一种触摸检测方法和装置与流程

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种触摸检测方法和装置。

背景技术：

目前，随着触摸屏尺寸的不断增大，大尺寸的触摸屏成品在触控压力一致性方面的性能较差。产品开发人员往往通过增加采样点数或者统一使用时间复杂度较高的滤波算法，过滤无效数据，计算出准确的触摸轨迹。

但是，增加采样点数和统一使用时间复杂度较高的滤波算法的方式会导致主处理器的负担增大，在性能要求严格的嵌入式系统中，往往又会导致触控显示刷新延迟等问题，影响用户的触控体验。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种触摸检测方法和装置，旨在解决现有技术中大尺寸电阻式触摸屏的性能和触控准确性无法同时满足的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种触摸检测方法，该触摸检测方法包括：

若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；

根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；

若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；

根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。

另一方面，本发明实施例提供了一种触摸检测装置，该触摸检测装置包括:

采样模块，用于若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；

判断模块，用于根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；

计算模块，用于若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算所述触摸点的x轴电压值和y轴电压值；

第一确定模块，用于根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。

本发明实施例若检测到用户通过触摸屏输入的触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，并根据n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域，若该触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点的电压值进行采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值，然后根据x轴电压值和y轴电压值，确定该触摸点在触摸屏的位置坐标。通过对触摸点的电压值进行采样，识别出触控压力不一致的问题区域，只针对问题区域通过增加采样点使用时间复杂度较高的优化算法，而对正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而在减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能的同时，也避免了触控显示刷新延迟等问题，使得终端能够及时准确地响应触摸操作对应的控制指令。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的一种触摸检测方法的流程图；

图2是本发明实施例提供的一种触摸检测方法中触摸屏坐标分布示意图；

图3是本发明实施例二提供的一种触摸检测方法的流程图；

图4是本发明实施例三提供的一种触摸检测装置的结构示意图；

图5是本发明实施例四提供的一种触摸检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

以下结合具体附图对本发明的实现进行详细的描述。

实施例一：

图1是本发明实施例一提供的一种触摸检测方法的流程图，本发明实施例的执行主体为智能终端设备，其具体可以是包含大尺寸电阻式触摸屏的智能手机等智能终端设备，图1示例的触摸检测方法具体可以包括步骤S101至步骤S104，详述如下：

S101、若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，n为整数。

具体地，若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则可以通过触摸控制芯片对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到的电压采样值具体可以是电压AD值，即电压的模数转换值，在以触摸屏的左上角为坐标原点的二维坐标系中，该电压AD值可以包括x轴的电压采样值和y轴的电压采样值。通过对触摸点的n次电压值采样，可以得到触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值。

S102、根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域。

具体地，根据步骤S101得到的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域。

对触摸灵敏的触摸屏来说，正常触摸滑动时采集到的电压AD值是连续的，因此在一个触摸点采集到的多个电压AD值之间的差值也很小，如果出现较大的差值，则可以认定该触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域。当用户在触摸不灵敏的区域进行触摸操作时，终端无法准确响应该触摸操作对应的控制指令。

S103、若触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域，则继续对该触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值。

具体的，若触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域，则继续对该触摸点进行多次电压值采样，将得到的采样数据与步骤S101采样得到的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值一起进行统计，根据步骤S101和步骤S103采样得到的全部电压采样值计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值。例如，可以对全部x轴电压采样值和全部y轴电压采样值分别取平均值作为该触摸点的x轴电压值和y轴电压值，也可以对全部x轴电压采样值取中间值，对全部y轴电压采样值取中间值，分别作为该触摸点的x轴电压值和y轴电压值。具体计算方法可以根据实际应用的需要进行选择，此处不做限制。

S104、根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。

具体地，根据步骤S103得到的x轴电压值和y轴电压值，计算触摸点在触摸屏的位置坐标。

需要说明的是，触摸点在触摸屏的位置坐标的计算完全依赖于x轴电压值和y轴电压值这两个电压AD值，若x轴电压值和y轴电压值这两个电压AD值可靠，则计算出的位置坐标就正确。

在根据电压AD值计算触摸点的位置坐标时，可以按照电压AD值的取值范围将触摸屏划分为若干数据区域，具体数据区域的划分数量可以根据触摸屏的分辨率进行灵活的调节。以12位的电压AD值为例，如图2所示，在以触摸屏左上角为原点的二维坐标系中，可以将x轴和y轴按照电压AD值划分为八个区域，则每个区域的电压AD值分别为区域0(0～511)、区域1(512～1023)、区域2(1024～1535)、…、区域7(3584～4095)，则整个触摸屏可以划分为8*8即64个区域。根据当前的x轴电压值和y轴电压值，可以判断出该触摸点具体属于哪一个区域，进而计算出在该区域的具体位置坐标。

通过本发明实施例的方法，当检测出触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域时，对该问题区域的触摸点通过增加采样点，执行时间复杂度较高的优化算法来确定触摸点的准确位置，而对触摸灵敏的正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而不需要对整个屏幕都采用增加采样点数或者均采用时间复杂度高的优化算法，采用本发明实施例的方法，能够减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能，同时，由于降低了处理器的处理负荷，因此也避免了触控显示刷新延迟等问题，从而使得终端能够及时准确地响应触摸操作对应的控制指令。

本实施例中，若检测到用户通过触摸屏输入的触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，并根据n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域，若该触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点的电压值进行采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值，然后根据x轴电压值和y轴电压值，确定该触摸点在触摸屏的位置坐标。通过对触摸点的电压值进行采样，识别出触控压力不一致的问题区域，只针对问题区域通过增加采样点使用时间复杂度较高的优化算法，而对正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而在减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能的同时，也避免了触控显示刷新延迟等问题，使得终端能够及时准确的响应触摸操作对应的控制指令。

实施例二：

图3是本发明实施例二提供的一种触摸检测方法的流程图，本发明实施例的执行主体为智能终端设备，其具体可以是包含大尺寸电阻式触摸屏的智能手机等智能终端设备，图3示例的触摸检测方法具体可以包括步骤S201至步骤S215，详述如下：

S201、若检测到用户通过触摸屏输入的触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，n为整数。

具体地，若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则可以通过触摸控制芯片对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到的电压采样值具体可以是电压AD值，即电压的模数转换值，在以触摸屏的左上角为坐标原点的二维坐标系中，该电压AD值可以包括x轴的电压采样值和y轴的电压采样值。通过对触摸点的n次电压值采样，可以得到触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值。

S202、将n个x轴电压采样值划分成m1组，并计算每组x轴电压采样值的平均值，得到m1个x轴电压平均值，其中，m1为小于或者等于n的整数。

具体地，将步骤S201采集到的n个x轴电压采样值划分成m1组，计算每组中x轴电压采样值的平均值，得到m1个x轴电压平均值。

S203、将n个y轴电压采样值划分成m2组，并计算每组y轴电压采样值的平均值，得到m2个y轴电压平均值，其中，m2为小于或者等于n的整数。

具体地，将步骤S201采集到的n个y轴电压采样值划分成m2组，计算每组中y轴电压采样值的平均值，得到m2个y轴电压平均值。

需要说明的是，m1和m2均是小于或者等于n的整数，m1和m2可以相同也可以不相同。若m1或者m2等于n，则每组只包含一个电压采样值，其平均值即为该电压采样值。

可以理解的是，m1或m2的值越小，其运算量越小，执行效率越高，但检测准确度会降低，m1或m2的值越大，其运算量越大，执行效率越低，但检测准确度会提高。

S204、在m1个x轴电压平均值中，计算相邻两个x轴电压平均值的绝对差值，得到m1个x轴绝对差值。

具体地，在步骤S202得到的m1个x轴电压平均值中，计算相邻两个x轴电压平均值的差值，并对该差值取绝对值，得到m1个x轴绝对差值。

例如，若在步骤S202得到3个x轴电压平均值分别为a1，a2和a3，则计算a1和a2的绝对差值，a2和a3的绝对差值，以及a3和a1的绝对差值，得到3个x轴绝对差值。

S205、在m2个y轴电压平均值中，计算相邻两个y轴电压平均值的绝对差值，得到m2个y轴绝对差值。

具体地，在步骤S203得到的m2个y轴电压平均值中，计算相邻两个y轴电压平均值的差值，并对该差值取绝对值，得到m2个y轴绝对差值。

例如，若在步骤S203得到4个y轴电压平均值分别为b1，b2，b3和b4，则计算b1和b2的绝对差值，b2和b3的绝对差值，b3和b4的绝对差值，以及b4和b1的绝对差值，得到4个y轴绝对差值。

S206、若在m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于预设的x轴偏差阈值，或者在m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于问题区域。

具体地，对触摸灵敏的触摸屏来说，正常触摸滑动时采集到的电压AD值是连续的，因此在一个触摸点采集到的多个电压AD值之间的差值也很小，如果在m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于预设的x轴偏差阈值，或者在m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则认为该触摸点采集到的电压AD值出现了异常，可以认定该触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域。

需要说明的是，x轴偏差阈值和y轴偏差阈值可以相同，也可以不相同，具体可以根据实际应用的触摸屏环境进行设置，此处不做限制。

若m1个x轴绝对差值均小于或者等于x轴偏差阈值，并且m2个y轴绝对差值均小于或者等于y轴偏差阈值，则流程跳转到步骤S213继续执行。

可以理解的是，在本发明实施例中，是判断若在m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于预设的x轴偏差阈值，或者在m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于问题区域，在其他发明实施例中，也可以是判断若在m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于或者等于预设的x轴偏差阈值，或者在m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于或者等于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于问题区域。

为了更好的理解步骤S201至步骤S206，现举例说明如下。

假设n等于9，即对触摸点进行9次电压值采样，并将该9次采样得到的9个x轴电压AD值和9个y轴电压AD值分别记录在数组tempXY[0][9]和tempXY[1][9]中，假设m1和m2均等于3，则将tempXY[0][9]和tempXY[1][9]分别分成3组取平均值，并将平均值存储在avgXY[0][3]和avgXY[1][3]中。

以x轴电压采样值为例：

avgXY[0][0]＝(tempXY[0][0]+tempXY[0][1]+tempXY[0][2])/3

avgXY[0][1]＝(tempXY[0][3]+tempXY[0][4]+tempXY[0][5])/3

avgXY[0][2]＝(tempXY[0][6]+tempXY[0][7]+tempXY[0][8])/3

计算相邻的x轴电压平均值之间的绝对差值：

diffXY[0][0]＝|avgXY[0][0]-avgXY[0][1]|

diffXY[0][1]＝|avgXY[0][1]-avgXY[0][2]|

diffXY[0][2]＝|avgXY[0][2]-avgXY[0][0]|

同理，对y轴电压采样值，可以得到diffXY[1][0]、diffXY[1][1]和diffXY[1][2]。

若在diffXY[0][0]、diffXY[0][1]和diffXY[0][2]中，存在至少一个值大于预设的x轴偏差阈值，或者在diffXY[1][0]、diffXY[1][1]和diffXY[1][2]中，存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于问题区域。

S207、若触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点进行p次电压值采样，得到p个x轴电压采样值和p个y轴电压采样值。

具体地，若根据步骤S206确认触摸点所在的位置属于问题区域，则按照与步骤S201相同的方法继续对该触摸点进行p次电压值采样，得到p个x轴电压采样值和p个y轴电压采样值。

S208、对n+p个x轴电压采样值按照递增顺序进行排序。

具体地，将步骤S201采样得到的n个x轴电压采样值和步骤S207采样得到的p个x轴电压采样值，按照递增顺序进行排列。

S209、根据排序后的n+p个x轴电压采样值，将第个x轴电压采样值和第个x轴电压采样值的平均值确定为触摸点的x轴电压值。

具体地，根据步骤S208排序得到的n+p个x轴电压采样值，将中间两个位置，即第个x轴电压采样值和第个x轴电压采样值的平均值确定为触摸点的x轴电压值。

例如，n等于9，p等于9，则对按递增顺序排序后得到的18个x轴电压采样值，取排在第9位和第10位的x轴电压采样值的平均值，作为触摸点的x轴电压值。

可以理解的是，在本发明实施例中，对n+p个x轴电压采样值是按照递增的顺序进行排序，在其他发明实施例中，也可以是对n+p个x轴电压采样值是按照递减的顺序进行排序，此处不做限制。

S210、对n+p个y轴电压采样值按照递增顺序进行排序。

具体地，将步骤S201采样得到的n个y轴电压采样值和步骤S207采样得到的p个y轴电压采样值，按照递增顺序进行排列。

S211、根据排序后的n+p个y轴电压采样值，将第个y轴电压采样值和第个y轴电压采样值的平均值确定为触摸点的y轴电压值。

具体地，根据步骤S210排序得到的n+p个y轴电压采样值，将中间两个位置，即第个y轴电压采样值和第个y轴电压采样值的平均值确定为触摸点的y轴电压值。

例如，n等于9，p等于9，则对按递增顺序排序后得到的18个y轴电压采样值，取排在第9位和第10位的y轴电压采样值的平均值，作为触摸点的y轴电压值。

可以理解的是，在本发明实施例中，对n+p个y轴电压采样值是按照递增的顺序进行排序，在其他发明实施例中，也可以是对n+p个y轴电压采样值是按照递减的顺序进行排序，此处不做限制。

S212、根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。

具体地，根据步骤S209得到的x轴电压值和步骤S211得到的y轴电压值，计算触摸点在触摸屏的位置坐标。

需要说明的是，触摸点在触摸屏的位置坐标的计算完全依赖于x轴电压值和y轴电压值这两个电压AD值，若x轴电压值和y轴电压值这两个电压AD值可靠，则计算出的位置坐标就正确。

在根据电压AD值计算触摸点的位置坐标时，可以按照电压AD值的取值范围将触摸屏划分为若干数据区域，具体数据区域的划分数量可以根据触摸屏的分辨率进行灵活的调节。以12位的电压AD值为例，如图2所示，在以触摸屏左上角为原点的二维坐标系中，可以将x轴和y轴按照电压AD值划分为八个区域，则每个区域的电压AD值分别为区域0(0～511)、区域1(512～1023)、区域2(1024～1535)、…、区域7(3584～4095)，则整个触摸屏可以划分为8*8即64个区域。根据当前的x轴电压值和y轴电压值，可以判断出该触摸点具体属于哪一个区域，进而计算出在该区域的具体位置坐标。

在根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标之后，流程跳转到步骤S215。

S213、若m1个x轴绝对差值均小于或者等于x轴偏差阈值，并且m2个y轴绝对差值均小于或者等于y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置不属于问题区域。

具体地，若根据步骤S206判断若m1个x轴绝对差值均小于或者等于x轴偏差阈值，并且m2个y轴绝对差值均小于或者等于y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于触摸灵敏的正常区域，不属于问题区域。

S214、根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。

具体地，若触摸点所在的位置属于触摸灵敏的正常区域，则直接根据步骤S201采样得到的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，采用常规过滤算法确定触摸点在触摸屏的位置坐标，不需要继续增加采样点数或使用时间复杂度高的优化算法来确定位置坐标，从而降低了处理器的处理负荷。

S215、流程结束。

本实施例中，若检测到触摸屏被触摸，则对触摸点的电压值进行n次采样，得到n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，并根据n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，将n个x轴电压采样值划分成m1组，并计算每组x轴电压采样值的平均值，得到m1个x轴电压平均值，并在m1个x轴电压平均值中，计算相邻两个x轴电压平均值的绝对差值，得到m1个x轴绝对差值，同理对n个y轴电压采样值划分成m2组，按照与x轴采样电压值同样的方法得到m2个y轴绝对差值，若在m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于预设的x轴偏差阈值，或者在m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于问题区域，若该触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点进行p次电压值采样，得到p个x轴电压采样值和p个y轴电压采样值，对n+p个x轴电压采样值按照递增顺序进行排序，根据排序后的n+p个x轴电压采样值，将第个x轴电压采样值和第个x轴电压采样值的平均值确定为触摸点的x轴电压值，同样方法可以得到触摸点的y轴电压值，然后根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。若m1个x轴绝对差值均小于或者等于x轴偏差阈值，并且m2个y轴绝对差值均小于或者等于y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置不属于问题区域，则直接根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。通过对触摸点的电压值进行采样，识别出触控压力不一致的问题区域，当检测出触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域时，对该问题区域的触摸点通过增加采样点，执行时间复杂度较高的优化算法来确定触摸点的准确位置，而对触摸灵敏的正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而不需要对整个屏幕都采用增加采样点数或者均采用时间复杂度高的优化算法，通过本发明实施例的方法能够减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能，同时，由于降低了处理器的处理负荷，因此也避免了触控显示刷新延迟等问题，从而使得终端能够及时准确的响应触摸操作对应的控制指令。

实施例三：

图4是本发明实施例三提供的一种触摸检测装置的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。图4示例的一种触摸检测装置可以是前述实施例一提供的触摸检测方法的执行主体。图4示例的一种触摸检测装置包括参数采样模块31、判断模块32、计算模块33和第一确定模块34，各功能模块详细说明如下：

采样模块31，用于若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到该触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，n为整数；

判断模块32，用于根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；

计算模块33，用于若触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值；

第一确定模块34，用于根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。

本实施例提供的一种触摸检测装置中各模块实现各自功能的过程，具体可参考前述图1所示实施例的描述，此处不再赘述。

从上述图4示例的一种触摸检测装置可知，本实施例中，若检测到用户通过触摸屏输入的触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，并根据n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域，若该触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点的电压值进行采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值，然后根据x轴电压值和y轴电压值，确定该触摸点在触摸屏的位置坐标。通过对触摸点的电压值进行采样，识别出触控压力不一致的问题区域，只针对问题区域通过增加采样点使用时间复杂度较高的优化算法，而对正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而在减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能的同时，也避免了触控显示刷新延迟等问题，使得终端能够及时准确的响应触摸操作对应的控制指令。

实施例四：

图5是本发明实施例四提供的一种触摸检测装置的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。图5示例的一种触摸检测装置可以是前述实施例二提供的触摸检测方法的执行主体。图5示例的一种触摸检测装置包括参数采样模块41、判断模块42、计算模块43和第一确定模块44，各功能模块详细说明如下：

采样模块41，用于若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到该触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，n为整数；

判断模块42，用于根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；

计算模块43，用于若触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算该触摸点的x轴电压值和y轴电压值；

第一确定模块44，用于根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。

进一步地，判断模块42包括：

第一划分子模块421，用于将n个x轴电压采样值划分成m1组，并计算每组x轴电压采样值的平均值，得到m1个x轴电压平均值，其中，m1为小于或者等于n的整数；

第二划分子模块422，用于将n个y轴电压采样值划分成m2组，并计算每组y轴电压采样值的平均值，得到m2个y轴电压平均值，其中，m2为小于或者等于n的整数；

第一绝对差子模块423，用于在m1个x轴电压平均值中，计算相邻两个x轴电压平均值的绝对差值，得到m1个x轴绝对差值；

第二绝对差子模块424，用于在m2个y轴电压平均值中，计算相邻两个y轴电压平均值的绝对差值，得到m2个y轴绝对差值；

问题区域确认子模块425，用于若在m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于预设的x轴偏差阈值，或者在m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域。

进一步地，计算模块43包括：

二次采样子模块431，用于若触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点进行p次电压值采样，得到p个x轴电压采样值和p个y轴电压采样值；

第一排序子模块432，用于对n+p个x轴电压采样值按照递增顺序进行排序；

第一平均值子模块433，用于根据排序后的n+p个x轴电压采样值，将第个x轴电压采样值和第个x轴电压采样值的平均值确定为触摸点的x轴电压值；

第二排序子模块434，用于对n+p个y轴电压采样值按照递增顺序进行排序；

第二平均值子模块435，用于根据排序后的n+p个y轴电压采样值，将第个y轴电压采样值和第个y轴电压采样值的平均值确定为触摸点的y轴电压值。

进一步地，该触摸检测装置还包括：

正常区域确认模块45，用于若m1个x轴绝对差值均小于或者等于预设的x轴偏差阈值，并且m2个y轴绝对差值均小于或者等于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置不属于问题区域。

进一步地，若触摸点所在的位置不属于问题区域，则该触摸检测装置还包括：

第二确定模块46，用于根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。

本实施例提供的一种触摸检测装置中各模块实现各自功能的过程，具体可参考前述图3所示实施例的描述，此处不再赘述。

从上述图5示例的一种触摸检测装置可知，本实施例中，若检测到触摸屏被触摸，则对触摸点的电压值进行n次采样，得到n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，并根据n个x轴采样电压值和n个y轴采样电压值，将n个x轴电压采样值划分成m1组，并计算每组x轴电压采样值的平均值，得到m1个x轴电压平均值，并在m1个x轴电压平均值中，计算相邻两个x轴电压平均值的绝对差值，得到m1个x轴绝对差值，同理对n个y轴电压采样值划分成m2组，按照与x轴采样电压值同样的方法得到m2个y轴绝对差值，若在m1个x轴绝对差值中存在至少一个x轴绝对差值大于预设的x轴偏差阈值，或者在m2个y轴绝对差值中存在至少一个y轴绝对差值大于预设的y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置属于问题区域，若该触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对该触摸点进行p次电压值采样，得到p个x轴电压采样值和p个y轴电压采样值，对n+p个x轴电压采样值按照递增顺序进行排序，根据排序后的n+p个x轴电压采样值，将第个x轴电压采样值和第个x轴电压采样值的平均值确定为触摸点的x轴电压值，同样方法可以得到触摸点的y轴电压值，然后根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。若m1个x轴绝对差值均小于或者等于x轴偏差阈值，并且m2个y轴绝对差值均小于或者等于y轴偏差阈值，则确认触摸点所在的位置不属于问题区域，则直接根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。通过对触摸点的电压值进行采样，识别出触控压力不一致的问题区域，当检测出触摸点所在的位置属于触摸不灵敏的问题区域时，对该问题区域的触摸点通过增加采样点，执行时间复杂度较高的优化算法来确定触摸点的准确位置，而对触摸灵敏的正常区域可以仍然采用采样点较少的常规过滤算法，从而不需要对整个屏幕都采用增加采样点数或者均采用时间复杂度高的优化算法，通过本发明实施例的方法能够减少对系统处理能力的占用，降低处理器的处理负荷，提高触控性能，同时，由于降低了处理器的处理负荷，因此也避免了触控显示刷新延迟等问题，从而使得终端能够及时准确的响应触摸操作对应的控制指令。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每一个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同或者相似的部分互相参见即可。对于装置类实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

值得注意的是，上述装置实施例中，所包括的各个模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

本领域普通技术人员可以理解，实现上述各实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，相应的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如ROM/RAM、磁盘或光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。