1.一种X射线图像传感器，其特征在于，所述X射线图像传感器至少包括：
两组图像探测模块，各图像探测模块分别包括扫描驱动电路、读出电路及像素阵列；
所述扫描驱动电路用于输出驱动信号以控制像素单元的开关；
所述读出电路包括多个读出单元，用于读出像素单元中的电荷；
所述像素阵列由多个像素单元组成，各像素单元包括TFT开关及光电二极管，所述TFT开关的第一电极连接所述读出电路、第二电极连接所述光电二极管的阴极、第三电极连接所述扫描驱动电路；所述光电二极管的阳极连接一负电压；
其中，第一像素阵列中同一列像素单元中的TFT开关的第一电极连接同一读出单元，所述第一像素阵列中同一行像素单元中的TFT开关的第三电极连接第一扫描驱动电路输出的同一驱动信号；第二像素阵列中同一列像素单元中的TFT开关的第一电极连接同一读出单元，所述第二像素阵列中同一行像素单元中的TFT开关的第三电极连接第二扫描驱动电路输出的同一驱动信号。
2.根据权利要求1所述的X射线图像传感器，其特征在于：所述TFT开关为NMOS器件；所述TFT开关的第一电极为漏极、第二电极为源极、第三电极为栅极。
3.根据权利要求1所述的X射线图像传感器，其特征在于：所述TFT开关为PMOS器件；所述TFT开关的第一电极为源极、第二电极为漏极、第三电极为栅极。
4.根据权利要求1所述的X射线图像传感器，其特征在于：所述读出单元包括放大器及一积分电容，所述放大器的反相输入端连接所述TFT开关的第一电极、正相输入端连接一参考电压，所述积分电容连接于所述放大器的反相输入端及所述放大器的输出端之间。
5.一种校正图像干扰的方法，其特征在于，所述校正图像干扰的方法至少包括：
在曝光前，第一扫描驱动电路及第二扫描驱动电路输出驱动时序，以清除像素单元中的残留电荷；
停止输出驱动时序，进行曝光操作；
待曝光结束后，所述第一扫描驱动电路及所述第二扫描驱动电路分别输出两组驱动信号对第一像素阵列及第二像素阵列中的图像进行采集，各像素阵列中暗场图像的采集滞后于同一行亮场图像的采集一行采集时间，下一行亮场图像的采集滞后于上一行暗场图像的采集一行采集时间；所述第二像素阵列中的亮场图像的采集滞后于所述第一像素阵列中对应行的亮场图像的采集一行采集时间，所述第二像素阵列中的暗场图像的采集滞后于所述第一像素阵列中对应行的暗场图像的采集一行采集时间；
使用采集到的暗场图像校正采集到的亮场图像，以消除亮场图像中的时间干扰及空间干扰。
6.根据权利要求5所述的校正图像干扰的方法，其特征在于：采集图像的方法进一步包括：
所述第一扫描驱动电路输出第一驱动信号，所述第一像素阵列中第一行像素单元中的亮场图像被采集；
所述第一扫描驱动电路再次输出第一驱动信号，所述第一像素阵列中第一行像素单元中的暗场图像被采集；同时，所述第二扫描驱动电路输出第一驱动信号，所述第二像素阵列中第一行像素单元中的亮场图像被采集；
所述第一扫描驱动电路输出第二驱动信号，所述第一像素阵列中第二行像素单元中的亮场图像被采集；同时，所述第二扫描驱动电路再次输出第一驱动信号，所述第二像素阵列中第一行像素单元中的暗场图像被采集；
所述第一扫描驱动电路再次输出第二驱动信号，所述第一像素阵列中第二行像素单元中的暗场图像被采集；同时，所述第二扫描驱动电路输出第二驱动信号，所述第二像素阵列中第二行像素单元中的亮场图像被采集；
依次类推，在所述第二像素阵列中最后一行亮场图像采集的同时对所述第一像素阵列中最后一行暗场图像进行采集。
7.根据权利要求5所述的校正图像干扰的方法，其特征在于：所述校正图像干扰的方法进一步包括：使用所述第一像素阵列中第n行的暗场图像校正所述第二像素阵列中第n行亮场图像，使用所述第二像素阵列中第n行的暗场图像校正所述第一像素阵列中第n+1行亮场图像，其中，n为大于零的自然数。
8.根据权利要求5所述的校正图像干扰的方法，其特征在于：所述时间干扰包括温度导致的漏电漂移。
9.根据权利要求5所述的校正图像干扰的方法，其特征在于：所述空间干扰包括电磁干扰、振动干扰。