专利名称：40线陶瓷无引线片式载体老化测试插座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对40线陶瓷无引线片式载体元 器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。
背景技术：
目前，在我国可靠性技术领域，国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温 普通工程塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25°C +85°C，且老化工作时 间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、 一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，陶瓷无引线片式 载体元器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验的专用装置，不能满足对器件性能指标 的测试要求，容易引发工程质量事故。发明内容为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实 用新型提供一种高温老化测试试验插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25°C +85°C 扩大到-65°C +150°C， 一次老化连续工作时间长达1000h (150°C)以上，插拔寿命5000次 以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触电阻小、 一致性 好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿 命。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是按照40线陶瓷无引线片式载体元器件的 结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和 钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用 于被试器件的定位安装，同时插座体可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使盖产生位移，从而使被试器件压紧接触件；接触件以铍青铜材料冲压成型，经30(TC高温淬 火处理及电镀硬金层技术表面镀金，此产品在同系列的产品中属于小节距结构设计，接触件 的节距只有lmm，并由轴向对称的四面簧片组成，并与被试器件引出线相对应的方式，安装 于插座体座上。通电后进行高温老化试验和性能测试。这种翻盖式机构把接触件设计成零插 拔力的结构，以避免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试 验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、 一致性差和机械寿命不长的技术难点，且可 以满足被试器件40线内不同引线的要求。本实用新型的有益效果是该实用新型可以满足军民通用40线型和其它同类陶瓷无引线 片式载体元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外汇， 为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。
以下结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。 图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。 图2是本实用新型外型结构俯视图。图l l座2后脚簧片3前脚簧片4轴5大扭簧6盖7小扭簧8钩 具体实施方案在图1中，第一步将接触件即前脚簧片3和后脚簧片2按与被试器件引出线相对应结 构插入座l中；将钩8、小扭簧7和轴4装入盖6内；第二步再将装好的盖6、大扭簧5和 轴4装入座1内。该方案中，插座体用于被试器件的安装定位，同时还起着压紧装置的作用， 当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件 引出线相对应、自动压紧和零插拔力结构安装于插座体的座中。
权利要求1. 一种适用于40线陶瓷无引线片式载体老化测试插座，其特征是它是由插座体和接触件两个部分统一组成，插座体由座、盖和钩组成，插座体选用进口的耐高温型特种高温工作塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，用于被试器件的自动压紧，接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2. 根据权利要求1所述的40线陶瓷无引线片式载体老化测试插座，其特征是插座体和 接触件是一个统一整体，接触件由轴向对称的40线、lmm间距的镀金簧片四面排列组成，分 别安装于座的4面凹槽中。
3. 根据权利1所述的40线陶瓷无引线片式载体老化测试插座，其特征是插座的压紧装 置由座、钩组成，这种翻盖式结构把接触件设计成自动压紧式、零插拔力结构。
专利摘要本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对40线陶瓷无引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。按照40线陶瓷无引线片式载体元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型，用于被试器件的定位安装，同时插座体可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使被试器件压紧接触件；接触件以铍青铜材料冲压成型，由轴向对称的四面簧片组成，并与被试器件引出线相对应，安装于插座体座上。通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。
文档编号H01R13/639GK201112803SQ20072010931
公开日2008年9月10日 申请日期2007年5月10日 优先权日2007年5月10日
发明者曹宏国 申请人:曹宏国