触控点修正方法及应用其的电磁式触控面板的制作方法_2

文档序号:8512361阅读:来源:国知局
,愈远离第一直向基准线121’的直向电极线1211感应到愈少的能量。由于位于第一倾斜侧(本实施例为第一直向基准线121’右侧)的此些直向电极线1211的第二直向基准线1211’离第一直向基准线121’最近,因此处理单元123检测到第二直向基准线1211’具有一第一次大能量。此第一次大能量小于上述第一最大能量。相似地,处理单元123检测到位于第二倾斜侧(本实施例为第一横向基准线122’的下侧)的此些横向电极线1221的第二横向基准线1221’具有一第二次大能量,此第二次大能量小于上述第二最大能量。
[0047]步骤S180中,请同时参照图5A至7所示,其中图5A绘示触控笔相对Z轴往右倾斜的修正表,图5B绘示触控笔相对Z轴往左倾斜的修正表,图6A绘示触控笔相对Z轴往下倾斜的修正表,图6B绘示触控笔相对Z轴往上倾斜的修正表,而图7绘示图4的感应点的位置修正至触控点的示意图。图5A的修正表T11、图5B的修正表T12、图6A的修正表T21及图6B的修正表T22以信号发送器131相距触控笔130的笔尖约5?7毫米为例所作的修正表。
[0048]如图7所示,由于本实施例的触控笔130相对Z轴往右倾斜为例说明,因此处理单元123根据图5A的修正表Tll的第一能量比值Rl与第一修正权重的对应关系,把感应点Pl沿第一倾斜方向Dl的反方向(例如是往-X轴方向)修正第一修正量Λχ。例如,以第一能量比值Rl为0.842(图5Α)来说,其对应的第一修正权重为0.75,则第一修正量Ax为修正基值与数值0.75的积,其中修正基值例如是400个像素或其它合适像素量。又例如,当第一能量比值Rl为0.864(图5Α)来说,其对应的第一修正权重为0.8,则第一修正量Λχ为同一修正基值与数值0.8的积。此外,每个倾斜角度的第一修正权重的值小于1,其范围例如是介于约0.7至约0.9之间的任一数值或介于其它数值范围的任一数值,而修正基值也不限于像素量,其可为长度单位,如毫米。另一实施例中,当触控笔130相对Z轴左倾时,第一倾斜方向Dl为-X轴方向,则处理单元123可参考图5Β的修正表Τ12沿第一倾斜方向Dl的反方向(即往+X轴方向)修正感应点Pl的位置。
[0049]相似地,如图7所示,由于本实施例的触控笔130相对Z轴往下倾斜为例说明,因此处理单元123根据图6Α的修正表Τ21的第二能量比值R2与第二修正权重的对应关系,把感应点Pl沿第二倾斜方向D2的反方向(例如是往+Y轴方向)修正第二修正量Λ y。例如,以第二能量比值R2为0.826 (图6A)举例来说,其对应的第二修正权重为0.75,则第二修正量Λ y为修正基值与数值0.75的积,其中修正基值例如是400个像素或其它合适像素量。又例如,当第二能量比值R2为0.767 (图6A)来说,其对应的第一修正权重为0.8,则第二修正量Ay为同一修正基值与数值0.8的积。此外,每个倾斜角度的第二修正权重的值小于1,其范围例如是介于约0.7至约0.9之间的任一数值或介于其它数值范围的任一数值。另一实施例中,当触控笔130相对Z轴往上倾斜时,处理单元123可参考图6B的修正表T22沿第二倾斜方向D2的反方向(即往-Y轴方向)修正感应点Pl的位置。
[0050]如图7所示,在感应点Pl往第一倾斜方向Dl的反方向(本实施例为往-X轴方向)修正第一修正量Λ χ,且沿第二倾斜方向D2的反方向(本实施例为往+Y轴方向)修正第二修正量Ay后,得到触控点Ρ2的座标。此触控点Ρ2系接近或甚至重合于触控笔130的笔尖的座标点。
[0051]请参照图8,其绘示依照本实施例的触控点修正方法的测试结果表。表中的“差值”指的是,倾斜时触控笔的触控点与平行Z轴(倾斜角度为O度)的触控笔的触控点之间的像素量差。以往第一倾斜方向Dl的反方向(例如是往-X轴方向)修正来说,在未采用本发明实施例的触控点修正方法的对照组中,倾斜时触控笔的触控点与平行Z轴的触控笔的触控点的间的差值系发散(例如,右倾10度时,差值约61个像素量;右倾20度时,差值大幅发散至91个像素量)。相较于此,本发明实施例的倾斜时触控笔的触控点Ρ2与平行Z轴的触控笔的触控点Ρ2之间的差值系收敛(例如,右倾10度时,差值约51个像素量;右倾20度时,差值收敛至24个像素量),且差值也较小。可见,本发明实施例的触控点修正方法可将感应点修正至接近或甚至重合于触控笔的笔尖。此外,以往第二倾斜方向D2的反方向的修正可获得相似的功效,容此不再赘述。
[0052]图9Α绘示依照本发明另一实施例的触控笔对触控显示装置进行触控的示意图,而图9Β绘示图9Α的感应点的位置修正至触控点的示意图。本实施例中,触控笔130的笔尖与触控显示装置100相隔一距离Η2的情况下,电磁式触控面板120即产生感应点Pl。在此状况下,感应点Pl沿第一倾斜方向Dl的反方向修正第一修正量Λχ+Λχ’且沿第二倾斜方向D2的反方向修正第二修正量系Ay+Λ y’,其中Λ X’及Ay’系触控笔130的笔尖从悬空状态落下至接触到触控显示装置100的补偿量。此外,只要是悬空即可,本发明实施例不限定上述距离H2的值。
[0053]综上所述,虽然本发明已以较佳实施例公开如上,但其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域的技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作各种的更动与修改。因此,本发明的保护范围当视后附的权利要求书保护范围所界定者为准。
【主权项】
1.一种触控点修正方法,其特征在于,包括: 回应一触控行为,一电磁式触控面板感应一感应点,其中该电磁式触控装置包括多条直向电极线; 检测该些直向电极线的一第一直向基准线具有第一最大能量; 检测位于该第一直向基准线右侧且感应到能量的该些直向电极线的一右侧数量; 检测位于该第一直向基准线左侧且感应到能量的该些直向电极线的一左侧数量;以该右侧数量与该左侧数量中最大者所对应的一侧作为一第一倾斜侧,并定义该第一直向基准线往该第一倾斜侧的方向为一第一倾斜方向; 检测位于该第一倾斜侧的该些直向电极线的一第二直向基准线具有一第一次大能量;以及 根据该第一次大能量与该第一最大能量的比值,将该感应点的位置往该第一倾斜方向的反方向修正一第一修正量。
2.如权利要求1所述的触控点修正方法,其特征在于,该触控行为是接触式触控行为。
3.如权利要求1所述的触控点修正方法,其特征在于,该触控行为是非接触式触控行为。
4.如权利要求1所述的触控点修正方法,其特征在于,该触控行为是由一触控笔所产生。
5.如权利要求4所述的触控点修正方法,其特征在于,该第一修正量是一修正基值与一修正权重的积,该修正权重与该触控笔的倾斜角度呈正比。
6.如权利要求5所述的触控点修正方法,其特征在于,该修正基值是像素量。
7.如权利要求1所述的触控点修正方法,其特征在于,该电磁式触控装置包括多条横向电极线;该触控点修正方法更包括: 检测该些横向电极线的一第一横向基准线具有一第二最大能量; 检测位于该第一横向基准线上侧且感应到能量的该些横向电极线的一上侧数量; 检测位于该第一横向基准线下侧且感应到能量的该些横向电极线的一下侧数量; 以该上侧数量与该下侧数量最大者所对应的一侧作为一第二倾斜侧,并定义该第一横向基准线往该第二倾斜侧的方向为一第二倾斜方向; 检测位于该第二倾斜侧的该些横向电极线的一第二横向基准线具有一第二次大能量;以及 根据该第二次大能量与该第二最大能量的比值,将该感应点往该第二倾斜方向的反方向修正一第二修正量。
8.—种电磁式触控面板,其特征在于,包括: 多条直向电极线,用以回应一触控行为,而感应一感应点;以及 一处理单元,用以: 检测该些直向电极线的一第一直向基准线具有第一最大能量; 检测位于该第一直向基准线右侧且感应到能量的该些直向电极线的一右侧数量; 检测位于该第一直向基准线左侧且感应到能量的该些直向电极线的一左侧数量;以该右侧数量与该左侧数量中最大者所对应的一侧作为一第一倾斜侧,并定义该第一直向基准线往该第一倾斜侧的方向为一第一倾斜方向; 检测位于该第一倾斜侧的该些直向电极线的一第二直向基准线具有一第一次大能量;及 根据该第一次大能量与该第一最大能量的比值,将该感应点的位置往该第一倾斜方向的反方向修正一第一修正量。
9.如权利要求8所述的电磁式触控面板,其特征在于,该触控行为是接触式触控行为。
10.如权利要求8所述的电磁式触控面板,其特征在于,该触控行为是非接触式触控行为。
11.如权利要求8所述的电磁式触控面板,其特征在于,该触控行为由一触控笔所产生。
12.如权利要求11所述的电磁式触控面板,其特征在于,还包括: 计算一修正基值与一修正权重的积,并以该积值做为该第一修正量,其中该修正权重与该触控笔的倾斜角度呈正比。
13.如权利要求12所述的电磁式触控面板,其特征在于,该修正基值是像素量。
14.如权利要求8所述的电磁式触控面板,其特征在于,该电磁式触控面板还包括多条横向电极线;该处理单元还用以: 检测该些横向电极线的一第一横向基准线具有一第二最大能量; 检测位于该第一横向基准线上侧的感应到能量的该些横向电极线的一上侧数量; 检测位于该第一横向基准线下侧的感应到能量的该些横向电极线的一下侧数量; 以该上侧数量与该下侧数量最大者所对应的一侧作为一第二倾斜侧,并定义该第一横向基准线往该第二倾斜侧的方向为一第二倾斜方向; 检测位于该第二倾斜侧的该些横向电极线的一第二横向基准线具有一第二次大能量;以及 根据该第二次大能量与该第二最大能量的比值,将该感应点往该第二倾斜方向的反方向修正一第二修正量。
【专利摘要】本发明公开了一种触控点修正方法及应用其的电磁式触控面板,该触控点修正方法包括以下步骤。首先,检测数条直向电极线的第一直向基准线具有一最大能量。然后,检测位于第一直向基准线右侧且感应到能量的此些直向电极线的一右侧数量。然后,检测位于直向基准线左侧且感应到能量的此些直向电极线的一左侧数量。然后,以右侧数量与左侧数量中最大者所对应的一侧作为一倾斜侧,并定义第一直向基准线往倾斜侧的方向为一倾斜方向。然后,检测位于倾斜侧的此些直向电极线的一第二直向基准线具有一次大能量。然后,根据次大能量与最大能量的比值,将感应点的位置往倾斜方向的反方向修正一修正量。
【IPC分类】G06F3-046
【公开号】CN104834428
【申请号】CN201410111181
【发明人】郭伟凯
【申请人】元太科技工业股份有限公司
【公开日】2015年8月12日
【申请日】2014年3月24日
【公告号】US20150227260
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