专利名称：基于顺序振幅余量(sam)的维特比解码质量指示器的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于对解码信号产生质量指示器(indicator)的方法和设备，尤其但不排他地涉及一种用于从诸如光盘之类的存储介质进行读取的读取设备的质量指示器。
背景技术：
近年来，例如视听内容的数字分布和通信的使用已经大大增加。而且，数字数据在可移动或固定存储装置上的存储也变得日益重要。例如，个人计算机和数字消费设备的日益普及导致了诸如硬盘或CD(压缩盘)和DVD(数字通用盘)记录器和播放器之类的存储设备的巨大市场。作为另一例子，在诸如TV信号的广播之类的许多应用中，数字传输已经代替或者正在代替模拟传输。
为了降低通信信道中例如由噪声产生的错误或者在从存储介质读取时的读取错误的数量，通常使用前向纠错编码对数字信号进行编码。例如，诸如汉明码之类的块码或者诸如维特比码之类的卷积码常常用于编码数字信号以提供改进的差错性能。
在许多应用中，确定解码信号的质量指示是重要的。例如，在光盘系统领域中，指示产生的解码比特流的可靠性的性能或质量指示器是重要的。尤其是，质量指示器可以用于控制光盘系统。例如，由于质量指示器指示了下降的质量，光盘系统就可以降低读取速度以提供改进的可靠性。
为了在光盘系统中获得更高的密度，部分响应最大似然(PRML)检测方法是优选的。PRML检测算法对于特定的光盘域并不简单地响应于门限检测而检测单个比特，而是产生软判决并基于多个软判决执行数据检测，从而考虑到对于不同比特所产生的值之间的相互关系。尤其是，基于维特比网格(trellis)的解码器常常被使用，其中根据合适的路径度量(metric)标准来产生路径度量，并且比特值被确定为导致最低差错路径度量的路径的比特值。路径度量可以考虑在写光盘时故意强加的约束和限制，但也可以另外或替代地考虑由系统的非故意物理属性引入的符号间干扰。例如，通过带宽受限的信道的通信可能引入符号间干扰，或者比特域的物理尺寸可能导致区域交迭，从而在从光盘读取的数据值之间引入相关性。
在较高密度时，对来自光盘的数据的常规门限检测并未产生令人满意的性能。因此，根据诸如抖动之类的相关性能测量所确定的质量指示器不再合适。此外，直接基于误码率(BER)的测量来评价和优化光盘系统的性能也具有一些重大的缺点。首先，为了提供准确的BER估计(尤其对于低差错率)，需要评价许多数据比特。其次，需要已知的数据模式来与接收的数据比特进行比较。第三，BER测量对媒体的缺陷敏感，例如小划痕或灰尘。因此，需要新的方法。
最近，提出了一种用于确定质量指示器的新过程，该过程例如可适用于高密度光盘系统。该方法被称为顺序振幅余量(SAM)过程，并且在美国专利US 2003/0043939 A1中被进一步描述。
在SAM过程中，生成基于网格的维特比解码器的路径度量的分布，并使用其产生质量指示器。尤其是，SAM值被定义为在网格中通向正确状态的两条路径的路径度量之间的差，并且尤其被定义为在正确路径的路径度量与具有最低路径度量(假设为了增加路径为正确的概率，路径度量降低，即路径度量为距离测量)的不正确路径的路径度量之间的差。对每个比特确定SAM值并产生以直方图形式的分布。当错误发生时，正确路径的度量高于其他路径的度量，因此计算出负的SAM值。因此，如果在检测期间知道数据以及因此数据的正确状态，则每个负SAM值指示检测错误的发生，因为维特比解码器将选择具有最低路径度量的路径，其在这种情况下将对应于不正确路径。
因此，通过计算SAM值小于0的分布的百分数(fraction)可以确定差错率。尤其是，SAM过程包括把归一化高斯(正态)分布拟合到SAM值，并确定对应于负SAM值的分布的区域。因此，通过在负x轴上外推SAM值的直方图来估计差错率，该差错率对应于负SAM值曲线下的总面积。
然而，与该方法相关的问题在于，在大多数应用中待检测的数据在解码期间并不是已知的。因此，在维特比解码器的路径搜索过程中，SAM值被计算为最小路径与第二小路径之间的差。由于判决过程将一直选择最低路径度量，所以计算的SAM值将一直为正。换言之，当发生解码错误时，SAM值不将准确地反映路径度量差。
由于以这样的方式计算的SAM值一直非负，所以SAM值的直方图将发生畸变。SAM过程还可以用来通过拟合高斯分布并使用该高斯分布外推负SAM值的直方图来确定质量指示器，从而允许确定差错率。该方法假设在拟合范围内的SAM直方图可以被近似为正态分布，并且该分布表示小于0的正确SAM值。
然而，由于SAM值一直被测量为正值而引入的畸变，所以拟合到SAM直方图的高斯分布通常不是准确的表示。尤其当差错率为高时，例如在较高密度、不对称或例如高倾斜角时，高斯分布的假设并不准确。尤其是，这可能导致对高斯分布确定准确或错误的参数，并且尤其是可能确定并不产生准确反映负SAM值的高斯分布的平均值和标准偏差。因而，确定了不准确的质量指示器。此外，由于对于渐增的差错率，错误和不准确性通常增加，因此在确定系统余量的更多临界条件下准确性变坏。
因此，对解码信号产生性能指示器的改进系统将是有利的，尤其是允许增加质量指示器的准确性的系统将是有利的。
发明内容
因此，本发明优选设法单独地或以任何组合来减轻、缓和或消除一个或多个上述缺点。
根据本发明的第一方面，提供一种用于对解码信号生成质量指示器的设备，该设备包括用于确定多个路径度量差的装置，每个路径度量差是进入基于网格的解码器的状态的至少两个路径度量之间的差；用于通过排序多个路径度量差来产生所测量分布的装置；用于通过把分析分布拟合到在路径度量差的预定范围内的所测量分布来确定分析分布的参数的装置；用于响应于分析分布来为解码信号确定质量指示器的装置；以及其中分析分布是在预定范围内的第一分布与第二分布之和。
本发明可以提供对于解码信号产生质量指示器的改进方式，并且尤其可以产生具有改进的准确性的性能指示器。分析分布可以提供改进的拟合，并且尤其是第一分布可以对应于一个特征或原因，以及第二分布可以对应于一个不同的特征或原因。例如，第一特征可以对应于所测量分布适合用于确定质量指示器的特征，以及第二特征可以对应于所测量分布的畸变特征。这可以允许分离期望的和不期望的特征。
作为一个特定例子，对于SAM过程，第一分布可以与正确路径的路径度量差关联，以及第二分布可以与导致路径度量差的符号反转的错误路径的路径度量差关联。因此，可以获得包括两个元素的所测量分布的改进拟合，以及可以获得期望的和符号反转的路径度量差之间的区别。
基于网格的解码器尤其可以是用于解码维特比编码信号和/或部分响应数据和/或包括符号间干扰的数据的维特比解码器。术语维特比解码器被认为包括术语维特比均衡器。所测量的分布尤其可以是对应于概率密度函数的路径度量差的归一化直方图。第一、第二和分析分布优选是概率密度函数。
根据本发明的一个优选特征，用于确定质量指示器的装置可操作用来仅响应于第一分布而确定质量指示器。
这可以提供改进的质量指示器，尤其是具有改进的准确性的质量指示器。可以获得所测量分布的更准确的分析分布拟合。此外，第二分布可以反映错误或畸变效应，这导致第一分布更准确地反映期望特征或参数。例如，对于SAM过程，第一分布可以与正确路径的路径度量差关联，以及第二分布可以与错误路径的路径度量差关联。通过仅使用对应于用于确定质量指示的正确路径的第一分布，可以消除或减少不正确路径的路径度量的影响。因此，可以消除或减少不正确路径的路径度量差的符号反转的影响，从而导致大大改进的质量指示。
根据本发明的一个优选特征，确定质量指示器的装置可操作用来响应于在路径差度量小于0的范围内的第一分布而确定质量指示器。在许多应用中，由于负路径度量差指示错误，因此这可以提供合适和准确的质量指示。因此，本发明可以通过把仅包括正路径度量差的所测量分布外推到负路径度量差值并对其进行评价来允许质量指示器的简单确定。例如，对于SAM过程，第一分布可以对应于正确路径的正路径度量差。基于这些采样，可以确定第一分布，从该第一分布可以估计对应于错误的负路径度量差值。通过评价这些负路径度量差可以确定准确的信号指示器。尤其是，可以从-∞到0对作为概率密度函数的第一分布进行积分来提供差错率。
根据本发明的一个优选特征，用于确定多个路径度量差的装置可操作用来对基于网格的解码器的状态把路径度量差确定为通向该状态的最佳度量路径与第二最佳度量路径之间的绝对路径度量差，该状态被基于网格的解码器指定为正确状态。
例如，如果路径度量被用于渐增值指示路径为正确路径的渐增概率的情况，则用于确定多个路径度量差的装置可操作用来通过从最高路径度量中减去第二高路径度量来确定路径度量差。作为另一例子，如果路径度量被用于渐减值指示路径为正确路径的渐增概率的情况，则用于确定多个路径度量差的装置可操作用来通过从最低路径度量中减去第二低路径度量来确定路径度量差。因此，路径度量差被确定为进入一个状态的两个最可能路径之间的差。这在正确数据不知道的情况下，例如在无数据帮助和/或无判决帮助的解码过程中，提供了确定路径度量差的合适方式。因此，本发明可以提供改进的质量指示器而不需要已知的数据。
可以根据任何合适的标准把状态指定为正确状态。尤其是，当状态为维特比解码器在产生解码信号时选择的反馈路径的一部分时，该状态被指定为正确状态。因此，指定状态是具有最佳累积路径度量的路径的一部分，并且因此被认为是正确状态。
根据本发明的一个优选特征，预定范围对应于从0到所测量分布的平均路径度量差的路径度量差。这对诸如许多高密度光盘读取器之类的许多应用提供了合适的预定范围。
根据本发明的一个优选特征，预定范围对应于从0到上部路径度量差的路径度量差，该上部路径度量差对应于百分数在所测量分布的最大值的0.2与0.6之间的所测量分布的值。这对诸如许多高密度光盘读取器之类的许多应用提供特别有利的范围，并且尤其提供了在把预定范围限制到负路径度量差值附近和获得足够数量的采样之间的有利折衷。
根据本发明的一个优选特征，预定范围对应于从0到上部路径度量差的路径度量差，该上部路径度量差对应于百分数在所测量分布的最大值的0.4附近的所测量分布的值。对于许多应用，例如对于许多高密度光盘读取器，这提供了在把预定范围限制到负路径度量差值附近和获得足够数量的采样之间的最佳折衷。
根据本发明的一个优选特征，第二分布基本上等于围绕基本上为0的路径度量差镜像的第一分布。
具体而言，p1(x)可以基本上等于p2(-x)，其中p1(x)为第一分布，以及p2(x)为第二分布。这可能在下述应用中尤其有利，其中畸变效应仅由确定的路径度量差的绝对值来引入，因为分析分布可以考虑到由其引入的所测量分布的畸变。因此，把负路径度量差镜像为正路径度量差可以通过第二密度函数来估计，该第二密度函数允许第一分布对所测量分布的非镜像数据提供更准确的拟合。这可以提供改进的质量指示器。这可能在例如不依赖已知数据的SAM过程中尤其有利。
根据本发明的一个优选特征，第一和第二分布为高斯分布。优选地，第一和第二分布为具有基本上相等的标准偏差以及绝对值基本上相等但具有相反符号的平均值的高斯(或正态)分布。这些分布对于确定准确的质量指示器提供了特别合适的分布，并且在许多应用中尤其适合用来获得精密地拟合所测量分布的分析分布。
根据本发明的一个优选特征，质量指示器是误码率。因此本发明可以提供产生准确误码率指示器的易于实施的方式。
根据本发明的第二方面，提供一种用于从存储介质进行读取的读取设备；该读取设备包括用于从存储介质读取编码数据信号的读取器；用于从编码数据信号产生解码数据信号的基于网格的解码器；以及用于如上所述对解码数据信号生成质量指示器的设备。
本发明可以提供改进的读取设备，尤其是具有改进的质量指示器的数据读取设备。存储介质例如可以是硬盘或者诸如CD或DVD之类的光盘。读取设备可以进一步包括用于响应于质量指示器来控制读取器的装置。
根据本发明的第三方面，提供一种对解码信号生成质量指示器的方法，该方法包括以下步骤确定多个路径度量差，每个路径度量差是为进入基于网格的解码器的状态的至少两个路径度量之间的差；通过排序多个路径度量差产生所测量的分布；通过把分析分布拟合到在路径度量差的预定范围内的所测量分布来确定分析分布的参数；响应于分析分布来为解码信号确定质量指示器；以及其中分析分布是在预定范围内的第一分布与第二分布之和。
根据下文所述的实施例，本发明的这些以及其他方面、特征和优点将是显而易见的，并将参考所述的实施例对其进行阐明。
本发明的实施例将仅作为例子并参考附图进行说明，其中图1说明根据本发明实施例的数据读取设备；图2说明游程长度约束为1的33GB光系统的所测量路径度量差分布的例子；图3说明用于33GB光系统的所测量路径度量差分布以及拟合的高斯分布的例子；图4说明用于33GB光系统的所测量路径度量差分布以及拟合的高斯分布的例子；图5说明包括第一分布和第二分布的分析路径度量差分布的例子；图6说明33GB光系统的对称的所测量路径度量差分布以及拟合的高斯分布的例子；图7说明图6中所测量路径度量差分布与拟合的高斯分布之间的差；图8说明33GB光系统的不对称的所测量路径度量差分布和拟合的高斯分布的例子；以及图9说明图8中所测量路径度量差分布与拟合的高斯分布之间的差。
具体实施例方式
下面的说明集中在适用于从诸如CD或DVD之类的光盘介质读取数据的读取设备的本发明的实施例。然而应当理解，本发明不限于此应用，而是可以应用于许多其他应用和解码信号。
图1说明了根据本发明实施例的数据读取设备100。
数据读取设备100包括从光盘(未示出)读取数据信号的数据读取器101。数据信号被馈入基于网格的解码器103，读基于网格的解码器103执行数据信号的部分响应最大似然(PRML)解码，这对于本领域技术人员而言是众所周知的。尤其是，基于网格的解码器103是对每个比特包括多个状态的维特比解码器。正如本领域技术人员所周知，维特比解码器对新比特的每个可能状态转移计算路径度量。
在下面的说明中，将假设对状态转移计算的路径度量是指示该状态转移的数据信号的实际值与理想值之间的差的距离测量。因此，在该例子中，路径度量的较低值对应于相应状态转移为正确状态转移的较高概率。然而应当理解，可以使用任何合适的路径度量测量，尤其是路径度量可以对状态转移为正确状态转移的渐增概率具有渐增值。
在该实施例中，维特比解码器通过选择具有最低组合路径度量的路径来在搜索返回过程中确定解码的比特序列。因此，对于给定状态，进入具有最低路径度量的状态的状态转移被选择。
解码信号从数据读取器被输出到内部或外部源(未示出)。此外，数据读取设备100包括用于确定反映解码信号的估计质量的质量指示器的功能。在特定实施例中，计算以估计误码率形式的质量指示器。
维特比解码器103被耦合到路径度量处理器105。路径度量处理器105从维特比解码器103接收路径度量值并产生多个路径度量差。尤其是，路径度量处理器105对通向对应于解码序列(或已知数据的正确数据序列)的网格状态的两个状态转移产生路径度量差。路径度量处理器105对对应于大量比特的大量状态产生路径度量差。
在所述的实施例中，通过从状态的第二小路径度量中减去该状态的最小路径度量来简单地计算路径度量差。因此，路径度量差指示所选转移为正确转移的相对概率。例如，大的路径度量差指示距离进而所选状态转移的路径度量与最接近的状态转移相比小得多，因此可以以高的确定性选择第一状态转移。路径度量差的小值指示几乎不在两个候选状态转移之间进行选择。
由于维特比解码器选择进入最低路径度量的状态的状态转移，所以解码比特差错对应于不正确状态转移进入具有比正确状态转移低的路径度量的状态的情况。因此，正确状态转移和不正确状态转移之间的路径度量差应当为负值。然而，由于所述例子中的路径度量处理器105并不知道正确的数据而仅仅知道解码的数据(换言之，实施了无数据帮助的解码器)，所以它通过从最低路径度量差中减去第二低路径度量差来简单地确定路径度量差。因此，路径度量处理器105产生在正确状态转移与最接近的不正确状态转移之间路径度量差的绝对值。
路径度量处理器105被耦合到测量分布处理器107。测量分布处理器107从路径度量处理器105接收大量路径度量差并作为响应来确定测量的分布。尤其是，测量分布处理器107通过排序来自路径度量处理器105的路径度量差采样产生概率密度函数。具体而言，通过把路径度量差采样排序成间隔并确定每个间隔中的路径度量差采样的数量，测量分布处理器107可以产生直方图。可以通过把每个间隔的值除以路径度量差采样的总数对直方图进行归一化。
测量分布的特征通常将取决于输入到解码器的数据信号的特征。优选地，使用了许多路径度量差采样，并且中心极限定理可以指示，正态或高斯分布可能是合理的假设。实验和仿真表明在许多情况下，所测量分布非常接近高斯分布。例如，对于无约束的硬盘或光盘，所测量的分布基本趋向于高斯分布。
然而，对于约束的PRML光盘读取系统，所测量的分布偏离高斯分布。图2说明了游程长度约束d＝1的33GB光系统的测量分布的例子。尤其是，图2说明了所测量分布201以及重叠的高斯分布203的直方图。图2说明了沿x轴的路径度量差以及在y轴上每个路径度量差间隔的采样数量。
可以看出，对于小于平均路径度量差的路径度量差值，所测量的分布与高斯分布对准。然而，对于路径度量差的较高值，由于游程长度约束导致了路径度量差向较高值移动，所以所测量的分布大大偏离高斯分布。因而，在具有非零约束的高密度PRML光系统中，对于较低路径度量差，所测量的分布仍接近高斯分布。
如前所述，已知的正确状态转移和最接近状态转移之间的负路径度量差表示解码比特差错。图3说明了使用正确判决301的知识计算的路径度量差的直方图值以及重叠的高斯分布303。因而，除了对应于解码差错的路径度量差的符号外，图2的测量的分布201对应于图3的直方图值。
通过归一化图3的分布并从-∞到0进行积分，可以计算系统的误码率。同样，通过把高斯概率密度分布拟合到图2的测量分布以便在负值上外推所测量的分布并且相应地从-∞到0对此分布进行积分，可以计算误码率。
然而，这种方法基于下述假设拟合到图2的测量分布的高斯分布将产生概率密度函数，该概率密度函数将是在负轴上的表示(即从-∞到0的路径度量差)。换言之，假设图2中把高斯分布拟合到测量分布将产生非常类似图3的概率密度分布。
然而，由于由路径度量处理器105产生的路径度量差是根据检测的数据而不是已知数据确定的，所以它们一直非负。因此，图2的测量分布可以仅包括正值，并且表示图3的路径度量差的绝对值的直方图。因此，图3中分布的负轴的路径度量差折回到图2中的正轴，从而导致尤其对于低路径度量差值而增加的值。很明显，这导致假设的高斯分布的畸变。此外，畸变尤其对于存在更多噪声的较高数据速率而增加。
因此，将高斯分布拟合到测量分布并使用其来确定质量指示器导致了不准确的测量。尤其是，该畸变导致了未准确反映期望的分布的高斯分布的估计平均值和标准偏差。这在图4中进行了说明，该图4说明了测量的分布401以及拟合的高斯分布403。很明显，拟合的分布大大偏离测量的分布，并且因此通过在负x轴上积分该分布将计算不准确的误码率估计。
在所述的实施例中，测量分布处理器107被耦合到分析分布处理器109。分析分布处理器109可操作用来通过将分析分布拟合到测量分布来确定分析分布的参数。分析分布包括至少在给定范围被加在一起的用于拟合的两个分布。
因此，分析分布包括第一和第二分布。分析分布处理器109可操作用来拟合分析分布，以使第一分布对应于可以从已知数据(即包括负值)确定的路径度量差的分布，而第二分布对应于折叠到正轴的所测量分布的路径度量差。
具体而言，分析分布包括被加在一起的两个高斯分布。在该实施例中，两个分布是围绕0路径度量差的相互镜像。因此，第一分布为具有均值μ以及标准偏差σ的高斯分布，而第二分布为具有均值为-μ以及相同的标准偏差σ的高斯分布。图5根据例子说明了第一分布501、第二分布503以及分析分布505。
可以看到，对于小的路径度量差值，分析分布包括两部分，其中一部分反映期望的高斯分布，而另一部分反映由交迭到正路径度量差引起的畸变。
在该实施例中，分析分布处理器109将分析分布f(x,μ,σ)=A2πσ[exp(-(x-μ)22σ2)+exp(-(x+μ)22σ2)]]]>拟合到所测量的分布。因此，在拟合过程中自动考虑了从负路径度量差到正路径度量差的折叠。不需要估计附加的参数，因此不会增加拟合算法的复杂度。
因此，可以确定对应于图3的高斯分布参数的更准确值。
分析分布处理器109被耦合到质量指示器处理器111，该质量指示器处理器111仅响应于第一分布来确定质量指示器。尤其是，第一分布对应于路径度量差的概率密度函数的分布，所述路径度量差被确定为正确状态转移与具有最低值的不正确状态转移之间的差。如果此路径度量差为负，则解码器103选择了错误的状态转移并且发生了错误。因此，可以通过从-∞到0积分第一分布来计算误码率。
因此，质量指示器处理器111根据下面的公式确定误码率质量指示器erf(x)=∫-∞xexp[-(x-μ)2/2σ2]2πσ]]>其中通过拟合分析分布确定了均值μ以及标准偏差σ。该函数也被称为误差函数。
因此，可以生成准确的误码率指示器。
优选地，把分析分布拟合到所测量分布被限制在合适的预定范围。如前所述以及如图2所示，所述实施例的游程长度约束对高于平均路径度量差的路径度量差产生非高斯分布。因此，分析分布的拟合被限制以评价从0到测量分布的平均路径度量差的路径度量差的范围。这保证了准确的拟合以及在较高路径度量差的偏离并不影响计算的质量指示器。
然而，在许多应用中并且尤其在光盘系统中，当拟合范围被限制为路径度量差的较小间隔时可以获得明显更好的结果。尤其是，当拟合分析函数时，在直方图的最大值附近的数据点优选被忽略。例如，来自光盘的信号的不对称引起主峰值左侧的附加峰值，即所测量分布的形状开始偏离期望的高斯形状。这通过下面的例子进行说明。图6说明了33GB光系统的对称的测量分布601以及拟合高斯分布603，以及图7说明了图6中测量分布601和拟合高斯分布603之间的差。图8说明了33GB光系统的不对称的测量分布801和拟合高斯分布803，以及图9说明了图8中测量分布801与拟合高斯分布803之间的差。
使用从0到平均路径度量差的范围对于对称的情形(图6)产生了相当好的拟合，但是对于不对称的情形(图8)不是这样。
对于误码率的良好估计，低路径度量差值是最重要的，因为这里考虑了来自所有峰值(即也是较高顺序但可能是宽分布)的贡献。然而，使范围太窄将导致太少的采样值并将导致具有可靠性不够的拟合。
在宽范围的仿真以及实验数据上对拟合过程的测试表明，用于拟合的从0一直到0.2与0.60之间以及优选是最大直方图值的0.4附近的百分数的路径度量差范围提供了特别有利的结果。
进一步的改进是把第一直方图值添加到该范围。这确保了在高数据密度、严重噪声和/或不对称的情况下选择足够的点。
本发明可以以包括硬件、软件、固件或这些的任何组合的任何合适的形式来实施。然而，优选地，本发明被实施为运行在一个或多个数据处理器和/或数字信号处理器上的计算机软件。本发明实施例的元件或部件可以在物理、功能和逻辑上以任何合适的方式来实施。确实，功能可以被实施为单个单元、多个单元或其他功能单元的部分。同样，本发明可以被实施为单个单元，或者可以在物理和功能上被分布在不同单元和处理器之间。
尽管已经结合优选实施例对本发明进行了说明，但是本发明并不打算限于这里阐述的特定形式。而是，本发明的范围仅由所附权利要求书来限定。在权利要求书中，术语“包括”并不排除其他元件或步骤的存在。而且，尽管被单独列出，但是多个装置、元件或方法步骤可以由例如单个单元或处理器来实施。另外，尽管单个特征可以被包括在不同的权利要求中，但是它们可能被有利地组合，并且包含在不同的权利要求中并不意味着特征的组合不是可行的和/或有利的。此外，单数引用并不排除多个。因此，对“一个”、“一”“第一”、“第二”等的引用并不排除多个。在权利要求书中的附图标记仅仅被提供为阐明的例子，而不应被解释为以任何方式限定权利要求书的范围。
权利要求
1.一种用于对解码信号生成质量指示器的设备，该设备包括用于确定多个路径度量差的装置(105)，每个路径度量差是进入基于网格的解码器(103)的状态的至少两个路径度量之间的差；用于通过排序多个路径度量差来产生所测量分布的装置(107)；用于通过把分析分布拟合到在路径度量差的预定范围内的所测量分布来确定分析分布的参数的装置(109)；用于响应于分析分布来为解码信号确定质量指示器的装置(111)；以及其中分析分布是在预定范围内的第一分布与第二分布之和。
2.如权利要求1所述的设备，其中用于确定质量指示器的装置(111)可操作用来仅响应于第一分布而确定质量指示器。
3.如权利要求2所述的设备，其中用于确定质量指示器的装置(111)可操作用来响应于在路径度量差小于0的范围内的第一分布而确定质量指示器。
4.如权利要求1所述的设备，其中用于确定多个路径度量差的装置(105)可操作用来对基于网格的解码器(103)的状态把路径度量差确定为在通向该状态的最佳度量路径与第二最佳度量路径之间的绝对路径度量差，该状态被基于网格的解码器(103)指定为正确状态。
5.如权利要求1所述的设备，其中预定范围对应于从0到所测量分布的平均路径度量差的路径度量差。
6.如权利要求1所述的设备，其中预定范围对应于从0到上部路径度量差的路径度量差，该上部路径度量差对应于百分数在所测量分布的最大值的0.2与0.6之间的所测量分布的值。
7.如权利要求1所述的设备，其中预定范围对应于从0到上部路径度量差的路径度量差，该上部路径度量差对应于百分数在所测量分布的最大值的0.4附近的所测量分布的值。
8.如权利要求1所述的设备，其中第二分布基本上等于围绕基本上为0的路径度量差镜像的第一分布。
9.如权利要求1所述的设备，其中第一分布和第二分布是高斯分布。
10.如权利要求1所述的设备，其中质量指示器是误码率。
11.一种用于从存储介质进行读取的读取设备(100)；该读取设备(100)包括用于从存储介质读取编码数据信号的数据读取器(101)；用于从编码数据信号生成解码数据信号的基于网格的解码器(103)；以及根据前面权利要求1-10中任何一项所述的对解码数据信号生成质量指示器的设备。
12.一种对解码信号生成质量指示器的方法，该方法包括以下步骤确定多个路径度量差，每个路径度量差是进入基于网格的解码器(103)的状态的至少两个路径度量之间的差；通过排序多个路径度量差来产生所测量的分布；通过把分析分布拟合到在路径度量差的预定范围内的所测量分布来确定分析分布的参数；响应于分析分布来为解码信号确定质量指示器；其中分析分布是在预定范围内的第一分布与第二分布之和。
13.一种使得能够执行根据权利要求12所述的方法的计算机程序。
14.一种包括如权利要求13所述的计算机程序的记录载体。
全文摘要
一种用于对网格解码信号生成质量指示器的系统包括用于计算与幸存路径相关的路径度量差的路径度量处理器(105)，用于确定路径度量差的分布的测量分布处理器(107)，用于在所测量路径度量分布的预定范围上拟合高斯分布的分析分布处理器(109)，以及用于把估计的误码率确定为在路径度量差小于0的范围内的高斯分布的积分的质量指示器处理器。通过从拟合范围中消除畸变部分，尤其在高差错率时改进了BER估计的精度。
文档编号G11B20/18GK1954504SQ200580015179
公开日2007年4月25日 申请日期2005年5月9日 优先权日2004年5月13日
发明者C·A·弗斯丘伦, A·V·帕迪伊 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司