18，入射到检流计反射镜119。检流计反射镜119通过由致动器120调整反射镜的角度而调整参考光的光轴角度，通过透镜121和透镜122之后，入射到记录介质I。这样使信号光与参考光在记录介质I内重叠地入射，从而形成光的干涉条纹图案(全息图)125，通过使该图案在记录介质I曝光而记录信息。此外，因为能够用检流计反射镜119改变入射到记录介质I的参考光的入射角度，所以能够对记录介质的同一场所进行复用记录。
[0043]使2个光束重叠并记录光的干涉图案的方式中，根据光学拾取器111的光学基准点、例如物镜115与记录介质I表面的距离(光学高度)唯一地决定记录介质I内的全息图125被记录的深度(高度)。但是，记录介质I每次移动时，物镜115与记录介质I表面的距离(光学高度)不是固定值。以下，在操作的说明上设记录介质I为圆盘状进行说明，但不限定于此。
[0044]使记录介质旋转时发生面偏斜(偏移)，光学高度变动。此外，使记录介质I在半径方向上从内圈向外圈移动的区间的高度按机械公差的量变动。因此，对于记录介质I每次变更记录场所时，记录全息图125的深度在记录介质I内的厚度方向(深度)上变动。
[0045]接着，说明全息图的再现流程。使参考光107入射到记录介质1，用能够利用致动器123调整角度的检流计反射镜124使透过了记录介质I的光束反射从而生成再现用参考光。用该再现用参考光再现的再现光，在物镜115、中继透镜113和多源滤波器114中传播。之后，再现光透过PBS棱镜111入射到光检测器150，能够再现已记录的信号。光检测器150例如能够使用摄像元件，但只要能够再现页数据，就可以是任意的元件。
[0046]为了使再现光向光检测器150正确成像，被记录在记录介质I的内部的全息图125与光拾取器11的光学基准点、例如与物镜115的距离(再现光学高度)相对于规定值例如3mm需要在规定精度例如± 12 μ m以下。
[0047]为了再现全息图125，必须检测出存在于记录介质I内的厚度方向(深度)上的全息图125，但没有物理检测的方法。另一方面，虽然有光学检测的方法，但必须满足可以得到来自全息图125的再现光的光学条件、例如参考光的布拉格角条件、激光的波长条件、记录介质与参考光的俯仰角条件。为了实现高速再现，即使在不能得到来自全息图125的再现光的状态下，也需要最佳调整上述再现光学高度。
[0048]于是，在实施例1中，采用通过在再现时再现全息图125的记录时的光学高度，由此能够等效地实现再现光学高度调整的结构。以下说明该结构。在记录时，指定在记录介质上记录全息图125的场所。以下以记录介质I为圆形为例进行说明，但它可以是任意的介质形状。
[0049]对于记录介质I预先进行表示物理的记录场所的地址值的分配，基于该地址，将记录介质I的旋转角(Θ)和半径位置(R)相关联地进行物理位置信息变换，使主轴电机127旋转Θ角，使半径移动台128移动R螺纹，从而对目标地址的记录场所进行定位。上述对记录场所的定位，也可以将记录介质按X轴和Y轴的正交坐标进行。以下定位动作的说明，以使用记录介质I的旋转角(Θ )和半径位置(R)的定位为例进行。
[0050]从输入端子138输入记录地址时，由介质位置指定部135与地址相关联地变换记录介质I的旋转角(Θ )和半径移动位置(R)，传达到介质移动控制部134。介质移动控制部134计算从当前的旋转角(Θ )和半径移动位置(R)到目标的旋转角(Θ )和半径移动位置(R)的旋转移动量和螺纹移动量，并将该计算结果传达到R Θ驱动部131。R9驱动部131使主轴电机127旋转，并且对半径移动台128进行R螺纹驱动，从而进行记录介质I的记录定位。
[0051]接着，在记录定位完成时，利用设置在拾取器11的光学基准点的距离计测器126，计测光学基准点到记录介质I表面的距离(光学高度)。上述距离计测器126例如是利用记录介质I的表面反射的光学距离计测，但只要能够计测从光学基准点到记录介质I的表面的距离，就不限定于此，可以是任意的计测单元。关于上述光学高度，计测记录全息图125的记录介质I的表面位置、或者接近该表面位置的场所。来自距离计测器126的计测信号向z距离计算部130发送，计算光学高度的值。光学高度的值向存储部133发送。另一方面，所指定的地址经由介质位置指定部135向存储部133发送。存储部133与所指定的地址(记录场所)相关联地存储上述光学高度计测结果。
[0052]在图4中表示出与记录场所(区域)对应的光学高度计测结果的存储的概念图。与记录介质上的每个全息图记录场所(册、book)全部对应地，实施光学高度计测的动作和该计测结果的存储动作，但也可以将多个册作为I个区域(area、范围)进行光学高度计测动作和该计测结果的存储动作。这一点在因为全息图125的尺寸、例如760 μπιΧ380 μπι的四边形尺寸相对于记录介质I非常小，所以对于多册的记录场所的光学高度变化量在离焦调整规格以下、例如±12 μπι的情况下特别有效且合理。以下实施例的动作说明中作为每册的地址进行说明，但对于该地址，如果规定的区域是规定数量的全息图集合区域、例如实施Cure的Cure部位单位(例如全息图80个X80个区域)或者册盒单位(例如整数个Cure部位的区域)，特别是关于记录的处理、流程上全息图的数量汇集的单位则易于管理而优选。此外，上述区域内的全息图的数量并不限定，取决于记录介质的物理状态，可以是任意的数量。
[0053]在图4的区域I中，物镜115到记录介质I的表面的距离(光学高度)的计测结果是(W1)。接着，下一个记录全息图125的区域2为记录介质I与物镜115接近的状态，物镜115到记录介质I的表面的距离(光学高度)的计测结果是(W2)。进而，下一个记录全息图125的区域3为记录介质I进一步与物镜115接近的状态，物镜115到记录介质I的表面的距离(光学高度)的计测结果是(W3)。记录介质I内的记录有全息图125的高度(深度)，区域I中是在从记录介质厚度中央向上方位置记录，区域2中是在记录介质厚度中央附近记录，区域3中是在从记录介质厚度中央向下方位置记录。按每个上述区域所计测的光学高度信息，与每个该计测区域相关联地存储到存储部133中。作为区域的管理方法，例如可以使用多个册地址属于该区域的类管理。存储部133为在未图示的光信息记录再现装置的内部具有的存储部133中存储。此时一并关联地存储记录介质固有编号。上述记录介质I的固有编号，附加于上述空间光调制器112的记录信息作为记录介质I的管理信息记录。接着，用图5说明再现时的相对离焦的再现信号品质降低的状况。多源滤波器114是用于遮挡来自与目标的再现全息图相邻的全息图的再现光的光学滤波器，由与全息图尺寸在光学上相同的形状、尺寸的通过孔构成，能够用薄且轻量的素材实现。多源滤波器114配置在中继透镜113的聚光位置，仅使来自目标全息图的再现光通过。以下，在光学滤波器的动作说明中，以多源滤波器作为一例进行说明，但也可以是具有同样效果的光学滤波器、例如角度滤波器(angle filter) ο
[0054]图5的左侧表示出了再现全息图时记录介质I离焦了的情况下的光学系统结构的一部分。表示出了记录介质I从离焦前的位置(DFl)变为离焦后的位置(DF2)的情况的例子。该情况下，来自要再现的全息图的衍射光相对于光拾取器相对地发生离焦方向的错位，在多源滤波器114产生衍射光一部分不能通过的部分(图5的160和161)。结果，发生再现像的一部分缺失或是光量降低而再现品质降低的问题。为了解决该问题，有以成为与记录时相同的光学高度的方式使记录介质I向离焦(DFl)的位置移动的方法、或者将与上述离焦量相应的光学倍率量作为光学离焦量使多源滤波器114自身在光轴方向上移动的方法。此处说明能够实现高速响应性的使多源滤波器114移动的方法，但也可以使记录介质I向离焦(DFl)的位置移动。
[0055]图5的右侧表示出了使多源滤波器114移动了与离焦量相应的光学离焦量、例如进行了与离焦量相应的光学倍率例如10倍的移动(142)的情况下的光学状况。通过在光轴方向上对多源滤波器114进行离焦调整，来自要再现的全息图的衍射光能够通过多源滤波器114，使可以得到再现信号品质的再现像投影在光检测器150上。S卩，只要能够在再现时再现记录时的光学高度，