一种超结VDMOS器件的制作方法

文档序号:11990338阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种超结VDMOS器件,其特征在于,该器件包括叠加设置的N+衬底、第一N-外延层、第二N-外延层,所述第一N-外延层内设置有P型区,所述第二N-外延层内设置有P-pillar区,所述P-pillar区与P型区对齐。

2.根据权利要求1所述的超结VDMOS器件,其特征在于:所述P-pillar区与P型区之间的距离为3um到20um。

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