专利名称：用于检测光学记录载体中的裂纹的方法和设备的制作方法
用于检测光学记录载体中的裂紋的方法和设备本发明涉及从光学记录载体中读取数据以及检测光学记录载体中 的裂紋的设备和相应的方法。本发明还涉及用于在例如计算冲几上实现所 述方法的计算机程序。诸如CD、 DVD和BD盘的光学记录载体可能会开裂。在较长时间 段内经受动态和/或静态机械负荷的任何盘都可能出现裂紋。特别劣质的 盘会容易开裂。开裂的盘的问题在于，它们在较高旋转速度下容易发生 炸裂并且当裂紋出现在盘的信息区中时就再也不能读取该信息区中的 数据。这是因为已知的伺服控制算法不能够处理径向、聚焦以及圆周方 向上的突然的大的跳跃。这样的大的跳跃出现在有裂紋的盘中，因为在 盘上沿其存储数据的数据轨道在裂紋位置处不再是连续的。已知的伺服 算法只能处理盘的信息层中的小缺陷以及处理盘的辐射入射表面上的 适度缺陷，例如黑点、指紋或划痕。US 2005/0052967 Al公开了 一种防止光学记录载体由于裂紋而石皮 裂的方法和设备。这种公开的方法和设备用于当光学记录载体以第一 速度旋转时检测从数据记录/再现设备输出的第一跟踪误差信号；当相同 的光学记录载体以第二速度旋转时检测从该数据记录/再现设备输出的 第二跟踪误差信号；根据第一跟踪误差信号和第二跟踪误差信号确定光 学记录载体上的裂紋是否存在；以及当光学记录载体呈现出具有裂紋时 停止该数据记录/再现设备的操作。US 2005/0052967 Al中公开的这种方 法的思想在于，裂紋是基于跟踪误差信号中随着光学记录载体速度的增 加而增大的峰值水平来检测的，因为与非裂紋相关的干扰不会表现出这 种速度依赖性。本发明的目的是提供更为坚固可靠的设备和方法，借助于这种设备 和方法可以以更高的可靠性来检测光学记录载体中的裂紋，从而可以采 取适当的措施。依照本发明的第一方面，这个目的是通过提供一种设备来实现的， 该设备包括-读取单元，其用于利用辐射束从光学记录载体中读取数据并且用 于产生数据信号；-伺服误差检测单元，其用于跟踪数据轨道并且用于产生跟踪误差 信号和聚焦误差信号，所述数据在光学记录载体上是沿着所述数据轨道来i己录的；-控制单元，其用于利用聚焦控制信号和径向控制信号来控制所述 辐射束的读出光斑在光学记录载体上的轴向位置和径向位置；以及-裂紋检测单元，其用于通过检查所述聚焦误差信号和/或所述跟踪 误差信号是否表现出显著的峰值、以及所述聚焦控制信号和/或所述径向 控制信号是否表现出显著的阶跃变化来确定光学记录载体中是否存在 裂紋。权利要求13中限定了依照本发明另一方面的相应方法。权利要求 14中限定了用于在计算机、读取设备或者任何其他适当的设备上实现依 照本发明的方法的计算机程序。在从属权利要求中限定了本发明的优选实施例。尽管本发明可以应用于检测不同类型的裂紋，但是在实践中，看起 来本发明检测典型的尖锐(sharp)裂紋的效果特别好。这些尖锐裂紋具 有两条镜状边缘、与半径所呈的有限角度、几乎垂直于盘表面的裂紋表 面朝向、裂紋末端的有限相对位移和旋转，这些都是不完整的。已经发 现，已知的伺服系统能够检测基底外表面上的缺陷。然而，所述外表面 处由于典型尖锐裂紋引起的缺陷是有限的。此外，即使在信息轨道处于 良好状况下的时候，伺服信号(即跟踪误差信号) 一般也会受到读出表 面上的缺陷的干扰。裂紋定然会在信息轨道中造成缺陷，因此数据信号 将受到破坏。当光经过基底时由裂紋在读出光斑中造成的干扰量取决于 裂紋的锐度。尖锐的裂紋不会给出许多错误反射。如果两个相对的裂紋 表面的位移不太大，那么轨道的恢复在当前驱动器中可能不是问题。当 这些表面在径向或聚焦(轴向)方向发生移位时，正常的跟踪误差信号 将表现出大的峰值。当伺服系统随后再次发现轨道(其可能为正确的轨 道或者不正确的轨道)时，跟踪误差信号就下降到正常值。本发明基于这样一种思想，即除了聚焦误差信号和/或跟踪误差信号 之外，还使用轴向和/或径向控制信号(也分别称为聚焦和径向致动器信 号)。由于轨道的位置(在轴向和/或径向方向上)在裂紋处发生变化， 这些控制信号将表现出轻微的影响。这种影响在聚焦(轴向)方向上将 是最大的，因此优选地将聚焦误差信号和轴向控制信号用于裂紋检测。在另外的实施例中，除了聚焦误差信号和轴向控制信号之外或者作为这 些信号的替换，还使用跟踪误差信号和径向控制信号(以便提高裂紋检 测的可靠性)。本发明基于这样的观察裂紋，类似于划痕和黑点导致具有清晰的 单周期特征的跟踪误差信号，但是只有裂紋会在控制信号(致动器信号) 中表现出突然的(阶跃状)变化。不过，跟踪误差信号的估算提供了裂 紋存在的附加指示，因此增大了裂紋检测的可靠性。在本发明的一个实施例中，检查所使用的误差信号中的至少一个是 否表现出类似于脉冲响应的效果(即突然的增大以及例如几毫秒的短时 间内的阻尼振荡)以及所使用的控制信号中的至少一个是否具有相似的 类似于脉沖响应的效果并且在短时间(例如几百毫秒)之后具有附加的 类似于阶跃响应的效果。如果这些条件得到满足，那么推断检测到裂紋 跳变以及还有盘的弯曲或表面缺陷。这里应当指出的是，跨越裂紋时的 控制信号不那么重要，因为在跟踪误差信号非常大时不应该存在任何跟 踪。依照 一 个优选实施例，将所用信号的水平与正好在缺陷出现之前的 水平进行比较。检查聚焦控制信号的幅度是否指示了至少+A5nm的变化 和/或跟踪误差信号的幅度是否指示了至少+/-1^1111的变化。当超过阈值 时，则确定已经发现了裂紋跳变。应当指出的是，聚焦控制信号的变化 指的是与致动器透镜位移成比例的变化。当没有超过上述阈值时，跟踪将不会受到损害，并且优选地还检查 数据信号(也称为HF信号)是否仍然完整或者它是否显示出中断。如 果它不完整，那么已经检测到严重的表面缺陷或者信息缺陷。在本发明的 一 个优选实施例中，将用于裂紋检测的信号与之前从具 有裂紋、划痕和/或没有机械缺陷的记录载体测量的相应参考信号进行比 较。这种实际测量信号与参考信号的比较提供了有关在盘上是否存在裂 紋、划痕和/或没有机械缺陷的附加指示。为了进一 步增加裂紋检测的可靠性和稳定性，有利的是在作出决策 之前评估在经过若干次旋转(而不是仅仅经过一次旋转)和/或在相邻轨 道上用于裂紋检测的信号。为了更进一步地增加裂紋检测的可靠性，通常在中断之间读取的数 据(即HF数据)优选地用于获取地址和/或时间信息(例如ATIP/ADIP信息)以便计算在轨道恢复时略过的轨道的旋转次数，即确定所谓的轨 道略过数。如果这个数超过一定水平(阈值数)，那么可以推断已经检 测到裂紋。此外，这种轨道略过数优选地用于控制正好位于裂紋之后的辐射束 读出光斑的轴向和径向位置。特别地，从正好在裂紋之前和正好在裂紋 之后读取的数据信号中获取地址和/或时间信息，然后检查正好在裂紋之 前和正好在裂紋之后的^L读取地址和/或时间信息是否处于正确的顺序 或时间次序。在另 一个优选实施例中，提供了控制单元和数据处理单元之间的前 馈环，其允许当正好在裂紋之前和正好在裂紋之后的地址和/或时间信息 不处于正确的顺序或时间次序时，才艮据从正好在裂紋之前和正好在裂紋 之后读取的数据信号中获取的地址和/或时间信息来校正正好在裂紋之 后的辐射束读出光斑的轴向和径向位置。因此，可以实现一种学习方案， 其允许尽管存在裂紋的情况下，通过连续地改进裂紋检测的精度以及确 定裂紋之后轨道继续的位置来从记录载体中再现大部分数据。在裂紋之后，优选地在从记录载体的外径到其内径的方向上读取数 据，因为外径通常没有裂紋。 一般情况下，在裂紋尖端处存在残余应力 区，其使得裂紋检测更加容易。此外，允许尽管存在裂紋但仍能读取数 据所需的跨越裂紋的跳跃一般从外径到内径逐渐增大，其因而有助于学 习。在盘上由裂紋所限制的片断中，可以通过每次遇到跨越裂紋时反转 读出方向来读取轨道部分的完整区域。如果已经检测到裂紋，那么存在如何以及出于何种目的来使用该信 息的不同可能性。例如，可以用信号的方式将裂紋的检测通知给用户。 此外，例如在检测到一定长度的裂紋的情况下，可以降低读出速度或者 可以停止读出。如果裂紋的长度和数目是有限的，那么可能获取这些裂 紋之间的所有数据。
现在将参照附图来更详细地解释本发明，其中图1A示出了具有典型尖锐裂紋的记录载体的顶视图；图1B示出了相同裂紋在切向方向的截面图；图1C示出了相同裂紋在径向方向的截面图； 图2示出了依照本发明的设备的框图； 图3示出了图解说明了本发明的主要思想的简化框图； 图4图解说明了依照本发明的裂紋检测方法的流程图； 图5A、 5B和5C图解说明了分别针对弯曲盘、具有表面缺陷的盘 以及有裂紋盘的典型聚焦误差信号和聚焦控制信号；以及图6图解说明了依照本发明的从有裂紋盘中读取数据的方法的流程图。在解释本发明之前，将更详细地讨论聚碳酸酯盘中的裂紋信息。裂 紋很可能起源于盘状记录载体中间的孔附近的区域。较旧的盘在这个区 域经常出现大量的裂紋。由于弯曲和张力(也出现在高速驱动器中)引 起的机械应力可能超过某个极限，单一裂紋在该极限下逐步变成非常尖 锐的裂紋。典型的有裂紋缺陷的盘因此表现出主要呈径向朝向的有限数 目的尖锐裂紋，如图1A所示。图1B示出了相同裂紋在切向方向y的截 面图，而图1C示出了相同裂紋在径向方向x的截面图。典型的裂紋可以表征如下裂紋是尖锐的，具有两条镜状边缘(参 见图1A);裂紋与半径之间的角度(图1A中为a)是有限的(数量级 为IO度)；裂紋表面相对于盘表面的朝向(图1B中的角度卩)几乎是 垂直的(数量级为10度)；裂紋末端的相对位移和旋转是有限的，使 得总体的盘形状不损害读出；裂紋是不完整的，即它们并不完整地从内 径延伸到外径(参见图1C)。当然，实践中也存在其他类型的裂紋。 本发明提出的检测方法大体上可以检测不同类型的裂紋。不过，在本发 明处理从具有裂紋的盘中读出数据方面，本发明将主要集中在从具有上 述种类的典型裂紋的盘中读出数据。图2示出了依照本发明的设备(例如光盘驱动器)的框图。该设备 包括-用于旋转设置在转台11上的光盘10的主轴马达12以及用于控制 主轴马达12的马达驱动器13;-拾取装置14,其用于将激光束(例如由图2中未示出的激光二极 管产生)投射到光盘IO上并且用于将从光盘IO反射的光信号转换成电 信号；-RF放大器15，其用于转换所述电信号(一般为电流)并且产生数据信号RF;-伺服误差检测单元16,其用于转换所述电信号并且根据所述被转 换信号来产生跟踪误差信号TE和聚焦误差信号FE;-信号处理器17,其用于根据所述RF、 TE和FE信号再现记录于 光盘10中的数据；-驱动器20,其用于产生驱动电流WS以便产生激光束并且用于产 生聚焦致动器信号FA (聚焦控制信号)和径向致动器信号RA (径向控 制信号)，以便控制激光束在记录载体10信息层上的聚焦位置和径向 位置；-系统控制器19,其用于根据主轴马达12输出的信号检测主轴马 达12的旋转信息以便根据该旋转信息来控制马达驱动器13,使得以目 标旋转速度驱动主轴马达12,并且用于根据从伺服误差;f企测单元16中 输出的TE信号和FE信号来控制跟踪和聚焦；-裂紋检测单元21，其用于确定光盘IO上是否存在裂紋；以及 -存储器18，其用于存储各种程序和数据以便驱动所述设备。 下面将描述依照本发明方法操作的光盘驱动器。首先，光盘10被 装载到转台11上并且在马达驱动器13的控制下由主轴马达12以恒定 线速度(CLV)、恒定角速度(CAV)或者伪恒定角速度(PCAV)旋 转。包括用于产生激光束的激光二极管以及用于检测被反射激光的光电 检测器的拾取装置14,将从激光二极管输出的激光束投射到光盘上，通 过光电检测器检测从光盘10反射的光信号，将光信号转换成电信号并 且将该电信号施加到其中产生数据信号RF、跟踪误差信号TE和聚焦误 差信号FE的RF放大器15和伺服误差检测单元16。这些信号通常是已 知信号，因此省略了进一步的详细解释。随后，信号处理器17再现记录在光盘IO上的数据。这个信号处理 器17包括用于执行解调和误差校正处理的硬件和/或软件。驱动器20在 系统控制器19的控制下产生驱动电流并且将该驱动电流施加到拾取装 置14的激光二极管。拾取装置14的激光二极管依照所施加的驱动电流 产生激光束。系统控制器19通过拾取装置14、 RF放大器15和信号处 理器17读取记录于旋转光盘上的数据。同时，主轴马达12向系统控制 器19输出与主轴马达12的旋转同步的信号。系统控制器19根据该信 号检测主轴马达12的旋转信息，通过马达驱动器13控制主轴马达12,使得主轴马达12根据该旋转信息以目标旋转速度旋转，并且根据从伺 服误差检测单元16中输出的跟踪误差信号(TE)和聚焦误差信号(FE) 来控制光盘10的跟踪和聚焦。此外，裂紋检测单元21确定光盘10是 否具有裂紋。如果光盘10具有裂紋，那么系统控制器19通过马达驱动 器13停止主轴马达12,或者可替换地，降低旋转速度。而且，系统控 制器19可以将裂紋的检测发信号通知用户。如果必须对于其上检测到裂紋的盘进行数据恢复，那么可以应用相 反的读取和/或步进来检测裂紋的延展(径向方向上的裂紋尖端)。所有 记录在裂紋尖端之外的半径处的数据都可以按照通常的方式并且通过 通常的跟踪来读取。可以按照这种方式恢复的数据量取决于盘的数据结 构。例如，对于目录独占地位于内径处的盘而言，可以恢复的数据很可 能比对于多区段盘的情况要少。图3绘出了一种简化的和概括性的示图，其仅示出了依照本发明一 个实施例的基本元件。聚焦误差信号FE由检测器D (图2的实施例中 的伺服误差检测单元16)检测。将这个FE信号提供给控制器C (图2 的实施例中的系统控制器19),所述控制器产生用于通过马达驱动器 13控制盘的旋转速度的控制信号Q,并且所述控制器产生用于通过光学 拾取装置(OPU) 14进行聚焦控制的聚焦控制信号FA。OPU 14中受激励透镜的轴向(聚焦)位置和盘IO之间的距离对于 裂紋检测而言是最为重要的。然而，这个距离不能直接被测量，而仅能 根据FE信号来推断。FA信号由所述控制器产生，因而是已知的。通过 使用这两个信号FE和FA，使得检测光盘中的裂紋成为可能。现在将参照图4来解释依照本发明的检测裂紋的一种方法，图4示 出了该方法的流程图。伺服误差检测单元16能够检测盘的基底外表面 上的缺陷。外表面处由于典型尖锐裂紋引起的缺陷是有限的。当检测这 种表面缺陷时，检查(在步骤S1中)数据信号RF是否仍然是完整的， 即它是否表现出中断。这可以不断地加以监视。应当指出的是，"完整" 可以解释为读出系统发送原始数据而不会遇到伺服问题。换言之，没有理由相信原始数据是不正确的。随后，获得聚焦误差信号FE并且由驱动单元20产生聚焦致动器信 号(控制信号)FA (在步骤S2中)。将这些信号FE和FA的实际水平 与它们正好在缺陷之前的水平进行比较(在步骤S3中)以便确定它们是否指示了典型裂紋的存在。如果FE信号的水平表现出典型的类似于 脉沖响应的效果并且如果FA信号表现出稳定的类似于阶跃响应的效 果，那么有理由相信已经检测到裂紋跳变。优选地，这是通过经多次旋 转进行检查来确认的。在本方法的另一个实施例中，还使用(在步骤S4中)通常在中断 之间读取的HF数据来提供时间和/或地址信息(例如ATIP/ADIP信息) 以便计算(在步骤S5中)在轨道恢复期间跳过的螺旋轨道的旋转次数。 如果这个数超过一定水平(在步骤S6中)，那么可以推断已经遇到裂 紋。应当指出，盘中的任何弯曲也会在一次旋转上引起緩慢变化的聚焦 控制信号。错位的裂紋可以被视为一种特殊情况，其中聚焦控制信号的 水平在一次旋转中表现出(近乎)线性递减或递增的部分，其后是急剧 跳回到裂紋区中的起始水平。图5示出了针对弯曲(但未裂开的)盘(图5A)、具有表面缺陷 (但没有裂紋)的盘(图5B)以及具有上述典型裂紋的盘(图5C)的 典型FE和FA信号。图5B和5C中示出的FE信号二者都表现出典型的 类似于脉沖响应的效果(即突然的增大以及短时间内的阻尼振荡)。同 样，图5B和5C中示出的FA信号也表现出这种类似于脉沖响应的效果。 然而，只有针对具有裂紋的盘的FA信号(图5C中示出)表现出除了类 似于脉冲响应的效果之外的类似于阶跃响应的效果。这能够实现区分具 有表面缺陷的盘和具有裂紋的盘。除了使用FE和FA信号之外或者作为 使用FE和FA信号的替换，可以使用跟踪(径向)误差信号TE和径向 控制信号RA,对于这些信号出现了相似的信号模式，但是不那么明显。当在步骤S3中检查效果时，应当考虑到类似于脉沖的效果的振荡 周期一般约为几毫秒，而用于检查类似于阶跃的效果的总时间帧一般约 为几百毫秒。还应当指出的是，大于5到10pm的聚焦步长一般会导致 聚焦的失败，而对于跟踪来说，1到2|im的偏差一般会导致径向跟踪的 失败。在由于裂紋而中断数据的读取之后，假若伺服机构又在轨道上，那 么可以按照通常的方式来再次读取数据，直到遇到由于裂紋造成的下一 次中断(在单一裂纹的情况下通常在下一次旋转中)。 一次旋转中的数 据流大得足以重构标题信息或者ATIP/ADIP信息，所述信息用于利用时间标记来给数据序列加标签。当怀疑在盘的固定角度位置处存在裂紋 时，优选地对正好在中断之前和正好在中断之后的时间数据进4亍比4交。当时间超前或滞后正好对应于n次旋转的时间时，那么有理由确定已经 遇到了裂紋，在径向方向上裂紋表面的错位的长度为n倍的轨道间距(加 上或减去半个轨道间距)。在随后的旋转中检测到具有相同的士n时间超 前或滞后的裂紋跳变越多，那么真正已经检测到径向轨道错位为士n的裂 紋的可能性就越大。接下来，将参照图6讨论在裂紋跳变位置处的伺服跳跃的预测，其 允许从有裂紋盘中读取至少一部分数据。裂紋跳变是其中基本上丢失了 跟踪数据的区域。这部分归因于两个相对的裂紋表面形成间隙这一事 实，并且部分归因于裂紋的边缘受损这一事实。不过，仍然可以读取裂 紋跳变周围的数据。如果已经检测到裂紋，那么被读取数据的某些部分可能是不正确 的。裂紋检测算法优选地被设计成提供有关所需跳跃的详细数据(步骤 S10)。因为在裂紋检测期间使用的轨道恢复中可能没有读取某些轨道 部分，因此可能需要跳回已知数目的轨道跳变并且重新开始读取，但是 现在利用了完全的前馈控制(步骤Sll)。检查(步骤S12)从所述轨 道部分中读取的数据是否处于正确的时间次序(连续数据)。如果是，那么校正算法结束，并且可以继续读取有裂紋区(步骤S13)。如果不 是，那么它提供有关待执行的跳跃的附加信息，并且实现了一种学习方 案(步骤S14)以便收敛到伺服信号，其将致动器直接推送到正确的位置。下面将给出更详细的描述。在裂紋检测期间，确定数目n。对于非错位裂紋，n的值为零。在 这种情况下，不需要额外的跟踪动作来从盘中获取处于正确时间次序的 数据。如果n非零，那么需要物镜的跳跃以便能够恢复正确的轨道。径 向方向上跳跃的长度等于n乘以被估计的轨道间距。这个轨道间距在现 有技术驱动器中可以合理精确地进行估计。用于这个目的的原理在于， 分别进行越过N、 M个轨道的一定距离的两次跳3夭并且读取ATIP/ADIP 地址。这得到了根据其可以计算轨道间距和线速度二者的两个方程。聚 焦方向上的跳跃也在裂紋检测部分中进行估计。由于已经找到这些致动 器跳跃，因而可以在下一次旋转中应用它们；如果裂紋满足先前描述的典型尖锐裂紋的定义，那么在开环意义上(在裂紋中不能获得可靠的误 差信号)应用这些跳跃很可能将读出光斑设置在正确的轨道部分上。然 后，可以按照正确的原始时间次序来直接读取这些数据。开环前馈控制仅用于裂紋跳变期间。 一旦读出光斑回到轨道上，那 么就将所述设备切换到反馈控制。对于一般的理解而言，停留在轨道上 的伺服原理是所谓的闭环设置中的误差信号的(立即)反馈。这种闭环 控制力求达到小的误差。如果没有可靠的误差信号，那么在大多数应用 中禁止反馈。这是其中在跨越裂紋阶段最好主动操纵物镜以便最大化恢 复正确轨道部分的可能性的典型情况。在"盲轨道恢复"的情况下，在跨 越裂紋之后没有主动控制(既非反馈，也非前馈)地寻找轨道。然而，在前馈控制中不能保证找到正确的轨道接续；可能需要进行重试。这是 学习阶l殳的一部分。例如，当在一4亍中两次读取一次完整的旋转时，已 知在跨越裂紋处已经跳回轨道。如果这点保持未经校正，那么相同的轨 道部分会反复地被读取。另一方面，如果使跳跃过远，那么轨道的一部 分将^皮跳过并且永远不会纟皮读取。如上所述，直接在跨越裂紋之后读取的数据部分包含有关绝对时间 的信息，其可以用来将所有^l读取数据部分置于正确的时间次序。应当 指出的是，提取时间信息所需的未破坏数据部分的长度典型地大约为10 毫米。因此，每个轨道部分应当大于这个最小长度。应当指出的是，本发明基于如下的观察裂紋可以通过组合来自伺 服系统的信息来进行检测。类似于划痕和黑点，裂紋会导致具有清晰的 单周期特征的误差信号，但是只有裂紋会在致动器控制信号中表现出突 然的阶跃状变化。此外，已经认识到，可以通过使用之前越过裂紋的跳 跃期间收集的信息来对伺服系统进行编程以便预期轨道的不连续性。
权利要求
1.用于从光学记录载体(10)中读取数据以及检测光学记录载体(10)中的裂纹的设备，包括-读取单元(14、15)，其用于利用辐射束从所述记录载体中读取数据并且用于产生数据信号(RF)；-伺服误差检测单元(16)，其用于跟踪数据轨道并且用于产生跟踪误差信号(TE)和聚焦误差信号(FE)，所述数据在光学记录载体上是沿着所述数据轨道来记录的；-控制单元(19)，其用于利用聚焦控制信号(FA)和径向控制信号(RA)来控制所述辐射束的读出光斑在所述光学记录载体上的轴向位置和径向位置；以及-裂纹检测单元(21)，其用于通过检查a)所述聚焦误差信号(FE)和/或所述跟踪误差信号(TE)是否表现出显著的峰值，以及b)所述聚焦控制信号(FA)和/或所述径向控制信号(RA)是否表现出显著的阶跃变化，来确定所述光学记录载体中是否存在裂纹。
2. 如权利要求1所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21 )适用于 检查所述聚焦控制信号(FA)的幅度是否指示了至少5pm的变化和/或 所述跟踪误差信号(TE)的幅度是否指示了至少linm的变化。
3. 如权利要求1所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21 )还用于 检查数据信号(RF)是否表现出中断。
4. 如权利要求l所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21)适用于 将用于检测光学记录载体中的裂紋的信号与之前从具有裂紋、划痕和/ 或没有机械缺陷的光学记录载体中测量的相应信号进行比较。
5. 如权利要求l所述的设备，其中所述裂紋检测单元(21 )适用于 检查经不止一次的旋转和/或在至少两个相邻轨道上用于检测光学记录 载体中的裂紋的信号。
6. 如权利要求1所述的设备，进一步包括数据处理单元(17)，其用于从在中断之间读取的数据信号(RF) 中获取地址和/或时间信息，用于确定轨道略过数，所述轨道略过数指示 了在中断期间略过的轨道的旋转次数，其中所述裂紋检测单元(21)适用于检查所述轨道略过数是否超过预定阈值数。
7. 如权利要求6所述的设备，其中控制单元(19)适用于使用所述
8. 如权利要求7所述的设备，其中数据处理单元(17)适用于从正 好在裂紋之前和正好在裂紋之后读取的数据信号(RF)中获取地址和/ 或时间信息，并且用于检查正好在裂紋之前和正好在裂紋之后的被读取 地址和/或时间信息是否处于正确的顺序或时间次序。
9. 如权利要求8所述的设备，具有控制单元(19)和数据处理单元 (17)之间的前馈环，其允许如果正好在裂紋之前和正好在裂紋之后的地址和/或时间信息不处于正确的顺序或时间次序，则根据当正好在裂紋 之前和正好在裂紋之后的地址和/或时间信息不处于正确的顺序或时间 次序时，从正好在裂紋之前和正好在裂紋之后读取的数据信号中获取的 置。
"日 口 、"、。 。
10. 如权利要求1所述的设备，还包括用于用信号通知裂紋的检测并且用于在检测到裂紋的情况下降低 读出速度和/或停止读出的装置(19)。
11. 如权利要求1所述的设备，其中所述控制单元(19)适用于控 制读出光斑在记录载体上的径向位置，使得在从记录载体的外径到其内 径的方向上读取数据。
12. 如权利要求1所述的设备，其中所述控制单元(19)适用于控 制读出光斑在所述记录载体上的径向位置，使得每次遇到跨越裂紋时反 转读出方向。
13. 用于从光学记录载体(10)中读取数据以及检测光学记录载体 (IO)中的裂紋的方法，包括步骤-利用辐射束从所述记录载体中读取数据并且产生数据信号(RF );-跟踪数据轨道并且产生跟踪误差信号(TE )和聚焦误差信号(FE ), 所述数据在光学记录载体上是沿着所述数据轨道来记录的；-利用聚焦控制信号(FA)和径向控制信号(RA)来控制所述辐 射束的读出光斑在所述光学记录载体上的轴向位置和径向位置；以及-通过一企查a)所述聚焦误差信号(FE)和/或所述跟踪误差信号(TE)是否表现出显著的峰值，以及b)所述聚焦控制信号(FA)和/或所述径向控制信号(RA)是否表 现出显著的阶跃变化，来确定所述光学记录载体中是否存在裂紋。
14. 包括程序代码装置的计算机程序，所述程序代码装置用于当所元用;利用辐射束从光学记录载体(It/)中读取数据并且用于产生数据 信号(RF):-跟踪数据轨道并且产生跟踪误差信号(TE)和聚焦误差信号(FE), 数据在光学记录载体上是沿着所述数据轨道来记录的；-利用聚焦控制信号(FA)和径向控制信号(RA)来控制所述辐 射束的读出光斑在所述光学记录载体上的轴向位置和径向位置；以及-通过4企查a) 所述聚焦误差信号(FE)和/或所述跟踪误差信号(TE)是否表 现出显著的峰值，以及b) 所述聚焦控制信号(FA)和/或所述径向控制信号(RA)是否表 现出显著的阶跃变化，来确定所述光学记录载体中是否存在裂紋。
15. 在用于从光学记录载体中读取数据的设备中使用的裂纹检测单 元，其可被操作用于-接收聚焦误差信号(FE)和/或跟踪误差信号(TE)以及聚焦控 制信号(FA)和/或径向控制信号(RA),并且用于 -通过^r查a) 所述聚焦误差信号(FE)和/或所述跟踪误差信号(TE)是否表 现出显著的峰值，以及b) 所述聚焦控制信号(FA)和/或所述径向控制信号(RA)是否表 现出显著的阶跃变化，来确定所述光学记录载体中是否存在裂紋。
全文摘要
本发明涉及用于从光学记录载体(10)中读取数据以及检测光学记录载体(10)中的裂纹的读取设备和相应的读取方法。为了非常可靠地检测光学记录载体中的裂纹以便采取适当的步骤，该设备包括读取单元(14、15)，其用于利用辐射束从所述记录载体中读取数据并且用于产生数据信号(RF)；伺服误差检测单元(16)，其用于跟踪记录载体上的数据轨道并且用于产生跟踪误差信号(TE)和聚焦误差信号(FE)；控制单元(19)，其用于利用聚焦控制信号(FA)和径向控制信号(RA)来控制读出光斑在记录载体上的轴向位置和径向位置；以及裂纹检测单元(21)，其用于通过检查聚焦误差信号(FE)和/或跟踪误差信号(TE)是否表现出显著的峰值以及聚焦控制信号(FA)和/或径向控制信号(RA)是否表现出显著的阶跃变化来确定记录载体中是否存在裂纹。
文档编号G11B7/00GK101326575SQ200680045999
公开日2008年12月17日 申请日期2006年11月16日 优先权日2005年12月8日
发明者P·M·R·沃特尔博尔 申请人:皇家飞利浦电子股份有限公司