光学头装置、光信息处理装置以及信号检测方法

专利名称：光学头装置、光信息处理装置以及信号检测方法
技术领域：
本发明涉及对在光盘、光卡等光介质上存储的信息进行记录、再生、删除的光学头 装置、光信息处理装置以及聚焦误差信号检测方法。
背景技术：
一直以来，为了记录高清晰的动画及信息，而需要增大1张光信息记录介质中能 够记录的容量。因此，考虑在光信息记录介质上设置多个记录层。例如，作为再生专用的介质，具有DVD-ROM、DVD-Video等专用光信息记录介质， 单面2层记录的介质已商品化。另外，作为记录用的介质，DVD-R DL(Dual Layer)、DVD+R DL(Double Layer)等单面2层记录的光信息记录介质已被商品化。而且，作为下一代光信 息记录介质，出现了 Blu-Ray Disc、HD-DVD等单面2层的再生用、记录用光信息记录介质。另外，考虑到单面4层、8层的再生用、记录用光信息记录介质，多层光记录介质的 记录再生技术是重要的。为了再生记录这样的光信息记录介质，例如，提出了专利文献1所 公开的技术。另一方面，广泛普及的⑶的记录再生也是重要的。在⑶的记录·再生用光源中 采用波长780nm 820nm段的近红外半导体激光器。与此相对，在DVD的记录·再生用光 源中，为了提高记录密度，而采用更短波长的635nm 680nm段的红色半导体激光器。开发 出如下这样的光学头装置，即光盘驱动器优选能够对这些规格不同的2种盘进行记录·再 生(例如，专利文献2)。当前，考虑如图14所示的光学头装置。以下，示出该现有光拾取器装置的动作原 理。图14是针对采用了衍射光栅(全息图)的一般光拾取器装置示出其光学原理结构的 图。在图14所示的光拾取器装置中，半导体激光器1030射出记录·再生用的激光光 线，准直透镜(collimate lens) 1011将该激光光线变为平行光束。衍射光栅1024使作为 平行光束的激光衍射成1个主光束和2个副光束。但是，在图14中，没有分别示出主光束 以及副光束，而仅示出这些光的路径。这3个光束在透过偏振光分束器(beam splitter) 1015之后由反射镜1019使其 朝向光盘1010的方向，并由1/4波长板(wavelength plate) 1016将直线偏振光变换为圆 偏振光。而且，3个光束由物镜1012合焦在光盘1010上。被光盘1010反射出的激光再次 经由物镜1012、1/4波长板1016、反射镜1019后由偏振光分束器1015向光检测器1040的 方向反射。反射光由检测透镜1013进行聚焦，还由全息图元件1020进行衍射，然后到达光 检测器1040。此外，在图14中，将光盘1010的径向方向表示为χ方向，将磁道方向表示为y方 向，将与这2个方向垂直的方向表示为ζ方向。全息图元件1020如图15所示是圆板状的，1个分割线B12通过其中央。分割线 B12的方向被设定为与从光盘1010反射来的光束的光束图案中的光盘1010的磁道方向(y方向)近似平行。另外，在分割线B12的两侧(在图15中为左右)分别形成具有圆弧状的 光栅的2种衍射区域1269A以及1269B。因此，3个光束(1个主光束和2个副光束)分别跨越上述分割线B12进行入射，结 果，至少形成12个士 1次衍射光。接受这些士 1次衍射光的上述光检测器1040具有如图16所示的受光面。此例示 出在聚焦检测中使用光点尺寸法(SSD法)、在跟踪检测中使用相位差法(DPD法)以及差动 推挽法(DPP法)的情况。即，该受光面具有将中心线作为对称轴而分成左右各2个且以3段进行排列的12 个光检测区域S14 S25，该各个光检测区域被配置为与上述12个士 1次衍射光到达的位
置对应。中段的4个光检测区域S18 S21与主光束SPl的点对应，并进行聚焦检测和DPD 检测。上段以及下段的光检测区域S14 S17以及S22 S25分别与2个副光束SP2、 SP3的光点对应，并用于进行DPP检测。另外，中段的各光检测区域S18 S21都在水平方向上被分割为4个，来分别形成 4个单元。因此，在整个受光面上存在24个分割区域。此外，还分别设定全息图元件1020的间距以及图案，以使通过全息图元件1020中 的一个衍射区域1269A的光入射至4列某光检测区域中的外侧的2列光检测区域S14、S18 及S22、和S17、S21及S25，另外，使通过另一个衍射区域1269B的光入射至内侧的2列光检 测区域 S15、S19 及 S23、和 S16、S20 及 S24。在此例中，伺服误差信号的聚焦误差信号利用SSD法FE(SSD)来检测，另外，跟踪 误差信号利用DPD法TE (DPD)和DPP法TE (DPP)(主推挽TE (MPP)和副推挽TE (SPP)的运 算)来检测，并通过以下运算来生成。FE(SSD) = (B+C+F+G)-(A+D+E+H)TE (DPD) = phase (A+B, E+F) +phase (C+D, G+H)TE(MPP) = (A+B+C+D) - (E+F+G+H)TE(SPP) = I-JTE (DPP) = TE (MPP) -Gain (TE (SPP))这里，phase ()表示相位比较，GainO表示某系数。另外，A、B、C、D、Ε、F、G、H、I、 J是由图16所示的受光面而获得的光信号的强度。这些强度采用图16所示的各光检测区 域的记号进行如下地表示。即，A = A1+A2，B = B1+B2，C = C1+C2，D = D1+D2，E = E1+E2, F = F1+F2, G = G1+G2, H = H1+H2, I = 11+12+13+14，J = J1+J2+J3+J4。接着，图17示出对规格不同的2种盘即⑶以及DVD进行记录·再生的现有光学 头装置。图17的光学头装置是从光盘1010中读取信息的光学头装置。该装置具有射出 第1波长λ 1的光的作为第1光源的半导体激光器1301、和射出第2波长λ 2的光的作为 第2光源的半导体激光器1302。在半导体激光器1301中作为DVD用，使用振荡波长635 680nm段的红色半导体激光器，在半导体激光器1302中作为CD用，使用波长780nm 820nm 段的近红外半导体激光器，对应于光盘1010的种类，使半导体激光器1030或半导体激光器1302的任意一个发光。从半导体激光器1301射出的光线Ll以及从半导体激光器1302射出的光线L2，由 配置在半导体激光器1301以及半导体激光器1302的射出前方的反射镜1019来进行反射， 以便入射至光盘1010。在反射镜1019与光盘1010之间配置有聚焦机构(未图示)，光线 Ll以及光线L2由该聚焦机构而向光盘1010的信息记录面聚焦。经由光盘1010反射的光 线Ll以及光线L2由在聚焦机构和反射镜1019之间配置的全息图元件1020进行衍射，并 由光检测器(1401、1402、1403、1404、1405、以及1406)进行检测。全息图元件1020由衍射区域1261以及衍射区域1262这两个区域构成，并如以下 这样使入射光衍射。
S卩，在DVD再生的情况下，所入射的光线Ll以衍射区域1261和衍射区域1262的 边界线为界被分割为二，产生+1次光以及-1次光。所产生的+1次光入射至光检测器1401 以及光检测器1402，-1次光入射至光检测器1403以及光检测器1404。基于由这些光检测 器1401、1402、1403、以及1404所检测出的信号，进行DVD再生时的聚焦误差信号(点尺寸 检测(SSD)法)/跟踪误差信号(相位差检测(DPD)法)以及再生信号的检测。另一方面，在⑶再生的情况下，所入射的光线L2以衍射区域1261和衍射区域 1262的边界线为界被分割为二，产生+1次光和-1次光。所产生的+1次光入射至光检测器 1401以及光检测器1402，-1次光入射至光检测器1405以及光检测器1406。基于由这些光 检测器1401、1402、1405、以及1406所检测出的信号，进行⑶再生时的聚焦误差信号(SSD 法)/跟踪误差信号(3光线法/推挽(PP)法)以及再生信号的检测。专利文献1 日本特开2001-229573号公报专利文献2 日本特开2001-176119号公报但是，针对如图14所示的现有光拾取器装置即采用了一般衍射光栅(全息图元 件)的光拾取器装置，在采用具有2层记录层的光信息记录介质的情况下产生以下问题。2层光信息记录介质在介质的厚度方向上具有2层记录层。另外，接近光拾取器装 置一侧的第1记录层是半透明记录层，光拾取器装置可通过在第1记录层和第2记录层上 改变聚焦，来对两层进行记录或再生。当在现有光拾取器装置中使用这样的2层光信息记录介质时，在检测跟踪信号时 产生问题。具体地说，跟踪用的副推挽信号发生错乱。其原因是，来自未合焦侧的记录层的 反射光作为散焦光而覆盖于光检测器1040的检测区域。图18以及图20示出这样的状况。图20示出在2层光信息记录介质中的、远离光 拾取器装置的第1信息记录层1801上合焦时的状况。在光检测器1040上的检测区域中， 除了已合焦的来自第1信息记录层1801的聚焦光束之外，还入射未合焦的来自另一方即离 焦(off focus)层(第2信息记录层1802)的散焦光。散焦光在跨越第2信息记录层1802 的记录区域1802a和未记录区域1802b的边界而通过时，由于光量不平衡而给跟踪误差信 号带来显著地影响。此时，3个光束中光量大于副光束的主光束的散焦光为主要原因。图18示出入射主光束的散焦光来覆盖各光检测区域的状况。主光束的散焦光从 生成TE(MPP)的光检测区域S18、S19、S20、以及S21露出，入射到生成TE(SPP)的光检测区 域 S14、S15、S16、S17、S22、S23、S24、以及 S25。通常，生成TE(SPP)信号的光检测区域的增益被设定为大于生成TE(MPP)的光检测区域的增益。因此，散焦光给TE(SPP)带来较强的影响。图19示出散焦光跨越第2信息记录层1802的记录区域1802a和未记录区域1802b 而通过时的TE(SPP)信号。其中，示出没有AC信号的情况。
这样，在跨越记录区域和未记录区域而通过时，TE(SPP)信号不稳，无法生成稳定 的跟踪误差信号。此情况为问题之一。另外，与以上相反，在第2信息记录层1802上合焦 的情况下，由来自第1信息记录层1801的反射光产生同样的问题。而且，在DVD再生中，为了同时检测DPD信号和FE信号，而需要至少由A H这8 个检测区域来受光。因此，针对各个检测区域需要放大器电路，从而由放大器噪音增加而导 致的再生信号劣化、由电路偏移(circuit offset)而导致的伺服信号劣化等成为问题。另 夕卜，还具有所使用集成电路的电路规模也变大、成本变高这样的问题。由此，解决这些问题 点成为课题。另外，在如图17所示的现有光学头装置的情况下，半导体激光器1301和半导体激 光器1302具有发光点间隔d。因此，当对半导体激光器1301进行全息图元件的中心设定时，半导体激光器1302 从全息图元件1020的中心偏移。结果，半导体激光器1302中基于推挽法的跟踪误差信号 产生不平衡，从而无法获得稳定的跟踪误差信号。同样，当在全息图元件的中心保持半导体激光器1302时，半导体激光器1301从全 息图中心偏移。因此半导体激光器1030中基于DPD法的跟踪误差信号产生不平衡，从而无 法获得稳定的跟踪误差信号。而且，不可能生成为了记录光盘所需的基于差动推挽(DPP)法等的跟踪误差信号。以上，在记录·再生装置中产生无法与稳定的跟踪误差信号的检测相对应这样的 问题。这点也是应该解决的课题。

发明内容
鉴于以上课题，以下说明如下这样的低成本光学头装置，该光学头装置能够与至 少2层光信息记录介质对应，并实现更正确且更稳定的记录再生，能够检测聚焦/跟踪误差 信号。本公开的第1光学头装置具备光源，其射出光束；聚焦光学系统，其使光束会聚 到信息记录介质上；全息图元件，其使由信息记录介质反射的光束衍射；和受光元件，其具 有接受由全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域；全息图元件具有由在信息记录介质 的径向方向上延伸的直线来划分的2个衍射区域，2个衍射区域中的至少一个区域的图案 是对衍射光赋予径向方向的彗差的图案。此外，优选受光元件所具有的多个检测区域中的至少一对检测区域，夹着在径向 方向上延伸的分割线相对地配置，已赋予彗差的衍射光入射到分割线上，基于在一对检测 区域中检测出的信号来获得聚焦误差信号。根据第1光学头装置，全息图元件的衍射区域由在信息记录介质的径向方向上延 伸的直线来划分，并由多个受光区域来检测各个衍射光。因此，针对径向方向，即使入射至 受光元件的光具有变动也能够抵消。由此，在采用具有多个信息记录层的信息记录介质的情况下，针对来自未合焦的信息记录层的散焦光，即使通过上述信息记录层的记录区域与未记录区域的边界后强度发生变化，也能够不受到其影响，稳定地获得聚焦误差信号。接着，本公开的第2光学头装置具备光源，其射出光束；聚焦光学系统，其使光束 会聚到信息记录介质上；全息图元件，其使由信息记录介质反射的光束衍射；和受光元件， 其具有接受由全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域；受光元件所具有的多个检测区 域包含第1光检测区域以及第2光检测区域，夹着在信息记录介质的径向方向上延伸的第 1分割线相对地配置；和第3光检测区域以及第4光检测区域，夹着在径向方向上延伸的第 2分割线相对地配置；全息图元件具有由在径向方向上延伸的直线来划分的第1衍射区域 以及第2衍射区域，第1衍射区域的图案产生具有径向方向的彗差且会聚于第1分割线上 的衍射光，第2衍射区域的图案产生具有径向方向的彗差且会聚于第2分割线上的衍射光， 基于第1检测区域中的信号与第2检测区域中的信号之间的差信号、以及第3检测区域中 的信号与第4检测区域中的信号之间的差信号，来获得聚焦误差信号。在第2光学头装置中，全息图元件的衍射区域也由在信息记录介质的径向方向上 延伸的直线来划分为两个。另外，关于受光元件的检测区域也夹着在径向方向上延伸的分 割线相对地配置。由此，与第1光学头装置相同，在采用具有多个信息记录层的信息记录介 质时，也能够稳定地获得聚焦误差信号。接着，本公开的第3光学头装置具备光源，其射出光束；衍射光栅，其由光束生成 1个主光束以及2个副光束；聚焦光学系统，其使主光束以及副光束分别会聚到信息记录介 质上；全息图元件，其使由信息记录介质反射的主光束以及副光束衍射；和受光元件，其具 有接受由全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域；全息图元件具有由在信息记录介质 的径向方向上延伸的直线划分为2个的衍射区域，2个衍射区域的至少一个区域的图案是 对衍射光赋予径向方向的彗差的图案。此外，优选受光元件所具有的多个检测区域包含第1对检测区域，夹着在径向方 向上延伸的第1分割线相对地配置；和第2对检测区域，夹着在径向方向上延伸的第2分割 线相对地配置；主光束的已赋予彗差的衍射光入射到第1对检测区域的第1分割线上，基于 在第1对检测区域中检测出的信号来获得聚焦误差信号，副光束的已赋予彗差的衍射光入 射到第2对检测区域的第2分割线上，基于在第2对检测区域中检测出的信号来获得跟踪 误差信号。在第3光学头装置中，全息图元件的衍射区域也由在信息记录介质的径向方向上 延伸的直线来划分为2个。另外，关于受光元件的检测区域也夹着在径向方向上延伸的分 割线相对地配置。由此，与第1光学头装置同样，在采用具有多个信息记录层的信息记录介 质时，也能够稳定地获得聚焦误差信号。而且，能够从光源中生成1个主光束以及2个副光 束，并分别用于获得聚焦误差信号以及跟踪误差信号。另外，在第1 第3光学头装置中优选，相对光源的发光点，具有其它发光点，上述 其它发光点在径向方向上排列并且射出与发光点不同波长的光束。这样，成为可采用多个波长的光束的光学头装置，并能够与为了⑶和DVD等的记 录 再生而需要互不相同波长的光的多种信息记录介质对应。这里，相对发光点，其它发光 点在径向方向上排列，因此即使在发光点与其它发光点之间留取一定的距离，也不影响采 用某一波长的光时的聚焦误差信号等的检测。
接着，本公开的光信息处理装置是通过对信息记录介质照射光来进行信息的记录 以及再生的光信息处理装置，其具有本发明所涉及的某个光学头装置。根据本公开的光信息处理装置，即使在采用多层信息记录介质的情况下也能够稳 定地进行聚焦误差信号等的检测，因此能够进行更稳定的记录·再生接着，关于本公开的第1聚焦误差信号检测方法，光学头装置具有光源，其射出光束；聚焦光学系统，其使光束会聚到信息记录介质上；全息图元 件，其使由信息记录介质反射的光束衍射；和受光元件，其具有接受由全息图元件衍射后的 衍射光的多个检测区域；在该光学头装置中，全息图元件具有由在信息记录介质的径向方 向上延伸的直线来划分的2个衍射区域，2个衍射区域中的至少一个区域的图案是对衍射 光赋予径向方向的彗差的图案，受光元件所具有的多个检测区域中的至少一对检测区域， 夹着在径向方向上延伸的分割线相对地配置，已赋予彗差的衍射光入射到分割线上，基于 在一对检测区域中检测出的信号来获得聚焦误差信号。接着，关于本公开的第2聚焦误差信号检测方法，光学头装置具有光源，其射出 光束；聚焦光学系统，其使光束会聚到信息记录介质上；全息图元件，其使由信息记录介质 反射的光束衍射；和受光元件，其具有接受由全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域； 在该光学头装置中，受光元件所具有的多个检测区域包含第1光检测区域以及第2光检测 区域，夹着在信息记录介质的径向方向上延伸的第1分割线相对地配置；和第3光检测区域 以及第4光检测区域，夹着在径向方向上延伸的第2分割线相对地配置；全息图元件具有由 在径向方向上延伸的直线来划分的第1衍射区域以及第2衍射区域，第1衍射区域的图案 产生具有径向方向的彗差且会聚于第1分割线上的衍射光，第2衍射区域的图案产生具有 径向方向的彗差且会聚于第2分割线上的衍射光，基于第1检测区域中的信号与第2检测 区域中的信号之间的差信号、以及第3检测区域中的信号与第4检测区域中的信号之间的 差信号来获得聚焦误差信号。根据本公开的聚焦误差信号检测方法，利用由在径向方向上延伸的直线来划分为 两个的衍射区域，使来自信息记录介质的反射光衍射。各个衍射区域的衍射光分别对由径 向方向的分割线划分出的衍射区域入射。由此，与针对本公开的光学头装置所说明的相同， 能够在使用多层信息记录介质时也稳定地检测聚焦误差信号。(发明的效果)根据本发明的光学头装置，可与具有多个信息记录层的信息记录介质相对应，并 且能够检测可更正确且更稳定地进行记录 再生的、稳定的跟踪误差信号。另外，在与2个 波长对应着具有2个光源的光学头装置中，无论在采用哪个光源的情况下都能够稳定地检 测跟踪误差信号，即使针对所使用的光的波长各不相同的各种信息记录介质也能够稳定地 进行记录·再生。


图1是示出第1实施方式所例示的光学头装置的要部结构的图。图2是示出第1实施方式所例示的全息图元件的俯视图。图3是示出第1实施方式所例示的光检测器的俯视图。图4(a) (e)是示出第1实施方式所例示的光检测器上的点图表的图。
图5是示出第1实施方式所例示的聚焦误差信号的图。图6是是示出具有2层信息记录层的光信息记录介质和由该光信息记录介质反射 的光的图。图7是示出第1实施方式所例示的光检测器上的杂散光的图。
图8是示出第1实施方式所例示的副推挽信号的变动的图。图9是示出第2实施方式所例示的光学头装置的要部结构的图。图10是示出第2实施方式所例示的全息图元件的俯视图。图11是示出第2实施方式所例示的光检测器的俯视图。图12是示出第2实施方式所例示的光学头装置的要部结构的图。图13是示出第3实施方式所例示的光检测器的俯视图。图14是示出作为背景技术的光学头装置的结构的图。图15是示出作为背景技术的全息图元件的俯视图。图16是示出作为背景技术的光检测器的俯视图。图17是示出作为背景技术的光学头装置的结构的图。图18是示出作为背景技术的全息图元件的俯视图。图19是示出作为背景技术的光学头装置中的副推挽信号的变动的图。图20是示出具有2层信息记录层的光信息记录介质和由该光信息记录介质反射 的光的图。符号说明LO 光线Ll 光线Pl发光点L2 光线P2发光点L3 光线P3发光点10 光盘11准直透镜12 物镜19反射镜20全息图元件24衍射光栅30半导体激光器30a半导体激光器40光检测器45a光检测区域260 直线261，261 衍射区域301半导体激光器
401光检测器451光检测区域组451a光检测区域451b光检测区域452光检测区域组452a光检测区域452b光检测区域453光检测区域组453a光检测区域453b光检测区域454光检测区域组454a光检测区域454b光检测区域461第1分割线462第2分割线463第3分割线464第4分割线500+1次光检测用区域501-1次光检测用区域601a,602a,601b,602b,601c 点601a，，602a，，601b，，602b，，601c，点741保持机构801信息记录层802信息记录层802a记录区域802b未记录区域
具体实施例方式以下，参照附图对用于实施本公开的例子进行详细说明。(第1实施方式)图1是示意性示出本公开第1实施方式中所例示的光学头装置结构的图。在该光学头装置中，具有发光点PO的半导体激光器30和光检测器40被固定在保 持机构741上。另外，还设置了具有衍射光栅24、和衍射区域261以及262的全息图元件 20，该全息图元件20相对保持机构741利用其它保持机构(省略图示)来固定在规定位置 关系上。这里，其它保持机构可以是光学头装置的光学台。不过，也可以采用与光学台不同 的保持部件来构成使全息图元件20、半导体激光器30、以及光检测器40 —体化的单元。当 采用这样的单元时，可进一步稳定地构成光学系统。另外，光学头 装置具有准直透镜11以及物镜12，并构成使半导体激光器30射出的激光(光线LO)聚焦到作为信息记录介质的光盘10上的聚焦光学系统。而且，光学头装置 具备使物镜在物镜的光轴方向(Z方向)以及光盘10的径 向方向(X方向)上驱动变位的 透镜驱动机构(省略图示)。以下，只要没有特别指出，就如图1中所示，将聚焦光学系统的光轴方向设为Z方 向，将光盘10的径方向(径向方向)设为X方向，将光盘10的磁道方向(切线方向)设为 Y方向。此外，在光学头装置的光学系统中，即使在采用反射镜、棱镜等来弯折光轴的情况 下，也以光轴以及光盘10的映射为基准来定义方向。接着，对在例示的光学头装置中半导体激光器30射出的激光进行说明。从半导体 激光器30射出的光线LO利用全息图元件20所具备的衍射光栅24以期望的比率进行衍射， 并分离成作为0次光的主光束(LOa)和作为士 1次光的LOb以及LOc (省略个别图示)。这 些光束在透过全息图元件20的衍射区域261以及262之后，由准直透镜11以及物镜12聚 焦到光盘10的信息记录面上。而且，被光盘10反射的反射光还由物镜12以及准直透镜11 变换为会聚于半导体激光器30的发光点PO的光。这样变换后的光入射至全息图元件20， 由衍射区域261以及262进行衍射。被衍射后的光入射至光检测器40，作为信号进行检测。 这里，对衍射光栅24设定大小和位置，以使衍射区域261以及262的衍射光入射后不再受 到衍射。接着，对全息图元件20所具备的衍射区域261以及262和光检测器40进行详细 说明。图2示出全息图元件20所具备的衍射区域261以及262，图3示出光检测器40的结 构。另外，图2以及图3所示的X轴、Y轴、以及Z轴都与图1所示的3轴相同。如图2所示，全息图元件20具有由通过光线LO的大致中心(聚焦光学系统的光 轴)的位置且与X轴平行的直线260来划分为两个区域的衍射区域261以及衍射区域262。 这些光栅图案如前所述使从半导体激光器30射出的光直接透过，并且使从光盘10反射回 的折返光向光检测器40衍射。而且，衍射区域261以及衍射区域262还具有互不相同的光 栅图案，衍射区域261以及262产生的衍射光分别针对光检测器40相对地入射至X方向的 负侧以及正侧(参照图1)。另一方面，光检测器40如图3所示，具有在X方向上排列的光检测区域组451以 及光检测区域组452。而且，光检测器40夹着光检测区域组451以及452在Y方向的两侧 具有光检测区域组453以及光检测区域组454。这些光检测区域组中的光检测区域组451以及452与来自光盘10的折返光中的 主光束(LOa)相关。光检测区域组451具有光检测区域451a以及光检测区域451b，该光 检测区域451a以及光检测区域451b被配置为夹着与X轴大致平行的第1分割线461相 对。另外，光检测区域组452仍是具有光检测区域452a以及光检测区域452b，该光检测区 域452a以及光检测区域452b被配置为夹着与X轴大致平行的第2分割线462相对。上述衍射区域261的光栅图案是这里入射的来自光盘10的折返光中的主光束 (LOa)以跨越光检测区域组451的第1分割线461 (向光检测区域451a以及451b)而入射 的方式进行衍射的光栅图案。另外，该光栅图案还是使主光束衍射从而形成具有X方向的 彗差且入射至光检测区域组451的点601a的光栅图案。此时，在光检测区域451a中检测到的光主要是图2中偏X轴正侧的光，在光检测 区域451b中检测到的光主要是图2中偏X轴负侧的光。因此如后所述，可以将光检测区域451a以及451b利用于基于推挽法的跟踪误差信号的检测。同样，衍射区域262的光栅图案是这里入射的来自光盘10的折返光中的主光束 (LOa)以跨越光检测区域组452的第2分割线462 (向光检测区域452a以及452b)而入射 的方式进行衍射的光栅图案。而且，该光栅图案还是使主光束衍射从而形成具有X方向的 且与衍射区域261极性相反的彗差并入射至光检测区域组452的点602a的光栅图案。此时，在光检测区域452a中检测到的光主要是图2中的X轴正侧的光，在光检测 区域452b中检测到的光主要是图2中的X轴负侧的光。因此，能够将光检测区域452a以 及452b利用于基于推挽法的跟踪误差信号的检测。接着，光检测区域组453具有光检测区域453a以及光检测区域453b，上述光检测 区域453a以及光检测区域453b被配置为夹着与X轴大致平行的第3分割线463相对，同 样，光检测区域组454具有光检测区域454a以及光检测区域454b，上述光检测区域454a以 及光检测区域454b被配置为夹着与X轴大致平行的第4分割线464相对。在这些各光检 测区域中入射来自光盘10的折返光中的副光束(LOb以及LOc)。副光束LOb由全息图元件20进行衍射，并针对光检测区域组453以跨越第3分割 线463的方式入射。此时，由全息图元件20的衍射区域261衍射后的光作为点601b入射， 由衍射区域262衍射后的光作为点602b入射。同样，副光束LOc由全息图元件20进行衍射，并针对光检测区域组454以跨越第 4分割线464的方式入射。此时，由全息图元件20的衍射区域261衍射后的光作为点601c 入射，由衍射区域262衍射后的光作为点602c入射。即使针对副光束LOb以及LOc也与主光束LOa同样，可基于各点入射的2个光检 测区域中的信号，来获得基于推挽法的跟踪误差信号。接着，对聚焦误差信号以及跟踪误差信号的检测方法进行说明。在例示的光学头 装置中，针对聚焦误差信号FE基于后面详述的方法通过式子1的运算来算出。另外，作为 跟踪误差信号，利用以下各式的运算来生成基于DPD法的跟踪信号TEdpd和基于DPP法的跟 踪误差信号TEdpp。FE = (B+D) - (A+C)......(式子 1)TEdpp = TE-p-k · TEspp ......(式子 2)TEdpd = phase (A, B) -phase (C, D)......(式子 3)这里，A、B、C、D、Ε、以及F与在图3中所示的各光检测区域中检测到的信号对应。 具体地说，A是在光检测区域451b中检测到的信号，B是在光检测区域451a中检测到的信 号，C是在光检测区域452a中检测到的信号，D是在光检测区域452b中检测到的信号。另 夕卜，E是在光检测区域453b中检测到的信号和在光检测区域454b中检测到的信号之和，F 是在光检测区域453a中检测到的信号和在光检测区域454a中检测到的信号之和。而且，TEmpp是主光束的推挽信号，TEspp是副光束的推挽信号，它们分别利用下式来 求出。TEmpp = (A+D) - (B+C)……(式子 4)TEspp = E-F......(式子 5)这里，k是常数，且最优化为使得由物镜12移动而产生的TEdpp的变动最小。另外，利用下式来得出读取光盘10中所记录的信息的信号即信号RF。
RF = A+B+C+D ......(式子 6)由(式子1)、(式子3)可知，用于检测DVD再生所需的DPD信号和FE信号的检测区域是A D这4个，与现有技术中需要的8个相比为一半区域数。因此，针对各个检测区 域能够使必要的放大器电路减半，并能够降低放大器噪音且抑制电路偏移，从而能够获得 良好的再生信号以及伺服信号。另外，因为能够减小所使用集成电路的电路规模，所以能够 实现廉价的光学头。接着，对例示的光学头装置中的聚焦误差信号的检测方法进行详细说明。首先，对用于检测聚焦误差信号的动作进行说明。图4(a) (e)示出对应于光盘10的位置而进行变化的光检测器40上的点601a 以及601b的形状。另外，图5示出光盘10的位置与聚焦误差信号之间的关系。在图5中， 将在光盘10的信息记录面上形成最小点的状态、即合焦点状态作为原点，称为状态(c)。以 状态(c)为中心，当与该状态相比以光盘10的位置从近侧到远侧的顺序来考虑状态(a) (e)时，各个状态中的点601a以及601b的形状与图4(a) (e)对应。首先，在合焦点状态即状态(c)的情况下，点601a以同程度分布的方式位于光检 测区域451a以及光检测区域451b。同时，点601b以同程度扩展的方式位于光检测区域 452a以及光检测区域452b。因此，A(来自光检测区域451b的信号)和B(来自光检测区 域451a的信号)以及C(来自光检测区域452a的信号)和D (来自光检测区域452b的信 号)分别取得平衡，在(式子1)中表示的聚焦误差信号FE为零。因为衍射区域具备形成具有X方向的彗差且入射至光检测区域组的点的光栅图 案，所以在与合焦点状态(c)相比光盘10更接近于物镜12的状态(b)的情况下，按照所接 近的距离，点601a进行移动，以便成为与光检测区域451a相比偏向光检测区域451b侧的 分布。同时，点601b进行移动，以便成为与光检测区域452b相比偏向光检测区域452a侧 的分布(参照图4(b))。结果，用(式子1)表示的聚焦误差信号FE是负值。当光盘10进一步接近物镜12成为状态(a)时，如图4(a)所示，点601a整体向光 检测区域451a移动，点601b整体向光检测区域452a移动。此状态时，聚焦误差信号FE成 为最小值。相反，在与合焦点状态(C)相比光盘10远离物镜12的状态(d)的情况下，按照所 远离的距离，点601a进行移动，以便成为与光检测区域451b相比偏向光检测区域451a侧 的分布。同时，点601b进行移动，以便成为与光检测区域452a相比偏向光检测区域452b 侧的分布(参照图4(d))。其结果，(式子1)的聚焦误差信号FE为正值。当光盘10进一步远离物镜12成为状态(e)时，如图4(e)所示，点601a整体向光 检测区域451a移动，点601b整体向光检测区域452b移动。此状态时，聚焦误差信号FE成 为最大值。如以上那样，作为按照相对于光盘10的物镜12的位置进行变化的信号，可获得聚 焦误差信号FE。这里，可通过全息图元件20的彗差量来设定聚焦误差信号FE取最大值的 位置和取最小值的位置之间的间隔、即聚焦误差信号FE的检测范围。接着，根据如以上所述的聚焦误差信号的检测方法，来说明还能够与具有多个信 息记录层的光信息记录介质对应的情况。
首先，对2层光信息记录介质进行说明。图6是示出采用具有信息记录层801以 及802的2层光信息记录介质即光盘10进行信息记录 再生的状况的示意图。这里，示出 光的焦点聚焦于远离物镜12 —侧的信息记录层801的状态。此时，与入射光由信息记录层801反射不同，是由接近物镜12 —侧的信息记录层 802反射。该信息记录层802的反射光的光强度分布按照信息记录层802中的记录状态来 接受调制。另外，信息记录层802的反射光在非合焦状态下是被反射的光，因此即使透过物 镜12也不变换为平行光。其结果，在光检测器40中作为扩散的状态的杂散光而入射。此 夕卜，在图6中，将在这样的非合焦状态下的信息记录层802的反射光由虚线表示为散焦反射 光Ld。
接着，图7(a) (c)示出来自信息记录层802的散焦反射光Ld入射至光检测器 40的状态。这里，图7(a)示出散焦反射光Ld全部由信息记录层802的未记录区域802b 反射的情况，图7(b)示出反射光由信息记录层802的记录区域802a以及未记录区域802b 双方反射的情况，图7(c)示出反射光全部由信息记录层802的记录区域802a反射的情况。 此外，由记录区域802a反射的记录区域反射光Lda与由未记录区域802b反射的未记录区 域反射光Ldb相比，强度变低，其相当于图7(a) (c)的斜线部。这里，关于跟踪误差信号的变动，入射到光检测区域组453以及光检测区域组454 的主光束引起的杂散光为主要原因。因此，图中示出这样的杂散光，省略副光束(LOb以及 LOc)引起的杂散光。另外，信息记录层801的反射光也省略图示。主光束引起的杂散光从生成TEmpp的光检测区域(光检测区域组451以及光检测 区域组452)露出，入射到生成TEspp的光检测区域(光检测区域组453以及光检测区域组 454)。通常，从生成TEspp信号的光检测区域(光检测区域组453以及454)检测到的信 号的放大增益被设定为大于从生成TEmpp的光检测区域(光检测区域组451以及光检测区 域组452)检测到的信号的放大增益。因此，一直以来，主光束引起的杂散光给TEspp带来很 大的影响。与此相关，图8示出在信息记录层802上非合焦状态的点以跨越记录区域与非记 录区域的边界的方式通过时的TEspp信号的偏移。这里，示出现有的例子和本实施方式的例 子。如图8所示，在现有的情况下，在点以跨越信息记录介质中的记录区域与非记录区域的 边界的方式通过时，TEspp信号发生变动，与此相对，在本实施方式的情况下，生成几乎没有 变化且稳定的跟踪误差信号。这是因为，在本实施方式的情况下，当散焦光跨越记录区域与非记录区域的边界 时，在生成TEspp信号的各光检测区域组(光检测区域组453以及454)中，其变动抵消。即，在光检测区域组453的情况下，光检测区域453a和光检测区域453b被配置为 夹着与X轴平行的分割线对称。由此，因为是记录区域802a的反射光，所以即使入射了强 度变弱的记录区域反射光Lda，在光检测区域453a和光检测区域453b中，信号的变化相互 相等。由此，作为这些信号的差动的TEspp信号没有变化。同样，在光检测区域组454的情况下，光检测区域454a和光检测区域454b被配置 为夹着与X轴平行的分割线对称。由此，因为是记录区域的反射光，所以即使入射了强度变 弱的记录区域反射光Lda，在光检测区域454a和光检测区域454b中，信号的变化也相互相等。由此，作为这些信号的差动的TEspp信号没有变化。作为以上的结果，在信息记录层802中当非合焦状态的点以跨越记录区域802a与未记录区域802b的边界的方式通过时，在TEspp信号中不发生变动，就能够稳定地检测出跟
踪误差信号。此外，以上说明了记录区域与未记录区域相比具有较低的反射率的记录介质。但 是与其相反，也可以是记录区域与未记录区域相比具有较高的反射率的记录介质。此时，在 图7 (a) (c)中可认为斜线部表示光强度强的区域。(第2实施方式)以下，参照附图对本公开第2实施方式中所例示的光学头装置进行说明。图9是 示意性示出本实施方式所例示的光学头装置要部的图。光学头装置用于对如⑶以及DVD那样规格不同的2种光盘进行记录·再生。其 基本结构是，在图ι所示的第ι实施方式的光学头装置中，取代1波长的半导体激光器30 而具备2波长的半导体激光器301。该半导体激光器301是使射出第1波长λ 1的光的第 1光源和射出第2波长λ2的光的第2光源单片集成化的半导体激光器。在图9中，对与图 1相同的构成要素标注相同符号，以下主要对半导体激光器301进行说明。为了记录 再生DVD以及⑶双方规格的光盘，作为半导体激光器301，采用能够射 出DVD用的振荡波长是635 680nm段的光线Ll和⑶用的振荡波长是780 820nm段的 光线L2的半导体激光器。可通过按照光盘10的种类来选择该任意波长的光进行发光，来 记录·再生期望的光记录介质(⑶或DVD)。这里，半导体激光器301中的光线Ll的发光点Pl和光线L2的发光点P2被配置 为具有间隔d且在径向方向(X方向)上排列。另外，将2个发光点中波长短的一方的发光 点配置在受光元件侧。这是因为，利用全息图元件20的衍射角是光的波长短的一方变小的 情况，使光线Ll和光线L2入射至光检测器40的相同位置。此外，还可以取代使2个光源单片集成化的半导体激光器，而采用射出波长各不 相同的光的2个半导体激光器。但是，单片半导体激光器能够正确地设定2个发光点的间 隔d，因此更加优选。从半导体激光器301射出的光线Ll由全息图元件20所具有的衍射光栅24以期 望的比率进行衍射，并分离成作为0次光的主光束(Lla)和作为士 1次光的2个副光束Llb 以及Llc (未图示)。同样，光线L2由衍射光栅24分离成作为0次光的主光束(L2a)和作 为士 1次光的2个副光束L2b以及L2c(未图示)。这些光束在透过全息图元件20之后，由准直透镜11以及物镜12聚焦到光盘10 的信息记录面上。来自光盘10的反射光由物镜12以及准直透镜11变换为会聚至半导体 激光器301的各发光点(Pl或P2)的光。被变换的光入射至全息图元件20，并由衍射区域 261以及262进行衍射。衍射光入射至光检测器40，并由光检测器40来检测信号。此外，对 衍射光栅24设定大小和位置，以使衍射区域261以及262的衍射光入射后不再受到衍射。接着，图10示出本实施方式的全息图元件20和在此入射的光线Ll以及L2的位 置关系的图。另外，图11是示出光检测器40的构造和对于半导体激光器301中的光检测 器40的发光点Pl以及P2的位置关系的俯视图。如图10所示，全息图元件20具有由通过光线(Li以及L2双方)的大致中心(聚焦光学系统的光轴)且与X轴平行的直线260来划分成2个的衍射区域261以及衍射区域 262。这些衍射区域261以及262具有互不相同的光栅图案，并构成为使从半导体激光器 301射出的光直接透过，并且使由光盘10反射后的折返光向光检测器40衍射。此外，因为光线Ll以及L2的发光点位置不同，所以针对全息图元件20的入射位 置也不同。但是，通过在X方向上并排配置发光点P 1以及P2，可将光线Ll以及L2的光轴 都配置在直线260上。而且，图11的光检测器40具有与第1实施方式的情况(图3)相同的构造。即， 光检测器40具备光检测区域组451、452、453、以及454，各光检测区域组具备夹着与X方 向 大致平行的分割线来配置的各一对光检测区域(依次为光检测区域451a以及451b、452a 以及 452b,453a 以及 453b,454a 以及 454b)。另外，关于全息图元件20以及光检测器40的功能，除了还用于2个光线Ll以及 L2中任意一个的检测以外，也与第1实施方式的情况相同。 即，光检测区域组451以及452与来自光盘10的折返光中的主光束(Lla以及L2a) 相关，由衍射区域261以及262衍射后的来自光盘10的主光束的折返光分别作为点601a 以及602a入射。点601a和602a都具有X方向且极性相反的彗差。另外，光检测区域组453与折返光的副光束Llb以及L2b相关，由衍射区域261以 及262衍射后的来自光盘10的副光束的折返光分别作为点601b以及602b入射。而且，光 检测区域组454与折返光的副光束Llc以及L2c相关，由衍射区域261以及262衍射后的 来自光盘10的折返光分别作为点601c以及602c入射。关于各点与彗差的关系也与第1 实施方式的情况相同。根据以上情况，当本实施方式的光学头装置采用发光点Pl以及P2的某一方时，也 能够与第1实施方式同样地求出聚焦误差信号以及跟踪误差信号。此时，即使是具有2层 以上信息记录层的信息记录介质也仍然能够获得稳定的信号。这里，在本实施方式的光学头装置中，也为了进行基于推挽法的检测而在径向方 向上分割光束。因为该分割是由在X方向上延伸的分割线来进行的，所以同样地分割相距 距离d在X方向上并排配置的发光点Pl以及发光点P2射出的光(Li以及L2)。因此，在 为了射出2个波长的光而具有2个光源的光学头装置中，无论采用哪个光源都能够获得稳 定的跟踪误差信号，并能够更稳定地进行针对所使用的光的波长各不相同的各种光盘的记 录·再生。(第3实施方式)以下，参照附图来说明本公开第3实施方式中所例示的光学头装置。图12是示意 性地示出例示的光学头装置要部的图。该光学头装置当与图1所示的第1实施方式的光学头装置进行比较时，关于光检 测器以及半导体激光器不同。由此，通过对与图1相同的构成要素标注相同符号来省略详 细的说明，以下，针对与图1光学头装置的不同点进行详细说明。在图12中，将半导体激光器30a固定在被设置于光检测器401的上面的凹部。在 该凹部内设置有使从半导体激光器30a射出的光线L3向光轴方向(Z方向)反射的反射镜 19。关于衍射光栅24、具有衍射区域261以及262的全息图元件20、准直透镜11、物镜12以及光盘10，与第1实施方式的情况相同。另外，还具有使物镜12在Z方向以及X方向 上移动的透镜驱动机构(省略图示)、以及使光检测器40和全息图元件20以期望的位置关 系固定的保持机构(省略图示)。由此，构成使激光聚焦到光盘10上的聚焦光学系统。从半导体激光器30a射出并由反射镜19向Z方向反射的光线L3，由全息图元件20 所具备的衍射光栅24来分离成一个主光束和2个副光束。接着，这些光透过衍射区域261 以及262，由准直透镜11以及物镜12聚焦到光盘10的信息记录面上。在信息记录面中反 射后的光再次经由物镜12以及准直透镜11入射到全息图元件20，并被衍射。这里，全息图元件20中所设置的衍射区域261以及262具有与第1实施方 式(图 2)相同的光栅图案。但是，在第1实施方式的情况下，利用光检测器40仅检测出由衍射区 域261以及262衍射后的光中的+1次光。与此相对，在本实施方式的情况下，除了+1次光 之外，-1次光也由光检测器401检测出。因此，光检测器401在夹着半导体激光器30a的 发光点P3的位置上配置光检测区域。图13示出此情况。在图13中，相对发光点P3配置在X轴负侧的+1次光检测用区域500是与第1实 施方式中的光检测器40 (图3)相同的结构，对各光检测区域标注与图3相同的符号。这 里，由全息图元件20衍射后的光的+1次光作为点601a、602a、601b、602b、601c、以及602c 入射。另外，夹着发光点P3在+1次光检测用区域500的相反侧(X轴的正侧)设置有_1 次光检测用区域501。此结构与+1次光检测用区域500相同，分别对光检测区域451a标注 如光检测区域451a’那样追加了’的符号。这里，由全息图元件20衍射后的光的-1次光作 为点 601a，，602a，，601b，，602b，，601c，、以及 602c，入射。从+1次光检测用区域500以及-1次光检测用区域501的各光检测区域中获得同 样的信号，并应该利用同一放大器进行放大，或者在之后利用相加放大器进行相加。例如， 对光检测区域451a中的信号和光检测区域451a’中的信号进行相加。可采用+1次光检测用区域500以及-1次光检测用区域501，利用在第1实施方 式中说明的式子1 式子6来求出聚焦误差信号以及跟踪误差信号。这样，除了 +1次光之 外还能够检测-1次光，所以可提高光的检测效率，并能够进行噪音更少的信号检测。另外， 即使在发光点P3在Y方向上偏移的情况下，也能够抵消从+1次光中获得的信号的变化和 从-1次光中获得的信号的变化，因此具有信号特性劣化变小这样的效果。如以上那样，本实施方式的光学头装置为具有与第1实施方式的光学头装置相同 的特征、并且噪音更少且结构公差更大的光学头装置。工业上的可利用性根据本公开的光学头装置、光信息处理装置、以及聚焦误差信号检测方法，即使针 对具有多个信息记录层的信息记录介质也能够进行稳定的记录·再生，另外还能够应用于 以下的用途采用了光信息记录介质的信息的记录·再生，特别是计算机数据及程序的保 存、汽车导航的地图数据的保存等。
权利要求
一种光学头装置，具备光源，其射出光束；聚焦光学系统，其使上述光束会聚到信息记录介质上；全息图元件，其使由上述信息记录介质反射的上述光束衍射；和受光元件，其具有接受由上述全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域，上述全息图元件具有由在上述信息记录介质的径向方向上延伸的直线来划分的2个衍射区域，上述2个衍射区域中的至少一个区域的图案是对上述衍射光赋予上述径向方向的彗差的图案。
2.根据权利要求1所述的光学头装置，其特征在于，上述受光元件所具有的上述多个检测区域中的至少一对检测区域，夹着在上述径向方 向上延伸的分割线相对地配置，已赋予上述彗差的衍射光入射到上述分割线上， 基于在上述一对检测区域中检测出的信号来获得聚焦误差信号。
3.一种光学头装置，具备 光源，其射出光束；聚焦光学系统，其使上述光束会聚到信息记录介质上； 全息图元件，其使由上述信息记录介质反射的上述光束衍射；和 受光元件，其具有接受由上述全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域， 上述受光元件所具有的上述多个检测区域包含第1光检测区域以及第2光检测区域， 夹着在上述信息记录介质的径向方向上延伸的第1分割线相对地配置；和第3光检测区域 以及第4光检测区域，夹着在上述径向方向上延伸的第2分割线相对地配置，上述全息图元件具有由在上述径向方向上延伸的直线来划分的第1衍射区域以及第2 衍射区域，上述第1衍射区域的图案产生具有上述径向方向的彗差且会聚于上述第1分割线上的 衍射光，上述第2衍射区域的图案产生具有上述径向方向的彗差且会聚于上述第2分割线上的 衍射光，基于上述第1检测区域中的信号与上述第2检测区域中的信号之间的差信号、以及上 述第3检测区域中的信号与上述第4检测区域中的信号之间的差信号，来获得聚焦误差信号。
4.一种光学头装置，具备 光源，其射出光束；衍射光栅，其由上述光束生成1个主光束以及2个副光束； 聚焦光学系统，其使上述主光束以及上述副光束分别会聚到信息记录介质上； 全息图元件，其使由上述信息记录介质反射的上述主光束以及上述副光束衍射；和 受光元件，其具有接受由上述全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域， 上述全息图元件具有由在上述信息记录介质的径向方向上延伸的直线划分为2个的 衍射区域，上述2个衍射区域的至少一个区域的图案是对上述衍射光赋予上述径向方向的彗差 的图案。
5.根据权利要求4所述的光学头装置，其特征在于，上述受光元件所具有的上述多个检测区域包含第1对检测区域，夹着在上述径向方 向上延伸的第1分割线相对地配置；和第2对检测区域，夹着在上述径向方向上延伸的第2 分割线相对地配置，上述主光束的已赋予上述彗差的衍射光入射到上述第1对检测区域的上述第1分割线上，基于在上述第1对检测区域中检测出的信号来获得聚焦误差信号， 并且，上述副光束的已赋予上述彗差的衍射光入射到上述第2对检测区域的上述第2 分割线上，基于在上述第2对检测区域中检测出的信号来获得跟踪误差信号。
6.根据权利要求1 5中任意一项所述的光学头装置，其特征在于，具有其它发光点，上述其它发光点相对上述光源的发光点在上述径向方向上排列且射 出与上述发光点不同波长的光束。
7.一种光信息处理装置，其通过对信息记录介质照射光来进行信息的记录以及再生， 具有权利要求1 6中任意一项所述的光学头装置。
8.一种光学头装置的聚焦误差信号检测方法， 上述光学头装置具有光源，其射出光束；聚焦光学系统，其使上述光束会聚到信息记录介质上； 全息图元件，其使由上述信息记录介质反射的上述光束衍射；和 受光元件，其具有接受由上述全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域， 在上述光学头装置中，上述全息图元件具有由在上述信息记录介质的径向方向上延伸的直线来划分的2个 衍射区域，上述2个衍射区域中的至少一个区域的图案是对上述衍射光赋予上述径向方向的彗 差的图案，上述受光元件所具有的上述多个检测区域中的至少一对检测区域，夹着在上述径向方 向上延伸的分割线相对地配置，已赋予上述彗差的衍射光入射到上述分割线上，在上述聚焦误差信号检测方法中，基于在上述一对检测区域中检测出的信号来获得聚 焦误差信号。
9.一种聚焦误差信号检测方法，其使用于光学头装置， 上述光学头装置具有光源，其射出光束；聚焦光学系统，其使上述光束会聚到信息记录介质上；全息图元件，其使由上述信息记录介质反射的上述光束衍射；和受光元件，其具有接受由上述全息图元件衍射后的衍射光的多个检测区域，在上述光学头装置中，上述受光元件所具有的上述多个检测区域包含第1光检测区域以及第2光检测区域， 夹着在上述信息记录介质的径向方向上延伸的第1分割线相对地配置；和第3光检测区域 以及第4光检测区域，夹着在上述径向方向上延伸的第2分割线相对地配置，上述全息图元件具有由在上述径向方向上延伸的直线来划分的第1衍射区域以及第2 衍射区域，上述第1衍射区域的图案产生具有上述径向方向的彗差且会聚于上述第1分割线上的 衍射光，上述第2衍射区域的图案产生具有上述径向方向的彗差且会聚于上述第2分割线上的 衍射光，在上述聚焦误差信号检测方法中，基于上述第1检测区域中的信号与上述第2检测区 域中的信号之间的差信号、以及上述第3检测区域中的信号与上述第4检测区域中的信号 之间的差信号，来获得聚焦误差信号。
全文摘要
本发明提供一种光学头装置、光信息处理装置以及信号检测方法。光学头装置具备射出光束的光源(30)；使光束会聚于信息记录介质(10)上的聚焦光学系统；使由信息记录介质(10)反射的光束进行衍射的全息图元件(20)；和具有接受由全息图元件(20)衍射后的衍射光的多个检测区域的受光元件(40)。全息图元件(20)具有由在信息记录介质(10)的径向方向上延伸的直线(260)划分的两个衍射区域(261以及262)。2个衍射区域中的至少一个区域的图案具有径向方向的彗差，由具有彗差的衍射区域衍射后的衍射光具有径向方向的彗差。
文档编号G11B7/095GK101960523SQ20098010729
公开日2011年1月26日 申请日期2009年1月6日 优先权日2008年6月27日
发明者小野将之, 山本博昭, 西本雅彦 申请人:松下电器产业株式会社