专利名称：NAND Flash芯片的数据检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及数据闪存技术领域，特别是一种NAND Flash芯片的数据检测装置。
背景技术：
闪存(FLASH)器件是基于半导体工艺制作的集成电路芯片，具有防磁、抗震、耐潮、体积小等优异性能。作为固态存储介质的大容量数码存储芯片，比照传统磁记录和光盘存储器，NAND FLASH器件具有无机械结构、可反复擦写、速度快、功耗低等显著优点，目前已经在移动存储领域(例如U盘，MP3播放器，数码存储卡，固态硬盘等等)和嵌入式应用系统中成为无可争议的主角。 FLASH存储芯片在生产切割或者封装后，FLASH生产厂家仅对其进行了简单的物理测试，如芯片管脚功能测试，物理特性测试。但是由于NANDFLASH本身存在的问题，即NANDFLASH在出厂时，可以有一定比例的坏块存在，但是由于某些应用终端中，需要烧写文件系统的区域不能有坏块，否则将使得文件系统烧写不成功，进而使得系统不能正常启动。所以，在NANDFLASH焊接之前需要检测需要烧写文件系统的区域是否存在坏块。因此，亟需一种产品能够对FLASH存储芯片的性能(包括能否正常使用，容量的坏块(Block)比率等)做全面的测试。
实用新型内容针对现有技术中存在的不足，本实用新型的目的是提供一种NAND Flash芯片的数据检测装置。本实用新型的技术方案是一种NAND Flash芯片的数据检测装置，由待测NAND Flash芯片、NAND Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成，所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM，所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接，所述NAND Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。作为优选技术方案，本实用新型所述中央处理器与存储器集成在一个集成电路中。作为优选技术方案，本实用新型所述存储器为外置存储器。作为优选技术方案，本实用新型所述存储器为硬盘、U盘或存储卡。作为优选技术方案，本实用新型所述显示器为IXD或LED显示器。本实用新型的有益效果是本实用新型实现了对NAND Flash芯片内部逻辑性能和结构分布进行测试，并做坏块标记，并将标记的NAND Flash芯片的坏块通过显示器进行显不O本实用新型的结构简单，设计合理，体积小，成本低，并且测试效率高，适合推广应用。
图I是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实 施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。请参阅图1，提出本实用新型的实施例1，本实施例是一种NAND Flash芯片的数据检测装置，由待测NAND Flash芯片、NAND Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成，所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM,所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接，所述NANDFlash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。本实用新型所述中央处理器与存储器集成在一个集成电路中。或者，本实用新型所述存储器为外置存储器。进一步地，本实用新型所述存储器可选用硬盘、U盘或存储卡。本实用新型所述显示器为IXD或LED显示器。以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此而限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种NAND Flash芯片的数据检测装置，其特征在于由待测NAND Flash芯片、NANDFlash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成，所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM，所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接，所述NAND Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。
2.根据权利要求I所述的NANDFlash芯片的数据检测装置，其特征在于所述中央处理器与存储器集成在一个集成电路中。
3.根据权利要求I所述的NANDFlash芯片的数据检测装置，其特征在于所述存储器为外置存储器。
4.根据权利要求I所述的NANDFlash芯片的数据检测装置，其特征在于所述存储器为硬盘、U盘或存储卡。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的NANDFlash芯片的数据检测装置，其特征在于所述显示器为IXD或LED显示器。
专利摘要一种NAND Flash芯片的数据检测装置，由待测NAND Flash芯片、NAND Flash芯片控制器、中央处理器、存储器和显示器组成，所述NAND Flash芯片控制器包括第一接口、第二接口、CPU、数据缓存单元、ROM和RAM，所述NAND Flash芯片控制器通过其第一接口与待测NAND Flash芯片连接，所述NAND Flash芯片控制器通过其第二接口与中央处理器连接。本实用新型设计合理，体积小，成本低，并且测试效率高。
文档编号G11C29/52GK202632785SQ20122030613
公开日2012年12月26日 申请日期2012年6月28日 优先权日2012年6月28日
发明者粱效宁, 许超明 申请人:内江市效率源信息安全技术有限责任公司