一种RFID读写器性能测试方法、装置及存储介质与流程

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种rfid读写器性能测试方法、装置及存储介质。

背景技术：

uhfrfid(ultrahighfrequencyradiofrequencyidentification，超高频射频识别技术)，是基于860-960mhz的射频识别技术，广泛应用于无人便利柜、无人商店、仓储盘点、智能车牌识别等领域。其中，读写器是配合uhfrfid工作的主要设备，其最基本的功能是对电子标签数据的获取，还可以对电子标签中存储数据的进行读取或写入。为了降低各种工作指标不统一的uhfrfid读写器流入终端领域，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定的概率，因此，需要对uhfrfid读写器性能进行测试，因此，如何实现rfid读写器性能的自动化测试，以提升rfid读写器性能化测试的准确度和测试效率，是一个需要解决的技术问题。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种rfid读写器性能测试方法、装置及存储介质，用实现rfid读写器性能的自动化测试，以提升rfid读写器性能化测试的准确度和测试效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种rfid读写器性能测试方法，包括：

获取校准测试项，对待测试的rfid读写器进行校准测试；

根据校准测试结果调整所述rfid读写器的可调功率增益；

判断调整后的所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值；

若是，则选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕。

可选的，所述对所述rfid读写器进行校准测试，具体包括：

根据所述校准测试项设置所述rfid读写器的参数；

控制所述rfid读写器以所述目标功率发送射频信号；

根据接收到的所述射频信号的实际功率以及所述rfid读写器的内部器件获得的所述射频信号的信号参数，获得所述rfid读写器的校准系数；

其中，所述校准测试结果包括所述校准系数。

可选的，所述判断调整后的所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值，具体包括：

获取发送功率测试项，根据所述发送功率测试项设置所述rfid读写器的参数；

控制所述rfid读写器以所述目标功率发送射频信号；

获取接收到的所述射频信号的实际功率；

判断所述目标功率与所述实际功率之差是否小于阈值。

可选的，所述其他测试项包括接收灵敏度测试项，所述接收灵敏度测试项测试时所述方法包括：

控制外部信号发射装置向所述rfid读写器发送预设数目的模拟标签数据包；

获取所述rfid读写器正确解析所述模拟标签数据包的数目；

对比所述预设数目和所述数目，获得所述rfid读写器的接收灵敏度。

可选的，所述获得所述rfid读写器的校准系数之前，所述方法还包括：

控制外部信号发射装置转换工作模式；

通过转换的外部信号发射装置接收所述射频信号；

并基于所述外部信号发射装置对所述射频信号进行分析获得所述实际功率。

可选的，所述其他测试项还包括接发送功率反向校准测试项、频率容限测试项、占用带宽测试项、频谱模板测试项以及射频包络测试项，所述其他测试项中的每一测试项按照预设测试顺序依次进行测试。

可选的，若所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差大于等于阈值，所述方法还包括：

重新对所述rfid读写器进行所述校准测试项测试，若所述校准测试项测试的重测次数达到预设次数时，所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差仍大于等于阈值，则结束测试。

第二方面，本发明实施例提供了一种rfid读写器性能测试装置，包括：

获取单元，用于获取校准测试项，对待测试的rfid读写器进行校准测试；

调整单元，用于根据校准测试结果调整所述rfid读写器的可调功率增益；

判断单元，用于判断调整后的所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值；若是，则选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕。

可选的，所述获取单元，用于：

根据所述校准测试项设置所述rfid读写器的参数；

控制所述rfid读写器以所述目标功率发送射频信号；

根据接收到的所述射频信号的实际功率以及所述rfid读写器的内部器件获得的所述射频信号的信号参数，获得所述rfid读写器的校准系数；

其中，所述校准测试结果包括所述校准系数。

可选的，所述判断单元，还用于：

获取发送功率测试项，根据所述发送功率测试项设置所述rfid读写器的参数；

控制所述rfid读写器以所述目标功率发送射频信号；

获取接收到的所述射频信号的实际功率；

判断所述目标功率与所述实际功率之差是否小于阈值。

可选的，所述其他测试项包括接收灵敏度测试项，所述获取单元，还用于：

控制外部信号发射装置向所述rfid读写器发送预设数目的模拟标签数据包；

获取所述rfid读写器正确解析所述模拟标签数据包的数目；

对比所述预设数目和所述数目，获得所述rfid读写器的接收灵敏度。

可选的，所述获取单元，还用于：

控制外部信号发射装置转换工作模式；

通过转换的外部信号发射装置接收所述射频信号；

并基于所述外部信号发射装置对所述射频信号进行分析获得所述实际功率。

可选的，所述其他测试项还包括接发送功率反向校准测试项、频率容限测试项、占用带宽测试项、频谱模板测试项以及射频包络测试项，所述其他测试项中的每一测试项按照预设测试顺序依次进行测试。

可选的，若所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差大于等于阈值，所述判断单元，还用于：

重新对所述rfid读写器进行所述校准测试项测试，若所述校准测试项测试的重测次数达到预设次数时，所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差仍大于等于阈值，则结束测试。

第三方面，本发明实施例提供了一种rfid读写器性能测试装置，包括至少一个处理器、以及至少一个存储器，其中，所述存储器存储有计算机程序，当所述程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如第一方面所述方法的步骤。

第四方面，本发明实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机指令，当所述计算机指令在计算机上运行时，使得计算机执行如第一方面所述的方法的步骤。

在本发明实施例中，考虑到读写器批生产过程中，存在被测试的读写器个体性能差异，例如天线、耦合器、pcb板布局叠层等因素的影响导致被测试的读写器存在个体性能差异，因此，本发明实施例提供的rfid读写器性能测试方法，首先对rfid读写器进行校准测试项的测试获得校准补偿，然后根据获得的校准补偿调节rfid读写器的可调功率增益，以降低个体差异导致的测试不准确的概率，然后判断调整后的rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值即进行发送功率测试项测试，若是，则选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕。所以，不仅实现了rfid读写器性能的自动化测试，还提升rfid读写器性能化测试的准确度和测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例。

图1为本发明实施例提供的一种应用场景示意图；

图2为本发明实施例提供的一种rfid读写器性能测试方法流程图；

图3为本发明实施例提供的校准测试项测试流程图；

图4为本发明实施例提供的一种拟合曲线示意图；

图5为本发明实施例提供的发送功率测试项测试流程图；

图6为本发明实施例提供的接收灵敏度测试项测试流程图；

图7为本发明实施例提供的一种rfid读写器性能测试装置示意图；

图8为本发明实施例提供的另一种rfid读写器性能测试装置示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明技术方案的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请文件中记载的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明技术方案保护的范围。

下面对本发明实施例中涉及的部分概念进行介绍。

uhfrfid技术：即超高频射频识别技术(ultrahighfrequencyradiofrequencyidentification，简称uhfrfid)，是基于860-960mhz的射频识别技术，广泛应用于无人便利柜、无人商店、仓储盘点、智能车牌识别等领域。rfid主要硬件构成包括：读写器和电子标签。读写器用于电子标签中存储数据的读取或写入，最基本的功能是对电子标签数据的获取。电子标签是一种由耦合元件组成的芯片，它可以由自带天线发射rfid标签信号。

本发明实施例中的rfid读写器性能测试方法可应用于如图1所示的应用场景，在该场景中，包括待测试的读写器，主机，综测仪，衰减器以及多路耦合器，其中，读写器与主机可通过串口uart(universalasynchronousreceiver/transmitter，通用异步收发传输器)或其他接口方式通信，主机与综测仪可以通过接口总线gpib(general-purposeinterfacebus，通用接口总线)通信，在综测仪和读写器之间加衰减器，避免烧坏设备，依据待测试的读写器的天线端口数量，选择相应端口数量的耦合器。

其中，综测仪可以为综合测试仪，其可以实现频谱仪与信号源的功能，也可以是其他类型的在测试读写器的发射性能时起到频谱仪的功能，在测试读写器接收性能的时候起到信号源的功能的综测仪。

主机可以是任一种能够按照程序运行，自动、高速处理大量数据的终端设备，这样的终端设备如服务器，电脑，ipad等，主机中包括测试软件以及软件开发套件sdk，其中，测试软件可以为ni自动化生产测试软件，在按照本发明实施例提供的rfid读写器性能测试方法对rfid读写器进行测试时，ni自动化生产测试软件通过调用sdk软件动态链接库dll，间接实现对读写器的参数配置及状态回读，sdk软件和被测件直接通过串口uart或其他接口方式通信。

需要注意的是，上文提及的应用场景仅是为了便于理解本发明的精神和原理而示出，本发明实施例在此方面不受任何限制。相反，本发明实施例可以应用于适用的任何场景。

下面结合图1所示的应用场景，对本发明实施例中的rfid读写器性能测试方法进行说明。

如图2所示，为本发明实施例中提供的一种rfid读写器性能测试方法，包括：

步骤201：获取校准测试项，对待测试的rfid读写器进行校准测试；

步骤202：根据校准测试结果调整rfid读写器的可调功率增益；

步骤203：判断调整后的rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值，若是则执行步骤204，否则执行步骤205；

步骤204：选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕；

步骤205：重新对rfid读写器进行校准测试项测试；

步骤206：若校准测试项测试的重测次数达到预设次数时，rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差仍大于等于阈值，则结束测试。

本发明实施例中的rfid读写器性能测试方法可应用于一般的rfid读写器的性能测试，也可以应用于uhfrfid读写器的性能测试。

本发明实施例中，各测试项又可称为测试激励，例如校准测试项又可称为校准测试激励。各测试项的内容通过初始化文本形式载入ni自动化测试软件中，ni测试软件按照本法实施例中预设的各测试项的测试顺序执行各个测试项。

在本发明实施例中，考虑到读写器批生产过程中，存在被测试的读写器个体性能差异，例如天线、耦合器、pcb板布局叠层等因素的影响导致被测试的读写器存在个体性能差异，因此，本发明实施例中，首先对rfid读写器进行校准测试即步骤201中的校准测试项，获得校准补偿，然后根据获得的校准补偿对不同的rfid读写器写入不同的校准系数，从而保障产品性能的一致性，且经过自动校准补偿后的测试结果才是真实的结果，尤其对于rfid读写器的发射信号的功率，如果没有自动校准功能，实际的发射功率差异很大。

在本发明实施例中，主机首先获取校准测试项，对待测试的rfid读写器进行发送功率前向校准测试，其中，在对rfid读写器进行发送功率前向校准测试具体可以通过图3所述的流程以执行：

步骤301：根据获取的校准测试项，对rfid读写器的参数进行设置；

步骤302：控制rfid读写器以目标功率发送射频信号；

步骤303：根据接收到的射频信号的实际功率以及rfid读写器的内部器件获得的射频信号的信号参数，获得rfid读写器的校准系数；

其中，校准测试结果包括校准系数。

在本发明实施例中，主机可根据获取的校准测试项，对rfid读写器的参数进行设置，例如选择rfid读写器的天线通道，设置rfid读写器的频点，以及设置不同的增益值，然后控制rfid读写器以目标功率发送射频信号，rfid读写器发送的射频信号一路经过rfid读写器的天线发射出去，并被图1所示的多路耦合器接收，然后通过衰减器进入综测仪，此时，主机可以控制综测仪工作在频谱仪功能模式，以便通过综测仪对接收到的射频信号进行分析获得射频信号的实际功率。

rfid读写器发送的射频信号另一路经由rfid读写器内部耦合器的耦合端输出到rfid读写器内部的检波器中，对该射频信号进行包络检波，得到该射频信号的电压参数，然后将该电压参数输出到外部的模数转换器(adc)，主机可以与外部adc通信，进而主机从该外部adc获取相应的adc值。

在本发明实施例中，在步骤201中可以根据获取校准测试项，可以对待测试的rfid读写器连续进行多次校准测试，获得多组实际功率与adc值，例如下表一所示，在步骤201中，根据获取校准测试项对待测试的rfid读写器连续进行6次校准测试，获得的6组实际功率与adc值：

表一：发射增益与实际功率、adc值对应表

表一中，发射增益值为设置的不同的rfid读写器的增益值，以及在设置的不同增益值下进行校准测试项获得的实际功率与adc值。主机可以分别从外部adc读取测试的多个adc值以及从综测仪中读取对应的多个实际功率值，从而获得多组实际功率与adc值，然后以adc值为横坐标，实际功率为纵坐标，拟合出如图4所示的一元一次方程的拟合曲线，从而计算出一元一次方程的斜率和截距值分别为0.0483和7.7664。该斜率与截距值即为rfid读写器的校准系数，然后主机可将计算获得的rfid读写器的校准系数写入到sdk相应的寄存器中。

在本发明实施例中，在测试出rfid读写器的校准系数之后，主机可以根据校准系数计算出rfid读写器的校准偏差，然后，根据目标功率叠加校准偏差之后的值，通过调节rfid读写器内部的可调增益器以实现对rfid读写器的可调功率增益的调节，然后，判断调整后的rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值，其中，步骤203可以具体通过如图5所示的流程实现：

图5所示的流程，包括：

步骤501：获取发送功率测试项，根据发送功率测试项设置rfid读写器的参数；

步骤502：控制rfid读写器以目标功率发送射频信号；

步骤503：获取接收到的射频信号的实际功率；

步骤504：判断目标功率与实际功率之差是否小于阈值。

即在本发明实施例中，主机在对rfid读写器进行校准测试之后，可以进行发送功率测试，即获取发送功率测试项，然后根据发送功率测试项设置调节后的rfid读写器的参数如频点、天线及目标发射功率即目标功率，开启载波并控制载波以目标功率发射载波信号即射频信号。

同样的，该载波信号经由rfid读写器的天线发射之后，可通过外部多路耦合器进入综测仪，进而通过综测仪对该载波信号进行分析，获得实际功率，然后对比实际功率和目标功率，判断实际功率和目标功率之差是否小于预设的阈值，若没有超出阈值范围，则认为rfid读写器的发送性能满足要求，则发送功率测试项完成，还可以打印相应的测试报告。

在本发明实施例中，在发送功率测试项完成之后，还可以进行其他测试项的测试，例如进行接收灵敏度测试项、功率反向校准测试项、频率容限测试项、占用带宽测试项、频谱模板测试项以及射频包络测试项等测试项的测试，下文将对其他测试项进行详述。

需要说明的是，其他测试项的测试顺序可以根据实际需要进行设置。

若发送功率测试中，步骤203中判断实际功率和目标功率之差大于或等于预设的阈值，则可以重新进行校验测试项测试即再次执行上述步骤201至步骤203，若重新进行校验测试项测试达到预设的次数例如3次，实际功率和目标功率之差仍然大于或等于预设的阈值，则认为该rfid读写器存在问题，可打印表示该rfid读写器存在问题的报告单，并可结束测试。

一种可选的方式，在本发明实施例中，其他测试项还包括接收灵敏度测试项，在对rfid读写器进行接收灵敏度测试项测试时，可以按照图6所示的流程执行：

图6所示的流程包括：

步骤601：控制外部信号发射装置向rfid读写器发送预设数目的模拟标签数据包；

步骤602：获取rfid读写器正确解析模拟标签数据包的数目；

步骤603：对比预设数目和所述数目，获得rfid读写器的接收灵敏度。

在本发明实施例中，考虑到接收灵敏度也是rfid读写器的重要性能之一，因此，本发明实施例中的方法还设计了用于测试rfid读写器的接收灵敏度的测试项，即接收灵敏度测试项，其中，在进行接收灵敏度测试项测试时，主机可以控制综测仪转变工作模式，进而让综测仪充当信号源，其中步骤601中的外部信号发送装置即为图1中的综测仪，也可以为其他具有频谱分析功能和发射信号源的设备。

主机可将预先编写好的模拟标签信号的波形文件载入综测仪，调节好衰减器值，如此，标签端到读写器端的衰减值是确定的，并控制综测仪以每秒200个标签信号(也可以为其他频率)的数据包发送到rfid读写器，连续测试5s(即1000个模拟标签波形)，然后，获取rfid读写器正确解析的数据包的个数，对比所发射的数据包数目和正确解析数据包的数目，即可得到的rfid读写器解析的包误码率，从而获得rfid读写器的接收灵敏度，然后可打印接收灵敏度测试报告，通常，认为rfid读写器解析的包误码率低于10％，则认为通过接收灵敏度测试，否则认为rfid读写器未通过接收灵敏度测试。

所以，通过上述方法，实现了对rfid读写器的接收灵敏度的自动化测试，不需要依赖任何协议如握手协议即可对rfid读写器的接收灵敏度进行测试。进一步完善了rfid读写器的性能测试，且在进行rfid读写器的接收灵敏度测试的过程不需要断开用于测试的设备测试如综测仪，仅需要控制综测仪转换到信号源的功能模式，进而实现了rfid读写器的发送和接收的性能测试实现高度集成。

一种可选的方式，在本发明实施例中，其他测试项还可以包括发射功率反向校准测试，用于测试天线的连通性及驻波比。其中，天线连通性的测试是指在执行发射功率反向校准后，通过rfid读写器端口的天线断开和连接，反馈的adc值是有差异的，根据差异来判断rfid读写器的天线端口是否连通。

即在进行发射功率反向校准测试时，主机可以获取发射功率反向校准测试项，然后根据发射功率反向校准测试项，测试断开rfid读写器通道的天线后，发射的射频信号经过rfid读写器内部的耦合器件以及检波器以及外部adc输出的adc值，以及测试未断开rfid读写器通道的天线时发射的射频信号经过rfid读写器内部的耦合器件以及检波器以及外部adc输出的adc值，然后对比断开天线之后获得adc值与断开天线之前获得的adc值，然后根据上述两个adc值的差异判断rfid读写器的天线端口是否连通。

在本发明实施例中，在进行发射功率反向校准测试时，还可以控制rfid读写器连接到不同的天线上，如上述相同的方式计算获得rfid读写器连接到不同的天线上的adc值，可以将计算获得的adc值通过换算公式换算成rfid读写器的驻波比，从而获得rfid读写器的驻波比。

一种可选的方式，在本发明实施例中，其他测试项还可以包括频率容限测试项，其中，频率容限测试也叫频偏测试，频率容限测试的过程同发射功率，但是超出阈值不需要重新校准，直接打印错误日志，即测试过程为：设置频点->配置功率->天线选择->打开载波->读取综测仪上频率值->数据回传至自动化测试软件->打印日志，在此就不重复叙述了，频率容限的计算如下公式(1)：

频率容限＝(实际频点-设置频点)/设置频点*10^6公式(1)

例如，sdk设置的频点为920.5mhz，载波信号相当于单音信号，综测仪测试读写器的载波频率为920.49mhz，由式公式(1)计算可得，该测试用例的频率容限为10.86ppm，该测试项的频率容限范围为±20ppm，因此该频率容限测试项通过测试。

一种可选的方式，在本发明实施例中，其他测试项还可以包括占用带宽测试项，用于测试rfid读写器盘点时候的射频信号的占用带宽，主机获取带宽测试项之后，根据带宽测试项设置rfid读写器的频点、发射功率、天线基带参数等，然后打开盘点，通过综测仪保存频谱数据，并通过主机中的自动化测试软件计算带宽值，以及打印测试报告即测试日志。

其中，带宽计算：带内能量/视在能量＝0.99，假设视在能量中总共有1000个采样点，那么就可以根据以下公式(2)，计算获得这1000个采样点中能量大于总能量99％的点数即公式(2)中的n，然后再根据公式(3)计算获得带宽：

其中，bw表示带宽，n表示采样点中能量大于总能量99％的点数，pi表示每个采样点的功率。

一种可选的方式，在本发明实施例中，其他测试项还可以包括频谱模板测试项，用于对测试rfid读写器的频谱模板即邻道泄漏测试，过程同占用带宽类似，测试的也是盘点时候的调制信号，综测仪保存频谱数据，自动化测试软件算法分析各个信道中的最大频谱分量的功率，每一个信道带宽为250khz(iso/iec18000-6c标准规定)，测试结果需要满足：各个信道的最大功率值不应该超过频谱模板，最终结果通过日志形式输出，国家标准下的频谱模板测试需要满足：40db(第一邻道)，60db(第二邻道)即可。

一种可选的方式，在本发明实施例中，其他测试项还可以包括射频包络测试项，射频包络测试的也是盘点时调制信号的时域波形，射频包络测试时，需要将综测仪的span按键设置为0，以使综测仪处于时域测量模式，且选择触发triger模式，综测仪保存触发后的时域数据，然后通过gpib接口传给自动化测试软件分析，射频包络的测试项主要包括：调制包络测试(上升沿和下降沿)、射频包络上/下电测试、波形异常测试等，所有测试项均要满足iso/iec18000-6c标准下对调制信号的要求。调制包络测试和射频包络上/下电测试的不同在于，前者测试的是调制信号，后者测试的是载波开/关断时候的信号。

基于同一发明构思，本发明实施例中提供了一种rfid读写器性能测试装置，该装置的rfid读写器性能测试方法的具体实施可参见上述方法实施例部分的描述，重复之处不再赘述，如图7所示，该装置包括：

获取单元70，用于获取校准测试项，对待测试的rfid读写器进行校准测试；

调整单元71，用于根据校准测试结果调整所述rfid读写器的可调功率增益；

判断单元72，用于判断调整后的所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值；若是，则选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕。

可选的，所述获取单元，用于：

根据所述校准测试项设置所述rfid读写器的参数；

控制所述rfid读写器以所述目标功率发送射频信号；

根据接收到的所述射频信号的实际功率以及所述rfid读写器的内部器件获得的所述射频信号的信号参数，获得所述rfid读写器的校准系数；

其中，所述校准测试结果包括所述校准系数。

可选的，所述判断单元，还用于：

获取发送功率测试项，根据所述发送功率测试项设置所述rfid读写器的参数；

控制所述rfid读写器以所述目标功率发送射频信号；

获取接收到的所述射频信号的实际功率；

判断所述目标功率与所述实际功率之差是否小于阈值。

可选的，所述其他测试项包括接收灵敏度测试项，所述获取单元，还用于：

控制外部信号发射装置向所述rfid读写器发送预设数目的模拟标签数据包；

获取所述rfid读写器正确解析所述模拟标签数据包的数目；

对比所述预设数目和所述数目，获得所述rfid读写器的接收灵敏度。

可选的，所述获取单元，还用于：

控制外部信号发射装置转换工作模式；

通过转换的外部信号发射装置接收所述射频信号；

并基于所述外部信号发射装置对所述射频信号进行分析获得所述实际功率。

可选的，所述其他测试项还包括接发送功率反向校准测试项、频率容限测试项、占用带宽测试项、频谱模板测试项以及射频包络测试项，所述其他测试项中的每一测试项按照预设测试顺序依次进行测试。

可选的，若所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差大于等于阈值，所述判断单元，还用于：

重新对所述rfid读写器进行所述校准测试项测试，若所述校准测试项测试的重测次数达到预设次数时，所述rfid读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差仍大于等于阈值，则结束测试。

基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种rfid读写器性能测试装置，如图8所示，包括至少一个处理器80、以及至少一个存储器81，其中，所述存储器81存储有计算机程序，当所述程序被所述处理器80执行时，使得所述处理器80执行如本发明实施例中所述rfid读写器性能测试方法的步骤。

基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机指令，当所述计算机指令在计算机上运行时，使得计算机执行如rfid读写器性能测试的方法的步骤。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。