专利名称：84线陶瓷四边引线片式载体老化测试插座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对84线陶瓷四边引线片式载体 元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。
背景技术：
目前，在我国可靠性技术领域，国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温 普通工程塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25'C +85'C，且老化工作时 间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、 一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，陶瓷四边引线片 式载体元器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验的专用装置，不能满足对器件性能指 标的测试要求，容易引发工程质量事故。发明内容为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实 用新型提供一种高温老化测试试验插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25°C +85'C 扩大到-65°C +150°C， 一次老化连续工作时间长达1000h (150°C)以上，插拔寿命5000次 以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触电阻小、 一致性 好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿 命。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是按照84线陶瓷四边引线片式载体元器件 的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座 体主要由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型工艺技 术制造成插座本体，插座体的座、盖、钩及压块和定位板可起压紧装置作用，当钩受力向下 翻转与座啮合时，使盖及安装在盖上的压块产生位移，由于压块向下运动，被试器件压紧接 触件，而定位板四个脚上的压簧有很好的弹性，促使插座达到更好的压紧效果。此产品在同 一系列中属于小节距结构，接触件的节距为1.27mm，接触件以铍青铜材料冲压成型，经300 'C高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中 心对称、四面排列形式组成。该实用新型还采用由定位板和压块组成定位装置的新样式，被 试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上，通电后进行高温老化试验和性能测试。这 种翻盖式结构设计成零插拔力式的结构，可避免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、 一致性差和机械寿 命不长的技术难点，还可以满足被试器件不同引线的要求。本实用新型的有益效果是该实用新型可以满足军民通用84线和其它同类陶瓷四边引线 片式载体元器件高温老化试验和性能测试；本实用新型的研制成功填补了国内空白，替代进 口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。
以下结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。 图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。 图2是本实用新型外型结构俯视图。图l: l前脚簧片(接触件)2后脚簧片(接触件)3座4压簧 5定位板 6大扭簧7小扭簧8轴9轴10压板11盖12压簧13轴14钩具体实施方式
在图1中，第一步将接触件即前脚簧片1和后脚簧片2按与被试器件引出线相对应的 结构插入座3中；将钩14、压簧12、轴13装入盖11内；第二步将压簧4和定位板5装入 座3内；将压板IO、轴8和小扭簧7装入盖11内；第三步再将装好的盖ll、轴9和大扭簧6装入座3内。该方案中，插座体用于被试器件的自动压紧，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧和零插拔力结构 安装于插座体的座中；还采用由定位板和压块进行定位的新样式，被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。
权利要求1. 一种适用于84线陶瓷四边引线片式载体老化测试插座，其特征是它是由插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成，插座体由座、盖和钩组成，用于被试器件的自动压紧，插座体选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2. 根据权利要求1所述的84线陶瓷四边引线片式载体老化测试插座，其特征是插座体 和接触件是一个统一整体，接触件由对称的84线、1.27mm细节距的镀金簧片纵向排列组成， 分别安装于座的4面凹槽中。
3. 根据权利要求1所述的84线陶瓷四边引线片式载体老化测试插座，其特征是插座的 锁紧装置由座、钩、压块和定位板组成，定位板四个脚上的压簧有很好的弹性力，促使插座 更好的达到锁紧的效果，这种翻盖式结构把接触件设计成自动压紧锁、零插拔力结构。 4.根据权利要求1所述的84线陶瓷四边引线片式载体老化测试插座，其特征是插座的定位 装置由压块和定位板组成，被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。
专利摘要本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对84线陶瓷四边引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按84线陶瓷四边引线片式载体元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型，插座体还起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件压紧接触件。接触件以铍青铜材料冲压成型，采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。插座由定位板和压块组成定位装置，被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上，通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。
文档编号H01R13/46GK201112800SQ200720109309
公开日2008年9月10日 申请日期2007年5月10日 优先权日2007年5月10日
发明者曹宏国 申请人:曹宏国