光拾取器和光信息记录再现装置的制作方法

专利名称：：光拾取器和光信息记录再现装置的制作方法
技术领域：
：本发明涉及光拾取器和光信息记录再现装置，例如涉及进行具有多个记录层的多层光盘的记录或再现的光拾取器和搭载有该光拾取器的光信息记录再现装置。
背景技术：
：光信息记录再现装置，具有对光盘记录音乐、影像、各种数据等信息和对信息进行再现的功能。近年来，光盘实现了使用蓝色半导体激光和高NA物镜的Blu-rayDiSC(BD，蓝光光盘)的商品化，但光学系统的分辨率已几乎达到了极限。因此，为了进一步大容量化，实现光盘中的信息记录层的多层化得到了重视。但是，存在下述层间串扰的问题，即，多层光盘中来自记录再现的对象层以外的非对象层的反射杂散光会漏入检测器，对伺服信号造成影响。光盘装置将来自光盘的反射光用例如全息光学元件(HOE^olographicOpticalElements)等衍射光学元件分割·衍射为多个光束，用光检测器受光，根据与受光量相应的检测信号生成再现RF信号(RFS:EadioFrequencySignal，射频信号)、聚焦误差信号(FES=FocusErrorSignal)、跟踪误差信号(TESJrackingErrorSignal)在TES检测中，BD-R(Blu-ray2isc_Eecordable，可记录蓝光光盘)和BD-RE(EEwritable，可重写)等记录型盘片用推挽(PP=Push-Pull)法，BD-ROM(ReadOnlyMemory，只读存储器)用DifferentialPhaseDetection(DPD，差分相位检测)法，根据记录介质的种类切换信号检测或信号处理。例如，专利文献1中，双层光盘的聚焦误差信号检测采用刀刃法，按照来自非对象层的反射杂散光不会入射到检测伺服信号的光检测器的方式配置光检测器。此时作为主要生成RFS的衍射光，因为使来自非对象层的反射杂散光尽量不漏入伺服信号用光检测器，所以检测的是衍射级数为1级或-1级衍射的光。此外，例如，专利文献2中，公开了除去漏入光检测器的杂散光成分的方法。专利文献2中，检测来自光盘的反射光，在生成RFS、TES、FES的主光检测器的旁边，仅检测来自非对象层的反射杂散光的光检测器配置在主光检测器的旁边，计算与主检测器接收的反射杂散光相同程度的杂散光信号，从检测信号求取差值。由此，检测出不包含杂散光信号成分的来自对象层的稳定的TES。专利文献2中，聚焦误差信号检测采用光斑尺寸检测法(SSDSpotSizedetection)，SSD用的光检测器按照来自非对象层的反射杂散光不会漏入的方式离开RFS、TES用光检测器配置。但是，专利文献1中记载的方法中，因为检测不到透过HOE的O级光的光，所以存在光拾取器的初始组装时HOE与光检测器的对位较为困难这一问题点。这样，因为光检测器的配置调整比较困难，所以用专利文献1的方法不能应对比双层更多层的光盘。此外，专利文献2中，因为主要生成RFS的光检测器中来自对象层的信号反射光和来自非对象层的反射杂散光在相同光轴上传播，所以存在RFS内包含杂散光成分这一问题。另外，专利文献2中记载的方法中，需要另外准备HOE用于SSD。因为SSD用的HOE造成光路长度变长，所以也存在光拾取器变得大型这一问题点。专利文献1日本特愿2006-283248号公报=日本特开2008-102998=US2008/0094948专利文献2日本特愿2007-289894号公报=日本特开2008-287851=US无
发明内容本发明鉴于这样的状况完成，提供一种例如即使在对3层以上的多层光盘进行信息记录再现的情况下也适合的光拾取器和具备它的光信息记录再现装置。(1)为了解决上述课题，本发明中提供一种光拾取器，其具有调整·记录再现兼用HOE或者按组装调整用和记录再现用、因TES检测中的DPD法/推挽法而不同的Η0Ε，在具有多个HOE的情况下具备切换功能。光拾取器具备主(RFS/TES检测用)光检测器和虚拟(dummy)(组装调整用)光检测器。该主光检测器，相对于来自光盘的反射光中透过HOE中生成RFS的一部分的区域的第一反射光成分，配置在生成RFS的一部分的衍射级数为0级以外的第一衍射光所到达的位置。此外，虚拟光检测器配置在具有与第一衍射光不同的衍射级数的第二衍射光所到达的位置。光信息记录再现装置通过使用与主光检测器和虚拟光检测器的光检测量相应的主检测信号和虚拟检测信号，进行对于HOE和光检测器的位置关系的反馈控制。(2)此外，本发明的光拾取器，在主要生成RFS的RF用主光检测器的附近具备用于检测来自非对象层的反射杂散光的副光检测器。光信息记录再现装置，对该副光检测器检测出的杂散光信号乘以对应于RF用主光检测器与该副光检测器的面积比和位置关系的适当的系数，计算出RF用主光检测器检测出的杂散光成分，将其从RF用主光检测器检测出的检测信号中减去，从而检测出对象层的再现RFS。(3)换言之，一方式(图4和图5)的光信息记录再现装置中，光拾取器的光检测器，具备第一(主)和第二(虚拟)光检测部。第一光检测部检测由衍射光学元件生成的衍射光中、作为反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光。第二检测部检测反射光的中央区域的衍射光中级数与第一衍射光不同的第二衍射光。光检测器输出与第二衍射光的检测量相应的信号即用于生成组装调整用的信号的第一检测信号，和与第一衍射光的检测量相应的信号即用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号的第二检测信号。另一方面，信号处理电路基于第一检测信号生成用于调整衍射光学元件与光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于第二检测信号生成信息记录再现信号和伺服信号。而且，驱动控制部基于位置调整用控制信号和伺服信号调整光拾取器内的衍射光学元件和光检测器的位置，基于伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。另外，也可以在光检测器中设置检测来自具有多个信息记录层的光记录介质的非对象层的反射杂散光的第三(副)光检测部。通过该第三光检测部检测用于计算杂散光成分的第三检测信号。另一方面，信号处理电路基于第三检测信号计算杂散光成分，从信息记录再现信号中减去杂散光成分，由此生成仅起因于光记录介质的对象层的信息记录再现信号。其他方式(图9)也可以如以下所述，在光拾取器中，衍射光学元件具有第一功能9(组装调整用/DPD用Η0Ε)和第二功能(PP用Η0Ε)，具备用于在衍射光学元件的第一和第二功能之间切换功能的切换元件。在选择了第一功能的情况下，光检测器输出与第二衍射光的检测量相应的信号即用于生成组装调整用的信号的第一检测信号，在选择了第二功能的情况下，光检测器输出与第一衍射光的检测量相应的信号即用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号的第二检测信号。信号处理电路和驱动控制部执行与上述相同的动作。此外，其他方式(图10和11)如以下所述，在光拾取器中，衍射光学元件具有第一功能(组装调整用/DPD用Η0Ε)和第二功能(PP用Η0Ε)，设置有用于在衍射光学元件的第一和第二功能之间切换功能的切换元件，光检测器具备检测由衍射光学元件生成的衍射光中、作为反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光(+1级)的第一(主)光检测部，和检测反射光的中央区域的衍射光中与第一衍射光级数不同的第二衍射光(0级)的第二(虚拟)光检测部。在选择了第一功能的情况下，光检测器输出与第一和第二衍射光的检测量相应的信号即用于生成组装调整用的信号的信号的第一检测信号，或者与第一衍射光的检测量相应的信息记录再现用的第二检测信号。在选择了第二功能的情况下，光检测器输出与第一衍射光的检测量相应的信号即用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号的第三检测信号。另一方面，信号处理电路基于第一检测信号生成用于调整衍射光学元件和光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于第二或第三检测信号生成信息记录再现信号和伺服信号。驱动控制部基于位置调整用控制信号和伺服信号调整光拾取器内的衍射光学元件和光检测器的位置，基于伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。另外，其他方式(图14和图15)中，衍射光学元件在作为第一功能(组装调整用/DPD用Η0Ε)起作用的情况下，将光信息记录介质(光盘)的反射光分割为多个光束使其衍射，在作为第二功能(PP用Η0Ε)起作用的情况下，使反射光的中央区域的光在与其他区域不同的方向上衍射。该情况下，光检测器包括第一(虚拟)光检测部，其检测作为第一功能起作用的情况下的衍射光学元件的0级衍射光(第一衍射光)；第二(主)光检测部，其检测作为第二功能起作用的情况下的衍射光学元件的反射光的中央区域的衍射光中0级以外的衍射光(第二衍射光)；和第三(主)光检测部，其检测作为第一功能起作用的衍射光学元件的0级以外的衍射光(第三衍射光)、和作为第二功能起作用的衍射光学元件的衍射光中衍射角与第二衍射光不同的0级以外的衍射光(第四衍射光)。在选择了第一功能的情况下，光检测器输出与第一衍射光的检测量相应的信号即用于生成组装调整用的信号的信号的第一检测信号，或者与第三衍射光的检测量相应的信息记录再现和反馈控制用的第二检测信号。在选择了第二功能的情况下，光检测器输出与第二和第四衍射光的检测量相应的信号即用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号的第三检测信号。另一方面，信号处理电路基于第一检测信号生成用于调整衍射光学元件和光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于第二或第三检测信号生成信息记录再现信号和伺服信号。驱动控制部基于位置调整用控制信号和伺服信号调整光拾取器内的衍射光学元件和光检测器的位置，基于伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。此外，其他方式(图18)中，使用具有与图14相同的结构的光衍射元件，但与图15不同，不使用虚拟光检测部。即，该情况下，衍射光学元件在作为第一功能(组装调整用/DPD用Η0Ε)起作用的情况下，将反射光分割为多个光束使其衍射，在作为第二功能(PP用Η0Ε)起作用的情况下，使反射光的中央区域的光在与其他区域不同的方向上衍射。另外，光检测器包括第一(主)光检测部，其检测作为第一功能起作用的情况下的上述衍射光学元件的0级衍射光(第一衍射光)；第二(主)光检测部，其检测作为第二功能起作用的情况下的衍射光学元件的上述反射光的中央区域的衍射光中0级以外的衍射光(第二衍射光)；第三(主)光检测部，其检测作为第一功能起作用的衍射光学元件的0级以外的衍射光(第三衍射光)、和作为第二功能起作用的衍射光学元件的衍射光中衍射角与第二衍射光不同的0级以外的衍射光(第四衍射光)；和第四光检测部，其检测来自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层的反射杂散光，输出用于计算杂散光成分的杂散光成分检测信号。在选择了第一功能的情况下，光检测器输出与第一衍射光的检测量相应的信号即用于生成组装调整用的信号的信号的第一检测信号，或者与第一和第三衍射光的检测量相应的信息记录再现和反馈控制用的第二检测信号。在选择了第二功能的情况下，光检测器输出与上述第二和第四衍射光的检测量相应的信号即用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号的第三检测信号。另一方面，信号处理电路基于第一检测信号生成用于调整衍射光学元件和光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于第二或第三检测信号生成信息记录再现信号和伺服信号，进而，基于杂散光成分检测信号计算出杂散光成分，从信息记录再现信号中减去杂散光成分，由此生成仅起因于光记录介质的对象层的信息记录再现信号。驱动控制部基于位置调整用控制信号调整光拾取器内的衍射光学元件和光检测器的位置，基于伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。本发明的进一步的特征，将通过以下本发明的实施方式和变得明确。根据本发明，能够实现一种光拾取器和光信息记录再现装置，其对于用于多层光盘记录再现的光拾取器，特别在初始的组装调整时提高Η0Ε、光检测器的位置精度，并得到稳定的再现RF信号、伺服信号。此外，实现一种光拾取器和光信息记录再现装置，其能够得到充分降低了来自非对象层的反射杂散光的影响的RFS、FES、TES。图1是表示本发明的光信息记录再现装置整体的概略结构的框图。图2是表示本发明的光拾取器的概略结构的图。图3是表示本发明中使用的集成光学元件的结构的图。图4是表示第一实施方式的衍射光学元件的结构的图。图5是表示第一实施方式的光检测器的结构和反射光的聚光位置的图。图6是表示第一实施方式的散焦时的对象层反射光的光检测器上的照射位置的图。图7是表示第一实施方式的来自非对象层Layer(层)0的反射杂散光的光检测器上的照射位置的图。图8是表示第一实施方式的来自非对象层Layerf的反射杂散光的光检测器上的照射位置的图。图9是表示第一实施方式的组装调整用的衍射光学元件和光检测器的结构、聚光位置的图。图10是表示第二实施方式的衍射光学元件的结构的图。图11是表示第二实施方式的光检测器的结构和反射光的聚光位置的图。图12是表示第二实施方式的散焦时的对象层反射光的光检测器上的照射位置的图。图13是表示第二实施方式的来自非对象层的反射杂散光的光检测器上的照射位置的图。图14是表示第三实施方式的衍射光学元件的结构的图。图15是表示第三实施方式的光检测器的结构和反射光的聚光位置的图。图16是表示第三实施方式的散焦时的对象层反射光的光检测器上的照射位置的图。图17是表示第三实施方式的来自非对象层的反射杂散光的光检测器上的照射位置的图。图18是表示第四实施方式的光检测器的结构和反射光的聚光位置的图。附图标记说明1…光信息记录再现装置，100…光盘，101···激光器驱动器，102…光拾取器，103···信号处理电路，104…解调电路，105…解码电路，106…地址检测电路，107…伺服电路，108···驱动控制电路，109…系统控制器，110…致动器，11L···主轴电动机，201…半导体激光器，202…偏振分束器，203…准直透镜，204···1/4波片，205…物镜，206…集成光学元件，206A…衍射光学元件，206B…偏振变换元件，2060··偏振衍射光学元件，207…光检测器，L300…来自光盘的反射光，0100、0200、0300…光检测器中心，AlOD10,ElOH10、E12H12、I12、M12、N12、P12R12、A20、D20、E20、G20、H20、E22、G22、H22、122、M22、N22、P22、R22、A30、C32、E30、G30、H30、132、M32、N32、P32、R32、141…主光检测器受光部，110、111、121、131…组装调整用虚拟光检测器受光部，S10、SlUS20、S21、S30、S31、S40、S41…杂散光用副检测器，IOaIOi…衍射光栅，Ilalld、lli、20a20i、21a21i、30a30d、31a、31c、31e31i…偏振衍射光栅具体实施例方式以下参照本发明的实施方式。但是，要注意本实施方式只是用于实现本发明的一个例子，并不限定本发明的技术范围。此外，各图中对共同的结构附加相同的参照编号。(1)第一实施方式来自光盘100的反射光L300的中央附近包含相对光的传播方向的光轴中心，是光强度最强的区域，主要用于生成再现RF信号。在第一实施方式中，检测作为反射光L300中央附近的再现RF信号成分检测出的某种程度上强度较强的2个光，例如1级衍射光、和从相同区域衍射并具有不同级数的衍射光的非0级光的衍射光例如-1级衍射光等，根据检测信号进行使集成光学元件206与光检测器207的位置关系对准的反馈控制(例如参照图3)。第一实施方式中，特别是因为没有利用0级衍射光，所以具有能够减少反射光L300中包含的来自非对象层的反射杂散光的影响的优点。<光信息记录再现装置的结构>图1是表示本发明的光信息记录再现装置的概略结构的图。光信息记录再现装置1，是对光盘100记录或再现信息的装置，具备激光器驱动器101、出射激光，检测来自光盘100的反射光的光拾取器102、多个信号处理部103108、用于对光盘100上的规定的轨道进行记录再现的致动器110、使光盘100旋转的主轴电动机111、和控制光信息记录再现装置1整体的系统控制器109。光拾取器102所包含的半导体激光器201由激光器驱动器101控制。从半导体激光器201出射的光束，通过光拾取器102所包含的物镜205照射到具有多个信息记录层的光盘100。这样，其反射光由光拾取器102所包含的光检测器207检测。信号处理电路103基于检测信号，生成再现RF信号RFS、聚焦误差信号FES和跟踪误差信号TES。RFS经过解调电路104和解码电路105，向系统控制器109送出。FES和TES经过地址电路106和伺服电路107送到驱动控制部108。驱动控制部108基于来自系统控制器109的命令控制主轴电动机111，使光盘100以规定的旋转速度旋转。致动器110从驱动控制部108接收伺服信号、地址信号，基于它们控制光拾取器102。光拾取器102和信号处理电路103，根据因BD-R/RE和BD-ROM等光盘的种类引起的信号检测的不同和其他的状况，基于来自系统控制器109的命令，进行必要的控制和信号处理。〈光拾取器的结构〉图2是表示本发明的光拾取器102的概略结构的图，表示在3层光盘中对从光的入射侧起第二层(Layerl)进行记录再现的状况。从半导体激光器201出射的S偏振的光束，相对于入射方向，被偏振分束器(PBSPolarizationBeamSplitter)202向存在光盘100的垂直方向反射，由准直透镜203变换为准直平行光。准直化的入射光之后被1/4波片204从直线偏振光变换为圆偏振光。圆偏振的光被物镜205聚光，照射到光盘100。来自光盘100的反射光再次被物镜205变换为平行光，被1/4波片204从圆偏振光变换为直线P偏振光。P偏振的光被准直透镜203变换为汇聚光。并且，P偏振的反射光透过PBS202，被集成光学元件206分割、衍射，入射到光检测器207。<集成光学元件>图3是表示本发明的第一实施方式中使用的集成光学元件206的结构的图。集成光学元件206具有作为衍射光栅的功能。反射光L300被集成光学元件206分割，对其分别检测，由此能够生成RFS、FES、TES。因此，集成光学元件206优选的是，由具有多个区域、分别将光向不同的方向衍射的例如全息光学元件(HOE^olographicOpticalElements)等构成的光学元件。图3(a)是集成光学元件206由具有衍射光栅按区域而不同的1种衍射光学元件206A构成的例子的图，来自光盘100的反射光L300被衍射光学元件206A衍射。该情况下，组装调整时和记录再现时使用相同的Η0Ε。此外，如图3(b)所示，也可以使集成光学元件206由2种以上不同的衍射方式的衍射光学元件构成。图3(b)表示使用多个衍射方式的例子，是在例如组装调整用和记录再现用所使用的检测器不同的情况、或因BD-R/RE和BD-ROM等进行记录再现的光盘100的不同而造成伺服信号的运算处理不同的情况下，通过切换使用2种以上的衍射光学元件来改变反射光L300的衍射方向，实现信号检测的多功能化和运算处理的简化的情况的结构例。为了改变衍射方向，例如可以使光的波长/偏振/方向性等发生变化，通过光的状态来选择进行作用的衍射光学元件/不进行作用的衍射光学元件，或者利用衍射因光的状态变化而不同这一点。因此，集成光学元件206如图3(b)所示，由使光的状态变化的元件206B、和具有多个衍射方式的复合衍射光学元件206C构成。例如，如果利用偏振特性，则准备可变1/2波片作为元件206B，准备偏振性HOE作为H0E206C，选择根据L300的偏振方向进行作用的衍射方式。反射光L300的偏振状态能够通过使可变1/2波片206B的结晶轴旋转而切换。可变1/2波片206B能够由液晶元件和双折射结晶等表现出双折射的材料构成。下面，以利用可变1/2波片作为使光的状态变化的元件206B、使用偏振性HOE作为复合衍射光学元件206C为前提进行说明。其中，虽然未图示，但也可以在2种以上的衍射光学元件选择时不利用光的性质变化，而是在集成光学元件206中重叠多个衍射光学元件，机械上切换具有目标衍射方式的衍射光学元件。此外，衍射光学元件也可以由衍射方式随输入信号而变化的可变材料构成，该情况下集成光学元件206由一个光学元件206A构成。〈集成光学元件的形状〉图4是表示第一实施方式中使用的集成光学元件，即与图3(a)206A对应的HOE的形状的图。第一实施方式中，H0E206A被分割为不产生0级光的多个区域，图中的实线表示区域的边界。此处，HOE的上下方向在光学上与光盘100的跟踪方向(Tan方向)一致，左右方向在光学上与半径方向(Rad方向)一致。此外，这里设RacUTan方向为具有正的级数的衍射方向，-RacU-Tan方向为具有负的级数的衍射方向。另外，图中的虚线表示反射光L300，反射光L300左右的纵条纹图案表示因光盘100的轨道而产生的推挽图案。推挽图案是由于光盘100上的槽作为衍射光栅作用而出现的反射光L300中的干涉图案。因为推挽图案跟随物镜205与槽的位置关系的变动而变化，所以推挽图案成为TES的AC成分。此外，反射光L300中的干涉图案以外的区域不受物镜205与槽的位置关系的影响，所以成为TES的DC成分。其中，TES的AC、DC成分都受到物镜205的透镜移位(lensshift)的影响。图4中，区域IOaIOd位于H0E206A的除中央附近外的左右位置，使透过该区域的光在Tan方向上衍射为士1级衍射光，使来自各区域的衍射光在Tan方向上排列。区域IOa和IObUOc和10d，按照包含物镜205在Rad方向上位移的情况下反射光L300中的推挽图案都全部透过的方式，分割区域而构成。而且，区域IOa与IOb的边界和IOc与IOd的边界，按照反射光L300与H0E206A的中心一致时所分割的反射光L300为大致一半的方式设定。其中，区域IOaIOd中的+1级衍射光用于使用双刀刃法的FES检测，"I级衍射光用作使用推挽法的TES的AC成分。区域IOeIOh位于H0E206A的除中心附近和区域IOaIOd外的区域。各区域使透过该区域的光在Tan方向上衍射为士1级衍射光，使来自各区域的衍射光在Rad方向上排列。区域IOh与IOe的边界和IOf与IOg的边界，按照反射光L300与H0E206A的中心一致时所分割的反射光L300为大致一半的方式设定。区域IOeIOh中的士1级衍射光用作使用推挽法的TES检测的DC成分。区域IOi位于H0E206A的包含中心的中央区域，以其他区域中的来自非对象层的反射杂散光不会入射的方式使光束向Rad方向衍射。区域IOi中的士1级衍射光的分光比，按照在+1级衍射光用于RFS、-1级衍射光用于集成光元件206和光检测器组207的位置控制的情况下RFS的光量不变少的方式，设定为+1级光强度大于-1级光强度，例如+1级光强度-I级光强度=955。在除区域IOi外的所有区域中，来自各区域的衍射光的衍射角，按照来自对象层的反射光聚光在光检测器207的各受光部的大致中央的方式设定，但另一方面，光检测器207的各受光部，按照不会接收到来自非对象层的反射杂散光的方式配置。此外，来自除区域IOi外的所有区域的衍射光的衍射角，按照以散焦状态照射光检测器207的来自非对象层的反射杂散光向不存在受光部的方向扩散的方式设定。另外，+1级光和-1级光的使用用途也可以相反，该情况下适当变更分光比即可。<光检测器的受光部组的结构和信号生成>图5是表示与第一实施方式的集成光学元件206A(图3(a)和图4)对应的光检测器207的受光部的配置结构、和反射光L300中来自记录再现时的对象层的反射光的聚光位置的图。但是，图5中没有图示来自非对象层的反射杂散光。光检测器207由多个受光部构成，在被集成光学元件206分割/衍射的来自记录再现的对象层的反射光所聚光的位置配置有主光检测器的受光部，在组装调整用的光束所聚光的位置配置有虚拟光检测器的受光部，在包含反射光L300的光轴中心的来自非对象层的反射光所照射的位置配置有杂散光用副检测器。图5中，受光部AlOHlO和E12I12、M12、N12、P12、Q12、R12是主光检测器的受光部，受光部IlO是虚拟光检测器的受光部，S10、Sll是杂散光用副检测器的受光部。基于受光部AlOHlO和E12H12的检测信号生成TES，基于受光部M12、N12,P12、Q12、R12的检测信号生成FES。其中，所有光检测器受光部的大小都是能够应对物镜205的透镜移位士数百μm等的程度的大小。当反射光L300的光轴、集成光学元件206、光检测器207的光轴中心0100全部一致时，来自区域IOaIOd的-1级衍射光分别在受光部AlODlO的中心聚光，+1级光分别在受光部N12与P12的中间点、M12与N12的中间点、P12与Q12的中间点、Q12与R12的中间点聚光，在散焦状态时会被检测出来。同样的，来自区域IOeIOh的1级衍射光分别在受光部E12H12的中心聚光，-1级衍射光分别在受光部ElOHlO的中心聚光，并被检测。受光部112和IlO以位置0100为中心配置在Rad方向上，透过区域IOi的光束的+1级衍射光和-1级衍射光分别聚光，并被检测。虚拟光检测器的受光部IlO仅在组装调整时使用，受光部112和受光部IlO的检测信号用于组装调整用的反馈控制。使用受光部112和IlO的检测信号生成误差信号，通过进行反馈控制将集成光学元件206和光检测器207的中心位置调整到同轴上，使集成光学元件206与光检测器207的位置关系对准。虚拟光检测器的受光部IlO的受光面积设定为比主光检测器112小，能够提高位置调整精度。<聚焦误差信号生成>15图6(a)是表示物镜205向比记录再现的对象层Layerl距离入射侧更远的LayerO的方向散焦的情况下来自对象层的反射光的图。图6(b)是表示向比对象层Layerl距离入射侧更近的Layerf的方向散焦的情况下来自对象层的反射光的图。来自区域IOaIOd的衍射光，与散焦相应地在Rad方向移动并模糊。来自区域IOeIOh的衍射光，与散焦相应地在Tan方向移动并模糊。此外，来自区域IOi的衍射光，与散焦相应地在原来的位置上光斑变得模糊。在物镜恰好聚焦在对象层的情况下，FES用光检测器M12R12的检测信号都为0，结果FES为0。此外，当物镜向LayerO方向散焦的情况下，在受光部N12和Q12检测出与受光量相应的信号，在向Layerf方向散焦的情况下，在受光部M12、P12、R12检测出与受光量相应的信号。由此，FESl根据受光部M12、m2、P12、Q12、R12的检测信号利用式(1-1)求得。FESl=M12+P12+R12-(N12+Q12)(1-1)此外，受光部E12H12和ElOH10，位于从位置0100看来在Tan方向上比A10、BIO、CIO、DlO和M12、N12、P12、Q12、R12离得更远的位置，在Rad方向排列配置。<DPD法跟踪误差信号生成>基于受光部AlOHlO的检测信号，利用式(1-2)求得DPD法的TES和DPDl。DPDl=(A10+E10+C10+G10)-(B10+F10+D10+H10)—(1-2)<推挽法跟踪误差信号生成>基于受光部E12H12和ElOHlO的检测信号、受光部AlODlO的检测信号，利用式(1-3)求得推挽法的TES和PPSl。PPSl=(A10+B10+E10+F10)-(C10+D10+G10+H10)-ktlX{(E12+F12)-(G12+H12)}—(1-3)此处，ktl是按照在物镜205因跟踪动作而在Rad方向上移动的情况下PPSl不会产生偏移的方式设定的常数。图7和8表示在光盘100具有3层信息记录层且记录再现的对象层为Layerl的情况下，分别来自LayerO和Layer2的反射杂散光，图7(a)和8(a)是光拾取器102内的状况，图7(b)和8(b)是H0E206A的状况，图7(c)和8(c)是检测器207的状况。图7(b)和图8(b)中的虚线表示H0E206A中来自对象层的反射光束的大小。如图7(a)和图8(a)所示，来自非对象层LayerO、Layer2的反射杂散光相对于传播方向在比光检测器207更近或更远处聚光，在光检测器207上成为散焦状态。对于反射杂散光，来自区域IOaIOd的衍射光在散焦时在Rad方向上移动。而另一方面，受光部A12D12和FES用受光部在Tan方向上排列。同样的，对于反射杂散光，来自区域IOeIOh的衍射光在散焦时在Tan方向上移动。而另一方面，受光部E12H12和ElOHlO在Tan方向上排列。因此，只要主光检测器受光部的大小是能够应对物镜205的透镜移位的最小的大小，则来自非对象层的反射杂散光就不会入射到受光部。由此，本实施方式中，来自非对象层的反射杂散光较少被伺服用受光部检测出，能生成稳定的伺服信号。<记录再现RF信号生成>受光部112与伺服信号用检测器不同，也从非对象层接收散焦状态的反射杂散光。因此，与112邻接地配置检测杂散光的杂散光检测器的受光部S10、S11，检测与受光部112检测出的杂散光相同程度的杂散光。为使物镜移位时也能够适当地检测反射杂散光，杂散光受光部SlO和Sll以与物镜205的跟踪动作方向垂直的位置关系配置，该受光部(检测器)的跟踪动作方向的大小得以设定。另外，虽然图7和图8中未图示，但杂散光受光部也可以按照包围受光部112的周围的方式配置多个，也可以在与跟踪动作方向垂直的位置上仅配置1个。再现RF信号RFSl使用受光部AlOH10、I12、S10、S11的检测信号按照式(1_4)求得。RFSl=A10+B10+C10+D10+E10+F10+G10+H10+I12-kslX(S10+S11)—(1-4)此处，ksl是与受光部112和S10、Sll的面积比以及位置关系相应的系数。如式(1-4)所示，通过概算受光部112检测出的反射杂散光成分并将其从实际的检测信号减去，能够提取对象层的再现RF信号。〈组装调整用Η0Ε>此处，说明使用组装调整专用HOE的情况。图9是表示上述第一实施方式中使用的光检测器中，使用衍射方式在组装调整用时和记录再现用时不同的HOE的情况的图。该情况下，作为集成光学元件206采用图3(b)的结构。具有图9(a)所示形状的组装调整用HOE作为图3(b)的206C使用。此外，图9(b)表示检测器207上的聚光位置。从区域IlaIld衍射+1级光，通过双刀刃法作为聚焦误差信号FES检测。此外，从区域Iii衍射多个衍射光，作为组装调整信号检测。在组装调整时，为了不产生妨碍伺服信号检测的来自非对象层的反射杂散光，使用单层光盘即可。这样，反射杂散光不会照射受光部，来自区域Ili的衍射光中也允许有0级光。在检测0级光的情况下，图9(b)中，只要如中央附近的虚线所示设置虚拟光检测器111即可。然后，记录再现时通过用可变1/2波片206B进行切换，能够实现图4所示的衍射方式。该情况下与上述情况不同，从区域Ili(相当于图4的IOi)只存在记录再现时的RF信号光用的衍射光，不存在组装调整用的虚拟光检测器所接收的衍射光。此外，作为组装调整用HOE的其他方式，也可以使用下述Η0Ε，S卩，准备与图4所示的HOE大致相同方式的Η0Ε，仅对于区域Ili(相当于图4的IOi)，透过的光束中主光检测器接收的RFS成分和用于组装调整用的+1级衍射光与虚拟光检测器接收的组装调整用的衍射光的分光比不同。例如组装调整时使用5050的Η0Ε，记录再现时使用1000的Η0Ε。该情况下，可以使HOE整体为偏振Η0Ε，也可以仅使区域Ili(相当于图4的IOi)具有偏振特性。(2)第二实施方式第二实施方式通过在组装调整时和记录再现时使不同的衍射方式起作用，在集成光学元件206与光检测器207的组装位置调节中除了-1级光之外还使用0级光。在使用0级光的情况下，HOE的工作精度的影响较少，能够以较高的精度实现组装位置调节。此外，在进行利用DPD法的跟踪控制的情况下，对于包含反射光L300的光轴中心的衍射光而言，难以避免来自非对象层的反射杂散光。因此，并用组装调整时的对策和利用DPD法进行跟踪控制的Η0Ε，但在利用推挽法进行跟踪控制的情况下使具有不同的衍射方式的HOE起作用。由此，能够实现具有精度较高的组装位置、反射杂散光的影响较少的光拾取器。另外，通过用一个受光部接收来自HOE中多个不同区域的衍射光，使光检测器207的结构和信号运算更加简化。图10至13涉及第二实施方式，与图1至9所示的第一实施方式对应的部分用同一符号表示。其中，光信息记录装置1和光拾取器102的结构与第一实施方式相同，所以省略说明。〈衍射光栅的结构〉图10是表示本发明的第二实施方式的偏振HOE的结构的图。图10(a)是组装调整用和BD-ROM记录再现时所必需的利用DPD法的跟踪控制(记录再现时)用(组装调整用/DPD用)的HOE的结构图，图10(b)是BD-R/RE记录再现时所必需的利用推挽法的跟踪控制(记录再现时)用(PP用)的HOE的结构图。图10(a)中，区域20a20d按照反射光L300中的因ROM的坑引起的干涉图案全部透过的方式分割元件而生成。具体而言，区域20a与20b、20c与20d、20e与20h、20f与20g的边界，按照在反射光L300与HOE的中心一致时所分割的反射光L300为大致一半的方式设定。透过图10(a)的区域20a20d的光，成为Tan方向的+1级衍射光或_1级衍射光，来自各区域的衍射光在Tan方向上排列。此时区域20a与20c、区域20b与20d在相同位置聚光，被作为再现RFS和DPD法的TES—起检测出来。其中，虽然未图示，但也可以采用在区域20a与20c的聚光位置、和区域20b与20d的聚光位置之间存在中心位置0200的方式。透过区域20e20h的光，成为Tan方向的+1级衍射光，来自各区域的衍射光在Rad方向排列。来自区域20e20h的+1级衍射光被作为FES检测。此外，透过区域20i的光成为0级光和Rad方向的+1级衍射光，0级光被作为组装调整用信号检测，+1级光被作为组装调整信号和再现RFS检测。当使用来自区域20i的+1级衍射光作为再现RFS用的情况下，组装调整用时只要使用+1级衍射光以外的光即可，本实施方式中使用0级光，但也可以使用-1级光。图10(b)与第一实施方式结构相同，所以省略详细说明。如上所述，图10(a)的HOE用于组装调整用和DPD用。另一方面，图10(b)的HOE用于PP用，不用于组装调整。此夕卜，图10(b)的HOE与图10(a)的HOE的记录再现对象的记录介质不同。另外，哪一种结构的HOE都能够作为图3(b)中的206C使用，使用哪一个例如通过元件206B根据作为对象的记录介质来切换。〈光检测器的结构〉图11是第二实施方式中的光检测器的结构图。受光部A20、D20、E20、G20、H20、122和M22、N22、P22、Q22是主光检测器的受光部，受光部121是虚拟光检测器的受光部，S20、S21是杂散光用副检测器的受光部。基于受光部A20、D20、E20、G20、H20的检测信号生成TES，基于受光部M22、N22、P22、Q22的检测信号生成FES。其中，与第一实施方式同样地，主光检测器受光部的大小只18要是能够应对物镜205的透镜移位士数百μm等的最小的大小即可。当反射光L300的光轴、集成光学元件206、光检测器207的中心0200全部一致时，来自区域20a、20c、21a、21b的-1级衍射光在受光部A20的中心聚光，来自区域20b、20d、21c、21d的-1级衍射光在受光部D20的中心聚光，来自区域21e、21f的-1级衍射光在受光部E20的在跟踪方向上延伸的中心线上聚光，来自区域21g的-1级衍射光在受光部G20的中心聚光，来自区域21h的-1级衍射光在受光部H20的中心聚光，分别被检测。其中，受光部E20以一个受光部接收来自HOE的多个不同区域的衍射光。由此实现光检测器207的结构和信号运算的简化。另一方面，为了使受光部E20的响应特性与受光部G20和H20相同，如图11中虚线所示，将与受光部G20和H20相同大小的受光部，在与受光部G20和H20相同轴线上的Rad方向的正的位置作为受光部(E20)设置，或在负的位置作为受光部(F20)设置。这样，可以分别使受光部(E20)和(F20)接收来自HOE的区域20e和21e、区域20f和21f的-1级光。来自区域20e、21e、20h和21h的+1级衍射光，在受光部P22与Q22的恰好中间在Rad方向上排列，从中心0200看来，来自区域20e和21e的光在内侧聚光，来自区域20h和2Ih的光在外侧聚光。来自区域20f、21f、20g和21g的+1级衍射光，在受光部M22与N22的恰好中间在Rad方向上排列，从中心0200看来，来自区域20f和21f的光在内侧聚光，来自区域20g和21g的光在外侧聚光。这样，区域20e20h、21e21h的+1级衍射光，在散焦状态时被受光部M22、N22、P22、Q22检测到。FES检测用受光部M22、N22、P22和Q22，配置在比区域20/2Iad的聚光位置离中心位置0200更远的位置。由此，来自非对象层的反射杂散光难以进入受光部，能够检测出稳定的FES。区域20i和21i的+1级衍射光在受光部122的中心聚光，区域20i的0级衍射光在受光部121的中心聚光，分别被检测出。将-1级衍射光用于组装调整用的情况下，在-1级衍射光聚光的位置设置受光部120(相当于第一实施方式中的受光部110)以代替受光部121。此外，虚拟光检测器(受光部)121仅在组装调整时使用，受光部122和虚拟光检测器121的检测信号用于组装调整用的反馈控制。使用受光部122和121的检测信号生成误差信号，进行反馈控制，由此使集成光学元件206和光检测器207的中心位置在同轴上对准，从而能够使集成光学元件206与光检测器207的位置关系对准。此外，通过使虚拟光检测器121的受光面积小于主光检测器122，能够提高位置调整精度。〈聚焦误差信号生成〉图12是表示在本实施方式中散焦时的来自对象层的反射光图案的图。图12中，表示了物镜205向比记录再现的对象层Layerl距离入射侧更远的LayerO的方向散焦的情况下的来自对象层的反射光(L0侧)，和向比对象层Layerl距离入射侧更近的Layerf的方向散焦的情况下的来自对象层的反射光(L2侧)。图12(a)表示组装调整/DPD用HOE起作用的情况，图10(b)表示PP用HOE起作用的情况。来自区域20a20d和区域21a21d的衍射光，与散焦相应地在Rad方向移动19且光斑变得模糊。此外，来自区域20e20h和区域21e21h的衍射光，在Tan方向移动且光斑变得模糊。另外，来自区域20i、21i的衍射光在原来的位置上光斑变得模糊。如图12(a)和(b)所示，来自区域20a20d、20i、21i的衍射光，不论在向LayerO方向和Layer2方向的哪一侧散焦的情况下，聚光光斑都同样地变得模糊。受光部M22、N22、P22和Q22对用于生成利用双刀刃法的聚焦误差信号FES的信号进行检测。当物镜恰好在对象层聚焦时，FES用光检测器M12R12的检测信号全部成为0，结果FES成为0。当物镜向LayerO方向散焦时，在受光部N22和Q22中检测出与受光量相应的信号。此外，当向Layerf方向散焦时，在受光部M22、P22中检测出与受光量相应的信号。由此，根据受光部M22、N22、P22、Q22的检测信号使用式(2_1)求得FES2。FES2=M22+P22-(N22+Q22)…(2-1)<DPD法跟踪误差信号生成>在组装调整/DPD用HOE起作用的情况下，根据受光部A20、D20的检测信号用式(2-2)求得DPD法的TES、DPD22。其中，来自区域20a和20c的衍射光由受光部A20—齐检测，来自区域20b和20d的衍射光由受光部D20—齐检测。由此，信号运算得以简化。DPD2=A20-D20...(2-2)<推挽法跟踪误差信号生成>推挽信号的AC成分由受光部A20和D20检测。此外，推挽信号的DC成分由受光部E20、G20和H20检测。基于这些检测信号，按照式(2_3)求得利用推挽法的TES、PPS2。其中，来自区域21a和21b的衍射光由受光部A20—齐检测，来自区域21c和2Id的衍射光由受光部D20—齐检测，区域21e、21f由受光部E20—齐检测。由此，信号运算得以简化。PPS2=(A20+E20)-(D20+G20+H20)-kt2X{E20-(G20+H20)}—(2-3)此处，kt2是按照在物镜205因跟踪动作而在Rad方向上移动的情况下PPS不会产生偏移(offset)的方式设定的常数。图13是表示在光盘100具有3层信息记录层且记录再现的对象层为Layerl的情况下的反射杂散光的状况的图。图13中，表示了来自LayerO(LO)和Layerf(L2)的反射杂散光。图13(a)表示组装调整/ROM记录再现时的HOE起作用的情况，图13(b)表示RE记录再现时的HOE起作用的情况。来自区域20a20d和21a21d的衍射光，在散焦时在Rad方向上移动。而另一方面，受光部A20和D20在Tan方向上排列。此外，来自区域20e20h和21e21h的衍射光，在散焦时在Tan方向上移动。而另一方面，受光部E20H20和FES用受光部在Rad方向上排列。因此，主光检测器受光部的大小只要是能够应对物镜205的透镜移位的最小的大小，来自非对象层的反射杂散光就不会入射到各受光部。由此，本实施方式中来自非对象层的反射杂散光较少被伺服用受光部检测出来，能生成稳定的伺服信号。<记录再现RF信号生成>受光部122接收来自区域20i和21i的1级衍射光。然后，基于与其受光量相应的检测信号生成记录再现RF信号。但是，受光部122与伺服信号用检测器不同，也会从非对象层接收散焦状态的反射杂散光，所以与122邻接地配置检测杂散光的副检测器的受光部S20和S21，使其检测与受光部122检测的杂散光相同程度的杂散光。杂散光用副检测器的受光部S20和S21，为了在物镜移位时也同样检测杂散光，按照与物镜205的跟踪动作方向垂直的位置关系配置，设定该检测器在跟踪动作(Rad)方向上的大小。即，因为杂散光不是平行光，所以杂散光也随物镜的运动而运动，所以即使在物镜运动的情况下也必须能够适当的接收杂散光。因此，需要将杂散光用副检测器的受光部S20和S21的Rad方向的大小，按照即使在杂散光运动的情况下也能够检测出的方式设定。另外，虽然没有图示，但杂散光受光部可以围着受光部122的周围配置多个，或者在相对于跟踪动作方向垂直的位置仅配置1个。由此，基于受光部A20H20、122、S20、S21的与受光量相应的检测信号，根据式(2-4-1)或(2-4-2)求得再现RF信号RFS2。(使组装调整/DPD用HOE作用的情况)RFS2=A20+D20+I22-ks2X(S20+S21)...(2-4-1)(使PP用HOE作用的情况)RFS2=A20+D20+E20+G20+H20+I22-ks2X(S20+S21)...(2-4—2)此处，ks2是与受光部122和S20、S21的面积比以及位置关系相应的系数。如上所述，通过概算受光部122检测出的反射杂散光成分并将其从实际检测信号中减去，能够提取对象层的记录再现信号。(3)第三实施方式第三实施方式是与第二实施方式大致相同的内容，但涉及通过进一步简化组装调整/DPD用HOE来提高HOE的制造精度、且用于进一步稳定利用刀刃法的FES检测的结构。图14至17是涉及第三实施方式的图，与第一实施方式对应的部分用同一符号表示。另外，光信息记录装置1和光拾取器102的结构与第一实施方式相同，因而省略说明。〈衍射光栅的结构〉图14是表示本发明的第三实施方式的偏振HOE的结构的图。具体而言，图14(a)表示组装调整用和BD-ROM记录再现时所必需的DPD法的跟踪控制用(组装调整/DPD用)HOE的结构，图14(b)表示BD-RE记录再现时所必需的推挽法的跟踪控制用(PP用)Η0Ε的结构。图14中，区域30a30d的边界，按照在反射光L300的中心与HOE的中心一致时所分割的反射光L300为大致一半的方式设定。区域31a和31c，按照包含物镜205在Rad方向上位移的情况下反射光L300中的推挽图案都全部透过的方式，分割区域而构成。此外，区域31e与31h、31f与31g的边界，按照在反射光L300的中心与H0E206A的中心一致时所分割的反射光L300为大致一半的方式设定。透过图14(a)的区域30a30d的光成为Tan方向的0、士1级衍射光，来自各区域的衍射光在士Rad方向上排列。此外，透过图14(b)的区域31a和31c的光成为Tan方向的+1级或-1级衍射光中的某一个。另外，以下以透过区域31a的光成为Tan方向的-1级衍射光、透过区域31c的光成为Tan方向的+1级衍射光的情况为例进行说明。此外，图14(b)中采用下述结构，即，通过使从中心0300到来自区域31a和31c的衍射光的聚光位置的距离不同，使得因HOE的制造精度而引起的本来不需要的级数的衍射光不进入受光部。此外，透过区域31e31h的光成为Tan方向的士1级衍射光，来自各区域的衍射光在Rad方向上排列。来自区域30a30d和区域31e31h的+1级衍射光，作为用于生成FES的信号检测。另外，透过组装调整/DPD用HOE的光的0级光用作组装调整信号，-1级光用作组装调整信号和再现RFS。此时0级光的强度只要是用虚拟光检测器能够检测的最小的光强度即可，例如设定为+1级光强度0级光强度-1级光强度=30565。〈光检测器的结构〉图15是表示本发明的第三实施方式的光检测器的结构的图。此处，受光部A30、C32、E30、G30、H30、132和M32、N32、P32、Q32是主光检测器的受光部。受光部131是虚拟光检测器的受光部。此外，S30和S31是杂散光用副检测器的受光部。该检测器中，各受光部的配置结构在使HOE作为组装调整用/DPD用HOE作用的情况和作为PP用HOE作用的情况下相同。TES基于与受光部A30、C32、E30、G30、H30的受光量相应的检测信号生成，FES基于与受光部M32、N32、P32、Q32的受光量相应的检测信号生成。另外，主光检测器受光部的大小，与第一和第二实施方式同样地，只要是能够应对物镜205的透镜移位士数百ym等的最小的大小即可。当反射光L300的光轴、集成光学元件206、光检测器207的中心0300全部一致时，来自区域30a、30c、31e和31f的-1级衍射光在受光部E30上聚光，来自区域30a和30c、区域31e和31f的衍射光分别被一齐检测出。其中，受光部E30以一个受光部接收来自HOE中多个不同区域的衍射光。由此，能够简化光检测器207的结构和信号运算。但是，为了使受光部E30的响应特性与G30和H30相同，如图15中虚线所示，将与受光部G30和H30相同大小的受光部，在与受光部G30和H30相同轴线上的Rad方向的正的位置作为受光部(E30)设置，或在负的位置作为受光部(F30)设置。这样，可以分别使区域(E30)和(F30)接收来自HOE的区域30a和31e、区域30c和31f的-1级衍射光。来自区域30b和31g的-1级衍射光在受光部G30的中心聚光，来自区域30d和3Ih的-1级衍射光在受光部H30的中心聚光，来自区域31a的-1级衍射光在受光部A30的中心聚光，来自31c的-1级衍射光在受光部C32的中心聚光，分别被检测。来自区域30a、31e、30d和31h的+1级光，在受光部P32与Q32的恰好中间在Rad方向上排列，从中心0300看来，来自区域30a和3Ie的衍射光在内侧聚光，来自区域30d和31h的衍射光在外侧聚光。此外，来自区域30b、31f、30c和31g的+1级衍射光，在受光部M22与N22的恰好中间在Rad方向上排列，从中心0300看来，来自区域30b和31f的光在内侧聚光，来自区域30c和31g的光在外侧聚光。此外，区域30a30d、31e3Ih的+1级衍射光，在散焦状态时被受光部M32、N32、P32、Q32检测到。当HOE作为PP用HOE作用时，FES检测用受光部M32、N32、P32和Q32配置在比区域31a31d的聚光位置离中心位置0300更远的位置即可。由此，来自非对象层的反射杂散光难以进入各受光部，能够检测出稳定的FES。另一方面，当HOE作为组装调整/DPD用HOE作用时，透过该HOE的光的0级衍射光在虚拟光检测器的受光部131的中心聚光，来自区域31i的+1级衍射光在受光部132的中心聚光，并被检测。该虚拟光检测器仅在组装调整时使用，受光部132和虚拟光检测器的22受光部131的检测信号用于组装调整用的反馈控制。其方式与第一和第二实施方式相同。〈聚焦误差信号生成〉图16是表示第三实施方式中来自散焦时的对象层的反射光的状况的图。图16中，表示了物镜205向比记录再现的对象层Layerl距离入射侧更远的LayerO的方向散焦的情况下的来自对象层的反射光(L0侧)，和向比对象层Layerl距离入射侧更近的Layerf的方向散焦的情况下的来自对象层的反射光(L2侧)。图16(a)表示组装调整用/DPD记录再现用的HOE起作用的情况下的反射光的状况，图16(b)表示PP记录再现用的HOE起作用的情况下的反射光的状况。对于来自区域30a30d的衍射光，以物镜205与对象层的焦点相合时的聚光位置为中心，光斑变得模糊。此外，来自区域31a、31c的衍射光，与散焦相应地在Rad方向上移动且光斑变得模糊。另外，来自区域31e31h的衍射光，在Tan方向上移动且光斑变得模糊。此外，来自组装调整/ROM用HOE的0级光和来自区域31i的衍射光，在原来的位置上光斑变得模糊。如图16(a)和(b)所示，来自组装调整/ROM用HOE的0级光和来自区域31i的衍射光，不论在向LayerO方向和Layerf方向的哪一侧散焦的情况下，聚光光斑都同样地模糊。受光部M32、N32、P32和Q32检测用于生成利用双刀刃法的聚焦误差信号FES的信号。当物镜恰好聚焦在对象层上的情况下，FES用光检测器M32Q32的检测信号全部为0，结果FES为0。在物镜向LayerO方向散焦的情况下，受光部N32和Q32中检测出与受光量相应的信号。此外，在向Layerf方向散焦的情况下，受光部M32、P32中检测出与受光量相应的信号。从而，FES3根据与受光部M32、N32、P32、Q32的受光量相应的检测信号按照式(3-1)求得。FES3=M32+P32-(N32+Q32)...(3-1)<DPD法跟踪误差信号生成>在HOE作为组装调整用/DPD用HOE作用的情况下，基于与受光部E30、G30和H30的受光量相应的检测信号，按照式(3-2)求得DPD法的TES和DPD3。其中，因为来自区域30a和30c的衍射光由受光部E30—齐检测，所以信号运算得以简化。DPD3=E30-(G30+H30)—(3-2)<推挽法跟踪误差信号生成>受光部A30和C32检测用于生成推挽信号的AC成分的信号。受光部E30、G30和H30检测用于生成推挽信号的DC成分的信号。基于这些检测信号，按照式(3-3)求得推挽法的TES和PPS3。其中，因为来自区域31e和31f的衍射光由受光部E30—齐检测，所以信号运算得以简化。PPS3=(A30+E30)-(C32+G30+H30)-kt3X{E30-(G30+H30)}—(3-3)此处，kt3是按照在物镜205因跟踪动作而在Rad方向上移动的情况下PPS3不会产生偏移的方式设定的常数。图17是表示光盘100具有3层信息记录层且记录再现的对象层为Layerl的情况23下的来自LayerO(L0侧)和Layerf(L2侧)的反射杂散光的图。图17(a)表示在组装调整用/DPD记录再现用的HOE作用的情况下的反射杂散光，图17(b)表示在PP记录再现用的HOE作用的情况下的反射杂散光。在PP用HOE作用的情况下(图17(b))，来自区域31a和31c的衍射光在散焦时在Rad方向上移动，来自区域3Ie3Ih的衍射光在散焦时在Tan方向上移动。但是，因为受光部E30H30和FES用受光部在Rad方向上排列，所以只要主光检测器受光部的大小是能够应对物镜205的透镜移位的最小的大小，来自非对象层的反射杂散光就不会入射到各受光部。由此，来自非对象层的反射杂散光较少被伺服用受光部检测到，能生成稳定的伺服信号。另一方面，在组装调整/DPD用HOE起作用、并进行记录再现的情况下(图17(a))，来自非对象层的反射杂散光也会入射到受光部E30H30和FES用受光部。但是，来自对象层的光的光强度较强，或者干涉引起的强度变动足够慢，因此可以认为影响比R/RE记录再现时要少。<记录再现RF信号生成>受光部132接收来自区域31i的1级衍射光，与其受光量相应地生成记录再现RF信号。但是，受光部132与伺服信号用衍射光不同，也会从非对象层接收散焦状态的反射杂散光。于是，与受光部132邻接地配置检测杂散光的副检测器的受光部S30和S31，用它们检测与受光部132检测的杂散光相同程度的杂散光。杂散光用副检测器的受光部S30和S31的方式与第一和第二实施方式相同。从而，根据与受光部430丄32』30!130、132、530、531的受光量相应的检测信号按照式(3-4-1)或(3-4-2)求得再现RF信号RFS3。(组装调整用/ROM用HOE的情况)RF3=E30+G30+H30…(3-4-1)(RE用HOE的情况)RF3=A30+C32+E30+G30+H30+I32-ks3X(S30+S31)...(3-4—2)此处，ks3是与受光部132和S30、S31的面积比以及位置关系相应的系数。如上所述，通过概算受光部132检测出的反射杂散光成分并将其从实际的检测信号中减去，能够在PP用HOE作用的情况下提取对象层的记录再现信号(因为132仅在PP用HOE作用的情况下使用)。(4)第四实施方式第四实施方式是与第三实施方式大致相同的内容，但设置主光检测器和副光检测器用于接收来自组装调整/DPD用HOE的0级光。由此，能够将光强度较强的0级光用于RFS检测，并且能够降低非对象层反射杂散光的影响。此外，由于0级光强度提高，衍射光栅的制造变得容易，能够提高HOE制造精度。〈衍射光栅的结构〉本发明的第四实施方式的HOE的结构，与第三实施方式相同，如图14所示。因此，省略其详细说明。另外，第四实施方式中，透过组装调整/DPD用HOE的光中，来自区域30a30d的+1级衍射光作为FES检测，0级衍射光作为组装调整信号和RFS检测，另外-1级衍射光作为组装调整信号检测。0级光的强度与第三实施方式不同，因为也用于RFS，所以优选为某种程度上较强的强度。另一方面，因为-1级衍射光仅用作组装调整用，所以为最小的光强度即可。由此，分光比按照0级光强度较高的方式设定，例如设定为+1级光强度0级光强度-1级光强度=25705。<光检测器的结构>图18是表示本发明的第四实施方式的光检测器的结构的图。与第三实施方式不同之处在于，受光部141是主光检测器的受光部，受光部S40和S41是杂散光用副受光部，不存在虚拟光检测器。在HOE作为PP用HOE作用的情况下，因为与第三实施方式相同，所以省略说明。另一方面，在HOE作为组装调整用/DPD用HOE作用的情况下，透过它的光的0级衍射光在主光检测器的受光部141的中心聚光。此外，来自非对象层的反射杂散光被副光检测器的受光部S40和S41检测。<记录再现RF信号生成>在HOE作为组装调整/DPD用HOE作用的情况下，因为不使用受光部A30和C30的检测信号，所以0级衍射光中的来自非对象层的反射杂散光仅影响受光部141的检测信号。从而，使用杂散光用副光检测器的受光部S40和S41的检测信号。由此，能够减少受光部141中的来自非对象层的反射杂散光的影响。另外，杂散光用副检测器的受光部S40和S41的方式与第一至第三实施方式相同。由此，再现RF信号RFS4基于受光部A30、C32、E30H30、132、S30、S31和140、S40、S41的检测信号，根据式(4-1-1)或(4-1-2)求得。(组装调整用/ROM(DPD)用HOE的情况)RFS4=I41_ks4X(S40+S41)…(4-1-1)(RE(PP)用HOE的情况)RFS4=A30+C32+E30+G30+H30+I32-ks4X(S30+S31)…(4—1—2)此处，ks4是与受光部132和S30、S31以及受光部141和S40、S41的面积比及位置关系相应的系数。如上所述，通过概算受光部141检测出的反射杂散光成分，并从实际的检测信号中将其减去，能够在组装调整用/DPD(ROM)用HOE作用的情况下提取对象层的记录再现信号。另外，PP用HOE作用的情况下的RFS检测和两个HOE作用时的FES、TES检测与第三实施方式相同，所以省略说明。权利要求一种光拾取器，其特征在于，包括物镜，其用于使来自光源的光照射到光记录介质的信息记录层；衍射光学元件，其将来自所述光记录介质的反射光分割为多个光束并使其衍射；和光检测器，其接收被所述衍射光学元件衍射的光束，所述光检测器具备第一光检测部，其检测由所述衍射光学元件生成的衍射光中、作为所述反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光；和第二光检测部，其检测所述反射光的中央区域的衍射光中、级数与所述第一衍射光不同的第二衍射光，所述光检测器输出第一检测信号和第二检测信号，其中，该第一检测信号是与所述第二衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，该第二检测信号是与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号。2.如权利要求1所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光学元件具备第一区域，该第一区域使来自所述光记录介质的反射光的中央区域的光在所述光记录介质的半径方向(Rad方向)上衍射，按照所述第一衍射光的光强度大于所述第二衍射光的光强度的方式生成所述第一和第二衍射光。3.如权利要求2所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光学元件，具有使所述反射光中包含的推挽图案全部透过的第二区域，使透过该第二区域的光在所述光记录介质的跟踪方向(Tan方向)上衍射，生成用于生成聚焦误差信号的第三衍射光和用于生成跟踪误差信号的AC成分的第四衍射光。4.如权利要求3所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光学元件的所述第一和第二区域以外的第三区域，使所述反射光在所述Tan方向上衍射，生成用于生成跟踪误差信号的DC成分的第五和第六衍射光。5.如权利要求1所述的光拾取器，其特征在于所述光检测器，还具备对自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层来的反射杂散光进行检测的第三光检测部，并输出用于计算杂散光成分的第三检测信号。6.如权利要求4所述的光拾取器，其特征在于所述光检测器，还具备分别检测所述第三至第六衍射光的第四至第七光检测部，所述第四至第七光检测部，按照不接收来自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层的反射杂散光、仅接收来自对象层的反射光的方式加以配置。7.如权利要求1所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光学元件，具有第一和第二功能，所述光拾取器，还具备用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能的切换元件，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号，该第一检测信号作为与所述第二衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第二检测信号，该第二检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信8.一种光拾取器，其特征在于，包括物镜，其用于使来自光源的光照射到光记录介质的信息记录层；衍射光学元件，其将来自所述光记录介质的反射光分割为多个光束并使其衍射，具有第一和第二功能；切换元件，其用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能；和光检测器，其接收被所述衍射光学元件衍射的光束，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号或与所述第一衍射光的检测量相应的信息记录再现用的第二检测信号，其中，该第一检测信号作为与所述第一和第二衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第三检测信号，该第三检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号。9.如权利要求8所述的光拾取器，其特征在于所述光检测器，还具备对自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层来的反射杂散光进行检测的第三光检测部，并输出用于计算杂散光成分的第四检测信号。10.一种光拾取器，其特征在于，包括物镜，其用于使来自光源的光照射到光记录介质的信息记录层；衍射光学元件，其将来自所述光记录介质的反射光分割为多个光束并使其衍射，具有第一和第二功能；切换元件，其用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能；和光检测器，其接收被所述衍射光学元件衍射的光束，所述衍射光学元件，在作为所述第一功能起作用的情况下，将所述反射光分割衍射为多个光束，在作为所述第二功能起作用的情况下，使所述反射光的中央区域的光在与其他区域不同的方向上衍射，所述光检测器具备第一光检测部，其检测在作为所述第一功能起作用时的所述衍射光学元件的0级衍射光(第一衍射光)；第二光检测部，其检测在作为所述第二功能起作用时的所述衍射光学元件的所述反射光的中央区域的衍射光中0级以外的衍射光(第二衍射光)；和第三光检测部，其检测作为所述第一功能起作用的所述衍射光学元件的0级以外的衍射光(第三衍射光)，和作为所述第二功能起作用的所述衍射光学元件的衍射光中与所述第二衍射光的级数不同的0级以外的衍射光(第四衍射光)，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号或与所述第三衍射光的检测量相应的信息记录再现和反馈控制用的第二检测信号，其中，该第一检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第三检测信号，该第三检测信号作为与所述第二和第四衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号。11.一种光拾取器，其特征在于，包括物镜，其用于使来自光源的光照射到光记录介质的信息记录层；衍射光学元件，其将来自所述光记录介质的反射光分割为多个光束并使其衍射，具有第一和第二功能；切换元件，其用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能；和光检测器，其接收被所述衍射光学元件衍射的光束，所述衍射光学元件，在作为所述第一功能起作用的情况下，将所述反射光分割衍射为多个光束，在作为所述第二功能起作用的情况下，使所述反射光的中央区域的光在与其他区域不同的方向上衍射，所述光检测器具备第一光检测部，其检测在作为所述第一功能起作用时的所述衍射光学元件的0级衍射光(第一衍射光)；第二光检测部，其检测在作为所述第二功能起作用时的所述衍射光学元件的所述反射光的中央区域的衍射光中0级以外的衍射光(第二衍射光)；和第三光检测部，其检测作为所述第一功能起作用的所述衍射光学元件的0级以外的衍射光(第三衍射光)，和作为所述第二功能起作用的所述衍射光学元件的衍射光中衍射角与所述第二衍射光不同的0级以外的衍射光(第四衍射光)，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号或与所述第一和第三衍射光的检测量相应的信息记录再现和反馈控制用的第二检测信号，其中，该第一检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第三检测信号，该第三检测信号作为与所述第二和第四衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号。12.—种光信息记录再现装置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物镜，用于使来自光源的光束照射到光盘的信息记录层；衍射光学元件，将来自所述光盘的反射光分割为多个光束并使其衍射；和光检测器，接收被所述衍射光学元件衍射的光束；信号处理电路，其基于来自所述光检测器的检测信号生成信息记录再现信号和控制信号；和驱动控制部，其基于所述控制信号对所述光拾取器进行反馈控制，所述光拾取器的所述光检测器包括第一光检测部，检测由所述衍射光学元件生成的衍射光中、作为所述反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光；和第二光检测部，检测所述反射光的中央区域的衍射光中、级数与所述第一衍射光不同的第二衍射光，所述光检测器输出第一检测信号和第二检测信号，其中，该第一检测信号是与所述第二衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，该第二检测信号是与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号，所述信号处理电路，基于所述第一检测信号生成用于调整所述衍射光学元件与所述光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于所述第二检测信号生成所述信息记录再现信号和伺服信号，所述驱动控制部，基于所述位置调整用控制信号和所述伺服信号调整所述光拾取器内的所述衍射光学元件与所述光检测器的位置，基于所述伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。13.如权利要求12所述的光信息记录再现装置，其特征在于所述光检测器，还具备对自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层来的反射杂散光进行检测的第三光检测部，并输出用于计算杂散光成分的第三检测信号，所述信号处理电路，基于所述第三检测信号计算所述杂散光成分，并从所述信息记录再现信号减去所述杂散光成分，由此生成仅起因于所述光记录介质的对象层的信息记录再现信号。14.如权利要求12所述的光信息记录再现装置，其特征在于所述衍射光学元件，具有第一和第二功能，所述光拾取器，还具备用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能的切换元件，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号，该第一检测信号作为与所述第二衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第二检测信号，该第二检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号。15.一种光信息记录再现装置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物镜，用于使来自光源的光束照射到光盘的信息记录层；衍射光学元件，将来自所述光盘的反射光分割为多个光束并使其衍射，而且具有第一和第二功能；切换元件，用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能；和光检测器，接收被所述衍射光学元件衍射的光束；信号处理电路，其基于来自所述光检测器的检测信号生成信息记录再现信号和控制信号；和驱动控制部，其基于所述控制信号对所述光拾取器进行反馈控制，所述光拾取器的所述光检测器包括第一光检测部，检测由所述衍射光学元件生成的衍射光中、作为所述反射光的中央区域的衍射光的第一衍射光；和第二光检测部，检测所述反射光的中央区域的衍射光中、级数与所述第一衍射光不同的第二衍射光，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号或与所述第一衍射光的检测量相应的信息记录再现用的第二检测信号，其中，该第一检测信号作为与所述第一和第二衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第三检测信号，该第三检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号。所述信号处理电路，基于所述第一检测信号生成用于调整所述衍射光学元件与所述光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于所述第二或第三检测信号生成所述信息记录再现信号和伺服信号，所述驱动控制部，基于所述位置调整用控制信号和所述伺服信号调整所述光拾取器内的所述衍射光学元件与所述光检测器的位置，基于所述伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。16.如权利要求15所述的光信息记录再现装置，其特征在于所述光检测器，还具备对自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层来的反射杂散光进行检测的第三光检测部，并输出用于计算杂散光成分的第四检测信号，所述信号处理电路，基于所述第四检测信号计算所述杂散光成分，并从所述信息记录再现信号减去所述杂散光成分，由此生成仅起因于所述光记录介质的对象层的信息记录再现信号。17.一种光信息记录再现装置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物镜，用于使来自光源的光照射到光记录介质的信息记录层；衍射光学元件，将来自所述光记录介质的反射光分割为多个光束并使其衍射，而且具有第一和第二功能；切换元件，用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能；和光检测器，接收被所述衍射光学元件衍射的光束；信号处理电路，其基于来自所述光检测器的检测信号生成信息记录再现信号和控制信号；和驱动控制部，其基于所述控制信号对所述光拾取器进行反馈控制，所述衍射光学元件，在作为所述第一功能起作用的情况下，将所述反射光分割衍射为多个光束，在作为所述第二功能起作用的情况下，使所述反射光的中央区域的光在与其他区域不同的方向上衍射，所述光检测器具备第一光检测部，其检测在作为所述第一功能起作用时的所述衍射光学元件的0级衍射光(第一衍射光)；第二光检测部，其检测在作为所述第二功能起作用时的所述衍射光学元件的所述反射光的中央区域的衍射光中0级以外的衍射光(第二衍射光)；和第三光检测部，其检测作为所述第一功能起作用的所述衍射光学元件的0级以外的衍射光(第三衍射光)，和作为所述第二功能起作用的所述衍射光学元件的衍射光中衍射角与所述第二衍射光不同的0级以外的衍射光(第四衍射光)，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号或与所述第三衍射光的检测量相应的信息记录再现和反馈控制用的第二检测信号，其中，该第一检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第三检测信号，该第三检测信号作为与所述第二和第四衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号，所述信号处理电路，基于所述第一检测信号生成用于调整所述衍射光学元件与所述光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于所述第二或第三检测信号生成所述信息记录再现信号和伺服信号，所述驱动控制部，基于所述位置调整用控制信号和所述伺服信号调整所述光拾取器内的所述衍射光学元件与所述光检测器的位置，基于所述伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。18.如权利要求17所述的光信息记录再现装置，其特征在于所述光检测器，还具备对自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层来的反射杂散光进行检测的第三光检测部，并输出用于计算杂散光成分的第四检测信号，所述信号处理电路，基于所述第四检测信号计算所述杂散光成分，并从所述信息记录再现信号减去所述杂散光成分，由此生成仅起因于所述光记录介质的对象层的信息记录再现信号。19.一种光信息记录再现装置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物镜，用于使来自光源的光照射到光记录介质的信息记录层；衍射光学元件，将来自所述光记录介质的反射光分割为多个光束并使其衍射，而且具有第一和第二功能；切换元件，用于在所述衍射光学元件的所述第一和第二功能之间切换功能；和光检测器，接收被所述衍射光学元件衍射的光束；信号处理电路，其基于来自所述光检测器的检测信号生成信息记录再现信号和控制信号；和驱动控制部，其基于所述控制信号对所述光拾取器进行反馈控制，所述衍射光学元件，在作为所述第一功能起作用的情况下，将所述反射光分割衍射为多个光束，在作为所述第二功能起作用的情况下，使所述反射光的中央区域的光在与其他区域不同的方向上衍射，所述光检测器具备第一光检测部，其检测在作为所述第一功能起作用时的所述衍射光学元件的0级衍射光(第一衍射光)；第二光检测部，其检测在作为所述第二功能起作用时的所述衍射光学元件的所述反射光的中央区域的衍射光中0级以外的衍射光(第二衍射光)；第三光检测部，其检测作为所述第一功能起作用的所述衍射光学元件的0级以外的衍射光(第三衍射光)，和作为所述第二功能起作用的所述衍射光学元件的衍射光中衍射角与所述第二衍射光不同的0级以外的衍射光(第四衍射光)；和第四光检测部，其对自具有多个信息记录层的光记录介质中的非对象层来的反射杂散光进行检测，输出用于计算杂散光成分的杂散光成分检测信号，在选择了所述第一功能的情况下，所述光检测器输出第一检测信号或与所述第一和第三衍射光的检测量相应的信息记录再现和反馈控制用的第二检测信号，其中，该第一检测信号作为与所述第一衍射光的检测量相应的信号，用于生成组装调整用的信号，在选择了所述第二功能的情况下，所述光检测器输出第三检测信号，该第三检测信号作为与所述第二和第四衍射光的检测量相应的信号，用于生成信息记录再现和反馈控制用的信号，所述信号处理电路，基于所述第一检测信号生成用于调整所述衍射光学元件与所述光检测器的位置关系的位置调整用控制信号，基于所述第二或第三检测信号生成所述信息记录再现信号和伺服信号，基于所述杂散光成分检测信号计算所述杂散光成分，并从所述信息记录再现信号减去所述杂散光成分，由此生成仅起因于所述光记录介质的对象层的信息记录再现信号，所述驱动控制部，基于所述位置调整用控制信号和所述伺服信号调整所述光拾取器内的所述衍射光学元件与所述光检测器的位置，基于所述伺服信号执行聚焦控制和跟踪控制。全文摘要本发明提供一种光拾取器和光信息记录再现装置。以使来自光盘的反射光分割·衍射的衍射光学元件中的区域，将反射光分割为多个不同衍射级数的光并受光，利用受光信号进行反馈控制，由此使衍射光学元件、光检测器的位置关系对齐。在对透过衍射光学元件的中央区域的光束进行检测而生成RF信号的光检测器的附近配置副光检测器，接收来自非对象层的反射杂散光并进行运算，由此计算RF信号检测器接收的反射杂散光成分，仅检测来自对象层的反射光信号成分。文档编号G11B7/13GK101958129SQ201010230378公开日2011年1月26日申请日期2010年7月14日优先权日2009年7月14日发明者井手达朗,山崎和良,木村茂治,达永里子申请人:日立视听媒介电子股份有限公司