专利名称：光盘装置的记录方法及用于确定光盘内部是否存在异常性的方法
发明
背景技术：
领域本发明涉及一种光盘装置的记录方法及用来确定光盘内部是否存在异常性的方法。
背景技术：
光盘装置一般使用激光能在光盘上记录数据，所述光盘如CD(压缩盘)和DVD(数字化视频光盘)。在生产光盘装置时，激光能被设定以后，它是通过在RF(射频)IC电路中的APC(自动功率控制)电路保持在适当的电平。
图1是一框图，示例了现有技术中光盘装置的光学系统配置。如图1所示，光盘装置包括由获取&取样/保持单元21和OP放大器22组成的APC电路20，和由激光二极管驱动器31和前端光电检测器32组成的光学拾波器30。基于从前端的光电检测器32获得的FPDO信号和施加到OP放大器22上的WDAC输入电压，APC电路20输出记录功率的电压(VWDC)。对应于从APC电路20输出的记录功率的电压(VWDC)，LD驱动器31驱动激光二极管(LD)发射光束。前端光电检测器32检测从LD发出的光束，并且对应于检测到的光束输出FPDO信号。
对应于LD发出的光束电平的FPDO信号被反馈到APC电路20，WDAC输入的电压被设定为对应于所需记录速度或者记录功率的某个值。WDAC是输入电压，该电压通过一个外部数字/模拟转换器(DAC)施加于OP放大器22。APC电路20根据前端光电检测器32和WDAC输入电压反馈回来的EPDO信号调节相应的记录功率电压(VWDC)。通过用这种方式调节记录功率的电压(VWDC)，APC电路20就根据当前的记录速度允许记录电压保持在适当的电平。
当前端光电检测器32出现故障时，从光盘10反射回来的光可以入射在前端光电检测器32上。当以低的记录速度(也就是，以低的记录功率)记录时，反射回来的光入射在前端光电检测器上可能只会引起小的问题。但是，当以高的记录速度(也就是，以高的记录功率)记录时，入射在前端光电检测器上的反射光的强度增加，从而对APC电路20有显著的影响。在此之前，没有用于确定磁盘反射光是否入射在前端光电检测器32上并且检测磁盘反射光入射在上面的强度的方法被提出过。
根据现有技术，如果在前端光电检测器32中出现故障，当记录是以高的记录速度被操作时，导致入射在前端光电检测器32上的磁盘反射光超过允许范围，操作则记录是以不同于设定的记录功率的记录功率来操作。这引起如图2和3所示的不正常的记录区域，因此该光盘装置降低了记录的质量。
另外，当记录质量是由于前端光学检测器32的故障降低时，直到接受售后服务，用户不能得知记录的质量降低，这就使得针对前端光学探测器32的故障采取快速行动变得很难。
发明内容
因此，本发明考虑了上述及其他问题，和本发明的目的是提供一种用来稳定光盘装置记录质量的方法。
本发明的另外一个目的是提供一种用来检测入射在前端光电检测器上的磁盘反射光并且根据检测到的反射光来控制记录操作的方法。
本法明还有一个目的是提供一种用来报告光盘里的异常性和前端光电检测器故障的方法。
根据本发明的一个方面，以上或者其他的目的可以通过提供一种光盘装置的记录方法来实现，包括检测在记录操作过程用来驱动激光二极管信号的电平；比较检测电平与预定的参考范围；根据对比结果控制记录操作。
根据本发明的一个方面，如果检测电平超过或者落在预定的参考范围之外就下调记录速度或者记录功率。如果检测电平在预定的的参考值之内，就上调记录速度或者记录功率。如果被检测到的电平超过了预定的参考范围，前端光电检测器的故障就被报告给外面的主机。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用来确定在光盘内部是否存在异常性的方法，该方法包括在记录的操作过程中检测驱动激光二极管信号的电平；比较检测电平与预定的参考电平；并且基于比较结果确定在光盘装置中是否存在异常性。如果检测到的电平超出了预定的参考电平，那么就可以确定在光学拾波器中存在非异常性。
本申请的这些和其他目的在下文的详细描述中将变得更显而易见。但是，应该理解在表明本发明实施例的同时，详细的描述和实施例仅作为示例给出，因为从这些详细的描述中，在本发明精神和范围之内的各种改变和修改对熟练的技术人员将变得显而易见。
通过下文结合附图的详细描述，本发明的上述及其它目的，特征和其他的优点将被更清楚地理解，其中图1是一框图，示例了现有技术中光盘的光学系统相关结构；图2和图3是曲线图，实例了图1中由于磁盘反射光入射在前端光电检测器(FPD)上所出现的异常性记录区域实例；图4是一方框图，实例了本发明使用的光盘装置的配置；和图5是一流程图，实例了根据本发明实施例的中用来在光盘装置中记录并检测光盘装置中是否存在故障的一种方法。
最佳实施方式根据本发明的优选实施例的光盘装置的记录方法和用来确定在光盘中是否存在故障的方法将结合附图进行详细描述。
附图4是一方框图，实例了本发明使用的光盘装置的配置。如图4所示，该光盘装置通常包括和图1中所示的传统光盘装置一样的部件。也是就，它包括一个由获取&采样/保持单元21和OP放大电器22组成的APC电路20，和一个由激光二极管(LD)驱动器31和前端图象探测器(FPD)32组成的光学拾波器30。
除了如图1中光盘装置的部件以外，根据本发明，图4中的光盘装置进一步包括一个VWDC探测器和一个微型计算机50。图4中的所有光盘装置的部件都有效连接。VWDC检测器40检测由APC电路20输出的记录功率电压(VWDC)的电平。微型计算机50根据VWDC检测器40检测到的记录功率的电压电平调整记录的速度或者记录的功率，由此相应地调整OP放大器22输出端的VDWC电平。微型计算机50还把光盘装置里的异常性或者前端光电检测器32里的故障报告给外部的主机。
图5是一流程图，实例了根据本发明的优选实施例中用来在光盘装置中记录并检测光盘装置中是否存在故障的一种方法。图5所示的方法将参照图4中光盘装置的配置来详细描述，但是可以在其他适合的装置/系统中被实施。
参照图5，当接受到例如来自主机或者用户(S10)的记录请求时，微型计算机50根据所需的记录速度或者记录电平设置一个WDAC的输入电压(比如，通过控制与其相联的DAC)并且把它施加给APC放大电路20中的OP放大器22。因此，APC电路20就可以基于前端光电检测器32反馈回来的FPDO信号和施加给OP放大器22的WDAC输入电压调整和输出记录功率电压。请求记录根据调整的VWDC被执行(S11)。通过用这种方式调节的记录功率的电压(VWDC)，APC电路20就允许记录操作根据当前的记录速度设定的记录功率来操作。
微型计算机50可以检测到在记录操作过程中来自磁盘10的入射在前端光电检测器32上的反射光，并且可以根据检测到的反射光来控制记录操作。因为入射在前端光电检测器上反射光和记录功率电压(VWDC)的电平是成比例的，微型计算机50可以根据VWDC的电平检测到入射在前端光电检测器上的磁盘反射光。
在记录操作中，VWDC检测器40检测到记录功率电压(WDAC)的电平，该电平是基于WDAC输入电压和FPDC信号(S11)的OP放大器22的输出值。微型计算机比较预定的参考值(比如200％)(S20)与检测到的VWDC电平。这里，参考值可以是一个范围值。如果步骤S11的比较结果显示为检测到的VWDC电平比参考值大(或者落在参考范围之外)，微型计算机50就确定入射在前端光电检测器32上的磁盘反射光超过了允许的限制，并下调当前的记录速度或者功率来下调VWDC电平至LD驱动器31的输入值(S21)。这可以用很多不同的方式来实现。例如，微型计算机50下调当前的记录速度，并且下调记录功率到对应于下调的记录速度的某一个值。此后，WDAC可以被设定为与被调的较低记录功率相对应的值。在另一个实例中，微型计算机50降低记录速度或者记录功率并且把WDAC设定为对应于降低的记录速度/功率。在另一个实例中，微型计算机50降低记录速度和/或者功率并且以任何已知的方式把APC电路20调整到低于在APC电路20输出端的VWDC电平。
直到记录被止(S30)，微型计算机50根据参考值或者参考范围(S40)重复比较在记录操作过程中被VWDC检测器40检测到的VWDC电平。如果步骤S40的比较结果表明被检测到的VWDC电平大于参考值(或者落在参考范围以外)，微型计算机50就确定入射在前端光电检测器32上的磁盘反射光超过了允许的限制，然后就以上述(S21)的方式下调记录速度和/或者记录功率所需。也就是，直到记录在步骤30终止之前，重复步骤S31，S40，S21。
在下调记录速度和/或者功率之后，如果步骤40检测到的VWDC电平等于或者小于参考值(或者落在了参考范围之内)，微型计算机50就确定入射在前端光电检测器32上的磁盘反射光在允许的限制之内，然后就保持已经被下调的记录速度和/或者功率。因为入射在前端光电检测器32上的反射光和记录功率电压(VWDC)电平是成比例的，基于VWDC电平，微型计算机50可以检测到入射到前端光电险测器32上的磁盘反射光。
此后，直到记录被终止，微型计算机重复下调记录速度和/或电源的操作或者重复根据检测到的VWDC和参考值的比较保持记录速度或者功率的操作。
另一方面，如果步骤20的比较结果是检测到的VWDC电平等于或者低于参考值(或者落在参考范围之内)，微型计算机50就确定入射在前端光电检测器32上的磁盘反射光在允许的限制之内，然后就上调当前记录速度和/或功率电源来调节在APC电路20输出端的VWDC电平(S50)。步骤50以步骤21相同的方式操作，但是步骤50的操作包括增加记录速度和/或功率并因此增加VWDC电平而不是降低它。增加的VWDC控制LD驱动器31的操作，并转而控制拾波器30。直到记录被终止(S51)，微型计算机50比较参考值与VWDC检测器40检测到的VWDC电平，重复下调记录速度和/或功率的操作，或者根据比较结果保持记录速度和功率的操作。
当然，记录速度或者功率在光盘装置允许的范围之内调整。
如果已经确定了在记录操作的过程中入射在前端光电检测器32上的磁盘反射光超过了允许的限制，并因此下调记录速度和/或功率，微型计算机50确定在光盘装置内存在异常性或者在前端光电检测器32内存在故障，并把异常性/故障报告给外部主机(S60)。例如，异常性/故障报告可以在与光盘装置相连的显示屏上显示给用户。
如上所述，基于在操作过程中检测到的VWDC电平，如果微型计算机50确定入射在前端光电检测器32上的反射光超过了允许的限制，微型计算机下调记录速度和/或功率。这也稳定记录的质量，即使当光盘内部存在异常性或者在前端光电检测器32内存在故障时。此外，光盘装置的异常性或者前端光电检测器32的故障报告给外部主机。这就使用户能够对异常性或者故障立即采取有效的行动，就像接受售后服务时更换前端光电检测器32。
从上面描述中可以清楚的是，本发明提供了一种光盘装置的记录方法，以及具有以下的特点和优点的用来确定光盘装置内部是否存在非正常性的方法。。
即使当入射在前端光电检测器上的磁盘反射光超过了允许了限制时，光学拾波器的记录质量得以稳定而不是降低。
除此以外，光盘的异常性或者前端光电检测器里的故障报告给外面的主机，从而使得用户可以对异常性或者故障采取快速行动。
尽管本发明优选实施例是为了示例性的目的而公开，但本领域的熟练技术人员将理解各种可能的改进、增加，和替代都没有偏离如所附权利要求书中公开的本发明的精神。
权利要求
1.一种光盘装置的记录方法，包括在记录操作过程中检测驱动光源的信号电平；比较被检测到的电平与预定参考范围；和根据比较结果控制记录操作。
2.如权利要求1所述的方法，其中在控制步骤中，如果检测到的电平落在了预定的参考范围之外，记录操作的记录速度或者记录功率就会被下调。
3.如权利要求1所述的方法，其中在控制步骤中，如果检测到的电平在预定的参考范围之内，记录操作的记录速度或者记录功率就会被上调。
4.如权利要求1所述的方法，其中用来驱动光源的信号根据前端光电检测器的输出来控制的。
5.根据权利要求4所述的方法，进一步包括如果检测到的电平落在预定参考范围之外，前端光电检测器的故障就会被报告给外面的主机。
6.如权利要求1所述的方法，其中在检测步骤中，光源是激光二极管。
7.如权利要求1所述的方法，其中控制步骤包括在操作过程中，根据比较结果上调或者下调驱动光源的信号电平。
8.根据权利要求7所述的方法，进一步包括如果检测到的电平落在了预定参考范围之外，确定在光盘驱动装置内存在故障；和把故障报告给外面的主机。
9.一种用来确定在光盘内是否存在异常性的方法，该方法包括在记录操作过程中检测驱动光源的信号电平；比较预定参考电平与检测到的电平；和基于比较的结果，确定在光盘装置内部是否存在异常性；
10.根据权利要求9所述的方法，其中确定步骤确定如果检测到的电平超过了预定的参考电平，在光盘装置的光学拾波器中存在故障。
11.一种光盘装置，包括带有光源的光学拾波器；接受和处理来自光学拾波器的输出的自动电源控制器；在记录操作中检测驱动光源信号的电平检测器；比较检测到的电平与预定的参考范围，并根据比较的结果通过控制自动电源控制器来控制记录操作的处理器。
12.根据权利要求11所述的光盘装置，其中如果检测到的电平落在预定参考范围之外，处理器下调记录操作的记录速度或者记录功率。
13.根据权利要求11所述的光盘装置，其中如果检测到的电平在预定参考范围之内，处理器上调记录操作的记录速度或者记录功率。
14.根据权利要求11所述的光盘装置，其中处理器根据光学拾波器中的前端光电检测器的输出控制驱动光源的信号。
15.根据权利要求14所述的光盘装置，其中如果检测到的电平落在预定参考范围之外，处理器就把前端光电检测器中的故障报告给外部主机。
16.根据权利要求11所述的光盘装置，其中光源是激光二极管。
17.根据权利要求11所述的光盘装置，其中在操作过程中，处理器基于比较的结果来上调或者下调驱动光源的信号电平。
18.根据权利要求17所述的光盘装置，其中如果检测到的电平落在了预定参考范围之外，处理器就确定在光学装置内部存在故障，并把故障报告给外部的主机。
19.一种光盘驱动装置，包括；在记录操作中用来检测光盘装置的驱动光源信号的电平的设备；比较检测电平与预定参考电平的设备；基于比较的结果，确定在光盘装置中是否存在异常性的设备。
20.根据权利要求19所述的光盘装置，其中如果检测到的电平超过了预定的参考电平，确定设备确定在光盘装置的光学拾波器中存在故障。
全文摘要
本发明提供了一种光盘装置的记录方法和故障的检测方法。在记录操作过程中检测驱动激光二极管信号的电平。用参考的限制和被检测电平相比较，根据比较结果控制记录操作。如果被检测的电平超过了参考的限制，记录的速度和功率就会被下调，相反它就会被上调。如果被检测的电平超过了参考的限制，光盘里面的前端光电检测器内的故障就被报告给外面的主机。根据入射在前端光电检测器上反射光对记录操作适当控制可以防止记录质量的降低。光盘装置或者前端光电检测器的异常性/故障报告使用户可以对异常性或者故障采取快速的行动。
文档编号G11B7/125GK1637879SQ200410104789
公开日2005年7月13日 申请日期2004年11月12日 优先权日2003年11月12日
发明者安成晚 申请人:日立-Lg数据存储韩国公司