专利名称：一种基于散热装置的电子设备的老化方法
技术领域：
本发明涉及电子设备技术领域，具体涉及一种基于散热装置的电子设备的老化方法。
背景技术：
在无线通信系统的基站中，功放是功率最大、技术最复杂、配置数量最多、价格最昂贵的模块之一。
根据电子产品的特点，功放的生命周期曲线如附图1所示，从图1中可明显看出，功放在使用初期即早期失效期的失效率是非常高的，在渡过早期失效期后，进入到功放的使用寿命期时，功放进入到可靠的工作时期，失效率近似为一个常数，功放运行平稳，可靠性好。
目前，使功放在生产厂家即交付使用前通过早期失效期，让功放在交付使用时工作在使用寿命期的主要方法为老化。对功放进行老化，已成为功放生产过程中的一个重要的必经环节。
现有的对功放进行老化的方法，是将功放放在专门的高温老化房中，使用电能等资源进行加热，使高温老化房中的环境温度保持恒定高温，同时使功放在额定输出功率下运行。
由于功放的体积大，所以在大批量生产功放时，需要建造大量的专门的高温老化房，同时，由于高温老化房需要良好的封闭性以保持恒定温度，给老化过程中对功放工作状态的实时监控带来诸多不便，如果功放在老化过程中出现故障，难于及时发现，一般只有在长时间的老化过程结束后，对功放进行测试时，才能够发现有问题的功放，对其进行维修，不仅造成无效的老化过程，还耽误时间、浪费电能等资源及高温老化房的空间。
综上所述，现有的功放老化的方法由于高温老化房的建造成本高、大量使用电等能源加热、存在不必要的老化过程等原因，使功放的老化效率低、生产成本高，而且已成为功放大批量生产的瓶颈。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种基于散热装置的电子设备的老化方法，利用电子设备在工作状态时自身产生的热量对其进行老化，以简化电子设备的老化方法，降低电子设备的生产成本。
为达到上述目的，本发明提供的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，包括使电子设备在常温环境下处于工作状态，控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化。
所述电子设备包括无线通信系统的基站中的功放。
所述使电子设备在常温环境下处于工作状态的步骤包括将所述电子设备置于常温环境，并使所述电子设备在其额定输出功率下工作。
所述散热装置包括散热风扇。
所述方法还包括确定所述电子设备的老化温度，并监测所述电子设备的温度。
所述控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化的步骤具体为根据所述电子设备的老化温度、所述监测的电子设备的温度控制所述电子设备散热风扇的转速，对所述电子设备进行老化。
所述控制所述电子设备散热风扇的转速的步骤进一步包括根据预定的调整转速对所述电子设备散热风扇的转速进行相应调整；或根据所述电子设备的老化温度、所述监测的电子设备的温度计算散热风扇的调整转速，并根据所述计算的调整转速对所述电子设备散热风扇的转速进行相应调整。
所述控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化的步骤具体为控制所述散热风扇根据预定转速工作；根据所述电子设备的老化温度在所述电子设备的额定输出功率内控制所述电子设备的输出功率，对所述电子设备进行老化。
所述控制所述电子设备的输出功率的步骤进一步包括根据预定的调整功率对所述电子设备的输出功率进行相应调整；或根据所述电子设备的老化温度、所述监测的电子设备的温度计算电子设备的调整功率，并根据所述计算的调整功率对所述电子设备的输出功率进行相应调整。
所述方法还包括监测所述电子设备的工作状态；当监测到所述电子设备工作异常时，停止所述老化的过程。
通过上述技术方案的描述可明显得知，本发明通过控制电子设备的散热装置，使电子设备在常温环境下，利用其在工作状态下自身产生的热量即可以使电子设备完成老化过程；尤其当电子设备的体积较大时，如无线通信系统中基站的功放，由于本发明能够使功放在常温环境下进行老化，节约了大量建设高温老化房的成本及对高温老化房进行加热的电能等资源，为功放的大批量生产及投入运营奠定了良好的基础，而且本发明还可以方便的对老化过程中的功放进行实时监测，避免了无效的老化过程；本发明可以通过控制散热风扇的转速、控制散热风扇的转速和输出功率来实现电子设备的老化，实现方法简单、实现过程灵活；从而通过本发明提供的技术方案实现了简化电子设备的老化方法、提高电子设备的老化效率、降低电子设备的生产成本的目的。
图1是功放的生命周期曲线示意图；图2是本发明的实现功放老化的流程图1；图3是本发明的实现功放老化的流程图2。
具体实施例方式
电子设备在工作状态下都会产生一定的热量，大功率的电子设备在工作状态下，尤其是工作在其额定输出功率时，其自身产生的热量非常大，如无线通信系统中基站的功放，其自身就是一个大功率的模块，其在工作状态下的发热很厉害。
为使电子设备工作时产生的热量能够及时散发出去，给电子设备一个适宜温度的工作环境，一般的电子设备中都会配置有散热装置，如散热风扇、散热孔、散热片等。
本发明正是利用了电子设备在工作时产生热量、具有散热装置等特点来使电子设备在常温环境下实现老化。
本发明的核心为使电子设备在常温环境下处于工作状态，控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化。从而，本发明避免了建造高温老化房等老化设施，节约了电能等资源。
下面以无线通信系统中基站的功放为例，对本发明提供的技术方案做进一步的详细描述。
功放是基站中功率最大的设备之一，功放在高温老化房中进行老化过程时，高温老化房中的温度一般为50～55℃，此时，功放散热器基板的温度一般为80℃～85℃，我们可以将功放散热器基板的温度80℃～85℃确定为功放的老化温度。当功放在常温环境下工作时，会产生大量的热量，功放内部配置有散热风扇，通过控制功放的散热风扇，同样可以使工作于常温环境下的功放的温度达到其老化温度，如使功放散热器基板的温度保持在80℃～85℃，从而使功放能够在常温环境下进行其老化过程，达到与功放在高温老化房同样的老化效果。
本发明在利用功放自身产生的热量进行老化过程时，可以使功放在其额定输出功率下工作，再控制功放的散热风扇，能够使功放快速达到其老化温度，尽快开始功放的老化过程。
控制功放的散热风扇，使功放在常温环境下完成其老化过程的方法主要有两种方法一将功放置于常温环境中，确定功放的老化温度，如将功放散热器基板的温度80℃～85℃确定为功放的老化温度；使功放工作于恒定的输出功率下，如使功放在其额定输出功率下工作，由功放的CPU实时监测功放散热器基板的温度，根据功放的老化温度、监测到的功放散热器基板的温度来调整散热风扇的转速，以使功放散热器基板的温度保持在80℃～85℃，使功放进行其老化过程。
控制散热风扇的转速可以为根据预定的调整转速对散热风扇的转速进行相应调整，如当监测到的温度超过老化温度时，将散热风扇的转速相应提高5％，当监测到的温度低于老化温度时，将散热风扇的转速相应降低5％。
控制散热风扇的转速也可以为根据计算的调整转速对散热风扇的转速进行相应调整，如根据监测到的温度和功放的老化温度来计算散热风扇的调整转速等。
利用方法一实现功放在常温环境下完成其老化过程的流程如附图2所示。
在图2中，步骤200，确定功放散热器基板的温度80℃～85℃为功放的老化温度，使功放在其额定的输出功率下工作。
到步骤210，功放的CPU实时监测功放散热器基板的温度。
到步骤220，判断功放的老化温度和监测到的功放散热器基板的温度，如果监测到的功放散热器基板的温度没有达到超过80℃，则到步骤221，根据预定的调整转速将功放散热风扇的转速相应降低。
在步骤220，如果监测到的功放散热器基板的温度在80℃～85℃之间，则到步骤222，对功放散热风扇的转速不作调整，保持散热风扇原有的转速。
在步骤220，如果监测到的功放散热器基板的温度超过85℃，则到步骤223，根据预定的调整转速将功放散热风扇的转速相应提高。
当然，如果在实际应用中需要根据监测到的功放散热器基板的温度、老化温度来计算散热风扇的调整转速，则步骤221和步骤223也可以为根据监测到的功放散热器基板的温度、老化温度来计算散热风扇的调整转速，并根据计算出的调整转速将功放散热风扇的转速相应降低或提高。
方法二将功放置于常温环境中，确定功放的老化温度，如将功放散热器基板的温度80℃～85℃确定为功放的老化温度；使功放工作于恒定的输出功率下，如使功放在其较高的输出功率下工作，使功放的散热风扇工作在一个较低的恒定的转速下，在这样的输出功率和风扇转速下，功放散热器基板温度能够较快达到预定的老化温度；由功放的CPU实时监测功放散热器基板的温度，根据功放的老化温度、监测到的功放散热器基板的温度来调整功放的输出功率，以使功放散热器基板的温度保持在80℃～85℃，使功放进行其老化过程。
控制功放的输出功率可以为根据预定的调整功率对功放的输出功率进行相应调整，如当监测到的温度超过老化温度时，将功放的输出功率相应降低5％，当监测到的温度低于老化温度时，将功放的输出功率相应提高5％。
控制功放的输出功率也可以为根据计算的调整功率对功放的输出功率进行相应调整，如根据监测到的温度和功放的老化温度来计算功放的调整功率等。
在上述对功放的输出功率的调整过程中，功放的输出功率不能超过其额定输出功率，避免在老化过程中对功放在使用寿命等方面造成不良影响。
利用方法二实现功放在常温环境下完成其老化过程的流程如附图3所示。
在图3中，步骤300，确定功放散热器基板的温度80℃～85℃为功放的老化温度，使功放在其较高的输出功率下工作，并使功放的散热风扇工作在一个较低的恒定的转速下。
到步骤310，功放的CPU实时监测功放散热器基板的温度。
到步骤320，判断功放的老化温度和监测到的功放散热器基板的温度，如果监测到的功放散热器基板的温度没有达到超过80℃，则到步骤321，根据预定的调整功率将功放的输出功率相应提高。
在步骤320，如果监测到的功放散热器基板的温度在80℃～85℃之间，则到步骤322，对功放的输出功率不作调整，使功放保持原有的输出功率继续工作。
在步骤320，如果监测到的功放散热器基板的温度超过85℃，则到步骤323，根据预定的调整功率将功放的输出功率相应降低。
当然，如果在实际应用中需要根据监测到的功放散热器基板的温度、老化温度来计算散热风扇的调整转速，则步骤321和步骤323也可以为根据监测到的功放散热器基板的温度、老化温度来计算功放的调整功率，并根据计算出的调整功率将功放的输出功率相应提高或降低。
在实际应有中也可以将上述方法一和方法二结合起来使用，即在应用过程中通过同时/分别调整散热风扇的转速和功放的输出功率来使功放散热器基板的温度保持在老化温度，以进行功放的老化过程；如首先使功放在其额定的最高输出功率下工作，如果通过调整风扇的转速始终不能够使功放散热器基板的温度低于85℃，则采用降低功放输出功率的方法使功放散热器基板的温度保持在80℃～85℃之间；再如，首先使功放在其较高的输出功率下工作，并将功放的散热风扇在一个较低的恒定的转速下工作，如果通过调整功放的输出功率始终不能够使功放散热器基板的温度达到80℃，则采用降低功放散热风扇转速的方法使功放散热器基板的温度保持在80℃～85℃之间。
由于本发明能够在开放的常温环境中进行功放的老化过程，所以，能够方便的对老化过程中的功放的工作状态进行实时监控，如检测功放的输出功率、电压、电流、告警指示等。在监控过程中一旦发现功放的出现异常，则可以及时停止功放的老化过程，对功放进行及时的检修处理，避免了不必要的老化过程，提高功放的老化效率。
虽然通过实施例描绘了本发明，本领域普通技术人员知道，本发明有许多变形和变化而不脱离本发明的精神，如上述实施例中描述的CPU实时监测功放散热器基板的温度的步骤，也可以为CPU根据预定时间间隔定时检测功放散热器基板的温度，希望所附的权利要求包括这些变形和变化。
权利要求
1.一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于包括使电子设备在常温环境下处于工作状态，控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化。
2.如权利要求1所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述电子设备包括无线通信系统的基站中的功放。
3.如权利要求1或2所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述使电子设备在常温环境下处于工作状态的步骤包括将所述电子设备置于常温环境，并使所述电子设备在其额定输出功率下工作。
4.如权利要求1或2所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述散热装置包括散热风扇。
5.如权利要求4所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述方法还包括确定所述电子设备的老化温度，并监测所述电子设备的温度。
6.如权利要求5所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化的步骤具体为根据所述电子设备的老化温度、所述监测的电子设备的温度控制所述电子设备散热风扇的转速，对所述电子设备进行老化。
7.如权利要求6所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述控制所述电子设备散热风扇的转速的步骤进一步包括根据预定的调整转速对所述电子设备散热风扇的转速进行相应调整；或根据所述电子设备的老化温度、所述监测的电子设备的温度计算散热风扇的调整转速，并根据所述计算的调整转速对所述电子设备散热风扇的转速进行相应调整。
8.如权利要求5所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化的步骤具体为控制所述散热风扇根据预定转速工作；根据所述电子设备的老化温度在所述电子设备的额定输出功率内控制所述电子设备的输出功率，对所述电子设备进行老化。
9.如权利要求8所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述控制所述电子设备的输出功率的步骤进一步包括根据预定的调整功率对所述电子设备的输出功率进行相应调整；或根据所述电子设备的老化温度、所述监测的电子设备的温度计算电子设备的调整功率，并根据所述计算的调整功率对所述电子设备的输出功率进行相应调整。
10.如权利要求1或2所述的一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其特征在于所述方法还包括监测所述电子设备的工作状态；当监测到所述电子设备工作异常时，停止所述老化的过程。
全文摘要
本发明提供一种基于散热装置的电子设备的老化方法，其核心为使电子设备在常温环境下处于工作状态，控制电子设备的散热装置，对电子设备进行老化。本发明能够使电子设备尤其是体积较大的电子设备如功放等在常温环境下进行老化，节约了大量建设高温老化房的成本及对高温老化房进行加热的电能等资源，为电子设备的大批量生产及投入运营奠定了良好的基础，而且本发明还可以方便的对老化过程中的功放进行实时监测，避免了无效的老化过程；本发明实现方法简单、实现过程灵活；从而实现了简化电子设备的老化方法、提高电子设备的老化效率、降低电子设备的生产成本的目的。
文档编号H01L21/66GK1755381SQ20041008482
公开日2006年4月5日 申请日期2004年9月30日 优先权日2004年9月30日
发明者殷为民, 张孝铁, 金宇 申请人:华为技术有限公司