专利名称：一次写入多次读取信息记录介质、信息记录方法、信息再现方法、信息记录装置和信息再 ...的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种一次写入多次读取信息记录介质、将信息记录到一次写入多次读 取信息记录介质上的信息记录方法、从一次写入多次读取信息记录介质再现信息的信息再 现方法、将信息记录到一次写入多次读取信息记录介质上的信息记录装置、和从一次写入 多次读取信息记录介质再现信息的信息再现装置。
背景技术：
近来，大容量可更换信息记录介质和处理大容量可更换信息记录介质的盘驱动装 置得到了广泛使用。作为大容量可更换信息记录介质，为大家所熟悉的是光盘(例如，DVD
寸J ο在光盘驱动装置中，通过使用激光在其上形成小的凹坑来将信息记录到光盘上。 因此，光盘驱动装置能够记录大容量可更换信息。光盘具有可更换信息记录介质的缺点，即 记录表面有可能因诸如灰尘、划痕之类的缺陷遭到破坏。为了应对该问题，光盘驱动装置必须执行缺陷管理，以便确保记录或再现数据的
可靠性。在传统的缺陷管理技术中，在可重写光盘的内圆周和外圆周部分的每一个中的预 定位置分配有两个缺陷管理区(DMA)(即，总共提供有四个DMA)。如果更新缺陷管理信息， 则新的缺陷管理信息就被写入到这些缺陷管理区中(例如，日本专利公开文本第5-006626 号)。图23表示传统可重写光盘400的数据结构。数据区5包含用于记录/再现用户数据的用户数据区16、用于提供替代在用户数 据区16中出现的缺陷块的块(此后也称为“替换块”)的备用区17。备用区17是预先设置的。导入区4和导出区6每个都包含用于记录关于数据区5中出现的缺陷块的信息的 缺陷管理区。导入区4包含第一缺陷管理区10 (此后也称作“DMA1”)和第二缺陷管理区 11(此后也称作“0獻2”)。导出区6包含第三缺陷管理区12(此后也称作“0獻3”)和第四 缺陷管理区13 (此后也称作“DMA4” )。DMAl至DMA4中的每一个都具有预定的位置和固定的长度。提供在DMAl至DMA4 的每一个中的管理信息具有根据缺陷块的数量变化的长度，即可变长度。注意，所有DMAl 至DMA4都具有相同的信息，即多条相同的信息存储在盘上。这是因为缺陷可出现在DMAl 至DMA4自身中。例如，如果从DMA不能再现信息，但从DMAl至DMA4的任一个中能够再现信息，则能够获得缺陷管理信息。DMAl至DMA4每个都包含盘定义结构(此后也称作“DDS”)14和缺陷列表(此后 也称作“DFL”)15，其中DDS 14在DFL 15前面。DFL 15包含缺陷列表标题32和M个缺陷项33 (M 0或者更大的整数)。缺陷列表标题32包含DFL 15中所包含的缺陷项33的数量之类的内容。缺陷列 表标题32位于DFL 15中的预定位置(例如，DFL 15的开头)。缺陷项33包含与数据区5中检测到的缺陷块有关的位置信息；与替换缺陷块的备 用区有关的替换块位置信息；等等。DDS 14包含表示DFL 15的位置的缺陷列表开始位置信息，等等。可重写光盘400中包含的DMAl至DMA4是可重写的。因此，每次更新缺陷管理信 息时，能在DMAl至DMA4上重写最新的缺陷管理信息，即能够进行更新。因此，能够将最新 缺陷管理信息始终如一地记录到DMAl至DMA4中的固定位置处。图24表示传统可重写光盘记录/再现装置200的结构。光盘记录/再现装置200通过I/O总线170被连接至一较高层次的控制装置(未 示出)。较高层次的控制装置典型的为主计算机。光盘记录/再现装置200包括用于处理来自较高层次控制装置的命令的命令处 理部分Iio ；用于控制光盘的记录的记录控制部分120 ；用于控制光盘的再现的再现控制 部分130 ；用于存储从DMAl至DMA4中的任何一个再现的内容的缺陷管理信息存储缓冲器 140 ；用于暂时存储记录数据和再现数据的数据缓冲器150 ；和用于执行涉及缺陷管理信 息的处理的缺陷管理信息处理部分180。缺陷管理信息处理部分180包括缺陷管理信息读取部分161，用于从DMAl至 DMA4检测正常的缺陷管理区，和从所述正常的缺陷管理区读取内容并将其传送给缺陷管理 信息存储缓冲器140 ；缺陷管理信息更新部分164，用于在缺陷块信息已经发生变化时，更 新缺陷管理信息存储缓冲器140的内容以产生新的缺陷信息；缺陷管理信息写入部分162， 用于将通过缺陷管理信息更新部分164更新的内容写入到DMAl至DMA4中；和缺陷管理信 息控制存储器163，用于存储缺陷管理信息处理部分180的操作控制状态。然而，只能够向一次写入多次读取信息记录介质(一次写入多次读取光盘)的 DMAl至DMA4中记录一次信息。因此，在一次写入多次读取信息记录介质的情况下，不能 够象可重写信息记录介质(可重写光盘)中那样，将最新缺陷管理信息始终如一地记录在 DMAl至DMA4中的预定位置处。因此，用于可重写信息记录介质的记录/再现装置不能在能 够进行缺陷管理的一次写入多次读取信息记录介质上执行记录/再现。本发明就是为了解决上述问题而提出的。本发明的目的是提供一种在其上能够由 用于可重写信息记录介质的记录/再现装置执行记录/再现的一次写入多次读取信息记录 介质；将信息记录到一次写入多次读取信息记录介质上的信息记录方法；从一次写入多次 读取信息记录介质再现信息的信息再现方法；将信息记录到一次写入多次读取信息记录介 质上的信息记录装置；和从一次写入多次读取信息记录介质再现信息的信息再现装置。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种一次写入多次读取信息记录介质，其中在一预定方向上连续分配有至少一个盘管理工作区；在所述至少一个盘管理工作区中，提供有 盘管理信息和包含关于盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一 次写入多次读取信息记录介质的管理信息；提供有最新盘管理信息和最新盘定义结构，其 中在所述预定方向上所述最新盘管理信息在所述最新盘定义结构之前；所述最新盘管理信 息是布置在相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的已记录盘管 理工作区中的盘管理信息；所述最新盘定义结构是包含关于最新盘管理信息的位置信息的 盘定义结构；和所述盘定义结构被布置在相邻于所述边界的已记录盘管理工作区中的预定 位置处，所述预定位置能够根据边界作为参考计算得到。在本发明的一个实施例中，所述盘管理信息的大小是可变的；和所述盘定义结构 的大小是固定的。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包括用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换 列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源区和备用区中包含的替换目标区之间的 对应关系的对应关系信息；和所述盘定义结构包含替换列表位置信息，其是关于替换列表 的位置信息。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 内圆周至外圆周的方向；和所述最新盘定义结构被布置在能够根据相邻于所述作为参考的 边界的已记录盘管理工作区的末端计算得到的预定位置处。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 外圆周至内圆周的方向；和所述最新盘定义结构被布置在能够根据相邻于所述作为参考的 边界的已记录盘管理工作区的开始位置计算得到的预定位置处。在本发明的一个实施例中，所述盘管理工作区包含多个块；所述多个块中的每一 个是用于记录/再现数据的单元；和所述盘管理信息和盘定义结构被布置在所述多个块中 的不同块中。在本发明的一个实施例中，所述盘管理工作区包含一个或多个块；所述一个或多 个块中的每一个是用于记录/再现数据的单元；所述盘管理信息和盘定义结构共享所述一 个或多个块中的至少一个；和所述盘定义结构被布置在相邻于所述边界的已记录盘管理区 中包含的多个块中的一预定块中的预定位置处，能够根据所述边界作为参考计算得出所述 预定块。在本发明的一个实施例中，在所述一次写入多次读取信息记录介质中记录最终完 成(finalization)识别标记；和所述最终完成识别标记指示禁止将数据附加记录到所述 至少一个盘管理工作区中。在本发明的一个实施例中，所述盘定义结构和盘管理信息中的至少一个包含所述 最终完成识别标记。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包含至少一个盘 管理区；在所述至少一个盘管理区中，提供有所述最后盘管理信息和最后盘定义结构；所 述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义 结构是包含关于所述最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；和从所述至少一个盘管理 区的开始位置布置所述最后盘管理信息和最后盘定义结构，其中所述最后盘定义结构在从
6所述一次写入多次读取信息记录介质的内圆周至外圆周的方向上位于所述最后盘管理信 息之前。在本发明的一个实施例中，所述盘管理工作区包含多个块；所述多个块中的每一 个是用于记录/再现数据的单元；和所述盘管理信息和盘定义结构被布置在所述多个块中 的不同块中。在本发明的一个实施例中，所述盘管理工作区包含一个或多个块；所述一个或多 个块中的每一个是用于记录/再现数据的单元；所述盘管理信息和盘定义结构共享所述一 个或多个块中的至少一个；和所述盘定义结构被布置在相邻于所述边界的已记录盘管理区 中包含的多个块中的一预定块中的预定位置处，能够根据所述边界作为参考计算得出所述 预定块。在本发明的一个实施例中，在所述一次写入多次读取信息记录介质中记录最终完 成识别标记；和所述最终完成识别标记指示禁止将数据附加记录到所述至少一个盘管理工 作区中。在本发明的一个实施例中，所述盘定义结构和盘管理信息中的至少一个包含所述 最终完成识别标记。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包含至少一个盘 管理区；在所述至少一个盘管理区中，提供有所述最后盘管理信息和最后盘定义结构；所 述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义 结构是包含关于所述最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；和从所述至少一个盘管理 区的开始位置布置所述最后盘管理信息和最后盘定义结构，其中所述最后盘定义结构在从 所述一次写入多次读取信息记录介质的内圆周至外圆周的方向上位于所述最后盘管理信 息之前。根据本发明的另一个方面，提供一种用于将信息记录到一次写入多次读取信息记 录介质上的信息记录方法，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向上 连续分配有至少一个盘管理工作区；所述信息记录方法包括步骤(a)选择相邻于已记录 盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的未记录盘管理工作区；(b)将盘管理信 息记录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中，该盘管理信息为关于所述一次写入多 次读取信息记录介质的管理信息；和(c)将包含关于在步骤(b)中记录的盘管理信息的位 置信息的盘定义结构记录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中，其中所述盘管理信 息和所述盘定义结构被布置在所述预定方向上，所述盘管理信息在所述预定方向上位于所 述盘定义结构之前，和所述盘定义结构被布置在相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中 的预定位置处，所述预定位置能够根据所述边界作为参考计算得到。在本发明的一个实施例中，所述盘管理信息的大小是可变的；和所述盘定义结构 的大小是固定的。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包括用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换 列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源区和备用区中包含的替换目标区之间的 对应关系的对应关系信息；和所述盘定义结构包含替换列表位置信息，其是关于替换列表 的位置信息。
在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 内圆周至外圆周的方向；和包含关于在步骤(b)中记录的盘管理信息的位置信息的盘定义 结构被布置在预定位置处，该预定位置能够根据相邻于所述作为参考的边界的未记录盘管 理工作区的末端计算得到。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 外圆周至内圆周的方向；和包含关于在步骤(b)中记录的盘管理信息的位置信息的盘定义 结构被布置在预定位置处，该预定位置能够根据相邻于所述作为参考的边界的未记录盘管 理工作区的开始位置计算得到。在本发明的一个实施例中，步骤(b)进一步包括确定盘管理信息的记录是否已经 被正常执行的步骤；步骤(C)进一步包括确定盘定义结构的记录是否已经被正常执行的步 骤；和所述信息记录方法进一步包括步骤(d)重复执行步骤(b)直到盘管理信息的记录被 正常执行，和重复执行步骤(c)直到盘定义结构的记录被正常执行。在本发明的一个实施例中，步骤(b)进一步包括确定盘管理信息的记录是否已经 被正常执行的步骤；步骤(C)进一步包括确定盘定义结构的记录是否已经被正常执行的步 骤；和所述信息记录方法进一步包括步骤(d)重复执行步骤(b)直到盘管理信息的记录被 正常执行，和重复执行步骤(c)直到盘定义结构的记录被正常执行。根据本发明的另一个方面，提供一种用于从一次写入多次读取信息记录介质再现 信息的信息再现方法，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向上连 续分配有至少一个盘管理工作区；在所述至少一个盘管理工作区中，提供有盘管理信息和 包含关于盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读 取信息记录介质的管理信息；最新盘管理信息和最新盘定义结构被布置在所述预定方向 上，所述最新盘管理信息在所述预定方向上位于所述最新盘定义结构之前；所述最新盘管 理信息是布置在相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的已记录 盘管理工作区中的盘管理信息；所述最新盘定义结构是包含关于所述最新盘管理信息的位 置信息的盘定义结构；所述最新盘定义结构被布置在相邻于所述边界的已记录盘管理工作 区中的预定位置处，所述预定位置能够根据所述边界作为参考计算得出，所述信息再现方 法包括步骤(a)搜索所述边界的位置以获得表示所述边界的位置的边界位置信息；(b)根 据所述边界位置信息再现最新盘定义结构；(c)根据所述最新盘定义结构获得关于最新盘 管理信息的位置信息；和(d)根据关于所述最新盘管理信息的位置信息再现盘管理信息。在本发明的一个实施例中，所述盘管理信息的大小是可变的；和所述盘定义结构 的大小是固定的。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包括用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换 列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源区和备用区中包含的替换目标区之间 的对应关系的对应关系信息；和所述盘定义结构包含替换列表位置信息，其是关于替换列 表的位置信息。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 内圆周至外圆周的方向；和所述最新的盘定义结构被布置在能够根据相邻于所述作为参考 的边界的已记录盘管理工作区的末端计算得到的预定位置处。
8
在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 外圆周至内圆周的方向；和所述最新的盘定义结构被布置在能够根据相邻于所述作为参考 的边界的已记录盘管理工作区的开始位置计算得到的预定位置处。根据本发明的另一个方面，提供一种用于将信息记录到一次写入多次读取信息记 录介质上的信息记录装置，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向 上连续提供有至少一个盘管理工作区；和所述信息记录装置包括(a)用于选择相邻于已 记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的未记录盘管理工作区的部分；(b) 用于将盘管理信息记录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中的部分，该盘管理信息 为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信息；和(c)用于将包含关于在步骤 (b)中记录的盘管理信息的位置信息的盘定义结构记录到相邻于所述边界的未记录盘管理 工作区中的部分；其中所述盘管理信息和盘定义结构被布置在所述预定方向上，所述盘管 理信息在所述预定方向上位于所述盘定义结构之前，和所述盘定义结构被布置在相邻于所 述边界的未记录盘管理工作区中的预定位置处，所述预定位置能够根据所述作为参考的边 界计算得出。在本发明的一个实施例中，所述盘管理信息的大小是可变的；和所述盘定义结构 的大小是固定的。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包括用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换 列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源区和备用区中包含的替换目标区之间的 对应关系的对应关系信息；和所述盘定义结构包含替换列表位置信息，其是关于替换列表 的位置信息。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 内圆周至外圆周的方向；和包含关于通过部分(b)记录的盘管理信息的位置信息的盘定义 结构被布置在预定位置处，该预定位置能够根据相邻于所述作为参考的边界的未记录盘管 理工作区的末端计算得到。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 外圆周至内圆周的方向；和包含关于通过部分(b)记录的盘管理信息的位置信息的盘定义 结构被布置在预定位置处，该预定位置能够根据相邻于所述作为参考的边界的未记录盘管 理工作区的开始位置计算得到。在本发明的一个实施例中，部分(b)进一步包括用于确定盘管理信息的记录是否 已经被正常执行的部分；部分(c)进一步包括用于确定盘定义结构的记录是否已经被正常 执行的部分；和所述信息记录装置进一步包括(d)重复执行盘管理信息的记录直到盘管 理信息的记录被正常执行，和重复执行盘定义结构的记录直到盘定义结构的记录被正常执 行的部分。在本发明的一个实施例中，部分(b)进一步包括用于确定盘管理信息的记录是否 已经被正常执行的部分；部分(C)进一步包括用于确定盘定义结构的记录是否已经被正常 执行的部分；和所述信息记录装置进一步包括(d)重复执行盘管理信息的记录直到盘管 理信息的记录被正常执行，和重复执行盘定义结构的记录直到盘定义结构的记录被正常执 行的部分。
根据本发明的另一个方面，提供一种用于从一次写入多次读取信息记录介质再现 信息的信息再现装置，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向上连 续分配有至少一个盘管理工作区；在所述至少一个盘管理工作区中，提供有盘管理信息和 包含有关盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读 取信息记录介质的管理信息；最新盘管理信息和最新盘定义结构被布置在所述预定方向 上，所述最新盘管理信息在所述预定方向上位于所述最新盘定义结构之前；所述最新盘管 理信息是布置在相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的已记录 盘管理工作区中的盘管理信息；所述最新盘定义结构是包含关于所述最新盘管理信息的位 置信息的盘定义结构；所述最新盘定义结构被布置在相邻于所述边界的已记录盘管理工 作区中的预定位置处，所述预定位置能够根据所述边界作为参考计算得出，所述信息再现 装置包括(a)用于搜索所述边界的位置以获得表示所述边界的位置的边界位置信息的部 分；(b)用于根据所述边界位置信息再现最新盘定义结构的部分；(C)用于根据所述最新盘 定义结构获得关于最新盘管理信息的位置信息的部分；和(d)用于根据关于所述最新盘管 理信息的位置信息再现盘管理信息的部分。在本发明的一个实施例中，所述盘管理信息的大小是可变的；和所述盘定义结构 的大小是固定的。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包括用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换 列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源区和备用区中包含的替换目标区之间的 对应关系的对应关系信息；和所述盘定义结构包含替换列表位置信息，其是关于替换列表 的位置信息。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 内圆周至外圆周的方向；和所述最新的盘定义结构被布置在能够根据相邻于所述作为参考 的边界的已记录盘管理工作区的末端计算得到的预定位置处。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 外圆周至内圆周的方向；和所述最新的盘定义结构被布置在能够根据相邻于所述作为参考 的边界的已记录盘管理工作区的开始位置计算得到的预定位置处。
图1为表示根据本发明实施例1的一次写入多次读取光盘中的区的排布的示图；图2为表示根据本发明实施例1的一次写入多次读取光盘的数据结构的示图；图3为表示DDS和缺陷列表的数据结构的示图；图4为表示根据本发明实施例1的光盘记录/再现装置的结构的示图；图5为从根据本发明实施例1的一次写入多次读取光盘中的相邻于已记录缺陷管 理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边界的已记录缺陷管理工作区获得最新缺陷列 表和最新DDS的过程的流程图；图6为表示用于搜索记录结束位置的处理的示图；图7为表示用于搜索记录结束位置的过程的流程图；图8为表示缺陷列表和DDS被附加记录到临时缺陷管理区中包含的DMWA中的情
10形的示图；图9为用于将缺陷列表和DDS附加记录到根据本发明实施例1的一次写入多次读 取光盘的缺陷管理工作区中的过程的流程图；图10为用于在确定缺陷列表和DDS是否已经被正常记录的同时将新的缺陷列表 和DDS附加记录到缺陷管理工作区中的过程的流程图；图11为表示根据参照图10所述的过程将缺陷列表和DDS附加记录到缺陷管理工 作区中的情形的示图；图12为表示根据本发明实施例1的另一个一次写入多次读取光盘的数据结构的 示图；图13位根据本发明实施例1的用于最终完成的过程的流程图；图14为表示用于比较的可重写光盘和最终完成之后的一次写入多次读取光盘的 数据结构的示图；图15为根据本发明实施例1的另一最终完成过程的流程图；图16为用于确定一次写入多次读取光盘是否已经被最终完成的最终完成确定过 程的流程图；图17为用于确定一次写入多次读取光盘是否已经被最终完成的另一最终完成确 定过程的流程图；图18为表示根据本发明实施例2的DMWA的数据结构的示图；图19为表示SDDS的结构的示图；图20为用于从临时缺陷管理区中包含的缺陷管理工作区中的最新记录的缺陷管 理工作区获得SDDS和SDFL的过程的流程图；图21为表示用于将SDFL和SDDS附加记录到根据本发明实施例2的一次写入多 次读取光盘中的缺陷管理工作区中的过程的流程图；图22为表示其中间隔位映射信息和缺陷列表被布置作为子信息的典型缺陷管理 工作区的示图；图23为表示传统可重写光盘的数据结构的示图；图24为表示能够处理图23的传统可重写光盘的光盘记录/再现装置的结构的示 图。
具体实施例方式此后将参照附图借助示意性实施例来说明本发明。在下面的实施例中，采用了一次写入多次读取信息记录介质(此后也称作“一次 写入多次读取光盘”)。(实施例1)1. 1 一次写入多次读取光盘的数据结构图1表示根据本发明实施例1的一次写入多次读取光盘1中的区的排布。以螺旋 的方式在盘状的一次写入多次读取光盘1上形成多个轨迹2。每个轨迹2被细分成多个块 3。块3是用于纠错的单元，其是用于记录或再现操作的最小单元。例如，在使用红色激光 的DVD-RAM的情况下，块3的大小为IECC (32千字节)，而在使用蓝色激光的大容量BD-RE的情况下，块3的大小为1簇(64千字节)。在一次写入多次读取光盘1上分配有导入区4、数据区5和导出区6。用户数据被 记录到数据区5中或从其再现。导入区4和导出区6用作边缘部分，通过它即使光头(未 示出)访问但是超过了数据区5的末端，光头也能跟踪指定轨迹。图2表示根据本发明实施例1的一次写入多次读取光盘1的数据结构。一次写入多次读取光盘1上的区域粗略分成导入区4、数据区5和导出区6。导入区4包含第一缺陷管理区10(此后也称作“0默1”)和第二缺陷管理区11 (此 后也称作“DMA2”)，以及临时缺陷管理区20。DMAl和DMA2用于管理数据区5的缺陷块中的信息或类似内容。数据区5用于记录数据，包括用户数据区16和备用区17。用户数据区16是一次写入多次读取区，用户可向其中记录任何信息，例如实时数 据(例如，音乐、视频、等等)、计算机数据(例如，文献、数据库、等等)，等等。备用区17是数据区5的替代区。例如，当在用户数据区16中检测到缺陷块时，数 据就被记录到替代区中而不是缺陷块中。在图2的一次写入多次读取光盘1的数据结构 中，在数据区5的内周部分(即，较靠近导入区4)和外围部分(即较靠近导出区6)的每一 个中都提供有备用区17。然而，可任意确定备用区17的数量或备用区17的位置而不局限 于图2中所示的备用区数量或备用区位置。导出区6包含第三缺陷管理区12(此后也称作“DMA3”)和第四缺陷管理区13 (此 后也称作“DMA4”)。DMA3和DMA4用于管理与数据区5中的缺陷块有关的信息或类似内容。DMAl至DMA4中的每一个具有预定的位置和固定的长度。提供在DMAl至DMA4的 每一个中的管理信息具有根据缺陷块的数量变化的可变长度。DMAl至DMA4中的每一个包含盘定义结构(此后也称作“DDS”) 14和缺陷列表(此 后也称作“DFL”)15，其中DDS 14在DFL 15前面。临时缺陷管理区20包含N个缺陷管理工作区(此后也称作“DMWA”)21，其中N是 1或者更大的整数。缺陷管理工作区21用于临时记录在一次写入多次读取光盘1被最终完成之前已 经被更新的缺陷管理信息。缺陷管理工作区21包含DDS14和缺陷列表15，其中缺陷列表15 在DDS 14之前。缺陷管理工作区21包含至少一个块。块是用于记录/再现数据的单元。如此中所使用的，术语“最终完成一次写入多次读取光盘”意味着一次写入多次读 取光盘的状态被从一次写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态。例如，通过将 最新缺陷管理工作区21的内容记录到DMAl至DMA4上，一次写入多次读取光盘1的数据结 构可被改变至与可重写光盘的数据结构相兼容的数据结构，即一次写入多次读取光盘1被 从一次写入多次读取装置改变至非一次写入多次读取状态。下面将详细说明最终完成过 程。从临时缺陷管理区20的开头朝向末尾(即，在从一次写入多次读取光盘1的内圆 周部分至外圆周部分的方向)连续分配至少一个缺陷管理工作区21 (DMWA#1至DMWA#N(N 1或者更大的整数))。从缺陷管理工作区21中的临时缺陷管理区20的开头处(较靠近于 一次写入多次读取光盘1的内圆周)连续记录缺陷信息。在每个缺陷管理工作区21中，在从临时缺陷管理区20的开头到末尾的方向(从一次写入多次读取光盘1的内圆周部分到 外圆周的方向)上提供缺陷列表15和DDS14，其中缺陷列表15在DDS 14前面。换句话说， 在每个缺陷管理工作区21中以相对于DMAl至DMA4中的每一个相反的顺序布置DDS 14和 缺陷列表15。注意包含缺陷管理工作区21的临时缺陷管理区20可能不一定包含在导入区4 中。临时缺陷管理区20可包含在例如除用户数据区16之外的导出区6或备用区17中。例如，DDS 14位于相邻于记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边 界的记录缺陷管理工作区中。DDS 14位于相邻于所述边界的记录缺陷管理工作区中的预定 位置处，并且可根据所述边界来计算该预定位置。在本发明的实施例1中，假设DDS 14位 于相邻于记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边界的记录缺陷管理工作 区的末端。注意DDS 14的位置不局限于缺陷管理工作区的末端。DDS 14可位于一个预定位 置，该预定位置可从一个参考，即相邻于记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之 间的边界的记录缺陷管理工作区的末端(边界)计算得到。图3表示DDS 14和缺陷列表15的数据结构。DDS 14包含关于缺陷列表15的位置信息。例如，DDS 14包含表示缺陷列表15所 处的开始位置的缺陷列表开始位置信息30和其它信息31。例如，缺陷列表开始位置信息 30在此处是扇区地址，其是关于扇区(1扇区具有2千字节的大小)的位置信息，该扇区是 最小的可寻址单元。DDS 14具有固定的长度，其例如是1块的大小。在本发明的实施例1中，假定DDS 14具有1块的大小。注意如果能根据一个参考，即记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理 工作区之间的边界计算指示缺陷列表15的位置的信息位置(即缺陷列表开始位置信息)， 则DDS 14可能不一定具有固定的长度。这是因为能够从作为参考的所述边界来计算缺陷 列表的位置。缺陷列表15包含缺陷列表标题32和M个缺陷项33 (M 0或者更大的整数)。除了缺陷列表标题32和缺陷项33之外，缺陷列表15可进一步包含表示锚定标 记的信息，所述锚定标记指示缺陷管理信息的末端。缺陷列表标题32包含缺陷列表中包括的缺陷项的数量或类似信息。缺陷项33包含指示数据区中的区(替换源)和备用区中的区(替换目标)之间 的对应关系的对应关系信息。缺陷项33例如包含关于在用户数据区16中检测到的缺陷块 的位置信息和关于备用区17的替换块位置信息，所述备用区包括缺陷块的替换目标。缺陷列表15具有依赖于缺陷列表15中记录的缺陷项33的数量的可变长度。具 体的，缺陷管理工作区#1至缺陷管理工作区#N的大小不必相同(参见图2)。1. 2.光盘记录/再现装置100的结构图4表示根据本发明实施例1的光盘记录/再现装置100的结构。光盘记录/再现装置100通过I/O总线170与较高层次的控制装置(未示出)相 连。较高层次的控制装置例如是主计算机。光盘记录/再现装置100包括用于处理来自较高层次控制装置的命令的命令处 理部分Iio ；用于控制一次写入多次读取光盘1的记录的记录控制部分120 ；用于控制光盘的再现的再现控制部分130 ；用于存储从DMAl至DMA4中的任何一个再现的内容或从缺陷 管理工作区21再现的内容的缺陷管理信息存储缓冲器140 ；用于暂时存储记录数据和再 现数据的数据缓冲器150 ；和用于执行涉及缺陷管理信息的处理的缺陷管理信息处理部分 160。缺陷管理信息处理部分160包括缺陷管理信息读取部分161，缺陷管理信息写入 部分162，缺陷管理信息控制存储器163，缺陷管理信息更新部分164，缺陷管理工作信息读 取部分165，和缺陷管理工作信息写入部分166。缺陷管理信息读取部分161检测从DMAl至DMA4的正常缺陷管理区，和从所述缺 陷管理区读取内容并将其传送给缺陷管理信息存储缓冲器140。缺陷管理信息读取部分161还从在一次写入多次读取光盘1上分配的多个缺陷管 理区之一读出数据，确定缺陷管理区是否已经被记录，和根据确定结果，确定一次写入多次 读取光盘1是否已经从一次写入多次读取状态变化至非一次写入多次读取状态。例如，缺陷管理信息读取部分161从DMAl至DMA4中的至少一个读出数据。如果 能够正常再现一次写入多次读取光盘1，则确定一次写入多次读取光盘1已经被最终完成。如果缺陷块信息等被改变，则缺陷管理信息更新部分164更新缺陷管理信息存储 缓冲器140的内容以产生新的缺陷管理信息。缺陷管理信息写入部分162将由缺陷管理信息更新部分164更新的内容写入到 DMAl至DMA4中。换句话说，对于最终完成步骤，缺陷管理信息写入部分162将缺陷管理信 息写入到DMAl至DMA4中。缺陷管理信息控制存储器163存储缺陷管理信息处理部分160的操作控制状态。缺陷管理工作信息读取部分165在临时缺陷管理区20中包含的缺陷管理工作区 21中搜索最新记录的缺陷管理工作区21。记录在最新缺陷管理工作区21中的内容被读出 至缺陷管理信息存储缓冲器140中。注意缺陷管理信息读取部分161从DMAl至DMA4中的每一个读出数据并确定一次 写入多次读取光盘1是否已经被最终完成。可选择的，缺陷管理工作信息读取部分165能 够确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完成。例如，根据在缺陷管理工作区21中 的预定位置是否记录有最终完成识别标记，缺陷管理工作信息读取部分165确定一次写入 多次读取光盘1是否已经被最终完成。最终完成识别标记指示禁止将数据附加记录至至少 一个缺陷管理工作区21。注意最终完成识别标记的记录位置不局限于缺陷管理工作区21中的预定位置。 可将最终完成识别标记记录在一次写入多次读取光盘1的预定位置处。例如，可将最终完成识别标记记录在盘定义结构14和缺陷列表15的至少一个中。 如果缺陷管理工作信息读取部分165读出记录在盘定义结构14和缺陷列表15的至少一个 中的最终完成识别标记，则确定一次写入多次读取光盘1已经被最终完成。缺陷管理工作信息写入部分166将通过缺陷管理信息更新部分164更新的内容写 入到可用缺陷管理工作区21中。另外，可将最终完成识别标记写入到缺陷管理工作区21 中。例如，缺陷管理工作信息写入部分166将最终完成识别标记记录到盘定义结构14和缺 陷列表15的至少一个中。1.3.获得最新缺陷管理信息
14
此后，将说明获得(再现)记录在根据本发明实施例1的一次写入多次读取光盘 1上的信息(记录在相邻于记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边界的缺 陷管理工作区中的最新缺陷列表和最新DDS)的方法。图5表示从根据本发明实施例1的一次写入多次读取光盘1中的相邻于记录缺陷 管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边界的记录缺陷管理工作区获得最新缺陷列 表15和最新DDS 14的过程。此后，将参照图5逐步说明这种过程。步骤601 缺陷管理工作信息读取部分165搜索记录缺陷管理工作区和未记录缺 陷管理工作区之间的边界的位置并获得表示边界的位置的边界位置信息。例如，缺陷管理工作信息读取部分165搜索临时缺陷管理区20中的记录区域的结 束位置(此后也称作“记录结束位置”)并将缺陷管理工作区21的位置存储在缺陷管理信 息控制存储器163的记录结束位置40中的结束位置处。例如，缺陷管理工作区21的位置 在此处是扇区地址，其是关于位于记录结束位置处的扇区的位置信息。在存储了检测的记 录结束处缺陷管理工作区21的位置之后，所述处理进行到步骤602。注意搜索记录结束位 置的过程将在下面详细说明。步骤602 缺陷管理工作信息读取部分165根据边界位置信息再现最新的DDS 14， 并根据该最新的DDS 14，获得关于最新缺陷列表15的位置信息。例如，缺陷管理工作信息读取部分165将在记录结束位置40结束的具有1块大小 的最新DDS 14读出至缺陷管理信息存储缓冲器140中并将最新DDS 14中包含的缺陷列表 开始位置信息30存储在缺陷管理信息控制存储器163中的缺陷列表开始位置41处。在读 出最新DDS 14和存储缺陷列表开始位置信息30之后，所述处理进行至步骤603。步骤603 根据关于最新缺陷列表15的位置信息再现最新缺陷列表15。例如，缺陷管理工作信息读取部分165读取最新缺陷列表至缺陷管理信息存储缓 冲器140中，缺陷列表开始位置41位于所述最新缺陷列表的开始处。在读出最新缺陷列表 15之后，结束所述处理。在该情况下，如果记录结束位置40指示没有临时缺陷管理区20被记录，则不需要 步骤602和603中的读取过程。与读取相反，可将DDS 14和缺陷列表15提前存储在缺陷 管理信息存储缓冲器140中。注意存储的DDS 14包含缺陷列表开始位置信息30，其已经被 初始化至预定的值，并在存储的缺陷列表15中，缺陷列表标题32中的缺陷项的数量已经被 初始化(缺陷项数量=0)，即存储的缺陷列表15没有缺陷项33。注意可根据位于缺陷列表15开头处的缺陷列表标题中所包含的缺陷项的数量计 算将被读出的缺陷列表15的大小，或者可通过从缺陷列表开始位置减去DDS 14的开始位 置来计算所述将被读出的缺陷列表的大小。图6表示用于搜索记录结束位置的处理。图7表示用于搜索记录结束位置的过程。 搜索记录结束位置意味着搜索最新记录的缺陷管理工作区21。此后将参照图6和7逐步的说明用于搜索记录结束位置的过程。步骤801 缺陷管理工作信息读取部分165执行第一幅度检查。从临时缺陷管理 区20的开头以规则的预定块间隔执行所述第一幅度检查，直到找不到幅度。在找不到幅度 之后，所述处理进行至步骤802。步骤802 缺陷管理工作信息读取部分165执行第二幅度检查。在第二幅度检查
15中，在发现幅度的位置和未发现幅度的位置之间搜索存在的幅度结束的位置。在没有发现 幅度的位置之后，所述处理进行到步骤803。步骤803 缺陷管理工作信息读取部分165获得通过所述检查得到的记录结束位 置(最新记录的缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边界的位置)。在获得记 录结束位置之后，结束所述处理。通过上述过程，缺陷管理工作信息读取部分165能够读出最新记录的缺陷管理工 作区21的内容。注意用于搜索记录结束位置的过程不限于参照图7所述的记录结束位置搜索过 程。例如，可通过从临时缺陷管理区20的末尾至开头搜索具有幅度的开始位置来找出记录 结束位置。在图5的实施例中，步骤601相当于“搜索边界位置并获得表示边界位置的边界位 置信息”。步骤602相当于“根据边界位置信息再现最新盘定义结构”和“根据最新盘定义 结构获得关于最新盘管理信息的位置信息”。步骤603相当于“根据关于最新盘管理信息的 位置信息再现盘管理信息”。然而，用于从相邻于一次写入多次读取光盘1中的记录缺陷管理工作区和未记录 缺陷管理工作区之间的边界的记录缺陷管理工作区获得最新缺陷列表15和最新DDS 14的 过程不限于图5的过程。用于从相邻于一次写入多次读取光盘1中的记录缺陷管理工作区 和未记录缺陷管理工作区之间的边界的记录缺陷管理工作区获得最新缺陷列表15和最新 DDS 14的任何过程都能被利用，只要所述过程包括上述的“搜索边界位置并获得表示边界 位置的边界位置信息”、“根据边界位置信息再现最新盘定义结构”和“根据最新盘定义结构 获得关于最新盘管理信息的位置信息”、以及“根据关于最新盘管理信息的位置信息再现盘 管理信息”。1.4.缺陷管理信息的更新此后，将说明根据本发明实施例1的将信息(缺陷列表15和DDS 14)记录到一次 写入多次读取光盘1上的方法。图8表示将缺陷列表15和DDS 14附加记录到临时缺陷管理区20中包含的DMWA 21中的情形。图8的部分(a)表示在第一时间点将缺陷列表15和DDS 14记录到临时缺陷管理 区20中包含的DMWA#1中的情形。图8的部分(b)表示在第二时间点将缺陷列表15和DDS 14记录到临时缺陷管理区20中包含的DMWA#2中的情形。图8的部分(c)表示在第三时间 点将缺陷列表15和DDS 14记录到临时缺陷管理区20中包含的DMWA#3中的情形。在图8中，经过填充的DMWA表示其中已经记录有缺陷列表15和DDS 14的已记录 DMWA,而开放的DMWA表示其中还未记录缺陷列表15和DDS 14的未记录DMWA。新的缺陷列表15和DDS 14被附加记录到位于多个未记录DMWA的开头的一个未 记录DMWA中。换句话说，新的缺陷列表15和DDS 14被附加记录到相邻于未记录DMWA和 已记录DMWA之间的边界的未记录DMWA。因此，最新缺陷列表15和DDS 14位于相邻于多个已记录DMWA的末端的一个已 记录DMWA中。换句话说，最新缺陷列表15和DDS 14位于相邻于未记录DMWA和已记录DMWA 之间的边界的一个已记录DMWA中。
图9表示根据本发明实施例1的将缺陷列表15和DDS 14附加记录到一次写入多 次读取光盘1的缺陷管理工作区21中的过程。缺陷管理工作信息写入部分166将新的缺陷列表15和DDS 14附加记录到缺陷管 理工作区21中。在这种情况下，缺陷管理信息更新部分164允许存储在缺陷管理信息存储缓冲器 140中的缺陷列表保持最新的内容。具体来讲，例如，当检测到新的缺陷块时，缺陷管理信息更新部分164将对应于新 的替换块(即，新缺陷块)的缺陷项添加到存储在缺陷管理信息存储缓冲器140中的缺陷 列表15，并根据关于包含在缺陷项中的缺陷块的位置信息对缺陷项进行分类。另外，缺陷管 理信息更新部分164将所述多个缺陷项之一添加到缺陷列表标题中。此后，将参照图9逐步说明根据本发明实施例1的将缺陷列表15和DDS 14附加 记录到一次写入多次读取光盘1中的缺陷管理工作区21中的过程。步骤901 缺陷管理信息更新部分164选择一个与已记录缺陷管理工作区和未记 录缺陷管理工作区之间的边界相邻的未记录缺陷管理工作区。例如，缺陷管理信息更新部分164将缺陷管理信息控制存储器163中的记录结束 位置40加到一，并在最终的记录结束位置40处更新包含在缺陷管理信息存储缓冲器140 中的DDS 14，使得位于多个未记录缺陷管理工作区的开头处的未记录缺陷管理工作区被选 择。换句话说，通过更新DDS 14使得缺陷列表开始位置信息30表示未记录缺陷管理工作 区的开始位置，选择位于多个未记录缺陷管理工作区的开头的未记录缺陷管理工作区。在 DDS 14被更新之后，所述处理进行到步骤902。步骤902 缺陷管理工作信息写入部分166将作为关于一次写入多次读取光盘1 的管理信息的缺陷列表15记录到相邻于边界的一个未记录缺陷管理工作区中并将包含关 于记录缺陷列表15的位置信息的DDS14记录到相邻于所述边界的未记录缺陷管理工作区 中。例如，缺陷管理工作信息写入部分166将包含在缺陷管理信息存储缓冲器140中 的已更新缺陷列表15记录到一个未记录区的开始位置并以这种跟随缺陷列表15的方式 记录更新的DDS 14。在记录缺陷列表15和DDS 14之后，结束所述处理。通过上述过程，缺陷管理工作信息写入部分166将最新缺陷列表15和DDS 14记 录到包含在临时缺陷管理区20中的缺陷管理工作区21中。注意使用缺陷管理信息更新部分164更新缺陷列表15仅仅是示意性的。也可以 只要求缺陷列表15包含关于缺陷的信息。例如，可以不需要对缺陷项进行分类。注意可以在任何时刻将缺陷列表15和DDS 14记录在临时缺陷管理区20的缺陷 管理工作区21中，只要是以这种方式来记录缺陷列表15和DDS 14 当装置的状态和介质 的状态发生改变时，其使得DDS 14能够必定位于已记录缺陷管理工作区的末尾。装置的状 态和介质的状态发生变化例如意味着从光盘记录/再现装置100弹出一次写入多次读取光 盘或关闭光盘记录/再现装置100。注意当将缺陷列表15和DDS 14记录到缺陷管理工作区中时，可以确定缺陷列表 15和DDS 14是否已经被正常记录。图10表示将新的缺陷列表15和DDS 14附加记录到缺陷管理工作区21中，同时
17确定缺陷列表15和DDS 14是否已经被正常记录的过程。现在假设缺陷管理信息更新部分164允许存储在缺陷管理信息存储缓冲器140中 的缺陷列表15的内容保持最新的内容。此后，将参照图10逐步介绍将新的缺陷列表15和DDS 14附加记录到缺陷管理工 作区21中同时确定缺陷列表15和DDS 14是否已经被正常记录的过程。步骤1101 缺陷管理信息更新部分164在包含于缺陷管理信息控制存储器163中 的记录结束位置40处更新包含在缺陷管理信息存储缓冲器140中的DDS 14，所述记录结束 位置已经加到一。换句话说，以这种方式更新DDS 14，即缺陷列表开始位置信息30指示未 记录缺陷管理工作区的开始位置。在DDS 14被更新之后，所述处理进行到步骤1102。步骤1102 缺陷管理工作信息写入部分166将缺陷管理信息存储缓冲器140中包 含的已更新缺陷列表15记录到未记录缺陷管理工作区的开始位置。在记录之后，所述处理 进行到步骤1103。步骤1103 确定缺陷列表15是否已经被正常记录。在这种情况下，缺陷列表15是否已经被正常记录的确定是通过例如对其中记录 有缺陷列表15的块执行纠错或读取记录的数据并确定记录数据是否与预期数据相匹配来 执行的。当确定缺陷列表15还未被正常记录(即缺陷列表的记录已经失败)时，所述处理 进行到步骤1101。在步骤1101，通过增加先前已经记录的缺陷列表的大小来改变记录结束 位置40。另外，包含在缺陷管理信息存储缓冲器140中的DDS 14被更新使得通过将记录结 束位置40加一获得的位置被包含在缺陷列表开始位置信息30中。当确定缺陷列表15已经被正常记录(即，缺陷列表15的记录已经是成功的)时， 所述处理进行到步骤1104。步骤1104 记录更新的DDS 14。在记录DDS 14之后，所述处理进行到步骤1105。步骤1105 确定DDS 14是否已经被正常记录。当确定DDS 14未被正常记录(S卩，DDS 14的记录已经失败)时，所述处理进行到 步骤1104。当确定DDS 14已经被正常记录(即，DDS 14的记录已经成功)时，结束所述处理。重复步骤1102和步骤1103直到缺陷列表15已经被正常记录。重复步骤1104和 步骤1105直到DDS 14已经被正常记录。通过上述过程，缺陷管理工作区更新部分165将新的缺陷列表15和DDS 14附加 记录到缺陷管理工作区21中，同时确定缺陷列表15和DDS 14是否已经被正常记录。注意可按照相反的顺序执行步骤1101和步骤1102。具体来讲，在记录缺陷列表 15并确认记录已经被正常实现之后，包含缺陷列表开始位置信息30的DDS 14被记录到已 经记录有缺陷列表15的缺陷管理工作区21中。注意虽然在图10所述的过程中缺陷列表15和DDS 14位于多个块的不同块中，但 缺陷列表15和DDS 14都可共享多个块中的至少一个块。如果缺陷列表15和DDS 14可共享多个块中的至少一个块，则在将缺陷列表15和 DDS 14记录到缺陷列表15和DDS 14共享的块中之后，确定是否已经正常实现了记录。如果记录失败，则改变位置信息使得下一次记录的位置与DDS 14的缺陷列表开始位置信息 30相应并且缺陷列表15和DDS 14被再次记录到由缺陷列表15和DDS 14共享的块中。重 复尝试记录缺陷列表15和DDS 14直到缺陷列表15和DDS 14被正常记录。因此，记录在缺陷管理工作区21中的缺陷列表15和DDS 14的数据可靠性能够得 到改善。图11表示根据参照图10所述的过程将缺陷列表15和DDS 14附加记录到缺陷管 理工作区21中的情形。图11的部分(a)表示这样的情形，其中缺陷块出现在缺陷管理工作区#1 (DMWA#1) 中，并且因此，缺陷列表15至DMWA#1的第一记录发生故障。随后，尝试记录缺陷列表15。 如果缺陷列表15的记录成功，则将DDS 14记录在缺陷列表15之后。图11的部分(b)表示在DMWA#2中没有出现缺陷块的情形。如上所述，即使在缺陷管理工作区21中出现有缺陷块并且因此缺陷列表15和DDS 14的记录失败，则会重复尝试记录缺陷列表15和DDS14直到缺陷列表15和DDS 14被正常 记录。因此，缺陷列表15和DDS14的记录得以适当执行。在图9的实施例中，步骤901相当于“选择相邻于记录盘管理工作区和未记录盘管 理工作区之间的边界的未记录盘管理工作区”；步骤902相当于“将作为关于一次写入多次 读取信息记录介质的管理信息的盘管理信息记录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作 区中”和“将包含关于在上述的记录步骤中定义的盘管理信息的位置信息的盘定义结构记 录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中”。然而，根据本发明实施例1的用于将缺陷列表和DDS附加记录到一次写入多次读 取光盘1的缺陷管理工作区21中的过程不限于图9的实施例。根据本发明实施例1的用 于将缺陷列表和DDS附加记录到一次写入多次读取光盘1的缺陷管理工作区21中的任何 过程都能被利用，只要所述过程具有下述功能“选择相邻于记录盘管理工作区和未记录盘 管理工作区之间的边界的未记录盘管理工作区”；“将作为关于一次写入多次读取信息记录 介质的管理信息的盘管理信息记录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中”和“将包 含关于在上述的记录步骤中定义的盘管理信息的位置信息的盘定义结构记录到相邻于所 述边界的未记录盘管理工作区中”。图12表示根据本发明实施例1的另一种一次写入多次读取光盘1的数据结构。在根据本发明实施例1的其它一次写入多次读取光盘1中，在从临时缺陷管理区 20的末尾至开头的方向上(在从一次写入多次读取光盘1的外圆周至内圆周的方向上)分 配有至少一个缺陷管理工作区21 (DMWA#1至DMWA#N(N 1或更大的整数))。从缺陷管理工 作区21在临时缺陷管理区20的末尾(较靠近一次写入多次读取光盘1的外圆周)连续记 录DDS 14和缺陷列表15。以与提供在DMAl至DMA4的每一个中的DDS 14和缺陷列表15相同的顺序将DDS 14和缺陷列表15布置在缺陷管理工作区21中。在缺陷管理工作区21中，沿从临时缺陷管 理区20的末尾至开头的方向(即，在从一次写入多次读取光盘1的外圆周至内圆周的方向 上)以该顺序定位缺陷列表15和DDS 14。例如，DDS 14位于相邻于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的 边界的已记录缺陷管理工作区中。DDS 14位于根据相邻于所述边界的已记录缺陷管理工作区的开头计算的至少一个预定位置处。在图12的一次写入多次读取光盘1中，当搜索最新 记录的缺陷管理工作区21时，光盘记录/再现装置100的缺陷管理工作信息读取部分165 搜索临时缺陷管理区20中的已记录区域的开始位置(此后也称作“记录开始位置”)并确定 位于记录开始位置的缺陷管理工作区21是最新记录的缺陷管理工作区21。换句话说，在图 6中，搜索用未记录区替换记录区的记录开始位置。在缺陷管理工作信息写入部分166中， 比临时缺陷管理区20中的记录开始区更靠近内圆周的未记录缺陷管理工作区被看作是可 用的缺陷管理工作区21。在本发明的一次写入多次读取信息记录介质中，在预定方向上连续分配至少一个 缺陷管理工作区。最新缺陷列表和最新DDS被布置在相邻于已记录缺陷管理工作区和未记 录缺陷管理工作区之间的边界的已记录缺陷管理工作区中，其中所述缺陷列表和最新DDS 是按照该顺序沿预定方向布置的。因此，很容易找到最新DDS和最新缺陷列表。此后，将详细说明本发明的一次写入多次读取信息记录介质的效果，其中所述预 定方向是从一次写入多次读取光盘1的内圆周到外圆周的方向。现在假设最新DFL 15和最新DDS 14按照沿从一次写入多次读取光盘1的外圆周 至内圆周方向的这种顺序布置在缺陷管理工作区21中，与DMAl至DMA4中的最新DFL 15 和最新DDS 14的布置方向相同。能够搜索临时缺陷管理区20中的记录结束位置(图8)。然而，DFL 15的大小根 据缺陷项的数量发生变化。因此，不能从结束位置计算DFL 15的开始位置。为了在上述数据结构中获得最新DFL 15，从位于临时缺陷管理区20的开始位置 的DDS 14计算DFL 15的开始位置，和从DFL 15中包含的缺陷项的数量计算DFL 15的大
小以确定下一个DDS 14的位置。从该DDS 14计算DFL 15的开始位置，.......以这种方
式，临时缺陷管理区20被连续跟踪。在DDS 14位于DFL 15之前的数据结构中，不利的是 需要较长的时间。此外，如果从其不能再现数据的块出现在DDS 14和DFL 15中，则搜索最 新DFL 15的过程被妨碍，使得可靠性被不利地降低。如果DFL 15具有固定长度，则搜索最新DDS 14和最新DFL 15的问题能够得以避 免。然而，在该情况下，将数据附加记录到临时缺陷管理区20中的次数被减少或者需要较 大容量的临时缺陷管理区20，从而导致区域应用效率的降低。在实施例1的一次写入多次读取光盘1中，在预定方向上分配至少一个缺陷管理 工作区21;最新DFL 15和最新DDS 14沿该预定方向按照这样的顺序进行排列并且位于相 邻于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边界的已记录缺陷管理工作 区中；如果DDS14位于能够根据所述边界计算的预定位置处，则能够利用具有可变大小的 DFL 15，结果会得到缺陷管理工作区21的高使用效率；和将最新DFL 15的记录位置记录在 位于临时缺陷管理区20中的记录结束位置处的缺陷管理工作区21的DDS 14中(S卩，相邻 于所述边界的已记录缺陷管理工作区)。因此，能够解决上述问题。在本发明的一次写入多次读取光盘中，在预定方向上分配至少一个缺陷管理工作 区；沿所述预定方向按照这样的顺序排列最新的DFL和最新的DDS并且将它们定位在相邻 于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边界的已记录缺陷管理工作区 中；并且DDS位于能够根据所述边界计算得到的预定位置处。因此，能够容易的找出最新 DDS和最新缺陷列表。
20
1.5.最终完成图13表示根据本发明实施例1的最终完成过程。通过将缺陷列表15和DDS 14 记录到本发明的一次写入多次读取光盘1的DMAl至DMA4的每一个中，执行本发明实施例 1的最终完成。在此，缺陷管理信息更新部分164允许存储在缺陷管理信息存储缓冲器140中的 缺陷列表15的内容保持最新的内容。此后，将参照图13逐步说明根据本发明实施例1的最终完成过程。步骤1001 开始将缺陷列表15和DDS 14记录到DMAl至DMA4中的一个(例如 DMA1)中。步骤1002 缺陷管理信息更新部分164通过将表示相邻于边界的已记录缺陷管理 工作区的位置的位置信息改变为表示至少一个缺陷管理区中的一个的位置的位置信息而 将最新DDS 14改变为最后的DDS14。例如，缺陷管理信息更新部分164通过将缺陷管理信 息存储缓冲器140中的DDS 14的缺陷列表开始位置信息30改变为将被记录的缺陷管理区 (DMAl)的缺陷列表开始位置信息而将最新DDS 14改变为最后的DDS 14。当缺陷列表开始 位置信息30被改变之后，所述处理进行到步骤1003。步骤1003 缺陷管理信息写入部分162将最后的缺陷列表15记录到至少一个缺 陷管理区的一个中。例如，缺陷管理信息写入部分162将缺陷管理信息存储缓冲器140中 的缺陷列表15记录到DMAl中。在记录缺陷列表15之后，所述处理进行到步骤1004。步骤1004 缺陷管理信息写入部分162根据最后的缺陷列表15将最后的DDS 14 记录到至少一个缺陷管理区的一个中。例如，缺陷管理信息写入部分162将缺陷管理信息 存储缓冲器140中的DDS 14记录到DMAl中。在记录DDS 14之后，所述处理进行到步骤 1005。步骤1005 完成缺陷列表15和DDS 14到DMAl至DMA4之一(DMAl)中的记录。在 完成记录之后，所述处理进行到步骤1001。对所有剩余的缺陷管理区(即，DMA2至DMA4)执行步骤1002至步骤1004。在完成将缺陷列表15和DDS 14记录到DMAl至DMA4中之后，就完成了最终完成 过程。注意在步骤1001至步骤1005中，最后缺陷列表15是位于至少一个缺陷管理区中 的最新缺陷列表，并且最后盘定义结构14是包含关于最后缺陷列表15的位置信息的盘定 义结构14。最新缺陷列表15通常是记录在相邻于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管 理工作区之间的边界的记录缺陷管理工作区中的缺陷列表15。最新盘定义结构通常是包含 关于最后缺陷列表15的位置信息的盘定义结构14。通过上述过程，缺陷管理信息处理部分160能够将最后的DDS 14和最后的缺陷列 表15记录到DMAl至DMA4中以完成最终完成过程。图14表示用于进行比较的可重写光盘400和在最终完成之后的一次写入多次读 取光盘的数据结构。通过执行图13的最终完成过程，布置在最终完成之后的一次写入多次读取光盘 中的DMAl至DMA4的数据结构与布置在可重写光盘400中的DMAl至DMA4的数据结构相同。 因此，通过图24的可重写光盘记录/再现装置200能够从最终完成的一次写入多次读取光盘再现数据，从而得到对于再现兼容的光盘。注意通常在最终完成过程中，具有与记录在相邻于已记录缺陷管理工作区和未记 录缺陷管理工作区之间的边界的记录缺陷管理工作区中的缺陷列表15相同内容的信息被 记录在缺陷管理工作区中。因此，在能够处理本发明的一次写入多次读取光盘的数据结构 的装置中，如果能够获得最新缺陷管理工作区21的内容，则就不必获得DMAl至DMA4的内 容，从而能够减少获得缺陷管理信息所需的时间。甚至当将DDS 14和缺陷列表15记录到 DMAl至DMA4中完全失败时，通过从最新缺陷管理工作区21获得DDS 14和缺陷列表15也 能从一次写入多次读取光盘1再现数据。因此，根据本发明的最终完成过程，最终完成的一次写入多次读取光盘的数据结 构与可重写光盘的数据结构相同。结果，可重写光盘记录/再现装置能够从最终完成的一 次写入多次读取光盘再现数据，由此实现兼容性。在图13的例子中，缺陷管理信息写入部分162用作“将最后盘管理信息写入到至 少一个盘管理区中的部分”和“根据所述最后盘管理信息将最后盘定义结构记录到至少一 个盘管理区中的部分”。然而，缺陷管理信息写入部分162仅显示出本发明的功能的典型部 分。可以利用具有任何构成的部分，只要能够实现上述功能。注意可通过将最终完成识别标记记录到一次写入多次读取光盘1中来最终完成 一次写入多次读取光盘1。例如，缺陷管理工作信息写入部分166将最终完成识别标记记录到盘定义结构14 和缺陷列表15的至少一个中。图15表示根据本发明实施例1的另一个最终完成过程。所述另一个最终完成过 程是通过将最终完成识别标记记录到本发明的一次写入多次读取光盘1上执行的。此后，将参照图15逐步的说明根据本发明实施例1的所述另一个最终完成过程。步骤2201 将最终完成识别标记记录到一次写入多次读取光盘1上。所述最终完 成识别标记被记录在一次写入多次读取光盘1上的预定位置。所述预定位置是本发明的光 盘记录/再现装置能够从其读取最终完成识别标记的任何位置。如果所述预定位置是缺陷管理工作区21，则缺陷管理工作信息写入部分166将最 终完成识别标记记录到缺陷管理工作区21中的盘定义结构14和缺陷列表15的至少一个 中。在该情况下，缺陷管理工作信息读取部分165读取最终完成识别标记。在将最终完成识别标记记录到盘定义结构14和缺陷列表15的至少一个中之后， 所述处理结束。1. 6.最终完成确定图16表示用于确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完成的最终完成确 定过程。此后，将参照图16逐步说明用于确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完 成的最终完成确定过程(步骤2301至步骤2303)。注意在步骤2301至步骤2303中，最后缺陷列表15是布置在至少一个缺陷管理区 中的最新缺陷列表15 ；最后盘定义结构14是包含有关最后缺陷列表15的位置信息的盘定 义结构14 ；并且最新缺陷列表15是记录在相邻于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管 理工作区之间的边界的已记录缺陷管理工作区中的缺陷列表15。步骤2301 缺陷管理信息读取部分161选择分配在一次写入多次读取光盘1中的
22至少一个缺陷管理区中的一个。在至少一个缺陷管理区之一被选择之后，所述处理进行到 步骤2302。步骤2302 缺陷管理信息读取部分161从分配在一次写入多次读取光盘1中的至 少一个缺陷管理区中的一个读出数据并确定缺陷管理区是否已经被记录。例如，缺陷管理 信息读取部分161从DMAl至DMA4中的一个读出数据，并根据读取结果，确定最后的缺陷列 表和最后的DDS是否被记录在DMAl至DMA4的一个中。如果指示读取数据的结果的读取信号的幅度值大于或等于预定的阈值，则确定缺 陷管理区已经被记录。如果指示读取数据的结果的读取信号的幅度值未超过预定的阈值， 则确定缺陷管理区未被记录。例如，从DMAl读取数据，并根据读取的结果，确定DMAl是否 已经被记录。将被读出的数据不限于最后的缺陷列表15和最后的DDS 14。数据内容不特别限 定，只要使用所述数据能够确定是否已经根据参照图6和7所述的过程记录了缺陷管理区 即可。用于确定缺陷管理区是否已经被记录的过程类似于图6和7中所述的过程，并且 省略其说明。注意在图6和7所述的过程中，缺陷管理工作信息读取部分165检验幅度，同 时在最终完成确定过程中，缺陷管理信息读取部分161检验幅度。注意用于确定缺陷管理区是否已经被记录的过程不限于图6和7所述的过程。通 过检验数据是否被正确读出，可以确定缺陷管理区是否已经被记录。例如，根据检验最后缺 陷列表15或最后DDS 14是否被缺陷管理区正确读出的结果，确定缺陷管理区是否已经被 记录。如果缺陷管理区已经被记录，则确定一次写入多次读取光盘1被从一次写入多次 读取状态改变至非一次写入多次读取状态，并结束所述处理。如果缺陷管理区未被记录，则确定一次写入多次读取光盘1还未从一次写入多次 读取状态改变至非一次写入多次读取状态，并且所述处理进行到步骤2303。步骤2303 缺陷管理信息读取部分161确定在一次写入多次读取光盘1中分配的 至少一个缺陷管理区的全部是否已经都被选择。如果所有缺陷管理区都已经被选择，则确定一次写入多次读取光盘1还未从一次 写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态，并结束所述处理。如果不是所有的缺陷管理区都已经被选择了，则所述处理进行到步骤2301。如果确定DMAl至DMA4中的至少一个已经被记录，则确定一次写入多次读取光盘 1已经从一次写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态。如果确定所有DMAl至 DMA4都是未记录的，则确定一次写入多次读取光盘1还未从一次写入多次读取状态改变至 非一次写入多次读取状态。例如，缺陷管理信息读取部分161从DMAl至DMA4中的至少一个读出数据。如果 数据被正常再现，则确定一次写入多次读取光盘1已经被最终完成。如果所有DMAl至DMA4 都是未记录的且因此不能从这些缺陷管理区正常再现数据，则确定一次写入多次读取光盘 1还未被最终完成。在图16的实施例中，步骤2302相当于“从至少一个盘管理区中的一个读出数据并 确定缺陷管理区是否已经被记录”，以及步骤2303相当于“根据上述确定的结果，确定一次
23写入多次读取信息记录介质是否已经从一次写入多次读取装该改变至非一次写入多次读 取状态”。然而，用于确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完成的最终完成确定过 程并不限于图16的过程。用于确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完成的任何 最终完成确定过程都能被利用，只要它具有下列功能“从至少一个盘管理区中的一个读出 数据并确定缺陷管理区是否已经被记录”，以及“根据上述确定的结果，确定一次写入多次 读取信息记录介质是否已经从一次写入多次读取装该改变至非一次写入多次读取状态”。图17表示用于确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完成的另一个最终 完成确定过程。此后，将参照图17逐步说明所述另一个用于确定一次写入多次读取光盘1 是否已经被最终完成的最终完成确定过程。步骤2401 光盘记录/再现装置100从一次写入多次读取光盘1读出数据。例如， 缺陷管理工作信息读取部分165从相邻于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作 区之间的边界的已记录缺陷管理工作区21读出数据。用于读出数据的过程与图5中所述 的过程类似，并省略其说明。在读出数据之后，所述处理进行到步骤2402。步骤2402 确定是否已经将最终完成识别标记记录在一次写入多次读取光盘1 上。例如，根据所述读取的数据，缺陷管理工作信息读取部分165确定是否已经将最终完成 识别标记记录在缺陷管理工作区21中的预定位置处。注意最终完成识别标记的记录位置 不限于缺陷管理工作区21的预定位置。最终完成识别标记的记录位置可以是能够由光盘 记录/再现装置100读出的任何位置。所述预定位置可以是例如盘定义结构14和缺陷列 表中的至少一个。根据所述确定结果，确定一次写入多次读取光盘1是否已经从一次写入多次读取 状态改变至非一次写入多次读取状态。如果已经记录了最终完成识别标记，则确定一次写入多次读取光盘1已经从一次 写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态，并且所述处理结束。如果未记录最终完成识别标记，则确定一次写入多次读取光盘1还未从一次写入 多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态，并且所述处理结束。例如，当从盘定义结构14和缺陷列表15中的至少一个读取最终完成识别标记时， 缺陷管理工作信息读取部分165确定一次写入多次读取光盘1已经被最终完成。在图17的实施例中，步骤2402相当于“确定指示禁止将数据附加记录到至少一 个盘管理工作区中的最终完成识别标记是否被记录在一次写入多次读取信息记录介质中” 和“根据上述确定的结果，确定一次写入多次读取信息记录介质是否已经从一次写入多次 读取状态改变为非一次写入多次读取状态”。然而，用于确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完成的其它最终完成确 定过程不局限于图17的过程。用于确定一次写入多次读取光盘1是否已经被最终完成的 任何最终完成确定过程都可被利用，只要其具有下述功能“确定指示禁止将数据附加记录 到至少一个盘管理工作区中的最终完成识别标记是否被记录在一次写入多次读取信息记 录介质中”和“根据上述确定的结果，确定一次写入多次读取信息记录介质是否已经从一次 写入多次读取状态改变为非一次写入多次读取状态”。
24
注意本发明的实施例1被描述为假定缺点列表(DFL) 15和盘定义结构(DDS) 14中 的每一个都具有一个块单元，其是用于纠错的单元。如果DDS 14的大小或DFL 15的大小 小于所述块大小，则用无意义的数据(例如，0)记录一个块的空白部分以填充该块。在前述说明中，DFL 15和DDS 14布置在不同的块中。然而，如果在相邻于一个边 界的已记录缺陷管理工作区中，DDS 14位于可根据所述边界计算得到的预定块中的预定位 置，则DFL 15和DDS 14可共享至少一个块。例如，DDS 14可位于DFL 15的最后块中的一 预定位置处。只要DDS 14的位置根据记录末尾是唯一确定的，则就能够容易的找出最新的 DDS 14 禾P DFL 15。在本发明的实施例1中，将作为用于纠错的单元的块描述为用于记录/再现和缺 陷管理的单元。然而，例如，作为可访问最小单元的扇区(1扇区的大小为2千字节)在本 发明中可被用作记录/再现和缺陷管理的单元。在不脱离本发明的精神和范围的情况下可 做出这种修改。对于本领域技术人员来说显而易见的修改和变形都落在本发明的权利要求 的范围内。在本发明的实施例1中，缺陷管理工作区21包含缺陷列表15 ( S卩，子信息)和DDS 14(S卩，父信息)，其中DDS 14包含关于缺陷列表15的位置信息。然而，子信息的数量不限 于一个，只要父信息包含关于子信息的位置信息。在缺陷管理工作区21中可出现多条子信 息。换句话说，父信息可包含关于多条子信息的位置信息。(实施例2)2. 1.光盘数据结构根据本发明实施例2的一次写入多次读取光盘300具有与本发明的实施例1的一 次写入多次读取光盘相同的数据结构，除了缺陷管理工作区21 (DMWA)。除了缺陷管理工作 区21(DMWA)的说明之外，相同的说明将被省略。图18表示根据本发明实施例2的DMWA的数据结构。一个DMWA包含M个块(M是1或者更大的整数)。在M个块的每一个中，提供有 附属缺陷列表(此后也称之为“SDFL”)18和附属盘定义结构(此后也称之为“3003”)19。SDDS 19是具有固定大小(例如，1扇区(2千字节))的信息。SDDS 19位于DMWA 中包含的每个块中的预定位置(例如，一个块的末扇区)。SDDS 19的大小与盘定义结构(DDS) 14的大小相同。注意SDDS 19的大小不限于DDS 14的大小。注意SDDS 19可以不具有固定的长度，只要SDDS 19位于每个块的预定位置。如果缺陷列表(DFL) 15的大小与SDDS 19的大小相加并且和超过了 1块的大小， 则DFL 15被分割成SDFL 18使得SDDS 19的大小加(多个)SDFL 18的大小在1块大小的 范围内。所有SDFL 18的组合是一个DFL 15。SDFL 18是DFL 15的分割部分。因此，缺陷列表标题32位于任一个SDFL 18中的 预定位置(例如，SDFL#1的开始处)。DFL 15的大小是可变长度的，使得SDFL 18的数量和SDFL 18的大小是可变的。 SDFL 18的大小和SDDS 19的大小相加必定落在1块大小的范围内。这里，如果SDFL 18的大小和SDDS 19的大小相加小于1块大小，则用无意义的数 据(例如，0)来记录块的空白部分以填充该块。
25
图19表示SDDS 19的结构。SDDS 19包含附属缺陷列表开始位置信息34，其是关于DMWA中出现的所有SDFL 18的位置信息。注意SDDS 19可包含不是所有SDFL 18的附属缺陷列表开始位置信息34。例如， SDDS 19可以只包含有关开始SDFL 18、末尾SDFL 18和构成相同块的SDFL 18的附属缺陷 列表开始位置信息34。2. 2.光盘记录/再现装置的结构根据本发明实施例2的光盘记录/再现装置具有与根据本发明实施例1的光盘记 录/再现装置100相同的结构，并省略其说明。2. 3.获得最新的缺陷管理信息下面将说明获得(再现)记录在根据本发明实施例2的一次写入多次读取光盘 300中的信息(记录在相邻于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边 界的已记录缺陷管理工作区中的SDDS和SDFL)的方法。图20表示用于从临时缺陷管理区20中包含的缺陷管理工作区21中的最新记录 的缺陷管理工作区21获得SDDS 19和SDFL 18的过程。此后，将参照图20逐步的说明该 过程。步骤1901 缺陷管理工作信息读取部分165搜索已记录缺陷管理工作区和未记录 缺陷管理工作区之间的边界的位置以获得表示边界的位置的边界位置信息。例如，缺陷管理工作信息读取部分165搜索临时缺陷管理区20的记录结束位置并 将位于记录结束位置处的缺陷管理工作区21的位置存储在缺陷管理信息控制存储器163 的记录结束位置40处。在存储了记录结束位置处的缺陷管理工作区21的位置之后，所述 处理进行到步骤1902。注意用于搜索记录结束位置的过程与在本发明实施例1中参照图6和7所述的过 程相同并省略其说明。步骤1902 缺陷管理工作信息读取部分165根据边界位置信息从包含在相邻于边 界处的已记录缺陷管理工作区中的一个块再现SDDS19，并根据该再现的SDDS 19，获得关 于SDFL 18的位置信息。例如，缺陷管理工作信息读取部分165将位于在记录结束位置40处结束的块中的 预定位置处的具有固定长度的SDDS 19读出至缺陷管理信息存储缓冲器140中，并将SDDS 19中的所有附属缺陷列表开始位置信息34存储在缺陷管理信息控制存储器163中的SDFL 开始位置42处。在存储了 SDDS 19中的所有附属缺陷列表开始位置信息34之后，所述处 理进行至步骤1903。步骤1903 缺陷管理工作信息读取部分165根据关于SDDS 19中包含的SDFL 18 的位置信息确定已记录缺陷管理工作区是否为其中记录已被正常完成的区域。例如，缺陷管理工作信息读取部分165使用关于SDFL开始位置42的位置信息来 确定其中读取已被执行的包含SDDS 19的DMWA是否为正常的缺陷管理工作区。例如，通过将关于SDFL 18的位置信息与关于已记录缺陷管理工作区和未记录缺 陷管理工作区之间的边界的位置信息进行比较，缺陷管理工作信息读取部分165确定已 记录缺陷管理工作区是否为其中已经正常完成记录的区域。
具体来讲，例如，如果在关于SDFL开始位置42的位置信息中没有出现大于记录结 束位置40的地址，则确定将被读出的DMWA是正常的。如果出现了大于记录结束位置40的 地址，则将被读出的DMWA是异常的。注意上述的确定方法仅仅是示意性的。用于确定DMWA是否为正常的方法不限于 该方法。如果已记录缺陷管理工作区是其中记录未被正常完成的区域，则根据关于SDFL 18的位置信息搜索相邻于一个边界的已记录缺陷管理工作区和相邻于该已记录缺陷管理 工作区的已记录缺陷管理工作区之间的边界的位置。例如，如果将被读出的DMWA被确定是异常的，则读出在朝向临时缺陷管理区20的 开始位置的方向上紧接在将被读出的当前DMWA之前出现的正常DMWA，即其末端位于紧接 在指示附属缺陷列表#1开始位置信息34之前的DMWA。例如，当由于例如在DMWA更新期间光盘记录/再现装置100已经被关闭(shut down)而使DMWA未被完全更新时，或者当DMWA具有类似斑痕、指纹等的缺陷时，当前正从其 读出数据的DMWA被确定是异常的。如果确定DMWA是正常缺陷管理工作区，则所述处理进行至步骤1904。如果确定DMWA不是正常的缺陷管理工作区，则所述处理进行至步骤1902。步骤1904 缺陷管理工作信息读取部分165根据关于SDFL 18的位置信息从相邻 于一个边界的已记录缺陷管理工作区中包含的多个块中的每一个再现SDFL 18。例如，缺陷管理工作信息读取部分165将从SDFL开始位置42开始定位的所有 SDFL 18读出到缺陷管理信息存储缓冲器140中。这里，如果记录结束位置表示还未记录临时缺陷管理区20，则在步骤1902、步骤 1903和步骤1904中不必执行读取。与读取相反，可提前将DDS 14和缺陷列表15存储在缺 陷管理信息存储缓冲器140中。注意所存储的DDS 14包含已经被初始化为预定值的缺陷 列表开始位置信息30，并且在存储的缺陷列表15中，缺陷列表标题32中的缺陷项的数量已 经被初始化(缺陷项的数量=0)，即存储的缺陷列表15没有缺陷项。注意缺陷管理信息存储缓冲器140可保持已经被读出的所有SDFL18，作为形成 DFL 15的组合或照它们原来的样子保持。在本发明的实施例2中，已经被读出的所有SDFL 18被结合到DFL 15中并被保持。在图20的实施例2中，步骤1901相当于“搜索已记录盘管理工作区和未记录盘管 理工作区之间的边界的位置以获得指示边界位置的边界位置信息”，步骤1902相当于“根 据所述边界位置信息从相邻于所述边界的已记录盘管理工作区再现盘定义结构”和“根据 所述盘定义结构获得关于部分盘管理信息的位置信息”，以及步骤1904相当于“根据关于 部分盘管理信息的位置信息从相邻于所述边界的已记录盘管理工作区中包含的多个块中 的每一个再现部分盘管理信息”。然而，用于从临时缺陷管理区20中包含的缺陷管理工作区21中的最新记录的缺 陷管理工作区21获得SDDS 19和SDFL 18的过程不限于图20的过程。用于从临时缺陷 管理区20中包含的缺陷管理工作区21中的最新记录的缺陷管理工作区21获得SDDS 19 和SDFL 18的任何过程都可被利用，只要它具有下述功能“搜索已记录盘管理工作区和未 记录盘管理工作区之间的边界的位置以获得指示边界位置的边界位置信息”，“根据所述边界位置信息从相邻于所述边界的已记录盘管理工作区再现盘定义结构”和“根据所述盘定 义结构获得涉及部分盘管理信息的位置信息”，以及“根据关于部分盘管理信息的位置信息 从相邻于所述边界的已记录盘管理工作区中包含的多个块中的每一个再现部分盘管理信息。因此，根据本发明，通过将包含关于SDFL的位置信息的SDDS设置在DMWA中包含 的所有块中的预定位置，则能够从SDDS中的信息容易地确定DMWA是否已经被正常更新。即 使DMWA更新发生失败，也能够容易地计算出紧接在那个DMWA之前出现的正常DMWA的位置信息。2.4.缺陷管理信息的更新下面将说明用于将信息(SDFL和SDDS)记录到根据本发明实施例2的一次写入多 次读取光盘300中的方法。图21表示用于将SDFL 18和SDDS 19附加记录到根据本发明实施例2的一次写 入多次读取光盘300的缺陷管理工作区21中的过程。缺陷管理工作信息写入部分166将SDFL 18和SDDS 19附加记录到缺陷管理工作 区21中。这里，缺陷管理信息更新部分164允许存储在缺陷管理信息存储缓冲器140中的 缺陷列表15的内容保持最新的内容。具体来讲，例如，如果新检测到缺陷块，则缺陷管理信息更新部分164将与新的替 代块(即，新缺陷块)对应的缺陷项添加至存储在缺陷管理信息存储缓冲器140中的缺陷 列表15中，并根据缺陷项中包含的关于缺陷块的位置信息对缺陷项进行分类。另外，缺陷 管理信息更新部分164将缺陷列表中的缺陷项的数量加一。此后，将参照图21逐步的说明用于将SDFL 18和SDDS 19附加记录到根据本发明 实施例2的一次写入多次读取光盘300的缺陷管理工作区21中的过程。步骤2001 缺陷管理信息更新部分164计算存储在缺陷管理信息存储缓冲器140 中的最新DFL 15的大小并确定SDDS 19的大小(固定大小)与最新DFL 15的大小相加是 否超过了 1块的大小。如果所述相加的和的大小超过了 1块的大小，则将DFL 15分割成多个附属缺陷列 表18。如果所述相加的和小雨或等于1块的大小，则将DFL 15本身定义为附属缺陷列表 18#1。确定附属缺陷列表18的大小使得附属缺陷列表18的大小和SDDS19的大小(固 定大小)相加的和的最大规模为1块大小。具体地，现在假定光盘300是DVD-RAM且1块大小为IECC块(=16扇区)，其中 ECC块是用于纠错的单元。如果SDDS 19的大小为1扇区，则附属缺陷列表18的大小最大 为15扇区。步骤2002 缺陷管理信息更新部分164选择相邻于已记录缺陷管理工作区和未记 录缺陷管理工作区之间的边界的未记录缺陷管理工作区。例如，缺陷管理信息更新部分164通过更新缺陷管理信息存储缓冲器140和缺陷 管理信息控制存储器163中包含的SDDS 19来选择位于多个未记录缺陷管理工作区的开头的一个未记录缺陷管理工作区，其中通过将记录结束位置40加到一获得的位置，即未 记录区的开始位置被看作是附属缺陷列表#1开始位置信息34。如果有M个附属缺陷列表 18 (M为2或更大的整数)，则与SDDS 19中包含的每个附属缺陷列表18相应的附属缺陷列 表开始位置信息34被更新。这里，可使用附属缺陷列表#1开始位置信息和块大小来计算附属缺陷列表#2开 始位置信息、……、和附属缺陷列表測开始位置信息。具体来讲，例如，可将附属缺陷列表 #2开始位置信息计算为通过将1块大小添加至由附属缺陷列表#1开始位置信息指示的位 置获得的位置。步骤2003 缺陷管理工作信息写入部分166将缺陷列表15中包含的SDFL 18和 包含关于SDFL 18的位置信息的SDDS 19记录到相邻于所述边界的未记录缺陷管理工作区 中包含的多个块的每一个中，所述缺陷列表15中包含的SDFL为关于一次写入多次读取光
盘的管理信息。例如，缺陷管理工作信息写入部分166从开始位置起将缺陷管理信息存储缓冲器 140中包含的已更新SDFL 18和已更新SDDS 19记录到未记录区中。如果有M个SDFL 18， 则记录M个更新的SDFL 18和M个更新的SDDS 19。这里，当SDDS 19包含用于所有SDFL 18的附属缺陷列表开始位置信息34时，连 同SDFL 18—起记录的SDDS 19的内容与所有SDFL 18的内容相同。然而，例如，如果SDDS 19包含关于开始SDFL 18的附属缺陷列表开始位置信息34、关于结尾SDFL 18的附属缺陷 列表开始位置信息34、和关于相同块中包含的(Sf)SDFL 18的附属缺陷列表开始位置信 息34时，只有关于相同块中包含的(Sf)SDFL 18的附属缺陷列表开始位置信息34具有 不同内容。此外在本发明的实施例2中，能够在确定记录是否已经被正常执行的同时记录 SDFL 18和SDDS 19，与图10中所述的本发明的实施例1相同。在本发明的实施例2中，当 在确定记录是否已经被正常执行的同时记录SDFL 18和SDDS 19时，步骤2003被重复执行 直到SDFL 18和SDDS 19被正常记录。如在图10所述的本发明的实施例1中，当在确定记录是否已经被正常执行的同时 更新DMWA时，如果在处理工程中遭遇到了缺陷块，则可能的情况是由先前记录的块中的 SDDS 19指示的附属缺陷列表开始位置信息34与附属缺陷列表18被实际记录的位置不匹 配。然而，在该情况下，通过更新缺陷管理信息存储缓冲器140中的SDDS 19的内容使得最 新记录的块(即，位于记录结束位置处的块)中包含的SDDS19的内容是正确的，则可实现 匹配，由此能够避免上述的问题。 通过上述过程，缺陷管理工作信息写入部分166可将最新的缺陷列表15和DDS 14 记录到临时缺陷管理区20中包含的缺陷管理工作区21中。 在图21的实施例2中，步骤2002相当于“选择相邻于已记录盘管理工作区和未记 录盘管理工作区之间的边界的未记录盘管理工作区”，步骤2003相当于“将作为关于一次 写入多次读取信息记录介质的管理信息的盘管理信息中包含的部分盘管理信息记录到相 邻于所述边界的未记录盘管理工作区中包含的多个块的每一个中”和“将关于部分盘管理 信息的位置信息中包含的盘定义结构记录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中包 含的多个块的每一个中”。
29
然而，用于将SDFL 18和SDDS 19附加记录到根据本发明实施例2的一次写入多 次读取光盘300的缺陷管理工作区21中的过程不局限于图21的过程。用于将SDFL 18和 SDDS 19附加记录到根据本发明实施例2的一次写入多次读取光盘300的缺陷管理工作区 21中的任何过程都能被利用，只要其具有下述功能“选择相邻于已记录盘管理工作区和 未记录盘管理工作区之间的边界的未记录盘管理工作区”，“将作为关于一次写入多次读取 信息记录介质的管理信息的盘管理信息中包含的部分盘管理信息记录到相邻于所述边界 的未记录盘管理工作区中包含的多个块的每一个中”和“将关于部分盘管理信息的位置信 息中包含的盘定义结构记录到相邻于所述边界的未记录盘管理工作区中包含的多个块的 每一个中”。2. 5.最终完成根据本发明实施例2的最终完成过程与根据本发明实施例1的最终完成过程相 同。在根据本发明实施例2的最终完成过程中，在本发明实施例2的SDDS 19中包含的附 属缺陷列表开始位置信息34替换本发明实施例1的DDS 14中包含的缺陷列表开始位置信 息30并执行本发明实施例1的最终完成过程。2. 6.最终完成确定根据本发明实施例2的最终完成确定过程与根据本发明实施例1的最终完成确定 过程相同并省略其说明。因此，根据本发明，即使当缺陷管理工作区21的更新自从切断电源等操作之后不 能完成时，也能正确确定更新失败了。因此，能够容易地找到其中更新失败的缺陷管理工 作区21的开始位置。因此，能够容易地获得最新的正常缺陷管理工作区21中的缺陷列表 15。在本发明的实施例2中，为纠错单元的块被描述为再现/记录和缺陷管理的单元。 可选择地，例如，可将为最小可寻址单元的扇区(1扇区的大小为2千字节)用作再现/记 录和缺陷管理的单元。应该清楚地意识到可产生这种变形和修改而不会脱离本发明的精神 和范围。虽然在本发明的实施例1和2中提供有缺陷列表15或附属缺陷列表18 (即，子信 息)和包含关于缺陷列表15或附属缺陷列表18的位置信息的DDS 14或SDDS 19 ( S卩，父 信息)，但所提供的信息不限于缺陷列表15或附属缺陷列表18和DDS 14或SDDS 19。例如，当所提供的信息是盘管理信息(为关于盘的管理信息)和包含关于盘管理 信息的位置信息的盘定义结构时，在预定的方向上连续地分配有至少一个缺陷管理工作 区。当沿所述预定方向按照这样的顺序在相邻于已记录盘管理工作区和未记录缺陷管理工 作区之间的边界的已记录盘管理工作区中设置有最新盘管理信息和最新盘定义结构时，能 够容易地搜索最新盘管理信息。因此，本发明的效果能够得以实现。例如，所提供的信息可以是替换列表和包含关于替换列表的位置信息的DDS。替换 列表包含指示数据区中包含的区域(替换源)和备用区中包含的区域(替换目标)之间的 对应关系的对应关系信息。在本发明的实施例1和2中，缺陷管理工作区21包含缺陷列表15或附属缺陷列表 18 ( S卩，子信息)和包含关于缺陷列表15的位置信息的DDS 14或SDDS 19 ( S卩，父信息)。 然而，子信息的数量不局限于一个，只要父信息包含关于子信息的位置信息。在缺陷管理工
30作区21中可出现多条子信息。换句话说，父信息可包含关于多条子信息的位置信息。所述 多条子信息不一定是相同类型的。图22表示一典型的缺陷管理工作区，其中间隔位映射信息和缺陷列表被设置为 子fe息。在缺陷管理工作区21中，间隔位映射信息和缺陷列表被设置为子信息。DDS (父信 息)可包含关于这两条子信息的位置信息。在该情况下，如果指示关于子信息的位置信息 的DDS (即，父信息)位于能够根据已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的 边界(已记录缺陷管理工作区的末尾或已记录缺陷管理工作区的开头)计算的预定位置处 时，能够容易地找出最新的子信息。因此，本发明的效果能够得以实现。当如参照图10和11所述的在记录缺陷管理工作区21中出现缺陷块时，如果仅通 过图6和7中所述的过程来搜索记录结束位置，则可能不正确地确定缺陷块是未记录区。因 此，例如，通过图6和7中所述的过程获得的记录结束位置信息与保持的信息进行比较以确 定记录结束位置是否为适当的未记录区的开始位置。因此，能够避免错误的确定。这里，所 保持的信息意味着在临时缺陷管理区20的先前记录中产生的记录结束位置信息(LRA)、关 于缺陷块的位置信息、等等，其例如被保持在介质或光盘记录/再现装置中的存储器上的 预定位置。在本发明的前述说明中，将一次写入多次读取光盘用作信息记录介质。然而，信息 记录介质不局限于一次写入多次读取光盘。任何一次写入多次读取信息记录介质都能被利 用，并且在该情况下，可获得与本发明的上述实施例相同的效果。根据本发明的一个方面，提供有一种用于确定一次写入多次读取信息记录介质是 否已经被最终完成的最终完成确定方法，其中在一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区；所述最终完成确定方法包括步骤(a)确定在一次写入多次读取信息记录介质上是否记录有最终完成识别标记，所 述最终完成识别标记指示禁止将数据附加记录到至少一个盘管理工作区中；和(b)根据步骤(a)的结果确定一次写入多次读取信息记录介质是否从一次写入多 次读取状态改变至非一次写入多次读取状态。在本发明的一个实施例中，在所述至少一个盘管理工作区中，提供有盘管理信息 和包含关于盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次 读取信息记录介质的管理信息；和所述步骤(a)包括确定在盘定义结构和盘管理信息的至少一个中是否记录有最 终完成识别标记。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于确定一次写入多次读取信息记录介质 是否已经被最终完成的最终完成确定方法，其中在一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区和至少一个盘
管理区；在所述至少一个盘管理工作区中，记录有盘管理信息和包含关于盘管理信息的位 置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信 息；和
所述最终完成确定方法包括步骤(a)从所述至少一个盘管理区中的一个读取数据并确定是否对所述至少一个盘管 理区中的一个进行记录；和(b)根据步骤(a)的结果确定一次写入多次读取信息记录介质是否从一次写入多 次读取状态改变至非一次写入多次读取状态。在本发明的一个实施例中，所述步骤(a)包括根据指示数据读取的结果的读取信 号的幅度确定是否对所述至少一个盘管理区中的一个进行记录。在本发明的一个实施例中，步骤(a)包括根据数据是否被正确的读出确定是否对 所述至少一个盘管理区中的一个进行记录。在本发明的一个实施例中，步骤(a)包括从所述至少一个盘管理区中的一个读取 数据，并根据数据读取结果确定是否将最后盘管理信息和最后盘定义结构记录在所述至少 一个盘管理区中；所述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义结构是包含关于最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；和所述最新盘管理信息是记录在相邻于所述已记录盘管理工作区和未记录盘管理 工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中的盘管理信息。在本发明的一个实施例中，步骤(a)包括根据所述最后盘管理信息或最后盘定义 结构是否被正确读出确定是否对所述至少一个盘管理区中的一个进行记录；所述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义结构是包含关于最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；和所述最新盘管理信息是记录在相邻于所述已记录盘管理工作区和未记录盘管理 工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中的盘管理信息。在本发明的一个实施例中，步骤(a)包括从所述至少一个盘管理区中的每一个读 取数据，并确定是否对所述至少一个盘管理区中的每一个进行记录；和步骤(b)包括当确定所述至少一个盘管理区中的至少一个被记录时，确定所述一 次写入多次读取信息记录介质从一次写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态， 并且当所述至少一个盘管理区中的全部都是未记录的时，确定所述一次写入多次读取信息 记录介质不从一次写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态。在本发明的一个实施例中，盘管理区是用于记录关于缺陷区的管理信息的缺陷管 理区。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于确定一次写入多次读取信息记录介质 是否已经被最终完成的最终完成确定装置，其中在一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区；所述最终完成确定装置包括(a)用于确定在一次写入多次读取信息记录介质上是否记录有最终完成识别标 记的部分，所述最终完成识别标记指示禁止将数据附加记录到所述至少一个盘管理工作区 中；和(b)根据通过部分(a)确定的结果确定一次写入多次读取信息记录介质是否从一 次写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态的部分。
32
在本发明的一个实施例中，在所述至少一个盘管理工作区中，提供有盘管理信息 和包含关于盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次 读取信息记录介质的管理信息；和所述部分(a)包括用于确定在盘定义结构和盘管理信息的至少一个中是否记录 有最终完成识别标记的部分。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于确定一次写入多次读取信息记录介质 是否已经被最终完成的最终完成确定装置，其中在一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区和至少一个盘
管理区；在所述至少一个盘管理工作区中，记录有盘管理信息和包含关于盘管理信息的位 置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信 息；和所述最终完成确定装置包括(a)从所述至少一个盘管理区的一个中读取数据并确定是否对所述至少一个盘管 理区中的一个进行记录的部分；和(b)根据通过部分(a)确定的结果确定一次写入多次读取信息记录介质是否从一 次写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状态的部分。在本发明的一个实施例中，所述部分(a)包括根据指示数据读取的结果的读取信 号的幅度确定是否对所述至少一个盘管理区中的一个进行记录的部分。在本发明的一个实施例中，部分(a)包括根据数据是否被正确读出确定是否对所 述至少一个盘管理区中的一个进行记录的部分。在本发明的一个实施例中，部分(a)包括从所述至少一个盘管理区中的一个读取 数据，并根据数据读取结果确定是否将最后盘管理信息和最后盘定义结构记录在所述至少 一个盘管理区中的部分；所述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义结构是包含关于最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；和所述最新盘管理信息是记录在相邻于所述已记录盘管理工作区和未记录盘管理 工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中的盘管理信息。在本发明的一个实施例中，部分(a)包括用于根据所述最后盘管理信息或最后 盘定义结构是否被正确读出确定是否对所述至少一个盘管理区中的一个进行记录的部 分；所述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义结构是包含关于最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；和所述最新盘管理信息是记录在相邻于所述已记录盘管理工作区和未记录盘管理 工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中的盘管理信息。在本发明的一个实施例中，部分(a)包括用于从所述至少一个盘管理区中的每一 个读取数据，并确定是否对所述至少一个盘管理区中的每一个进行记录的部分；和部分(b)包括这样的部分，其用于当确定所述至少一个盘管理区中的至少一个被 记录时，确定所述一次写入多次读取信息记录介质从一次写入多次读取状态改变至非一次
33写入多次读取状态，并且当所述至少一个盘管理区中的全部都是未记录的时，确定所述一 次写入多次读取信息记录介质不从一次写入多次读取状态改变至非一次写入多次读取状 态。在本发明的一个实施例中，盘管理区是用于记录关于缺陷区的管理信息的缺陷管 理区。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于使一次写入多次读取信息记录介质最 终完成的最终完成方法，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区；和所述最终完成方法包括步骤(a)将最终完成识别标记记录到所述一次写入多次读取信息记录介质上，所述最 终完成识别标记指示禁止将数据附加记录到所述至少一个盘管理工作区中。在本发明的一个实施例中，在所述至少一个盘管理工作区中，提供有盘管理信息 和包含关于盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次 读取信息记录介质的管理信息；和所述步骤(a)包括将最终完成识别标记记录到所述盘定义结构和盘管理信息的 至少一个中。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于使一次写入多次读取信息记录介质最 终完成的最终完成方法，其中在一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区和至少一个盘
管理区；在所述至少一个盘管理工作区中，记录有盘管理信息和包含关于盘管理信息的位 置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信 息；和所述最终完成方法包括步骤(a)将最后盘管理信息记录到所述至少一个盘管理区的一个中；和(b)根据所述最后盘管理信息将最后盘定义结构记录到所述至少一个盘管理区的 一个中；所述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义结构是包含关于最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；所述最新盘管理信息是记录在相邻于所述已记录盘管理工作区和未记录盘管理 工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中的盘管理信息。在本发明的一个实施例中，所述最终完成方法进一步包括通过将表示相邻于所述 边界的已记录盘管理工作区的位置的位置信息改变至表示所述至少一个盘管理区的一个 的位置的位置信息而将最新盘定义结构改变至最后盘定义结构，其中所述最新盘定义结构包括关于最新盘管理信息的位置信息。在本发明的一个实施例中，所述最终完成方法进一步包括对于所述至少一个盘管 理区中的每一个重复步骤(a)和步骤(b)以将最后盘管理信息和最后盘定义结构记录到所 述至少一个盘管理区的全部中。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于使一次写入多次读取信息记录介质最终完成的最终完成装置，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区；和所述最终完成装置包括(a)用于将最终完成识别标记记录到所述一次写入多次读取信息记录介质上的部 分，所述最终完成识别标记指示禁止将数据附加记录到所述至少一个盘管理工作区中。在本发明的一个实施例中，在所述至少一个盘管理工作区中，提供有盘管理信息 和包含关于盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次 读取信息记录介质的管理信息；和所述部分(a)包括用于将最终完成识别标记记录到所述盘定义结构和盘管理信 息的至少一个中的部分。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于使一次写入多次读取信息记录介质最 终完成的最终完成装置，其中在一次写入多次读取信息记录介质上分配至少一个盘管理工作区和至少一个盘
管理区；在所述至少一个盘管理工作区中，记录有盘管理信息和包含关于盘管理信息的位 置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信 息；和所述最终完成装置包括(a)用于将最后盘管理信息记录到所述至少一个盘管理区的一个中的部分；和(b)用于根据所述最后盘管理信息将最后盘定义结构记录到所述至少一个盘管理 区的一个中的部分；所述最后盘管理信息是布置在所述至少一个盘管理区中的最新盘管理信息；所述最后盘定义结构是包含关于最后盘管理信息的位置信息的盘定义结构；所述最新盘管理信息是记录在相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作 区之间的边界的已记录盘管理工作区中的盘管理信息。在本发明的一个实施例中，所述最终完成装置进一步包括通过将表示相邻于所述 边界的已记录盘管理工作区的位置的位置信息改变至表示所述至少一个盘管理区的一个 的位置的位置信息而将最新盘定义结构改变至最后盘定义结构的部分，其中所述最新盘定义结构包括关于最新盘管理信息的位置信息。在本发明的一个实施例中，所述最终完成装置进一步包括用于对于所述至少一个 盘管理区中的每一个重复执行下列步骤的部分将最后盘管理信息记录到所述至少一个盘 管理区的一个中，并根据所述最后盘管理信息将最后盘定义结构记录到所述至少一个盘管 理区的一个中，以将最后盘管理信息和最后盘定义结构记录到所述至少一个盘管理区的全 部中。根据本发明的另一个方面，提供有一种一次写入多次读取信息记录介质，其中在一预定方向上连续分配有至少一个盘管理工作区，所述至少一个盘管理工作区包含多个块，每个块是用于记录/再现数据的单元；在所述多个块的每一个中，提供有盘管理信息和包含关于部分盘管理信息的位置 信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信息；和所述盘定义结构被布置在所述多个块的每一个中的预定位置处。在本发明的一个实施例中，所述盘管理信息和盘定义结构被布置在相邻于已记录 盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的已记录盘管理区中包含的多个块的每 一个中。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包括用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源 区和备用区中包含的替换目标区之间的对应关系的对应关系信息；和在所述多个块的每一个中，提供有包含在替换列表中的部分替换列表和包含关于 部分替换列表的位置信息的盘定义结构。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质的 内圆周至外圆周的方向。在本发明的一个实施例中，所述预定方向是从一次写入多次读取信息记录介质 的外圆周至内圆周的方向。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于将信息记录到一次写入多次读取信息 记录介质上的信息记录方法，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向上连续分配有至少一个 盘管理工作区；和所述信息记录方法包括步骤(a)选择相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的未记录 盘管理工作区；(b)将盘管理信息中包含的部分盘管理信息记录到相邻于所述边界的未记录盘管 理工作区中包含的多个块的每一个中，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记 录介质的管理信息；和将包含关于部分盘管理信息的位置信息的盘定义结构记录到相邻于所述边界的 未记录盘管理工作区中包含的多个块的每一个中，所述多个块中的每一个是用于记录/再现数据的单元；和所述盘定义结构被布置在所述多个块的每一个中的预定位置处。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包含用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源 区和备用区中包含的替换目标区之间的对应关系的对应关系信息；在所述多个块的每一个中，提供有包含在替换列表中的部分替换列表和包含关于 部分替换列表的位置信息的盘定义结构。在本发明的一个实施例中，步骤(b)进一步包括确定部分盘管理信息的记录是否 已经被正常执行的步骤；步骤(c)进一步包括确定盘定义结构的记录是否已经被正常执行的步骤；和所述信息记录方法进一步包括步骤
(d)重复执行步骤(b)直到部分盘管理信息的记录被正常执行，和重复执行步骤 (C)直到盘定义结构的记录被正常执行。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于从一次写入多次读取信息记录介质再 现信息的信息再现方法，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向上连续分配有至少一个
盘管理工作区；所述至少一个盘管理工作区包含多个块，所述多个块中的每一个是用于记录/再 现数据的单元；在所述多个块的每一个中，提供有包含在盘管理信息中的部分盘管理信息和包含 关于部分盘管理信息的位置信息的盘定义结构，所述盘管理信息是关于一次写入多次读取 信息记录介质的管理信息；所述盘定义结构被布置在所述多个块的每一个中的预定位置处；和所述信息再现方法包括步骤(a)搜索已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的位置以获得表 示所述边界的位置的边界位置信息；(b)根据所述边界位置信息从相邻于所述边界的已记录盘管理工作区再现盘定义 结构；(c)根据所述盘定义结构获得关于部分盘管理信息的位置信息；和(d)根据关于所述部分盘管理信息的位置信息从相邻于所述边界的已记录盘管理 工作区中包含的多个块的每一个中再现部分盘管理信息。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包含用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源 区和备用区中包含的替换目标区之间的对应关系的对应关系信息；和在所述多个块的每一个中，提供有包含在替换列表中的部分替换列表和包含关于 部分替换列表的位置信息的盘定义结构。在本发明的一个实施例中，步骤(C)进一步步骤(e)根据盘定义结构中包含的关于部分盘管理信息的位置信息确定所述已记录盘 管理工作区是否为其中记录被正常完成的区域；和当确定所述已记录盘管理工作区是其中记录未被正常完成的区域时，根据关于部 分盘管理信息的位置信息搜索相邻于边界的已记录盘管理工作区和与相邻于所述边界的 已记录盘管理工作区相邻的已记录盘管理工作区之间的边界的位置。在本发明的一个实施例中，步骤(e)包括通过将关于部分盘管理信息的位置信息 与关于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的位置信息进行比较，确定 所述已记录盘管理工作区是否为其中记录被正常完成的区域。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于将信息记录到一次写入多次读取信息 记录介质上的信息记录装置，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向上连续分配有至少一个 盘管理工作区；和
37
所述信息记录装置包括(a)用于选择相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的未 记录盘管理工作区的部分；(b)用于将盘管理信息中包含的部分盘管理信息记录到相邻于所述边界的未记录 盘管理工作区中包含的多个块的每一个中的部分，该盘管理信息为关于所述一次写入多次 读取信息记录介质的管理信息；和(c)用于将包含关于部分盘管理信息的位置信息的盘定义结构记录到相邻于所述 边界的未记录盘管理工作区中包含的多个块的每一个中的部分；所述多个块中的每一个是用于记录/再现数据的单元；和所述盘定义结构被布置在所述多个块的每一个中的预定位置处。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包含用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源 区和备用区中包含的替换目标区之间的对应关系的对应关系信息；在所述多个块的每一个中，提供有包含在替换列表中的部分替换列表和包含关于 部分替换列表的位置信息的盘定义结构。在本发明的一个实施例中，部分(b)进一步包括用于确定部分盘管理信息的记录 是否已经被正常执行的部分；步骤(c)进一步包括用于确定盘定义结构的记录是否已经被正常执行的部分；和所述信息记录装置进一步包括(d)重复执行部分盘管理信息的记录直到部分盘管理信息的记录被正常执行，和 重复执行盘定义结构的记录直到盘定义结构的记录被正常执行的部分。根据本发明的另一个方面，提供有一种用于从一次写入多次读取信息记录介质再 现信息的信息再现装置，其中在所述一次写入多次读取信息记录介质上的一预定方向上连续分配有至少一个
盘管理工作区；所述至少一个盘管理工作区包含多个块，所述多个块中的每一个是用于记录/再 现数据的单元；在所述多个块的每一个中，提供有包含在盘管理信息中的部分盘管理信息和包含 关于部分盘管理信息的位置信息的盘定义结构，所述盘管理信息是关于一次写入多次读取 信息记录介质的管理信息；所述盘定义结构被布置在所述多个块的每一个中的预定位置处；和所述信息再现装置包括(a)用于搜索已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的位置以获 得表示所述边界的位置的边界位置信息的部分；(b)用于根据所述边界位置信息从相邻于所述边界的已记录盘管理工作区再现盘 定义结构的部分；(c)用于根据所述盘定义结构获得关于部分盘管理信息的位置信息的部分；和(d)用于根据所述关于部分盘管理信息的位置信息从相邻于所述边界的已记录盘个中再现部分盘管理信息的部分。在本发明的一个实施例中，所述一次写入多次读取信息记录介质包含用于记录数 据的数据区和备用区，所述备用区是用于数据区的替换区；所述盘管理信息包含一个替换列表，该替换列表包含表示数据区中包含的替换源 区和备用区中包含的替换目标区之间的对应关系的对应关系信息；和在所述多个块的每一个中，提供有包含在替换列表中的部分替换列表和包含关于 部分替换列表的位置信息的盘定义结构。在本发明的一个实施例中，部分(C)进一步包括(e)根据盘定义结构中包含的关于部分盘管理信息的位置信息确定所述已记录盘 管理工作区是否为其中记录被正常完成的区域的部分；和当确定所述已记录盘管理工作区是其中记录未被正常完成的区域时，根据关于部 分盘管理信息的位置信息搜索相邻于边界的已记录盘管理工作区和与相邻于所述边界的 已记录盘管理工作区相邻的已记录盘管理工作区之间的边界的位置。在本发明的一个实施例中，部分(e)包括用于通过将关于部分盘管理信息的位置 信息与关于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的位置信息进行比较， 确定所述已记录盘管理工作区是否为其中记录被正常完成的区域的部分。虽然在这里已经说明了某些优选实施例，但这种实施例并不打算构成为本发明的 范围的限制，除非所附权利要求中另有说明。各种其它修改和等价变换对于本领域技术人 员来说是显而易见的，并且在读取了此处的说明之后，本领域技术人员能够容易地做出这 种修改和等价变换，而不会脱离本发明的范围和精神。此处引用的所有专利、公开专利申请 和公开文本通过参考而被并入，就好像在这里做了充分说明。工业实用性在本发明的一次写入多次读取信息记录介质中，在一预定方向上连续分配有至少 一个缺陷管理工作区。在相邻于已记录缺陷管理工作区和未记录缺陷管理工作区之间的边 界的已记录缺陷管理工作区中的预定方向上布置最新的缺陷列表和最新的DDS，其中最新 的缺陷列表在所述预定方向上在所述DDS之前。因此，能够容易地找出最新的DDS和最新 的缺陷列表。通过最终完成，最终完成之后的一次写入多次读取光盘的数据结构与可重写光盘 的数据结构相同。结果，可重写光盘记录/再现装置能够再现记录在最终完成的一次写入 多次读取光盘上的数据，从而产生再现兼容的光盘。在多个块的每一个中的预定位置布置有附属盘定义结构(SDDS)。因此，即使由于 切断电源等操作而使缺陷管理工作区的更新不能完成时，也能正确确定更新失败了。因此， 能够容易地找到更新发生失败的缺陷管理工作区的开始位置。因此，能够容易地获得最新 的正常缺陷管理工作区中的缺陷列表。根据本发明的信息记录方法，即使在缺陷管理工作区中存在有缺陷块并且因此缺 陷列表和DDS的记录失败，也能重复地执行缺陷列表和DDS的记录直到缺陷列表和DDS的 记录被正常完成。因此，能够正确记录缺陷列表和DDS。结果，将缺陷列表和DDS记录到缺 陷管理工作区中的可靠性能够得以改进。
39
权利要求
一种一次写入多次读取信息记录介质的制造方法，其特征在于所述一次写入多次读取信息记录介质具备作为在一指定方向上按顺序分配有至少一个盘管理工作区的区域的，至少一个盘管理工作区群；在所述至少一个盘管理工作区中，配置有盘管理信息和包含关于所述盘管理信息的位置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信息；最新盘定义结构配置于相对所述至少一个盘管理工作区群的开始位置，在所述指定方向上的比最新盘管理信息更远的位置上；所述最新盘管理信息是配置在相对于所述至少一个盘管理工作区群的开始位置，在所述指定方向上的最远的位置上配置的，作为已记录的盘管理工作区的最新盘管理工作区中的盘管理信息；所述最新盘定义结构是包含关于所述最新盘管理信息的位置信息的盘定义结构；所述最新盘定义结构被配置在所述最新盘管理工作区中的指定位置，所述指定位置能够以所述最新盘管理工作区的末尾为基准计算出；所述一次写入多次读取信息记录介质中记录了最终完成识别标记；所述最终完成识别标记指示禁止将数据补写到所述一次写入多次读取信息记录介质中；所述制造方法形成所述至少一个盘管理工作区群。
2.一种将信息记录到一次写入多次读取信息记录介质上的记录装置，其特征在于 所述一次写入多次读取信息记录介质具备作为在一指定方向上按顺序分配有至少一个盘管理工作区的区域的，至少一个盘管理工作区群；在所述至少一个盘管理工作区中，配置有盘管理信息和包含关于所述盘管理信息的位 置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信 息；最新盘定义结构配置于相对所述至少一个盘管理工作区群的开始位置，在所述指定方 向上的比最新盘管理信息更远的位置上；所述最新盘管理信息是配置在相对于所述至少一个盘管理工作区群的开始位置，在所 述指定方向上的最远的位置上配置的，作为已记录的盘管理工作区的最新盘管理工作区中的盘管理信息；所述最新盘定义结构是包含关于所述最新盘管理信息的位置信息的盘定义结构； 所述最新盘定义结构被配置在所述最新盘管理工作区中的指定位置，所述指定位置能 够以所述最新盘管理工作区的末尾为基准计算出；所述一次写入多次读取信息记录介质中记录了最终完成识别标记；所述最终完成识别标记指示禁止将数据补写到所述一次写入多次读取信息记录介质中；所述记录装置具备在相对于所述至少一个盘管理工作区群的开始位置，在所述指定方向上最近的位置上 配置的，作为未记录的盘管理工作区的记录目的地盘管理工作区中，记录所述盘管理信息 的盘管理信息记录部分，和在所述记录目的地盘管理工作区的指定位置上记录所述盘定义结构的盘定义结构记 录部分。
3. 一种再现记录在一次写入多次读取信息记录介质中的信息的再现装置，其特征在于所述一次写入多次读取信息记录介质具备作为在一指定方向上按顺序分配有至少一 个盘管理工作区的区域的，至少一个盘管理工作区群；在所述至少一个盘管理工作区中，配置有盘管理信息和包含关于所述盘管理信息的位 置信息的盘定义结构，该盘管理信息为关于所述一次写入多次读取信息记录介质的管理信 息；最新盘定义结构配置于相对所述至少一个盘管理工作区群的开始位置，在所述指定方 向上的比最新盘管理信息更远的位置上；所述最新盘管理信息是配置在相对于所述至少一个盘管理工作区群的开始位置，在所 述指定方向上的最远的位置上配置的，作为已记录的盘管理工作区的最新盘管理工作区中的盘管理信息；所述最新盘定义结构是包含关于所述最新盘管理信息的位置信息的盘定义结构； 所述最新盘定义结构被配置在所述最新盘管理工作区中的指定位置，所述指定位置能 够以所述最新盘管理工作区的末尾为基准计算出；所述一次写入多次读取信息记录介质中记录了最终完成识别标记；所述最终完成识别标记指示禁止将数据补写到所述一次写入多次读取信息记录介质中；所述再现装置具备再现所述最新盘定义结构的盘定义结构再现部分，和根据所述最新盘定义结构再现所述最新盘管理信息的盘管理信息再现部分。
全文摘要
本发明提供一种一次写入多次读取信息记录介质，其能够容易地搜索最新DDS和最新缺陷列表。在本发明的一次写入多次读取信息记录介质上的预定方向上连续分配有至少一个盘管理工作区。所述最新缺陷列表和最新DDS被布置在相邻于已记录盘管理工作区和未记录盘管理工作区之间的边界的已记录盘管理工作区中，其中最新缺陷列表在所述预定方向上位于所述最新DDS之前。
文档编号G11B20/12GK101930757SQ201010281969
公开日2010年12月29日 申请日期2003年12月15日 优先权日2002年12月25日
发明者伊藤基志, 高桥宜久 申请人:松下电器产业株式会社