制器中的一个功能模块。图4示例的用于芯片烧录的装置主要包括:缓存模块41、烧录模块42、烧录校验模块43和传输校验模块44，各功能模块详细说明如下:
[0067]缓存模块41，用于接收烧录设备发送的待烧录的数据包，并将数据包缓存在所述微控制器的静态存储器中；
[0068]烧录模块42，用于将静态存储器中缓存的数据包，按照预置的烧录单位烧录在目标存储器中；
[0069]烧录校验模块43，用于读取烧录在目标存储器中的数据，并与缓存在静态存储器中的数据包进行烧录校验；
[0070]传输校验模块44，用于对接收的数据包进行传输校验，当传输校验成功时，向烧录设备发送确认信息，使得烧录设备发送待烧录的下一个数据包，当传输校验失败时，向烧录设备发送非确认信息，使得所述烧录设备重传所述数据包。
[0071 ]具体地，数据包中包含包序号，缓存模块41包括:
[0072]第一缓存子模块411，用于若数据包的包序号为奇数，则将数据包缓存在微控制器的静态存储器的第一存储区；
[0073]第二缓存子模块412，用于若数据包的包序号为偶数，则将数据包缓存在微控制器的静态存储器的第二存储区。
[0074]具体地，数据包中包含包校验字，传输校验模块44，还用于根据所述包校验字对所述数据包进行奇偶校验。
[0075]本实施例中的芯片烧录的装置中，各模块实现各自功能的过程，参见前述图2所示实施例的描述，此处不再赘述。
[0076]从上述图4示例的用于芯片烧录的装置可知，本实施例中，以数据包为单位在烧录设备与微控制器之间进行传输，通过将数据包保存到微控制器的静态存储器中，并对缓存在静态存储器中的数据包按照预置的烧录单位进行烧录，同时数据包的接收与数据包的烧录按照流水线的方式进行，从而有效的提高了烧录效率;通过在芯片内部与缓存在静态存储器中的数据进行烧录校验，不需要将烧录数据读取到芯片外部进行校验，因此提高了校验效率;在烧录和校验过程中，仅在烧录数据包的时候打开编程高压，在校验数据包的时候关闭编程高压，从而避免了编程高压开关的频繁切换，降低了芯片由于编程高压而受损的机率;通过传输校验避免数据包在传输过程中可能出现的错误，从而减少错误烧录造成的废弃率。
[0077]实施例五:
[0078]图5是本实用新型实施例五提供的微控制器的组成示意图，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分。图5示例的微控制器可以是前述实施例一提供的用于芯片烧录的方法的执行主体。图5示例的微控制器包括:烧录控制模块51、静态存储器52和目标存储器53。
[0079]静态存储器52和目标存储器53均与烧录控制模块51电性连接。
[0080]烧录控制模块51，用于接收烧录设备发送的待烧录的数据包，并将数据包缓存在微控制器的静态存储器52中，以及将静态存储器52中缓存的数据包，按照预置的烧录单位烧录在目标存储器53中。
[0081 ]本实施例中的微控制器中，各部分实现各自功能的过程，参见前述图1所示实施例的描述，此处不再赘述。
[0082]从上述图5示例的微控制器可知，本实施例中，以数据包为单位在烧录设备与微控制器之间进行传输，通过将数据包保存到微控制器的静态存储器中，并对缓存在静态存储器中的数据包按照预置的烧录单位进行烧录，从而有效的提高了烧录效率。
[0083]实施例六:
[0084]图6是本实用新型实施例六提供的微控制器的组成示意图，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分。图6示例的微控制器可以是前述实施例二提供的用于芯片烧录的方法的执行主体。图6示例的微控制器包括:烧录控制模块61、静态存储器62、目标存储器63和传输校验模块64。
[0085]静态存储器62、目标存储器63和传输校验模块64均与烧录控制模块61电性连接。
[0086]烧录控制模块61，用于接收烧录设备发送的待烧录的数据包，并将数据包缓存在微控制器的静态存储器62中，以及将静态存储器62中缓存的数据包，按照预置的烧录单位烧录在目标存储器63中。
[0087]具体地，数据包中包含包序号，静态存储器62包括第一存储区621和第二存储区622，烧录控制模块61，还用于若数据包的包序号为奇数，则将数据包缓存在微控制器的静态存储器的第一存储区621，以及若数据包的包序号为偶数，则将数据包缓存在微控制器的静态存储器的第二存储区621。
[0088]烧录控制模块61，还用于读取烧录在目标存储器63中的数据，并与缓存在静态存储器62中的数据包进行烧录校验。
[0089]烧录控制模块61控制编程高压(Vp)的使能信号(VPEN)的打开和关闭，当烧录数据包的时候，将VPEN打开，当对数据包进行烧录校验的时候，将VPEN关闭，从而降低编程高压的开关切换频率，降低编程高压对芯片造成损害的机率。
[0090]传输校验模块64包括:校验字寄存器641、累加校验寄存器642、校验字节计数器643、第一比较器644以及第二比较器645。
[0091]校验字寄存器641和累加校验寄存器642均与第二比较器645电性连接；
[0092]校验字节计数器643与第一比较器644电性连接；
[0093]第一比较器644与第二比较器645电性连接。
[0094]累加校验寄存器642，用于从烧录控制模块61接收数据包的数据，将该数据累加到累加校验寄存器642的缓存值中，同时触发校验字节计数器643累加计数；
[0095]第一比较器644，用于比较校验字节计数器643的值与数据包的数据量，当校验字节计数器643的值与数据包的数据量相同时，驱动第二比较器645进行传输校验；
[0096]第二比较器645，用于比较累加校验寄存器642的缓存值与校验字寄存器641的值进行传输校验，当累加校验寄存器642的缓存值与校验字寄存器641的值相同时，传输校验成功，将传输校验成功的结果发送到烧录控制模块61，通知烧录控制模块61向烧录设备发送确认信息，使得烧录设备发送待烧录的下一个数据包，当累加校验寄存器642的缓存值与校验字寄存器641的值不相同时，传输校验失败，通知烧录控制模块61向烧录设备发送非确认信息，使得烧录设备重传所述数据包。
[0097]具体地，传输校验模块64进行传输校验的过程详细说明如下:
[0098]数据包的传输校验与数据包缓存至静态存储器62的第一存储区621和第二存储区622是并行的。烧录控制模块61通过串行通信接口接收到烧录设备发送的数据包后，将数据包的数据(wdata)发送至静态存储器62缓存的同时，也将同样的数据wdata发送至传输校验模块64。
[0099]当需要缓存的数据(wdata)准备好的时候，写使能信号(wen)被置为有效，此时烧录控制模块61将wdata缓存到静态存储器62的第一存储区621或第二存储区622对应的存储地址