1-wire信号测试装置及测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种测试装置及其测试方法，尤指一种能测取1-wire信号的测试装 置及其测试方法。
【背景技术】
[0002] 各类服务器主板的控制器都包含有1-wire功能模块，在生产阶段，测试人员需要 对该Iiire功能模块的Iiire信号进行测取并对其进行相关的测试。现有的测试方法中 需测试人员先行手工将位于服务器主板上的1-wire功能模块与测试辅助工具通过辅助物 料传输线焊接在一起。这种测试方法不仅需要的测试时间较长，而且浪费焊接物料。
【发明内容】
[0003] 鉴于以上内容，有必要提供一种无需焊接就能测取1-wire信号的测试装置及其 测试方法。
[0004] 一种测试装置，用于测取服务器主板上的I-Wire信号，所述服务器主板包括用于 发送所述1-wire信号的功能模块，所述测试装置包括用于测试所述1-wire信号的示波器 及用于存储所述1-wire信号的存储芯片，所述测试装置还包括一电路板，所述电路板包括 有一第一连接器、一第二连接器及一第三连接器，所述第一连接器连接于所述功能模块及 所述第二连接器之间，所述第二连接器连接于所述第一连接器及所述存储芯片之间，所述 功能模块通过所述第一连接器及第二连接器实现与所述存储芯片间1-wire信号的传输； 所述第三连接器与所述第一连接器、第二连接器及所述示波器电连接从而使得所述示波器 能测取在所述第一连接器及第二连接器间传输的1-wire信号。
[0005] 进一步地，所述第一连接器的第一针脚、所述第二连接器的第一针脚及所述第三 连接器的第一针脚电连接。
[0006] 进一步地，所述功能模块包括一用于发送及读取所述1-wire信号的信号端，所述 信号端与所述第一连接器的第一针脚连接。
[0007] 进一步地，所述功能模块还包括一用于控制所述信号端向所述存储芯片发送所述 1-wire信号及从所述存储芯片读取所述1-wire信号的控制单元。
[0008] 进一步地，所述存储芯片包括一用于接收所述1-wire信号的数据端，所述数据端 与所述第二连接器的第一针脚连接。
[0009] 进一步地，所述示波器的探针与所述第三连接器的第一针脚连接，以测取在所述 功能模块及所述存储芯片间传输的1-wire信号。
[0010] 进一步地，所述第一连接器的第二针脚、所述第二连接器的第二针脚及所述第三 连接器的第三针脚接地。
[0011] 进一步地，所述存储芯片为一EEPR0M。
[0012] 一种装置测试方法，用于测取一服务器主板上的1-wire信号，包括如下步骤： 将一测试装置连接至所述服务器主板上用于发送及读取所述1-wire信号的信号端； 所述测试装置包括一第一连接器、一第二连接器、一第三连接器、一存储芯片及一示波器， 所述第一连接器与所述信号端相连； 将所述存储芯片连接至所述第二连接器； 将所述示波器连接至所述第三连接器； 所述信号端通过所述第一连接器及第二连接器向所述存储芯片发送所述1-wire信 号； 所述第三连接器将在第一连接器及第二连接器之间传输的1-wire信号传输至所述示 波器中；及 所述示波器测取所述1-wire信号。
[0013] 进一步地，所述服务器主板上的控制单元控制所述信号端向所述存储芯片发送所 述1-wire信号。
[0014] 与现有技术相比，在上述测试装置及其测试方法中，测试人员只需将服务器主板、 存储芯片及示波器分别与对应的连接器相连，即可通过所述测试装置完成1-wire信号的 测取。测试过程无需测试人员利用热焊工具进行焊接操作，测试过程简单，节约测试时间及 物料成本。
【附图说明】
[0015] 图1是本发明一较佳实施例中的测试装置及服务器主板的模块图。
[0016] 图2是图1的测试装置的电路板中第一、第二及第三连接器的连接示意图。
[0017] 图3是本发明一较佳实施例中应用该测试装置的测试方法的流程图。
[0018] 主要元件符号说明
【主权项】
1. 一种测试装置，用于测取服务器主板上的1-wire信号，所述服务器主板包括用于发 送所述1-wire信号的功能模块，所述测试装置包括用于测试所述1-wire信号的示波器及 用于存储所述1-wire信号的存储芯片，其特征在于：所述测试装置还包括一电路板，所述 电路板包括有一第一连接器、一第二连接器及一第H连接器，所述第一连接器连接于所述 功能模块及所述第二连接器之间，所述第二连接器连接于所述第一连接器及所述存储芯片 之间，所述功能模块通过所述第一连接器及第二连接器实现与所述存储芯片间1-wire信 号的传输；所述第H连接器与所述第一连接器、第二连接器及所述示波器电连接从而使得 所述示波器能测取在所述第一连接器及第二连接器间传输的1-wire信号。
2. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于；所述第一连接器的第一针脚、所述第二 连接器的第一针脚及所述第H连接器的第一针脚电连接。
3. 如权利要求2所述的测试装置，其特征在于：所述功能模块包括一用于发送及读取 所述1-wire信号的信号端，所述信号端与所述第一连接器的第一针脚连接。
4. 如权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述功能模块还包括一用于控制所述 信号端向所述存储芯片发送所述1-wire信号及从所述存储芯片读取所述1-wire信号的控 制单元。
5. 如权利要求2所述的测试装置，其特征在于；所述存储芯片包括一用于接收所述 1-wire信号的数据端，所述数据端与所述第二连接器的第一针脚连接。
6. 如权利要求2所述的测试装置，其特征在于；所述示波器的探针与所述第H连接器 的第一针脚连接，W测取在所述功能模块及所述存储芯片间传输的1-wire信号。
7. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述第一连接器的第二针脚、所述第二 连接器的第二针脚及所述第H连接器的第H针脚接地。
8. 如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述存储芯片为一 EEPROM。
9. 一种装置测试方法，用于测取一服务器主板上的1-wire信号，包括如下步骤： 将一测试装置连接至所述服务器主板上用于发送及读取所述1-wire信号的信号端； 所述测试装置包括一第一连接器、一第二连接器、一第H连接器、一存储芯片及一示波器， 所述第一连接器与所述信号端相连； 将所述存储芯片连接至所述第二连接器； 将所述示波器连接至所述第H连接器； 所述信号端通过所述第一连接器及第二连接器向所述存储芯片发送所述1-wire信 号； 所述第H连接器将在第一连接器及第二连接器之间传输的1-wire信号传输至所述示 波器中；及 所述示波器测取所述1-wire信号。
10. 如权利要求9所述的测试方法，其特征在于：所述服务器主板上的控制单元控制所 述信号端向所述存储芯片发送所述1-wire信号。
【专利摘要】一种测试装置，用于测取服务器主板上的1-wire信号，服务器主板包括用于发送1-wire信号的功能模块，测试装置包括用于测试1-wire信号的示波器及用于存储1-wire信号的存储芯片，测试装置还包括一电路板，电路板包括有一第一连接器、一第二连接器及一第三连接器，第一连接器连接于功能模块及第二连接器之间，第二连接器连接于第一连接器及存储芯片之间，功能模块通过第一连接器及第二连接器实现与存储芯片间1-wire信号的传输；第三连接器与第一连接器、第二连接器及示波器电连接从而使得示波器能测取在第一连接器及第二连接器间传输的1-wire信号。
【IPC分类】G06F11-22
【公开号】CN104679616
【申请号】CN201310615737
【发明人】陈雪, 李孟冬
【申请人】鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2013年11月28日