一种基于IoT的存储系统的制作方法

文档序号:17991039发布日期:2019-06-22 00:47阅读:267来源:国知局
一种基于IoT的存储系统的制作方法

本实用新型涉及电子技术领域,特别是涉及一种基于IoT的存储系统。



背景技术:

硬盘是存储设备中常用的存储介质之一,其中,存储设备可以是计算机、服务器等。由于硬盘存储有用户的数据,如果硬盘出现损坏,导致硬盘中的数据丢失,将会给用户造成不可估量的损失。因此,需要对硬盘的工作环境进行监控,当出现可能造成硬盘损坏的情况时,输出报警信息,以提示用户进行相应的处理,进而保护硬盘。

现有技术中,存储设备包括处理器和硬盘,硬盘中设置有监控部件,处理器和硬盘连接,基于这种结构,处理器获取监控部件检测的硬盘自身的状态参数,当硬盘自身的状态参数满足预设的报警条件时,处理器输出报警信息。比如,监控部件可以包括温度传感器,处理器可以获取温度传感器检测的硬盘自身的温度参数,当硬盘自身的温度参数未处于预设的温度区间时,处理器输出报警信息。

然而,造成硬盘损坏的情况有很多,且仅针对硬盘自身的状态参数进行报警,报警的准确度较低。



技术实现要素:

本实用新型实施例的目的在于提供一种基于IoT的存储系统,以提高存储设备报警的准确度。具体技术方案如下:

一种基于IoT的存储系统,其特征在于,所述存储系统包括存储设备和第一监控部件,其中:

所述存储设备包括硬盘和处理器,所述硬盘内设置有第二监控部件;

所述处理器分别与所述硬盘和所述第一监控部件电性连接;

所述第一监控部件,用于检测所述硬盘的环境参数;

所述第二监控部件,用于检测所述硬盘自身的状态参数;

所述处理器,用于获取所述第一监控部件检测的所述硬盘的环境参数和所述第二监控部件检测的所述硬盘自身的状态参数,并在所述硬盘自身的状态参数或所述硬盘的环境参数满足预设的报警条件时,输出报警信息。

可选的,所述第二监控部件包括以下传感器中的一种或多种:用于检测所述硬盘自身的温度参数的第一温度传感器、用于检测所述硬盘自身的振动参数的第一振动传感器。

可选的,所述第一监控部件包括以下传感器中的一种或多种:用于检测所述存储设备的振动参数的第二振动传感器、用于检测所述存储设备内的温度参数的第二温度传感器、用于检测所述存储设备内的气压参数的第一气压传感器、用于检测所述存储设备内的腐蚀性气体浓度参数的第一气体传感器、用于检测所述存储设备内的粉尘浓度参数的第一粉尘传感器、用于检测所述存储设备内的湿度参数的第一湿度传感器、用于检测所述存储设备内的噪声参数的第一噪声传感器、用于检测所述存储设备的电源参数的第一电源传感器、用于检测所述存储设备的海拔参数的海拔高度传感器、用于检测所述存储设备所在机房的振动参数的第三振动传感器、用于检测所述存储设备所在机房内的温度参数的第三温度传感器、用于检测所述存储设备所在机房内的气压参数的第二气压传感器、用于检测所述存储设备所在机房内的腐蚀性气体浓度参数的第二气体传感器、用于检测所述存储设备所在机房内的粉尘浓度参数的第二粉尘传感器、用于检测所述存储设备所在机房内的湿度参数的第二湿度传感器、用于检测所述存储设备所在机房内的噪声参数的第二噪声传感器、用于检测所述存储设备所在机房的电源参数的第二电源传感器。

可选的,所述第二监控部件包括用于检测所述硬盘自身的振动参数的第一振动传感器,所述第一监控部件包括用于检测所述存储设备的振动参数的第二振动传感器和用于检测所述存储设备所在机房的振动参数的第三振动传感器;

所述处理器分别与所述第一振动传感器、所述第二振动传感器和所述第三振动传感器连接;

所述处理器,还用于当所述硬盘自身的振动参数超出预设的第一振动参数阈值或所述存储设备的振动参数超出预设的第二振动参数阈值或所述存储设备所在机房的振动参数超出预设的第三振动参数阈值时,降低读/写所述硬盘的次数和/或降低所述硬盘的磁头的转动速度。

可选的,所述第二监控部件包括用于检测所述硬盘自身的温度参数的第一温度传感器,所述第一监控部件包括用于检测所述存储设备内的温度参数的第二温度传感器和用于检测所述存储设备所在机房内的温度参数的第三温度传感器;

所述处理器分别与所述第一温度传感器、所述第二温度传感器和所述第三温度传感器连接;

所述处理器,还用于当所述硬盘自身的温度参数未处于预设的第一温度区间或所述存储设备内的温度参数未处于预设的第二温度区间或所述存储设备所在机房内的温度参数未处于预设的第三温度区间时,调节所述存储设备内风扇的转速和/或向所述存储设备所在机房的温度调节系统发送温度调节指令,以使所述温度调节系统按照预设的温度调节策略调节所述存储设备所在机房的温度。

可选的,所述第一监控部件包括用于检测所述存储设备内的噪声参数的第一噪声传感器和用于检测所述存储设备所在机房内的噪声参数的第二噪声传感器;

所述处理器分别与所述第一噪声传感器和所述第二噪声传感器连接;

所述处理器,还用于当所述硬盘自身的温度参数处于第一温度区间、所述存储设备内的温度参数处于第二温度区间、且所述存储设备所在机房内的温度参数处于第三温度区间时,如果所述存储设备内的噪声参数超出预设的第一噪声阈值或所述存储设备所在机房内的噪声参数超出预设的第二噪声阈值,则降低所述存储设备内的风扇的转速。

可选的,所述处理器还用于:

当所述硬盘自身的状态参数或所述硬盘的环境参数满足预设的预警条件时,获取所述硬盘的运行参数,所述硬盘的运行参数包括所述硬盘的复位次数、所述硬盘的电源接通时间、所述硬盘的磁头的加载次数和所述硬盘的坏扇区个数中的一种或多种组合;

根据所述硬盘的运行参数,确定所述硬盘的剩余寿命信息;

输出所述硬盘的剩余寿命信息。

本实用新型实施例提供的一种基于IoT的存储系统,该存储系统包括存储设备和第一监控部件,存储设备包括硬盘和处理器,硬盘内设置有第二监控部件;处理器分别与硬盘和第一监控部件电性连接;第一监控部件,用于检测硬盘的环境参数;第二监控部件,用于检测硬盘自身的状态参数;处理器,用于获取第一监控部件检测的硬盘的环境参数和第二监控部件检测的硬盘自身的状态参数,并在硬盘自身的状态参数或硬盘的环境参数满足预设的报警条件时,输出报警信息。相比于现有技术,本申请中存储系统包括第一监控部件和第二监控部件,处理器可以通过第一监控部件获取硬盘的环境参数,并通过第二监控部件获取硬盘自身的环境参数,基于上述结构,处理器不仅采用了根据硬盘自身的状态参数进行报警的方式,还采用了根据硬盘的环境参数进行报警的方式,提高了报警的准确度。

当然,实施本实用新型的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种基于IoT的存储系统的结构示意图;

图2为本申请实施例提供的一种基于IoT的存储系统的结构示意图;

图3为本申请实施例提供的一种基于IoT的存储系统的结构示意图;

图4为本申请实施例提供的一种基于IoT的存储系统的结构示意图。

图例说明

101、存储设备 102、第一监控部件

1011、硬盘 1012、处理器

10111、第二监控部件 101111、第一振动传感器

101112、第一温度传感器 1021、第二振动传感器

1022、第三振动传感器 1023、第二温度传感器

1024、第三温度传感器 1025、第一噪声传感器

1026、第二噪声传感器

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

IoT(Internet of Things,物联网)是通过智能感知、识别技术与普适计算等通信感知技术,实现物品与物品的信息交换和通信的网络。本申请实施例提供了一种基于IoT的存储系统,基于IoT技术,该存储系统可以检测硬盘的环境参数,当硬盘自身的状态参数或硬盘的环境参数满足预设的报警条件时,该存储系统可以输出报警信息。相比于现有技术,本申请中存储系统包括第一监控部件和第二监控部件,处理器可以通过第一监控部件获取硬盘的环境参数,并通过第二监控部件获取硬盘自身的环境参数,处理器不仅采用了根据硬盘自身的状态参数进行报警的方式,还采用了根据硬盘的环境参数进行报警的方式,提高了报警的准确度。

参见图1,上述基于IoT的存储系统包括存储设备101和第一监控部件102,存储设备101包括硬盘1011和处理器1012,硬盘1011内设置有第二监控部件10111。

处理器1012分别与硬盘1011和第一监控部件102电性连接。

第一监控部件102,用于检测硬盘1011的环境参数。

第二监控部件10111,用于检测硬盘1011自身的状态参数。

处理器1012,用于获取第一监控部件102检测的硬盘1011的环境参数和第二监控部件10111检测的硬盘1011自身的状态参数,并在硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数满足预设的报警条件时,输出报警信息。

其中,第二监控部件10111可以包括以下传感器中的一种或多种:用于检测硬盘1011自身的温度参数的第一温度传感器和用于检测硬盘1011自身的振动参数的第一振动传感器。

第一监控部件102可以包括以下传感器中的一种或多种:用于检测存储设备101的振动参数的第二振动传感器、用于检测存储设备101内的温度参数的第二温度传感器、用于检测存储设备101内的气压参数的第一气压传感器、用于检测存储设备101内的腐蚀性气体浓度参数的第一气体传感器、用于检测存储设备101内的粉尘浓度参数的第一粉尘传感器、用于检测存储设备101内的湿度参数的第一湿度传感器、用于检测存储设备101内的噪声参数的第一噪声传感器、用于检测存储设备101的电源参数的第一电源传感器、用于检测存储设备101的海拔参数的海拔高度传感器、用于检测存储设备101所在机房的振动参数的第三振动传感器、用于检测存储设备101所在机房内的温度参数的第三温度传感器、用于检测存储设备101所在机房内的气压参数的第二气压传感器、用于检测存储设备101所在机房内的腐蚀性气体浓度参数的第二气体传感器、用于检测存储设备101所在机房内的粉尘浓度参数的第二粉尘传感器、用于检测存储设备101所在机房内的湿度参数的第二湿度传感器、用于检测存储设备101所在机房内的噪声参数的第二噪声传感器和用于检测存储设备101所在机房的电源参数的第二电源传感器。

在实施中,第二监控部件10111可以周期性的检测硬盘1011自身的状态参数,第二监控部件10111可以将检测到的硬盘1011自身的状态参数发送给处理器1012,第一监控部件102可以周期性的检测硬盘1011的环境参数,第一监控部件102可以将检测到的硬盘1011的环境参数发送给处理器1012,处理器1012可以获取第一监控部件102检测的硬盘1011的环境参数和第二监控部件10111检测的硬盘1011的自身的状态参数,当硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数满足预设的报警条件时,处理器1012可以输出报警信息。

例如,第二监控部件10111可以包括第一温度传感器,第一温度传感器可以检测硬盘1011自身的温度参数,处理器1012可以通过第一温度传感器周期性的检测硬盘1011自身的温度参数,当硬盘1011自身的温度参数未处于预设的第一温度区间时,处理器1012可以输出包含硬盘1011自身的温度参数未处于第一温度区间信息的报警信息。

第二监控部件10111可以包括第一振动传感器,第一振动传感器可以检测硬盘1011自身的振动参数,第一振动传感器可以将检测到的硬盘1011自身的振动参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第一振动传感器周期性的检测硬盘1011自身的振动参数,当硬盘1011自身的振动参数超出预设的第一振动阈值时,存储设备101可以输出包含硬盘1011自身的振动参数超出第一振动阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第二振动传感器,第二振动传感器用于检测存储设备101的振动参数,第二振动传感器可以将检测到的存储设备101的振动参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第二振动传感器周期性的检测存储设备101的振动参数,当存储设备101的振动参数超出预设的第二振动阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101的振动参数超出第二振动阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第三振动传感器,第三振动传感器用于检测存储设备101所在机房的振动参数,第三振动传感器可以将检测到的存储设备101所在机房的振动参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第三振动传感器周期性的检测存储设备101所在机房的振动参数,当存储设备101所在机房的振动参数超出预设的第三振动阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房的振动参数超出第三振动阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第二温度传感器,第二温度传感器用于检测存储设备101内的温度参数,第二温度传感器可以将检测到的存储设备101内的温度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第二温度传感器周期性的检测存储设备101内的温度参数,当存储设备101内的温度参数超出预设的第二温度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101内的温度参数超出第二温度阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第三温度传感器,第三温度传感器用于检测存储设备101所在机房内的温度参数,第三温度传感器可以将检测到的存储设备101所在机房内的温度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第三温度传感器周期性的检测存储设备101所在机房内的温度参数,当存储设备101所在机房内的温度参数超出未处于预设的第三温度区间时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房内的温度参数未处于预设的第三温度区间信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第一气压传感器,第一气压传感器用于检测存储设备101内的气压参数,第一气压传感器可以将检测到的存储设备101内的气压参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第一气压传感器周期性的检测存储设备101内的气压参数,当存储设备101内的气压参数未处于预设的第一气压区间,处理器1012可以输出包含存储设备101内的气压参数未处于第一气压区间信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第二气压传感器,第二气压传感器用于检测存储设备101所在机房内的气压参数,第二气压传感器可以将检测到的机房内的气压参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第二气压传感器周期性的检测存储设备101所在机房内的气压参数,当存储设备101所在机房内的气压参数未处于预设的第二气压区间时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房内的气压参数未处于第二气压区间信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第一气体传感器,第一气体传感器用于检测存储设备101内的腐蚀性气体浓度参数,第一气体传感器可以将检测到的存储设备101内的腐蚀性气体浓度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第一气体传感器周期性的检测存储设备101内的腐蚀性气体浓度参数,当存储设备101内的腐蚀性气体浓度参数超出预设的第一腐蚀性气体浓度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101内的腐蚀性气体浓度参数超出第一腐蚀性气体浓度阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第二气体传感器,第二气体传感器用于检测存储设备101所在机房内的腐蚀性气体浓度参数,第二气体传感器可以将检测到的存储设备101所在机房内的腐蚀性气体浓度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第二气体传感器周期性的检测存储设备101所在机房内的腐蚀性气体浓度参数,当存储设备101所在机房内的腐蚀性气体浓度参数超出预设的第二腐蚀性气体浓度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房内的腐蚀性气体浓度参数超出第二腐蚀性气体浓度阈值信息报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第一粉尘传感器,第一粉尘传感器用于检测存储设备101内的粉尘浓度参数,第一粉尘传感器可以将检测到的存储设备101内的粉尘浓度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第一粉尘传感器周期性的检测存储设备101内的粉尘浓度参数,当存储设备101内的粉尘浓度参数超出预设的第一粉尘浓度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101内的粉尘浓度参数超出第一粉尘浓度阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第二粉尘传感器,第二粉尘传感器用于检测存储设备101所在机房内的粉尘浓度参数,第二粉尘传感器可以将检测到的存储设备101所在机房内的粉尘浓度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第二粉尘传感器周期性的检测存储设备101所在机房内的粉尘浓度参数,当存储设备101所在机房内的粉尘浓度参数超出预设的第二粉尘浓度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房内的粉尘浓度参数超出第二粉尘浓度阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第一湿度传感器,第一湿度传感器用于检测存储设备101内的湿度参数,第一湿度传感器可以将检测到的存储设备101内的湿度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第一湿度传感器周期性的检测存储设备101内的湿度参数,当存储设备101内的湿度参数超出第一湿度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101内的湿度参数超出第一湿度阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第二湿度传感器,第二湿度传感器用于检测存储设备101所在机房内的湿度参数,第二湿度传感器可以将检测到的存储设备101所在机房内的湿度参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第二湿度传感器周期性的检测存储设备101所在机房内的湿度参数,当存储设备101所在机房内的湿度参数超出第二湿度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房内的湿度参数超出第二湿度阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第一噪声传感器,第一噪声传感器用于检测存储设备101内的噪声参数,第一噪声传感器可以将检测到的存储设备101内的噪声参数发送给存储设备101,存储设备101可以通过第一噪声传感器周期性的检测存储设备101内的噪声参数,当存储设备101内的噪声参数超出预设的第一噪声阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101内的噪声参数超出第一噪声阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第二噪声传感器,第二噪声传感器用于检测存储设备101所在机房内的噪声参数,第二噪声传感器可以将检测到的存储设备101所在机房内的噪声参数发送给存储设备101,存储设备101可以通过第二噪声传感器周期性的检测存储设备101所在机房内的噪声参数,当存储设备101所在机房内的噪声参超出预设的第二噪声阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房内的噪声参超出第二噪声阈值信息的报警信息。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内设置的第一电源传感器,第一电源传感器用于检测存储设备101的电源参数,第一电源传感器可以将检测到的存储设备101的电源参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第一电源传感器周期性的检测存储设备101的电源参数,当存储设备101的电源参数未处于预设的第一电源参数区间时,处理器1012可以输出包含存储设备101的电源参数未处于预设的第一电源参数区间的报警信息,相应的,存储设备101可以切断存储设备101的电源。

第一监控部件102可以包括在存储设备101所在机房内设置的第二电源传感器,第二电源传感器用于检测存储设备101所在机房的电源参数,第二电源传感器可以将检测到的存储设备101所在机房的电源参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过第二电源传感器周期性的检测存储设备101所在机房的电源参数,当存储设备101所在机房的电源参数未处于预设的第二电源参数区间时,处理器1012可以输出包含存储设备101所在机房的电源参数未处于预设的第二电源参数区间的报警信息,相应的,处理器1012可以向机房的供电系统发送断电指令,以使机房的供电系统切断机房的电源。

第一监控部件102可以包括在存储设备101内/存储设备101外设置的海拔高度传感器,海拔高度传感器用于检测存储设备101的海拔参数,海拔高度传感器可以将检测到的存储设备101的海拔参数发送给处理器1012,处理器1012可以通过海拔高度传感器周期性的检测存储设备101的海拔参数,当存储设备101的海拔参数超出预设的第一海拔高度阈值时,处理器1012可以输出包含存储设备101的海拔参数超出第一海拔高度阈值信息的报警信息。

这样,不仅采用了根据硬盘1011自身的状态参数进行报警的方式,还采用了根据硬盘1011的环境参数进行报警的方式,提高了报警的准确度。

可选的,存储设备101可以记录硬盘1011自身的状态参数和硬盘1011的环境参数,在设备或硬盘1011出现问题时,技术人员可以根据存储设备101记录的参数,分析设备或硬盘1011出现问题的原因,以快速的找出相应的处理方法。

可选的,参见图2,第二监控部件10111可以包括用于检测硬盘1011自身的振动参数的第一振动传感器101111,第一监控部件102可以包括用于检测存储设备101的振动参数的第二振动传感器1021和用于检测存储设备101所在机房的振动参数的第三振动传感器1022。处理器1012分别与第一振动传感器101111、第二振动传感器1021和第三振动传感器1022连接。

相应的,处理器1012,还用于当硬盘1011自身的振动参数超出预设的第一振动参数阈值或存储设备101的振动参数超出预设的第二振动参数阈值或存储设备101所在机房的振动参数超出预设的第三振动参数阈值时,降低读/写硬盘1011的次数和/或降低硬盘1011的磁头的转动速度。

在实施中,处理器1012可以获取硬盘1011自身的振动参数、存储设备101的振动参数和存储设备101所在机房的振动参数,当硬盘1011自身的振动参数超出预设的第一振动参数阈值或存储设备101的振动参数超出预设的第二振动参数阈值或存储设备101所在机房的振动参数超出预设的第三振动参数阈值时,处理器1012可以降低读/写硬盘1011的次数和/或降低硬盘1011的磁头的转动速度,降低读/写硬盘1011的次数可以避免在振动较强的情况下,因频繁的对硬盘1011进行读/写操作而造成的硬盘1011的碟片损伤,降低硬盘1011的磁头的转动速度可以避免在振动较强的情况下,因硬盘1011的磁头的转动速度过高而造成的硬盘1011的碟片损伤。

可选的,参见图3,第二监控部件10111可以包括用于检测硬盘1011自身的温度参数的第一温度传感器10112,第一监控部件102可以包括用于检测存储设备101内的温度参数的第二温度传感器1023和用于检测存储设备101所在机房内的温度参数的第三温度传感器1024。处理器1012分别与第一温度传感器10112、第二温度传感器1023和第三温度传感器1024连接。

相应的,处理器1012,还用于当硬盘1011自身的温度参数未处于预设的第一温度区间或存储设备101内的温度参数未处于预设的第二温度区间或存储设备101所在机房内的温度参数未处于预设的第三温度区间时,调节存储设备101内风扇的转速和/或向存储设备101所在机房的温度调节系统发送温度调节指令,以使温度调节系统按照预设的温度调节策略调节存储设备101所在机房的温度。

在实施中,处理器1012可以获取硬盘1011自身的温度参数、存储设备101内的温度参数和存储设备101所在机房内的温度参数,当硬盘1011自身的温度参数未处于预设的第一温度区间或存储设备101内的温度参数未处于预设的第二温度区间或存储设备101所在机房内的温度参数未处于预设的第三温度区间时,处理器1012可以调节存储设备101内风扇的转速和/或向存储设备101所在机房的温度调节系统发送温度调节指令,以使温度调节系统按照预设的温度调节策略调节存储设备101所在机房的温度。

调节存储设备101内风扇的转速的具体实施方式可以为:当硬盘1011自身的温度参数超出第一温度区间的上限或存储设备101内的温度参数超出第二温度区间的上限或存储设备101所在机房内的温度参数超出第三温度区间的上限时,处理器1012增加存储设备101内风扇的转速;当硬盘1011自身的温度参数小于第一温度区间的下限或存储设备101内的温度参数小于第二温度区间的下限或存储设备101所在机房内的温度参数小于第三温度区间的下限时,处理器1012降低存储设备101内风扇的转速。

向存储设备101所在机房的温度调节系统发送温度调节指令,以使温度调节系统按照预设的温度调节策略调节存储设备101所在机房的温度的具体实施方式可以为:当硬盘1011自身的温度参数超出第一温度区间的上限或存储设备101内的温度参数超出第二温度区间的上限或存储设备101所在机房内的温度参数超出第三温度区间的上限时,处理器1012向温度调节系统发送降低温度的温度调节指令,温度调节系统使机房内的温度降低预设第一温度值;当硬盘1011自身的温度参数小于第一温度区间的下限或存储设备101内的温度参数小于第二温度区间的下限或存储设备101所在机房内的温度参数小于第三温度区间的下限时,处理器1012向温度调节系统发送升高温度的温度调节指令,温度调节系统使机房内的温度升高预设第二温度值。

这样,可以避免因温度过高或过低而影响硬盘1011和存储设备101的电子器件。

可选的,参见图4,第一监控部件102可以包括用于检测存储设备101内的噪声参数的第一噪声传感器1025和用于检测存储设备101所在机房内的噪声参数的第二噪声传感器1026。处理器(1012)分别与第一噪声传感器1025和第二噪声传感器1026连接。

相应的,处理器1012,还用于当硬盘1011自身的温度参数处于第一温度区间、存储设备101内的温度参数处于第二温度区间、且存储设备101所在机房内的温度参数处于第三温度区间时,如果存储设备101内的噪声参数超出预设的第一噪声阈值或存储设备101所在机房内的噪声参数超出预设的第二噪声阈值,则降低存储设备101内的风扇的转速。

在实施中,当硬盘1011自身的温度参数处于第一温度区间、存储设备101内的温度参数处于第二温度区间、且存储设备101所在机房内的温度参数处于第三温度区间时,如果存储设备101内的噪声参数超出预设的第一噪声阈值或存储设备101所在机房内的噪声参数超出预设的第二噪声阈值,存储设备101可以降低存储设备101内的风扇的转速,以降低噪声,避免噪声损坏硬盘1011和存储设备101内的电子器件。

可选的,处理器1012还用于:当硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数满足预设的预警条件时,获取硬盘1011的运行参数,其中,硬盘1011的运行参数包括硬盘1011的复位次数、硬盘1011的电源接通时间、硬盘1011的磁头的加载次数和硬盘1011的坏扇区个数中的一种或多种组合。然后根据硬盘1011的运行参数,确定硬盘1011的剩余寿命信息,并输出硬盘1011的剩余寿命信息。

其中,预警条件为比上述报警条件更加严格的条件,表示硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数不是很好,但是达不到报警条件,即硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数满足预警条件时,可以不满足报警条件,而硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数满足报警条件时,也满足预警条件。比如,硬盘1011自身的振动参数超出第四振动阈值时,满足预警条件,第四振动阈值小于第一振动阈值,硬盘1011自身的振动参数超出第四振动阈值并不一定超出第一振动阈值,而硬盘1011自身的振动参数超出第一振动阈值,也就确定硬盘1011自身的振动参数超出第四振动阈值,即硬盘1011自身振动参数满足预警条件时,可以不满足报警条件,而硬盘1011自身振动参数满足报警条件时,也满足预警条件。

在实施中,当硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数满足预设的预警条件时,处理器1012可以获取硬盘1011的运行参数,其中,硬盘1011的运行参数包括硬盘1011的复位次数、硬盘1011的电源接通时间、硬盘1011的磁头的加载次数和硬盘1011的坏扇区个数中的一种或多种组合。针对获取的每一运行参数,处理器1012可以根据该运行参数,确定该运行参数对应的第一剩余寿命。然后,处理器1012可以将各运行参数对应的第一剩余寿命中,剩余寿命值最小的第一剩余寿命作为硬盘1011的剩余寿命,并输出硬盘1011的剩余寿命信息,以使用户了解硬盘1011的剩余寿命。

其中,针对获取的每一运行参数,处理器1012根据该运行参数,确定该运行参数对应的第一剩余寿命的处理过程可以为:在运行参数为硬盘1011的复位次数的情况下,处理器1012可以根据公式t1=(R-r1)*T/r1,确定硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命,其中,R为复位次数上限,T为硬盘1011的历史使用时间,r1为硬盘1011的复位次数,t1为硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命;在运行参数为硬盘1011的电源接通时间的情况下,处理器1012可以根据公式t2=(C-c1)*T/c1,确定硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命,其中,C为硬盘1011的电源接通时间上限,T为硬盘1011的历史使用时间,c1为硬盘1011的电源接通时间,t2为硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命;在运行参数为硬盘1011的磁头的加载次数的情况下,处理器1012可以根据公式t3=(L-l1)*T/l1,确定硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命,其中,L为磁头的加载次数上限,T为硬盘1011的历史使用时间,l1为磁头的加载次数,t3为硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命;在运行参数为硬盘1011的坏扇区个数的情况下,处理器1012可以根据公式t4=(N-n1)*T/n1,确定硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命,其中,N为硬盘1011的扇区总数,T为硬盘1011的历史使用时间,n1为硬盘1011的坏扇区的个数,t4为硬盘1011的复位次数对应的第一剩余寿命。

这样,在硬盘1011自身的状态参数或硬盘1011的环境参数不是很好(即,达到预警条件时)时,处理器1012可以及时向用户反馈硬盘1011的剩余寿命信息。

需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于装置实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并非用于限定本实用新型的保护范围。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均包含在本实用新型的保护范围内。

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