减少模拟浮栅存储器中的保持损失的制作方法

文档序号:11142569阅读:来源:国知局
技术总结
对集成电路执行调节过程,所述集成电路包括浮栅器件,例如模拟或其他电路中的浮栅电容器或晶体管,在模拟或其他电路中所述器件被编程到特定电平。在将浮栅器件初始编程(22)到特定编程电平之后,对集成电路进行调节烘烤(24),然后重新修整(26)回到初始编程电平。在浮栅器件处弱保留的那部分电荷通过调节烘烤移除,而重新修整用更强保留(更高的活化能)编程电荷代替该电荷。

技术研发人员:A·T·米切尔
受保护的技术使用者:德克萨斯仪器股份有限公司
文档号码:201580031217
技术研发日:2015.06.12
技术公布日:2017.02.15

当前第3页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1