一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法与流程

技术总结
本发明公开了一种OGS触摸屏的ITO走线反光检查方法，在ITO走线相邻线路空白处设置空心长方形阵列，以消除反光检查时ITO走线线路影子，然后再进行反光检查。本发明可消除线路的阴影，提高了OGS触摸屏的品质，并提高了检查可靠性。

技术研发人员：肖新煌;林钟泉
受保护的技术使用者：晟光科技股份有限公司
文档号码：201611139057
技术研发日：2016.12.12
技术公布日：2017.05.10