专利名称：光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法
技术领域：
本发明涉及一种光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法，更具体地涉及这样一种光学信息再现设备及光学信息再现方法，该光学信息再现设备可以在再现光学信息时使用在待再现的再现光束附近的周边光束(peripheral beam)的光学信息而控制跟踪位置。
背景技术：
通常，作为用于存储光学信息的光学数据记录装置，已知压缩光盘(CD)、数字多功能光盘(DVD)、高清晰度DVD(HD-DVD)和蓝光光盘(BD)。
随着近年来信息和计算机业的迅速发展，需要能够满足大存储容量以及高速数据输入和输出能力的下一代存储系统。
满足这种需要而受到重视的系统之一为利用体全息技术原理的光学信息处理系统，即全息光学信息处理系统。
该全息光学信息处理系统是基于如下原理而进行设计的使两个具有不同入射角的光束在对光束敏感的感光介质上的预定位置处相交，以在该感光介质中记录由两个光束的干涉而形成的干涉图案。
即，在作为感光介质的光学信息记录介质上记录这样的干涉图案，该干涉图案是通过使包括数据信息的信号光束与以不同于该信号光束的角度照射的参考光束在该光学信息记录介质上的预定位置处彼此相交而形成的。在再现光学信息时，使用通过仅向记录的干涉图案照射参考光束从该干涉图案生成的衍射图像，而恢复原始数据。
该全息光学信息处理系统通过使用多种复用方法而以三维的方式在光学信息记录介质的同一位置反复记录数据。通过采用这种反复记录处理，可以显著地增加具有有限面积的光学信息记录介质的存储能力，从而实现超大容量的存储系统。
复用方法的示例可以包括角度复用方法、相位编码复用方法、波长复用方法、分形复用方法、移位复用方法、旋转复用(peristrophic multiplexing)方法和多域复用(polytopic multiplexing)方法。
已对该全息光学信息处理系统进行了研究，从而通过适当地使用这些复用方法而增加数据记录密度。例如，该全息光学信息处理系统这样进行操作在记录数据时增加信号光束的密度，并且通过其中形成有通孔的分束器使待再现的再现光束透射而阻挡其他的周边光束。
然而，因为要允许再现光束通过分束器的通孔，所以这种全息光学信息处理系统对诸如设备振动的环境变化敏感。
因此，需要准确的跟踪伺服控制处理。即，需要这样的处理检查是否从期望的轨道准确地检测到再现光束，并且在未正确地定位轨道时通过伺服控制处理而正确地定位轨道。
当没有适当地执行跟踪伺服控制处理时，待再现的再现光束不会通过狭缝并且光束检测器不能获得正确的光学信息图像，从而导致错误率增加。因此，非常需要在再现全息光学信息时能够准确有效地进行跟踪控制处理的技术。
发明内容
为了解决上述问题而作出本发明。本发明一些方面的第一优点在于提供了一种光学信息再现设备，该光学信息再现设备可以在再现光学信息时通过使用周边光束的光学信息进行有效的跟踪伺服控制处理而再现准确的光学信息。
本发明一些方面的第二优点在于提供了一种光学信息再现设备的跟踪伺服控制器，该跟踪伺服控制器可以在再现光学信息时通过使用周边光束的光学信息而检测跟踪伺服控制信息。
本发明一些方面的第三优点在于提供了一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法可以在再现光学信息时通过使用周边光束的光学信息而控制跟踪位置。
根据本发明的一方面，提供了一种光学信息再现设备，该光学信息再现设备包括参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。
根据本发明的另一方面，提供了一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括如下步骤向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。
图1是示意性地示出了根据本发明示例性实施例的光学信息再现设备的构造的视图。
图2是示出了图1所示的分束器的结构的立体图。
图3是示出了根据本发明另一示例性实施例的光学信息再现设备的构造的视图。
图4是示出了在图2所示的再现光束处理器的周边光束检测器中的光束检测处理的视图。
图5是示出了在图4所示的示例中当光学信息记录介质运动了预定距离时从光学检测区检测的图像的示例的视图。
图6是一曲线图，示出了在跟踪操作正常时在光学信息记录介质旋转的情况下从光学检测区A和光学检测区B检测的光束强度分布。
图7是示出了当跟踪位置从正常位置向上运动时由周边光束检测器检测到的图像的示例的视图。
图8是示出了其中光学信息记录介质从图7所示的位置进一步向上运动并且轨道最远离正常位置的情况的视图。
图9是一曲线图，示出了当轨道从正常位置缓慢向上运动时光学检测区A和光学检测区B中的光束强度的变化。
图10是示出了在光学检测区A与光学检测区B之间光束强度的差异变化的曲线图。
图11是示出了用于检测具有四个光学检测区的周边光斑图像的光束强度分布的示例的曲线图。
图12是示出了根据本发明示例性实施例的光学信息再现方法的流程图。
具体实施例方式
下面将参照附图详细地描述根据本发明某些示例性实施例的光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法。
图1是示意性地示出了根据本发明示例性实施例的光学信息再现设备的构造的视图。
将参照图1来描述光学信息再现设备的示例。如该图所示，光学信息再现设备包括参考光束提供单元100、周边光束检测单元200、跟踪伺服单元300和再现光束检测单元400。
其中记录有光学信息的光学信息记录介质1具有盘形状。在光学信息记录介质1中存在多个被复用和记录的光斑(spot)。各光斑是指其中记录有光学信息的记录区。
参考光束提供单元100向再现记录区和在再现记录区周围的周边记录区照射参考光束R。通过向光学信息记录介质1照射参考光束R，从再现记录区再现再现光束Pd，并且从周边记录区再现周边光束Pn。再现光束Pd和周边光束Pn可以具有P偏振。具有P偏振的再现光束Pd和周边光束Pn向周边光束检测单元200传播。
周边光束检测单元200包括偏振分束器240、分束器260、λ/4波片250和周边光束检测器270。周边光束检测单元200还包括第一透镜210、第二透镜220和第三透镜230。
第二透镜220和第三透镜230具有相同的焦距“f”。将第一透镜210和第二透镜220之间的距离设定为“2f”。
从光学信息记录介质1发出的再现光束Pd和周边光束Pn通过第一透镜210向偏振分束器240传播。偏振分束器240使从第一透镜210传播的再现光束Pd和周边光束Pn向第二透镜220透射。
偏振分束器240具有分束面241。分束面241使具有P偏振的光束透射并使具有S偏振的光束反射。因此，从第一透镜210传播的再现光束Pd和周边光束Pn向第二透镜220传播。
分束器260布置在距第二透镜220焦距“f”的位置处。λ/4波片250布置在第二透镜220与分束器260之间。因此，通过第二透镜220的再现光束Pd和周边光束Pn通过λ/4波片250向分束器260传播。此时，再现光束Pd和周边光束Pn聚焦在分束器260所布置的位置处。即，再现光束Pd和周边光束Pn在分束器260的位置处具有最小尺寸。
图2是示出了图1所示的分束器260的结构的立体图。
参照图1和图2，分束器260具有板状本体。在分束器260的中央处形成有仅使再现光束Pd透射的通孔262。
再现光束Pd通过通孔262而穿过分束器260，然后向再现光束检测单元400传播。再现光束检测单元400检测再现光束Pd的光学信息。因此，可以通过使用检测的光学信息而使包含在再现光束Pd中的信息再现。
另一方面，在分束器260的与λ/4波片250相对的表面上形成有具有预定尺寸的反射膜261。反射膜261可以通过在本体表面上涂覆能够反射光束的材料而形成。
反射膜261用于仅使通过第二透镜220向λ/4波片250传播的再现光束Pd和周边光束Pn当中的、再现光束Pd之外的周边光束Pn反射。例如，如图2所示，反射膜261可以使多个再现光束Pd和周边光束Pn当中的、再现光束Pd之外的八个周边光束Pn反射。
通过分束器260仅使再现光束Pd有选择地透射至再现光束检测单元400，而其它的周边光束Pn反射至λ/4波片250。
另一方面，传播至λ/4波片250的周边光束Pn被改变为S偏振光束。即，传播通过λ/4波片250的周边光束Pn被反射并再次传播通过λ/4波片250，从而改变偏振方向。
改变为S偏振光束的周边光束Pn通过第二透镜220而透射至偏振分束器240。此时，由于偏振分束器240的分束面241使P偏振光束透射并使S偏振光束反射，因此改变为S偏振光束的周边光束Pn被反射至第三透镜230。
传播至第三透镜230的周边光束Pn聚焦在周边光束检测器270处，该周边光束检测器270布置在距第三透镜230焦距“f′”的位置处。此时，“f′”是可以根据环境而适当选择的值。“f′”可以等于“f”。
周边光束检测器270检测从第三透镜230传播的周边光束Pn的光学信息。此时，周边光束检测器270可以通过使用划分的光学检测区而检测周边光束Pn的光学信息。可以通过提供作为光束检测元件的光电二极管而实现周边光束检测器270。稍后将详细地描述周边光束检测器270的结构。
跟踪伺服单元300包括跟踪位置确定部310、跟踪位置控制器320和跟踪位置调整部330。
跟踪位置确定部310监视由周边光束检测器270检测到的周边光束Pn的光学信息，并确定当前跟踪状态。跟踪位置确定部310通过使用从周边光束检测器270的划分的光学检测区检测到的周边光束Pn的光束强度而确定跟踪状态。
跟踪位置控制器320基于由跟踪位置确定部310确定的跟踪位置而向跟踪位置调整部330输出控制信号。跟踪位置调整部330用于响应于所述控制信号而调整周边光束检测单元200的位置，即调整跟踪位置。
在通过跟踪伺服单元300控制周边光束检测单元200的位置的状态下，再现光束检测单元400检测已穿过周边光束检测单元200的再现光束Pd。
下面将参照图3来描述光学信息再现设备的另一示例。这里，光学信息再现设备的另一示例具有类似于光学信息再现设备的上述示例的结构。因此，与上述示例相同的元件用相同的附图标记表示，并省略对其的详细描述。
图3是示出了根据本发明另一示例性实施例的光学信息再现设备的构造的视图。
如图3所示，光学信息再现设备包括参考光束提供单元100、周边光束检测单元600、跟踪伺服单元300和再现光束检测单元400。周边光束检测单元600包括分束器630和周边光束检测器670。周边光束检测单元600还包括第一透镜610和第二透镜620。
当通过参考光束提供单元100向光学信息记录介质1入射参考光束R时，发出参考光束Pd和周边光束Pn。
参考光束Pd和周边光束Pn平行地传播通过第一透镜610，并且在穿过第二透镜620时聚焦在分束器630上。包含有待检测的光学信息的再现光束Pd穿过形成在分束器630中央的通孔630a，并传播至再现光束检测单元400。再现光束检测单元400检测再现光束Pd的光学信息。可以通过使用检测的光学信息而再现包含在再现光束Pd中的数据。
周边光束检测器670布置在分束器630的与第二透镜620相对的表面上。可以通过提供作为光束检测元件的光电二极管而实现周边光束检测器670。
周边光束检测器670检测从第二透镜620传播的至少一个周边光束Pn。周边光束检测器670可以通过使用划分的光学检测区而检测周边光束Pn。
下面将描述光学信息再现设备的伺服操作。这里，根据本发明示例性实施例和根据所述另一示例性实施例的光学信息再现设备的跟踪伺服操作彼此相似。因此，将参照本发明示例性实施例来描述跟踪伺服操作。
图4是示出了下面示例的视图，在该示例中，根据本发明示例性实施例的再现光束处理单元200的周边光束检测器270检测光学信息。这里，当跟踪位置处于轨道上时，由周边光束检测器270准确地检测到一个周边光束光斑图像Pn1。
如图4所示，周边光束检测器270具有多个光学检测区，光学检测区的尺寸可以完全检测到入射周边光束的八个光斑图像当中的一个光斑图像Pn1。光学检测区可以划分为光学检测区A和光学检测区B。即，周边光束检测器270可以采用两分区分束器。
在图4所示的示例中，由于跟踪状态良好，因此从光学检测区完全检测到一个周边光束的光斑图像Pn1。因此，分别从光学检测区A和光学检测区B检测到相应的周边光束的光斑图像Pn1的一半。即，当跟踪位置处于轨道上时，从光学检测区A检测的光束强度与从光学检测区B检测的光束强度相等。
图5是示出了在图4所示的示例中，当光学信息记录介质运动了预定距离时从光学检测区检测的图像的视图。
这里，所述运动是指光学信息记录介质1的旋转。由于周边光束的实际光斑图像Pn1和Pn2仍小于光学信息记录介质1的旋转半径，因此在检测光学信息时可以将周边光束的光斑图像Pn1和Pn2视为水平运动。当假设光学信息记录介质1沿逆时针方向旋转时，可以认为周边光束的光斑图像Pn1和Pn2向左运动。因此，图5上侧所示的箭头表示光学信息记录介质1的运动方向。
参照图5，光学信息记录介质1稍微旋转，两个周边光束的两个光斑图像Pn1和Pn2的一半包括在光学检测区中。因此，由于两个光斑图像之间的距离，从光学检测区检测到的光束强度小于图4中检测到的光束强度。
然而，从光学检测区A检测到的光束强度等于从光学检测区B检测到的光束强度。即，当跟踪位置处于轨道上时，从光学检测区A检测到的光束强度等于从光学检测区B检测到的光束强度，而不论光学信息记录介质1是否旋转。
图6是一曲线图，示出了在跟踪位置正常时随着光学信息记录介质的旋转从光学检测区A检测到的光束强度和光学检测区B检测到的光束强度。在图6所示的曲线图中，Y轴表示光束强度，而X轴表示时间。
如图6所示，当跟踪位置处于轨道上时，从光学检测区A检测到的光束强度与从光学检测区B检测到的光束强度反复增加和减少。即，如图4所示，当周边光束的光斑图像Pn1完全包括在光学检测区中时，光束强度最大，并且如图5所示，当两个周边光束的光斑图像Pn1和Pn2的一半包括在光学检测区中时，光束强度最小。
然而，从图6的曲线图可以看出，当跟踪位置处于轨道上时，从光学检测区A检测到的光束强度总是等于从光学检测区B检测到的光束强度，而不论光学信息记录介质1是否旋转。
图7是示出了当跟踪位置从正常位置向上运动时由周边光束检测器检测到的图像的示例的视图。
参照图7，可以看出，跟踪位置从正常位置向上运动，并且从光学检测区A检测到的光束强度大于从光学检测区B检测到的光束强度。这是因为从光学检测区A检测到光斑图像Pn1的中央部分，而从光学检测区B检测到光斑图像Pn1的一部分和较下轨道上的再现图像Pd3的一部分。
因此，当从光学检测区A检测到的光束强度大于从光学检测区B检测到的光束强度时，控制跟踪伺服控制器500使周边光束检测单元200运动以使跟踪位置向下运动。
以相同的构思，当从光学检测区B检测到的光束强度大于从光学检测区A检测到的光束强度时，跟踪位置从正常位置向下运动。在这种情况下，周边光束检测单元200调整为使跟踪位置向上运动。
图8是示出了其中跟踪位置从图7所示的位置进一步向上运动并且跟踪位置离正常位置最远的示例的视图。
参照图8，可以看出，待检测的跟踪位置从图7所示的位置进一步向上运动，并且从光学检测区A检测到的光束强度等于从光学检测区B检测到的光束强度。
在这种情况下，由于从光学检测区A检测到的光束强度等于从光学检测区B检测到的光束强度，因此与图4所示的情况相似。但是，即使当从光学检测区A检测到的光束强度等于从光学检测区B检测到的光束强度时，也可以通过监视之前和之后的跟踪位置而区分跟踪位置正常的情况与离跟踪位置最远的情况。
图9是一曲线图，示出了当跟踪位置从正常位置缓慢向上运动时光学检测区A和光学检测区B的光束强度的变化。在图9所示的曲线图中，Y轴表示光束强度，而X轴表示时间。
参照图9，在点“a”处，光学检测区A的光束强度等于光学检测区B的光束强度，这意味着跟踪位置正常。但是，在点“a”之后，光学检测区A的光束强度大于光学检测区B的光束强度。即，这意味着跟踪位置向上运动。
另一方面，在跟踪位置向上运动的情况下，在点“b”处，光学检测区A的光束强度再次等于光学检测区B的光束强度。在图8中示出了该情况。即，这意味着跟踪位置向上离开最远的情况。
可以通过监视之前和之后的光束强度分布而将点“a”和点“b”彼此区分开。即，在点“b”之前，光学检测区A的光束强度大于光学检测区B的光束强度，而在点“b”之后，光学检测区A的光束强度小于光学检测区B的光束强度。因此，在这样的点处，即光束强度在该点处彼此相等，并且该点位于光学检测区A的光束强度大于光学检测区B的光束强度的点与光学检测区A的光束强度小于光学检测区B的光束强度的点之间，可以确定跟踪位置如图8所示向上运动。结果，可以通过跟踪伺服单元500向下调整跟踪位置。
图10是示出了在光学检测区A的光束强度与光学检测区B之间光束强度之间的差异变化的曲线图，示出了在图9所示的光束强度变化的情况下，光学检测区A与光学检测区B之间的差异。
参照图10，在点“a”处，由于光学检测区A的光束强度等于光学检测区B的光束强度，因此光束强度的差异为“0”。即，这意味着跟踪位置正常的情况。
之后，在跟踪位置向上运动的情况下，光学检测区A与光学检测区B之间的光束强度的差异增加而后减少，并在点“b”处变为零。但是，由于点“b”是这样的点，即如上所述，在该点处在光束强度彼此相等，而在该点之前和之后光束强度的差异减少，因此考虑到之前和之后的状态，该点意味着这样的状态跟踪位置如图8所示向上运动。因此，应向下调整跟踪位置。
以这种方式，可以通过监视光学检测区A和光学检测区B的光束强度分布而确定当前跟踪状态，并因此通过控制跟踪伺服单元300而调整跟踪状态。可以通过跟踪位置确定部310、跟踪位置控制器320和跟踪位置调整部330来执行所述确定和控制操作。
另一方面，在图4至图8中已显示出周边光束检测器270包括一个两分区分束器，该分束器具有光学检测区A和光学检测区B。但是，根据情况，周边光束检测器270可以包括多个两分区光束检测器或者具有三个或更多个光学检测区的光束检测器。
图11是示出了利用四个光学检测区检测周边光束的光斑图像的光束强度分布的示例的曲线图。
参照图11，该光束检测器具有四个光学检测区光学检测区A、光学检测区B、光学检测区C和光学检测区D。即，周边光束检测器270包括两个两分区光束检测器。
在这种情况下，也可以基于光学检测区A与光学检测区B之间的光束强度差异以及光学检测区C与光学检测区D之间的光束强度差异来确定跟踪位置。例如，可以通过对光学检测区A与光学检测区B之间的光束强度差异以及光学检测区C与光学检测区D之间的光束强度差异求平均，而确定跟踪状态。
通过采用这种光学检测结构，可以确定光学信息记录介质1的轨道的起始或末尾。
即，当光学检测区A和光学检测区B的光束强度总和与光学检测区C与光学检测区D的光束强度总和之间几乎没有差异时，可以确定当前轨道为光学信息记录介质1的起始轨道和末尾轨道之外的中间轨道。这是因为中间轨道表现出相对恒定的光束强度。
另一方面，在光学检测区A和光学检测区B的光束强度总和与光学检测区C与光学检测区D的光束强度总和之间的差异较大并持续了恒定时间时，可以确定当前轨道为光学信息记录介质1的起始轨道或末尾轨道。这是因为从紧靠起始轨道之前或末尾轨道之后的轨道检测不到光学信息。
因此，通过采用多个两分区光束检测器，可以检测到起始轨道和末尾轨道以及精确地确定跟踪状态。
图12是示出了根据本发明示例性实施例的光学信息再现方法的流程图。可以通过上述光学信息再现设备来执行图12中所示的光学信息再现方法。
参照图12，首先，应该获取周边光束Pn的光学信息以获得当前跟踪信息。因此，参考光束提供单元100向光学信息记录介质1的再现记录区和周边记录区输入参考光束R(步骤S10)。
此时，响应于参考光束R，从再现记录区再现再现光束Pd，并且从周边记录区再现周边光束Pn。
此时，可以通过使用周边光束检测单元200的划分的光学检测区来检测周边光束Pn的光学信息。例如，如上所述，从两个光学检测区检测到一个周边光束Pn的光学信息。可以分别从两个光学检测区检测两个周边光束Pn的光学信息。在这种情况下，可以识别起始轨道和末尾轨道。这里，两个周边光束Pn是指从当前轨道之前和之后的轨道中的光斑再现的光束(步骤S20)。
对检测到的周边光束Pn的光学信息进行分析，确定当前跟踪状态，并且判断是否需要跟踪伺服控制。这里，当判断出需要跟踪伺服控制时，基于当前跟踪位置来调整跟踪位置，并且当判断出不需要跟踪伺服控制时，保持当前跟踪状态。
例如，当两个光学检测区之间的光束强度没有差异时，保持当前跟踪状态，并且当在二者之间的光束强度有差异时，基于当前跟踪位置进行跟踪伺服控制。即，进行跟踪调整。
例如，当跟踪位置从正常位置向上运动时，跟踪位置在跟踪伺服控制下发生移位，并且当跟踪位置从正常位置向下运动时，跟踪位置在跟踪伺服控制下向下移位。
以这种方式，通过调整跟踪位置、检测在正常跟踪状态下再现的再现光束的光学信息以及恢复包含在再现光束中的数据，可以获取所需记录区的光学信息(步骤S40)。
根据上述本发明，可以通过在再现光学信息时使用周边光束而确定当前跟踪状态，并且通过使用确定结果而进行跟踪伺服控制。因此，可以通过简单的结构有效地进行跟踪伺服控制，并通过跟踪伺服控制来减少比特差错率从而增加了再现数据的可靠性。
权利要求
1.一种光学信息再现设备，该光学信息再现设备包括参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测穿过所述周边光束检测单元的再现光束。
2.根据权利要求1所述的光学信息再现设备，其中，所述周边光束检测单元包括分束器，该分束器使所述周边光束与所述再现光束相分离；和周边光束检测器，该周边光束检测器检测由所述分束器分离出的所述周边光束。
3.根据权利要求2所述的光学信息再现设备，其中，所述周边光束检测单元还包括偏振分束器，该偏振分束器布置在所述光学信息记录介质与所述分束器之间；和波片，该波片布置在所述偏振分束器与所述分束器之间。
4.根据权利要求3所述的光学信息再现设备，其中，在所述分束器中形成有将所述周边光束反射至所述偏振分束器的反射膜、和使所述再现光束透射的通孔，并且其中，所述周边光束检测器布置在由所述偏振分束器反射的光束的光路中。
5.根据权利要求2所述的光学信息再现设备，其中，在所述分束器中形成有使所述再现光束透射的通孔，并且其中，所述周边光束检测器布置在所述分束器的所述周边光束入射侧。
6.根据权利要求1所述的光学信息再现设备，其中，所述跟踪伺服单元包括跟踪位置确定部，该跟踪位置确定部对检测到的周边光束的光学信息进行分析以确定跟踪状态；跟踪位置控制器，该跟踪位置控制器基于所述跟踪位置确定部的跟踪状态确定结果而输出用于调整跟踪位置的控制信号；和跟踪位置调整部，该跟踪位置调整部响应于从所述跟踪位置控制器输出的控制信号而调整跟踪位置。
7.根据权利要求1所述的光学信息再现设备，其中，所述周边光束检测单元具有用于检测所述周边光束的划分的光学检测区，并且其中，所述跟踪伺服单元通过对从所述划分的光学检测区检测到的光束强度进行比较而确定跟踪位置。
8.根据权利要求1所述的光学信息再现设备，其中，所述周边光束检测单元包括用于检测多个周边光束的多个光学检测区，并且其中，所述跟踪伺服单元对从所述光学检测区检测到的光束强度进行比较，以检测所述光学信息记录介质的起始轨道和末尾。
9.根据权利要求8所述的光学信息再现设备，其中，各光学检测区具有划分的光学检测区，并且光束强度是从所述划分的光学检测区检测到的光束强度的总和。
10.一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括如下步骤向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及检测从所述再现记录区再现的再现光束。
11.根据权利要求10所述光学信息再现方法，其中，检测周边光束的所述步骤包括从划分的光学检测区检测周边光束的步骤。
12.根据权利要求11所述光学信息再现方法，其中，控制跟踪位置的所述步骤包括分析从所述划分的光学检测区检测到的光束强度差异以确定跟踪状态的步骤。
13.根据权利要求12所述光学信息再现方法，其中，当从所述划分的光学检测区检测到的光束强度几乎没有差异时，判断出跟踪状态正常，而当光束强度差异较大时，判断出跟踪状态不正常。
14.根据权利要求12所述光学信息再现方法，其中，当从所述划分的光学检测区检测到的光束强度差异较大时，调整所述跟踪位置以减少光束强度差异。
15.根据权利要求10所述光学信息再现方法，其中，检测周边光束的所述步骤包括如下步骤从多个光学检测区检测多个周边光束，并且对检测到的周边光束的光束强度进行比较以检测所述光学信息记录介质的起始轨道和末尾轨道中的至少一个。
16.根据权利要求15所述光学信息再现方法，其中，各光学检测区具有划分的光学检测区，并且相应的光束强度是从所述划分的光学检测区检测到的光束强度的总和，并且其中，当所述多个光学检测区之间的光束强度差异较大时，跟踪位置在所述光学信息记录介质的起始轨道和末尾轨道中的一个上。
全文摘要
本发明提供了一种光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法。该光学信息再现设备包括参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。因此，可以使用周边光束而判断当前跟踪状态，并且在再现光学信息时使用该判断的结果而进行跟踪伺服控制处理。
文档编号G11B7/0065GK101051212SQ200710089190
公开日2007年10月10日 申请日期2007年3月21日 优先权日2006年4月6日
发明者金学善, 尹弼相, 黄义石 申请人:大宇电子株式会社