所述的一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：相邻线路之间空白处设置的空心长方形阵列为多行多列空心长方形阵列。

所述的一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，其特征在于：线路内部空白处的空心长方形阵列为单列多行空心长方形阵列。

本发明在相邻线路空白处和每个线路内部空白处，分别设置空心长方形阵列，利用空心长方形阵列占据ITO走线空白处，以减小ITO走线面积，从而可消除线路的阴影，提高了OGS触摸屏的品质，并提高了检查可靠性。

附图说明

图1为本发明原理示意图。

具体实施方式

如图1所示，一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，在ITO走线相邻线路1之间空白处、每个线路1内部空白处分别设置空心长方形阵列2，利用空心长方形阵列2减小ITO走线面积，以消除反光检查时ITO走线线路影子，然后再进行反光检查。

相邻线路之间空白处设置的空心长方形阵列为多行多列空心长方形阵列。

线路内部空白处的空心长方形阵列为单列多行空心长方形阵列。