电子装置及其管理方法
【技术领域】
[0001 ] 本发明与电子产品中的存储器的管理技术相关。
【背景技术】
[0002]在各种电子产品中，有愈来愈多的功能是透过软件程序达成。为了确保电子产品正常运作，制造者在产品出厂前都会进行测试程序，希望能揪出软件程序中的缺陷并预先补救。举例而言，测试人员可能会刻意长时间执行某个应用程序，以检查该应用程序是否存在会持续不合理占用存储器空间的存储器泄漏(memory leak)问题。
[0003]图1呈现一现行电子装置的局部功能方块图。当负责执行某项任务的应用程序的工作模块11需要使用存储器12时，工作模块11会对存储器应用程序编程接口(applicat1n programming interface, API) 13发送一使用请求。根据存储器12目前的可用空间大小，存储器应用程序编程接口 13会决定是否应准许该使用请求。若该使用请求被准许，存储器应用程序编程接口 13会相对应地分派一可用的存储器空间给工作模块11，并将与此次使用请求相关的各种信息存入数据库14。测试人员便是根据数据库14储存的信息来判断工作模块11所执行的应用程序是否存在与存储器12相关的缺陷。
[0004]实务上，上述电子装置中可能有许多个同时运作的应用程序，每个应用程序又可能各自同时执行多个工作任务。在现行技术中，各个针对存储器12发送的使用请求的相关信息都会被加载数据库14。在这个情况下，写入数据库14的信息非常庞杂，因而需要容量相当大的数据库14。另一方面，现行的电子装置大多被设计为只能在其整体运作告一段落时才能取出数据库14的内容，加以检视分析。这种不具时效性的设计方式导致测试人员无法实时发现应用程序的缺陷，且每次进行分析时都必须处理累积一段时间后产生的大量信肩、O
【发明内容】
[0005]为解决上述问题，本发明提出一种新的电子装置及其管理方法。藉由采用适当的过滤机制，被存入数据库的存储器使用信息可被大幅减少，以节省需要的数据库容量。此夕卜，根据本发明的电子装置及管理方法提供了自动监测的功能，藉此提高测试流程的效率。本发明的概念可应用在各种需要使用存储器的电子装置。
[0006]根据本发明的一具体实施例为一种使用一存储器的电子装置，其中包含一工作模块、一管理模块、一数据库与一过滤模块。当该工作模块于执行一工作任务时需要使用该存储器，该工作模块发出一使用请求。该管理模块系用以判断是否应准许该使用请求。若该使用请求被准许，该管理模块根据该使用请求产生一请求数据群集。该过滤模块系用以自该管理模块接收该请求数据群集，并根据一预设过滤条件决定是否将该请求数据群集存入该数据库。
[0007]根据本发明的另一具体实施例为一种应用于一电子装置的管理方法。该电子装置包含一数据库并使用一存储器。该管理方法首先执行一接收步骤，接收针对该存储器发出的一使用请求，其中该使用请求与一工作任务相关。接着，该管理方法执行一判断步骤，判断是否应准许该使用请求。若该使用请求被准许，一请求数据群集根据该使用请求被产生。接着，根据一预设过滤条件，该请求数据群集被决定是否应存入该数据库。
[0008]关于本发明的优点与精神可以藉由以下发明详述及所附图式得到进一步的了解。
【附图说明】
[0009]图1呈现一现行电子装置的局部功能方块图。
[0010]图2为根据本发明的一实施例中的电子装置的功能方块图。
[0011]图3呈现根据本发明的电子装置进一步包含一监测模块的实施例。
[0012]图4呈现根据本发明的电子装置进一步包含一区段记录模块的实施例。
[0013]图5为根据本发明的一实施例中的管理方法的流程图。
[0014]图6呈现可配合图5的管理方法实现的一种后续流程范例。
[0015]须说明的是，本发明的图式包含呈现多种彼此关联的功能性模块的功能方块图。该等图式并非细部电路图，且其中的连接线仅用以表示信号流。功能性组件及/或程序间的多种互动关系不一定要透过直接的电性连结始能达成。此外，个别组件的功能不一定要如图式中绘示的方式分配，且分布式的区块不一定要以分布式的电子组件实现。
[0016]符号说明
[0017]11:工作模块12:存储器
[0018]13:存储器应用程序编程接口 14:数据库
[0019]200:电子装置21:工作模块
[0020]22:存储器23:管理模块
[0021]24:数据库25:过滤模块
[0022]26:监测模块27:区段记录模块
[0023]S51?S54:流程步骤S61?S64:流程步骤
【具体实施方式】
[0024]根据本发明的一具体实施例为一种电子装置，其功能方块图系绘示于图2。电子装置200中包含一工作模块21、一管理模块23、一数据库24与一过滤模块25，其使用一存储器22。于实际应用中，电子装置200应用于各种配备有存储器的电子装置，例如移动电话、个人计算机、家电设备等等，但不以特定应用为限。此外，本发明的范畴并未限定于特定储存机制；存储器22可包含一个或多个挥发性或非挥发性存储器装置，例如随机存取半导体存储器、磁性及/或光学存储器、闪存等等。
[0025]当工作模块21于执行一工作任务时需要使用存储器22，工作模块21便发出一使用请求。管理模块23系用以根据存储器22目前的可用空间判断是否应准许该使用请求。若该使用请求被准许，管理模块23除了响应一准许通知给工作模块21之外，还会根据该使用请求产生一请求数据群集(chunk)。举例而言，该请求数据群集可包含下列消息中的一个或多个消息:对应于该使用请求的工作任务的识别信息、管理模块23分派给该使用请求的一存储器地址，以及该使用请求被准予的一存储器使用量。实务上，管理模块23可利用多种控制/处理平台实现，包含固定式的和可编程逻辑电路，例如可编程逻辑门阵列、针对特定应用的集成电路、微控制器、微处理器、数字信号处理器。于一实施例中，用以与存储器22沟通的存储器应用程序编程接口(API)系包含于管理模块23中。
[0026]过滤模块25自管理模块23接收该请求数据群集，并根据一预设过滤条件决定是否将该请求数据群集存入数据库24。于一实施例中，过滤模块25采用的预设过滤条件包含一预设时间区段。易言之，过滤模块25可被设定为只让请求发出时间落在某一个或多个特定时间区段之内的请求数据群集被存入数据库24。于另一实施例中，过滤模块25采用的预设过滤条件包含一预设存储器地址区段。易言之，过滤模块25可被设定为令数据库24只储存被分派的存储器地址落在某一个或多个特定地址区段之内的请求数据群集。于又一实施例中，过滤模块25采用的预设过滤条件包含一工作任务的识别信息。易言之，过滤模块25可被设定为令数据库24只储存与某一个或多个工作任务相关的请求数据群集。
[0027]须说明的是，上述预设过滤条件可由测试人员依实际测试需要选定。不同于先前技术中未经筛选、直接接收大量消息的数据库，数据库24中所储存的是经过依实际测试需求过滤后的消息。藉此，根据本发明的数据库24的容量可被适当缩减，以节省电子装置200的硬件成本。
[0028]于一实施例中，数据库24中储存的多个请求数据群集系依据一工作任务识别信息、一存储器地址或一存储器使用量被排序。适当的排序有助于提升测试人员自其中擷取消息的便利性。请参阅图3。电子装置200可进一步包含一监测模块26，用以透过过滤模块25与数据库24沟通，以监测数据库24所储存的多个请求数据