记录条件的调整方法以及光盘装置的制作方法

专利名称：记录条件的调整方法以及光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种在记录介质上形成物理性质与其他部分不同的记录标记，向记录信息的光盘介质记录信息的记录条件的调整方法以及使用该方法的光盘装置。
背景技术：
作为光盘介质，具有CD-R/RW、DVD-RAN、DVD士R/RW、BD等多种类型，还包含具有两层数据层的介质也广泛地普及。作为对应的光盘装置，与⑶-R/RW、DVD-RAN、DVD士R/RW的记录/再生相对应的、所谓的DVD超级多功能驱动器(Super Multi Drive)已经普及。今后，考虑到与BD对应的高性能驱动器的普及，希望有更大容量的光盘面市。随着光盘的高速化以及高密度化，需要基于PRML(Partial ResponseMaximum Likelihood)再生方式的再生信号的二值化技术。作为PRML方式之一，具有对应再生信号使目标信号电平相适应地进行变化的自适应PRML或补偿PRML方式。根据非专利文献1 (电子信息通信学会论文志CJ90-C，PP. 519(2007))，表示了通过使用这样的PRML方式，来补偿再生信号的非对称性以及记录时的热干扰，由此在BD对应的装置中，可以实现相当于35GB 容量的高密度化。还表示了对应所使用的PRML方式的约束长度(表示等级的比特长度)， 约束长度越长，高密度条件下的再生性能越高。在具备这样的PRML方式的光盘装置中，为了得到最佳的二值化结果，安装有使再生信号和PRML的目标信号的RMS成为最小的自动均衡器。一般，作为抽头系数可变的FIR(Finite Impulse Response)滤波器安装自动均衡器。当增加光盘的记录密度时，与光点的大小相比记录标记的大小变小，得到的再生信号的振幅也减小。光点的分辨率由波长λ和物镜的数值孔径NA决定，当最短游程的记录标记的长度成为λ/4ΝΑ以下时，该重复信号的振幅成为零。这是一般作为光学截止而被知晓的现象，在BD中λ /4ΝΑ 199nm。当在BD中使轨道间距恒定时，在想要实现大约31GB 以上的容量时，作为最短游程的2T的重复信号的振幅成为零。为了在这样的高密度条件下得到良好的再生性能，需要使用PRML方式。在记录型光盘中，使用强度调制为脉冲状的激光(以下称为记录脉冲)改变记录膜的晶体状态等，由此来记录希望的信息。作为记录膜使用相变材料或有机色素、某种合金或氧化物等，一般被人们广泛所知。在CD、DVD以及BD中使用的标记沿符号方式中，根据前后沿位置决定编码信息。在记录脉冲中，主要决定记录标记前沿的形成条件的第一脉冲、和主要决定记录标记后沿的形成条件的最后脉冲的位置以及宽度，对于良好地保持所记录的信息的品质，是重要的。因此，在记录型光盘中，一般使用对应记录标记的长度、以及先前或者后续的间隔的长度，自适应地改变第一脉冲和最后脉冲的位置或宽度的自适应性记录脉冲。在上述的高密度条件下，因为形成的记录标记细微化，所以与目前相比需要高精度地决定记录脉冲的照射条件(以下称为记录条件)。另一方面，光盘装置的光点的形状由于光源的波长、波面像差、聚焦条件、光盘的倾斜等而发生变化。此外，由于环境温度或老化，半导体激光器的阻抗或量子效率发生变化，所以记录脉冲的形状也变化。如此，一般把与针对每个个体、每个环境变动的光点的形状和记录脉冲的形状相对应地，用于始终得到最佳的记录条件的调整技术称为试写。随着记录密度的提高，基于试写的记录条件调整技术的重要度在不断提高。可以将记录条件的调整技术大致分为两个方法。一个是以比特错误率或字节错误率为指标的方法，另一个是使用抖动等统计性指标的方法。前者是关注对于所记录的数据以较小的概率产生的事项的方法，后者是关注所记录的数据的平均品质的方法。例如，当考虑可写型光盘时，在一边改变记录条件一边在多个部位记录再生数据时，关于前者的方法， 即使在最佳的记录条件下当在记录的部位出现了指纹时，比特错误率或字节错误率变大， 所以不能选择该方法。所谓最佳的记录条件应该使通过该最佳记录条件记录的数据的平均品质最佳，所以在像光盘那样不能避免介质缺陷、指纹、灰尘等的影响的存储系统中，可以说使用统计性指标的方法具有优势。
作为对应PRML方式，统计性地评价所记录的数据的方法，具有Jpn. J. App 1. Phys. Vol. 43, pp. 4850 (2004)(非专利文献 2)、特开 2003-141823 号公报(专利文献 1)、 特开2005-346897号公报(专利文献2)、特开2005-196964号公报(专利文献3)，特开 2004-253114号公报(专利文献4)以及特开2003-151219号公报(专利文献5)等中记载的技术。在专利文献1中公开了使用与最似然的状态迁移列对应的似然性Pa、和与第二似然的状态迁移列对应的似然性Pb，通过IPa-PbI的分布评价再生信号的品质的技术。在非专利文献2中，公开了以下的技术把根据再生信号得到的二值化比特列(对应于最似然的状态迁移列)的目标信号和再生信号的欧几里德距离(对应于Pa)、以及关注的沿进行1比特位移后的二值化比特列(对应于第二似然的状态迁移列)的目标信号和再生信号的欧几里德距离的差(对应于Pb)的绝对值，减去两个目标信号之间的欧几里德距离的值定义为 MLSE (Maxmum Likelihood Sequence Error)，调整记录条件以便对于每个记录图形MLSE的分布的平均值成为零。在专利文献2中公开了以下的技术关注沿位移，使用在再生信号的沿部向左右位移的错误图形中包含虚拟的IT游程的图形，并且根据沿位移的方向求出带有符号的序列误差的差，由此来求出沿位移量，调整记录条件使其接近于零。将评价指标被称为 V-SEAT (Virtual state based Sequence Error for AdaptiveTarget)。在专利文献3以及专利文献4中，通过使用预先收纳了正确图形和对应的错误图形的组合的表，计算再生信号和正确图形以及错误图形的欧几里德距离的差，求出根据其平均值和标准偏差求出的推定比特错误率SbER (Simulatedbit Error Rate)。专利文献5公开了以下的技术根据再生信号和正确图形以及错误图形的欧几里德距离的差，分别求出关注的沿向左侧移动时的错误概率以及向右侧移动时的错误概率， 调整记录条件以使其变得相等。因此，可以使用规定的再生信号、与该再生信号的信号波形图形对应的第一图形、以及除了该第一图形之外使用与再生信号的信号波形图形对应的任意的图形(第二或第三图形)。首先，求出再生信号和第一图形之间的距离Eo、与再生信号和任意的图形之间的距离Ee之间的距离差D = Ee-Eo。然后，关于多个再生信号的样本，求出距离差D的分布。然后，根据求出的距离差D的平均M和求出的距离差D的分布的标准偏差σ之比，决定再生信号的品质评价参数(Μ/ο)。然后，根据由品质评价参数表示的评价值指标(Mgn)，判断再生信号的品质。专利文献1特开2003-141823号公报

专利文献2特开2005-346897号公报专利文献3特开2005-196964号公报专利文献4特开2004-253114号公报专利文献5特开2003-151219号公报非专利文献1電子情報通信学会論文誌CVol. J90-C, pp. 519(2007)非专利文献2Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 43，pp. 4850 (2004)

发明内容
专利文献1中记载的最似然的状态迁移列和第二似然的状态迁移列、以及专利文献3中记载的正确图形以及错误图形，分别为应该测定与再生信号的距离的目标比特列的含义，所以是相同的。在专利文献2以及专利文献5中具有三个目标比特列，但是为相同的含义。以下将它们总称为评价比特列。此外，在本发明中以BD系统为基础，目的在于实现 30GB以上的大容量，所以以下以调制符号的最短游程2T为前提来进行说明。如在非专利文献1中记载的那样，为了实现高密度记录，应用约束长度为5以上的 PRML方式。如上所述，当在BD的光学系统条件(波长405nm、物镜数值孔径0. 85)下在线方向上提高了记录密度时，容量大约为31GB以上，2T重复信号的振幅变为零。此时，作为PRML 方式，公知应用2T重复信号的目标这幅为零的PR(1，2，2，2，1)方式等。作为与PR(1，2，2， 2，1)方式对应的再生信号的品质的评价方法，具有专利文献3和专利文献4公开的SbER。 除了二值化比特列(正确图形)以外，作为第二似然的评价比特列(错误图形)，SbER使用与正确图形的海明距离为1 (沿位移)、海明距离为2 (2T数据的位移)、海明距离为3 (2T-2T 数据的位移)，将各个分布看作高斯分布，根据其平均值和标准偏差使用误差函数推定比特错误率。下面，以BD规格为基础，说明为了实现记录容量为30GB以上的光盘系统而需要的高精度的记录条件调整技术所要求的性能。对此，关于根据调整结果记录的数据的品质，至少要求(I)SbER等或比特错误率等足够小，以及(2)由一台驱动装置记录的数据的品质即使在另一驱动装置中，SbER或比特错误率等也要足够小。要求性能(1)是理所当然的事情， 但要求性能(2)是在可以更换记录介质的光盘系统中具有特色性的要求。可以说不满足至少两个要求性能的记录条件的调整方法不能用于高密度光盘系统。从以上两个要求性能的观点出发，说明根据现有技术以及它们的组合类推的技术课题。首先，在BD中使用提高了线记录密度的实验和仿真结果，说明通过相当30GB/面以上的记录密度执行了记录再生时发生的各种现象。图2是对使用试制的三层结构的可写型光盘样品测定到的记录功率和比特错误数量的关系进行了总结的实验结果。在试制的光盘中使用的记录材料为Ge系化合物薄膜，使各层的层间隔为14 μ m以及18 μ m成为三层结构，从光学头看去， 将最里侧的透明覆盖层的厚度设为100 μ m。轨道间距是320nm。关于记录再生条件，设为数据传输速度是BD的两倍的条件，使检测窗口宽度IT为大约56nm，成为相当于33GB的记录密度。作为记录脉冲， 使用在三个功率等级(峰值功率、辅助功率、底部功率)之间调制的一般的多脉冲型记录脉冲。作为再生信号处理系统的结构，使用了 8比特的A/D转换器、21抽头的自动均衡器、 PR(1,2,2,2,1)方式的维特比(Viterbi)解码器。比特错误率的最小值各层都为10_5以下。 比特错误率为最小的峰值功率在L0、L1、L2层中分别为13. 5mW、15. 5mW、ll. 5mW。在图中汇总了在LO层中，使三个功率的比率保持恒定地改变记录功率时的比特错误，是对除了沿位移之外，一至四个连续的2T汇总地进行位移(滑动)的情况进行调查后的结果。根据附图
可知，对应某一个记录功率，不仅是沿位移，连续的2T汇总地进行移位时的错误频度也为同等以上的大小。这是由于2T-2T信号的振幅为零，以及相对于在为PR(1，2，2，2，1)方式时针对沿位移的欧几里德距离为14，连续的2T汇总地位移时的欧几里德距离为较小的12 导致的结果。图3是总结了 SNR和SbER的关系的仿真结果。在此，通过线性衍射仿真求出对记录标记进行了再生时得到的脉冲响应，通过与记录比特列的卷积运算，计算出理想地执行记录时的再生信号。将噪声作为白色噪声进行相加，将SNR决定为8T重复信号的一半振幅与噪声的标准偏差的比。通过基于冊(1，2，2，2，1)方式的再生信号处理系统对其进行处理，计算出比特错误率以及SbER等。在专利文献3中公开了 2T的连续数直到2为止的评价图形，在此，将2T的连续数扩大到6(海明距离1 7)来使用该评价图形。关于评价图形的数量，每单位海明距离为18个，所以总数为252。根据附图可知，2T的连续数为2(海明距离3)以上，SbER的值大体恒定。该结果不与图2的实验结果矛盾。在SbER的计算中， 从定义上来讲，因为考虑评价图形的存在概率来推定比特错误，所以即使为2T的连续数直到2为止的评价，但仍可以推定全体的比特错误率。图4表示比特错误率和SbER的关系的实验结果。在此，在LO层中，为了包含串扰的影响，在连续5条轨道的不进行记录的中心轨道中，给出各种记录再生应力来进行试验。 具体的应力是光盘的径向倾斜(R-tilt)、切向倾斜(T-tilt)、聚焦偏移(AF)、光学头的波束扩展器的操作导致的球面像差(SA)、以及记录功率的变化(Pw)。关于倾向倾斜还表示了 L2层的结果。根据附图可知，比特错误率与SbER的相关非常良好。比特错误率在10_5附近，偏差较大的原因是试制介质的缺陷的影响。根据这些实验以及仿真的结果，可知在实现33GB/面的记录容量的高密度记录再生条件下，作为比特错误，不仅要对沿位移(海明距离1)进行评价，至少还需要进行2T的连续数直到2为止的错误评价。特别是在仅关注沿位移来评价再生信号的品质的方法中， 与比特错误率、SbER的关联不够。然后，说明与高密度化相伴的欧几里德距离差的分布。在此处理的所谓欧几里德距离是指从再生信号与错误目标信号的欧几里德距离中减去再生信号与正确目标信号的欧几里德距离得到的值，在专利文献1中为I Pa-Pb I，在专利文献3以及4中定义为D值。 此外，在此为了考察理想的记录状态，使用上述的仿真。设SBR为24dB，使记录密度在相当于25至36GB/面的范围(T = 74. 5nm 51. 7nm)内进行变化，求出2T的连续数直到2为止的欧几里德距离差的分布。再生信号处理系统的结构与上述相同。图5表示结果。还将该分布称为SAM分布。如上所述，在PR(1，2，2，2，1)方式中，因为与沿位移的理想欧几里德距离=14、2T位移以及两个连续2T进行位移时的理想欧几里德距离=12不同，所以为了汇总表示它们，各个欧几里德距离差通过理想欧几里德距离进行划分标准化地进行表示。在该图中，距离差为零(左侧端)或者为负时的统计性概率相当于比特错误率。根据附图可知，由于记录密度的提高，即使为相同的SNR分布的范围也会变大。这表示对应记录密度的提高，错误率增加，成为合理的结果。另一方面，当关注各个分布的平均值(与峰值大体相等)时，在为沿位移时在1(=理想欧几里德距离)的附近成为恒定。但是，在连续的2Τ进行位移时，可知随着2Τ的连续数增加为一个、两个，并且随着记录密度的提高，峰值向接近零的方向移动。可以认为该现象的原因为取决于自动均衡器的处理能力。如上所述，自动均衡器进行工作，使再生信号和正目标信号的RMS误差成为最小。另一方面，因为其采样间隔在IT中为有限的值，所以通过采样处理，仅可以进行直到采样频率的1/2为止的范围内的离散频率特性运算。如此，因为在通过自动均衡器得到的滤波特性中存在极限，所以在再生信号中包含的2Τ的连续数较大的图形区间内，再生信号的高频成分增大，结果，因为接近自动均衡器的处理能力的极限，所以可以认为与理想欧几里德距离的偏差变大。如后所述，由于记录密度的提高，欧几里德距离差的分布峰值(或者平均值)向小于理想欧几里德距离的一侧位移的现象，关于记录条件的调整技术是非常重要的事情。在上述的公知文献中没有关于该现象的记载。
根据以上的试样和仿真的结果，从上述两个要求性能的观点出发，对现有技术和根据它们的组合类推的技术的课题进行汇总。(1)非专利文献2中记载的方法在非专利文献2中记载了以下的技术根据专利文献1记载的技术，关注于沿位移，为了使欧几里德距离差的分布的平均值成为理想欧几里德距离而进行调整。在[非专利文献2的式(1)]中，将特定的沿的位移量MD定义为如下数学式1式1MD ^(X-Pa)2 (X — A)2 卜‘(式 1)
1 1在此，X是再生信号的电平，Pa以及Pb分别是与二值化后的比特列(最似然的状态迁移列)相对的目标信号电平以及与1比特沿位移后的比特列(第二似然的状态迁移列)对应的目标信号电平，dmin是与沿位移对应的理想欧几里德距离。当按照图5所示的结果进行补偿时，本发明是与为了使沿位移的分布成为理想欧几里德距离(=1)而调整记录条件相对应的方法。另一方面，在图3中表示了当在高密度记录条件下只关注沿位移时，与 SbER(或者比特错误率)的关联不够。根据该结果可知，在高密度记录条件下，参照上述的要求性能(1)，只关注沿位移的本方法存在不足。此外，在[非专利文献2的Table 2]中， 表示了在连续两个2T的部位，即在先前间隔为2T时的2T标记的前沿(Tsfp (2s, 2m))、以及后续间隔为2T时的2T标记的后沿(Telp(2s，2m))中，不存在调整指标，关于该点，鉴于图2所示的结果，可以说在为2T的错误较大的高密度记录条件的情况下，应用本方法存在不足。(2)专利文献2记载的方法专利文献2记载的方法也是只关注沿位移得到记录调整的指标的方法，但通过导入虚拟的IT标记、间隔，对于连续两个2T的部位也可以进行记录调整。但是，与上述相同， 因为只关注沿位移，所以不能说与SbER(或者比特错误率)的关联良好，因此参照要求性能 (1)本方法也存在不足。(3)专利文献5记载的方法专利文献5记载的方法是关于错误比特列为了满足游程限制而进行择，所以不仅是沿位移，即使关于2T连续地进行位移的情况，指标和SbER(或比特错误率)的关联也优秀的方法。在本方法中，如[专利文献5的图3]所示，为了调整包含2T标记的记录条件， 关注的标记沿向左侧位移时与向右侧位移时相比，进行评价的错误比特列和正确比特列的海明距离不同。例如，按照非专利文献2的记载，当查看Tsfp (3s，2m)时，记载的比特列如下那样。表1

i关注的沿
左位移比特列 111001110000
正位比特列111000110000
右位移比特列 11 1 0 0 0 0 1 1 0 0 0当考虑PR(1，2，2，2，1)方式时，在为左位移比特列时，与正位比特列的海明距离为1，欧几里德距离为14。在为右位移比特列时，与正位比特列的海明距离为2，欧几里德距离为12。如图5所示的结果那样，当海明距离不同时，各自分布的平均和标准偏差的值不同。在专利文献5中，为了应对该课题，导入了 SbER的概念，使用误差函数来推定各自的错误概率，将两者的错误概率变为相等的条件作为调整目标。按照本方法，考虑可以决定使 SbER(或比特错误率)成为最小的记录条件。另一方面，如上所述，图5所示的仿真结果是在理想的状态下(沿位移=0)形成了记录标记时的结果。如在图5中见到的那样，对应于海明距离的不同，中心值和标准偏差不同。因此，按照专利文献5中记载的方法，为了使三个分布的错误概率(欧几里德距离差成为0以下的概率)相等，需要挪动记录标记的形成条件。参照与所述与保证光盘的互换性有关的要求性能(2)，关于该方法作为高密度光盘的记录条件的调整方法是否是理想的方法尚存在疑问。关于这一点，为了进行定量的考察，使用上述的仿真来进行研究。为了定义通过专利文献5的方法检测的沿位移的量，进行了概念的扩展。根据[专利文献5的式(13)]，将沿位移相当量Ec定义为数学式2式2Ec = ( σ 3*Μ2+ σ 2*Μ3) / ( σ 2+ σ 3)(式 2)。在此，Μ2、Μ3以及σ 2、σ 3分别关注的沿向左右位移了 1比特时的欧几里德距离差的分布的平均以及标准偏差。如上所述，通过理想的欧几里德距离对两个部分进行标准化得到了图5的结果。同样地，考虑理想欧几里德距离相当于1Τ，如果通过理想欧几里德距离分别对M2、M3以及σ2、Q3进行标准化后使用，则可以根据沿位移相当量Ec计算出时间轴方向的沿位移Ec’。
图6表示通过仿真求出的分布，可知得到了与[专利文献5的图6]示意性表示的分布相同的结果。图7表示改变了 SNR时的、对Ec’的值进行调查后的结果。如在附图中看到的那样，可知对应于SNR的变化，Ec’的值较大地变化。在光盘装置中，对于每个个体， 或者对应于温度等环境条件，光点的形状或光电转换放大器的SNR发生变化。像硬盘装置那样，如果是无法更换盘介质的存储设备，在该驱动装置中，为了使SbER(或比特错误率) 成为最小，调整记录条件是最好的方法。但是，如光盘那样，在可以更换介质的存储系统中， 仅使该驱动器的SbER(或者比特错误率)成为最小可以说是不够的。鉴于上述的要求性能 (2)，本方法作为高密度记录条件下的记录条件调整方法可以说尚具有改善的余地。并且，关于本方法，还参照要求性能(1)说明具有改善的余地。在Tsfp (3s，2m)的评价中使用的比特列与上述相同。另一方面，如专利文献4中记载的那样，下面的评价比特列也被用于SbER的计算。表2
4关注的沿
左位移比特列 1110011100111
正位比特列1110001100111
右位移比特列 1110000110011这是关注的2T标记后续的间隔为2T的情况。关于左位移比特列，与上述相同，与正位比特列的海明距离为1，欧几里德距离为14。另一方面，在为右位移比特列时，与正位比特列的海明距离为3，欧几里德距离成为12，海明距离与上述不同。根据要求性能(1)，希望记录调整用评价指标与再生信号品质的评价指标SbER(或比特错误率)的关联足够大。 因此，在记录调整用评价指标中，比特列也需要评价比特列成为符合了再生信号品质的评价指标的评价比特列。在使用关注的沿向左右进行了沿位移的目标信号的评价指标中，如该例子那样，关于在左位移时海明距离为1，在右位移时海明距离为2、3产生多个组合这一点，在专利文献5中没有解决方法的相关记载。关于这一点，可以说在本方法中具有改善的余地。(4)基于现有技术组合的方法在非专利文献2中，记载了以下的技术根据专利文献1记载的技术，关注与沿位移，为了成为理想欧几里德距离而调整欧几里德距离差的分布的平均值。将该技术用于 [专利文献5的图3]所示的评价比特列，可以容易地类推出为了成为理想欧几里德距离而调整各个分布的平均值的方法。但是，如图5所示，当提高记录密度时，各分布的平均值向从理想欧几里德距离起减小的方向偏移。同样地，各分布的平均值还对应于SNR进行变化。 图8表示通过实验确认了该现象的结果。这是在所述试制的三层光盘的LO中，一边改变再生功率一边执行再生实验得到的实验结果。图的横轴将再生功率1.2mW表示为100%。虽然再生信号振幅与再生功率成比例，但光检测器的噪声(放大器噪声)为恒定，所以本实验是通过改变再生功率来改变再生信号的SNR的结果。如在图中见到的那样，可知各分布的平均值比理想欧几里德距离(=1)小，且相应于再生功率变小而变小。关于该方法，显然， 由于驱动器装置而产生的SNR的不同影响了记录调整中所使用的指标。
(5)使SbER最小的方法

如图4所示，在33GB/面的实验中，SbER表示与比特错误率良好的关联。因此，考虑不使用用于记录调整的评价指标，对于记录条件的全部组合，进行记录再生选择得到最小的SbER的条件的方法。但是，如光盘介质那样，在用于记录调整的区域(试写区域)的大小受到限制时，实际上无法一边随意地改变记录条件，一边检索SbER成为最小的条件。其原因在于无法得到与用于使记录的标记的沿接近理想状态的方向相对的信息。如以上所示的现有技术那样，如果不是可以对应于记录脉冲的各个参数，分别独立地对于目标值的偏差进行定量的方法，则不会成为可以对应光盘装置来执行试写的方法。此外，即使在重复试制光盘，谋求提高其性能时，也希望在短时间内完成记录条件的调整。在该含义中，还希望满足所述的要求性能(1)和(2)，并且对应于记录参数可以分别独立地进行调整的新的用于记录调整的指标及其调整方法。如上所述，根据BD系统，关于与容量成为30GB/面这样的高密度记录条件相对应的记录条件的调整，在现有技术中，存在不足以兼顾调整性能以及保证介质的互换性的课题。在本发明中要解决的课题在于提供用于解决这些课题的新的记录调整用评价指标和方法，以及提供使用该新的记录调整用评价指标和方法的光盘装置。在本发明中以BD系统为基础，以谋求30GB以上的大容量为目标，所以下面关于调制符号的最短游程以2T为前提来进行说明。此外，如上所述，根据实验结果，在2T的连续数直到2为止处理的SbER与比特错误率良好地一致，所以作为再生信号品质的评价指标， 以SbER作为前提，来说明本发明的记录调整用评价指标。如果与SbER相同，是根据目标信号和再生信号的欧几里德距离统计性地评价再生信号品质的指标，或者是直接评价比特错误率的指标等，则根据本发明调整记录条件可以得到良好的结果。对上述的课题进行整理如下(课题1)关于根据调整结果记录的数据的再生互换性需要不依存于SNR的变化地，调整目标点变为恒定的评价指标和调整方法。(课题2)关于根据调整结果记录的数据的品质为了确保SbER足够小，至少需要连续的2T的数量直到为2个为止的评价比特列与SbER的评价比特列一致，或者实质上一致。(课题3)关于实现在短时间内的记录调整需要对应于记录脉冲条件、或者对应于自适应型记录脉冲的各个参数，可以分别独立地进行评价的评价指标和调整方法。关于构成本发明的课题解决手段的基本的概念，在遵从两个目标信号与再生信号的欧几里德距离差的评价指标中，把与关注的沿的位移相对应的成分和依存于SNR的成分进行分离，来进行评价。为了使本发明容易理解，首先表示满足这些课题的评价指标的定义，然后表示满足了课题。以下设再生信号为W，根据再生信号得到的二值化比特列的目标信号为T，使二值化比特列的关注的沿向左位移1比特，并且满足游程限制的比特列的目标信号为L，使二值化比特列的关注的沿向右位移1比特，并且满足游程限制的比特列的目标信号为R。将W、 T、R、L之间的欧几里德距离表示为ED(W，T)、ED(W，R)。把与关注的沿向左方向位移的错误有关的评价值设为xL，把与关注的沿向右方向位移的错误有关的评价值设为xR，将这些称为等价沿位移，分别用下式Dl、D2进行定义。
数学式3
权利要求
1.一种记录条件的调整方法，其是使用最短游程长度为2T的符号进行信息的记录，使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的光盘的记录条件的调整方法，其特征在于，作为所述自适应均衡方式，抽头系数Cn是在通过LMS法更新后的抽头系数an的时间轴方向上对称的位置之间设定平均化的值的抽头系数， 所述记录条件的调整方法具有以下的步骤通过所述PRML方式对从所述光盘得到的再生信号波形进行二值化，得到第1 二值化比特列；从所述第1 二值化比特列中，作为使关注的沿向左右位移了 IT后的比特列生成第2以及第3 二值化比特列；生成与所述第1至第3 二值化比特列对应的第1至第3目标信号波形； 计算第1值和第2值，第1值相当于所述第2目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差，第2值相当于所述第3目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差；使用所述第1值和所述第2值的差分值计算所述关注的沿的位移评价值；以及使用所述位移评价值调整所述记录条件。
2.根据权利要求1所述的记录条件的调整方法，其特征在于，作为所述第1值，使用通过所述第1目标信号波形与所述第2目标信号波形的欧几里德距离对其进行标准化后的第1值，作为第2值，使用通过所述第1目标信号波形与所述第 3目标信号波形的欧几里德距离对其进行标准化后的第2值， 作为所述位移评价值，使用基于所述第1值和所述第2值的差分值的第1评价值的平均值， 或者使用基于所述第1值和所述第2值的相加值的所述第2评价值的标准偏差与所述第1评价值的标准偏差的平方和，或者使用所述第1值的平均值与所述第2值的平均值之差。
3.—种光盘装置，其具有使用最短游程长度为2T的符号向光盘介质进行信息的记录， 使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的功能，其特征在于，作为所述自适应均衡方式，抽头系数Cn是在通过LMS法更新后的抽头系数an的时间轴方向上对称的位置之间设定平均化的值的抽头系数， 所述光盘装置具有以下的单元通过所述PRML方式对从所述光盘得到的再生信号波形进行二值化，得到第1 二值化比特列的单元；从所述第1 二值化比特列中，作为使关注的沿向左右位移了 IT后的比特列生成第2以及第3二值化比特列的单元；生成与所述第1至第3 二值化比特列对应的第1至第3目标信号波形的单元； 计算第1值和第2值的单元，第1值相当于所述第2目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差，第 2值相当于所述第3目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差；以及使用所述第1值和所述第2值的差分值，调整向所述光盘介质的记录条件的单元。
4.一种记录条件的调整方法，其是使用最短游程长度为2T的符号进行信息的记录，使用自适应均衡方式和PRML方式进行所述信息的再生的光盘的记录条件的调整方法，其特征在于，作为所述自适应均衡方式，抽头系数Cn使用在通过LMS法更新后的抽头系数an的时间轴方向上对称的位置之间设定平均化的值的抽头系数，为了得到规定的再生信号品质而调整记录条件。
5.根据权利要求1所述的记录条件的调整方法，其特征在于，在预先决定了光盘的径向倾斜、切向倾斜、聚焦偏移、由光学头的波束扩展器的操作导致的球面像差中的至少一个后，调整记录条件。
6.一种再生方法，其使用自适应均衡方式和PRML方式对使用最短游程长度为2T的符号记录的信息进行再生，其特征在于，作为所述自适应均衡方式，抽头系数Cn使用在通过LMS法更新后的抽头系数an的时间轴方向上对称的位置之间设定平均化的值的抽头系数，为了得到规定的再生信号品质， 决定光盘的径向倾斜、切向倾斜、聚焦偏移、由光学头的波束扩展器的操作导致的球面像差中的至少一个。
7.一种信息的记录方法，其特征在于， 具有以下的步骤作为自适应均衡方式，抽头系数Cn使用在通过LMS法更新后的抽头系数an的时间轴方向上对称的位置之间设定平均化的值的抽头系数；通过PRML方式对从光盘得到的再生信号波形进行二值化，得到第1 二值化比特列； 从所述第1 二值化比特列中，作为使关注的沿向左右位移了 IT后的比特列生成第2以及第3 二值化比特列；生成与所述第1至第3 二值化比特列对应的第1至第3目标信号波形； 计算第1值和第2值，第1值相当于所述第2目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差，第2值相当于所述第3目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离和所述第1目标信号波形与所述再生信号波形的欧几里德距离之差；使用所述第1值和所述第2值的差分值计算所述关注的沿的位移评价值；以及使用所述位移评价值调整所述记录条件，根据所述调整后的记录条件，使用最短游程长度为2T的符号进行信息的记录。
全文摘要
本发明提供一种记录条件的调整方法以及光盘装置。在约束长度为5以上的大容量光盘系统中，在为评价再生信号的品质而进行二值化比特列和规定的评价比特列的一致性判定，计算欧几里德距离时，对应PRML方式的约束长度的增大，电路规模按指数增大。将规定的评价比特列中包含的2T的连续数设为i，考虑将评价比特列分为(5+2i)的长度的主比特列以及两侧的副比特列。把二值化比特列中是否包含规定的评价比特列的判定处理归纳为主比特列的一致性判定。由此，来防止电路规模的增大。同时通过对于每个主比特列，分离地累计再生信号与和评价比特列对应的目标信号的欧几里德距离的计算结果，就可以削减评价累计电路的规模。
文档编号G11B20/10GK102157158SQ201110031418
公开日2011年8月17日 申请日期2009年9月7日 优先权日2009年4月14日
发明者峰邑浩行, 黑川贵弘 申请人:日立民用电子株式会社