GaN芯片及其制作方法与流程

文档序号:11388176阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明公开了一种GaN芯片及其制作方法。GaN芯片包括硅衬底、SiN或AlN成核层、掺杂GaN缓冲层、AlN或GaN隔离层、GaN/InGaN/AlN/GaN双异质结和氧化铝栅介质;GaN/InGaN/AlN/GaN双异质结由下至上,依次设置未掺杂GaN缓冲层、AlN势垒层、InGaN势垒层和GaN帽层;SiN或AlN成核层设置在硅衬底的上面,掺杂GaN缓冲层设置在SiN或AlN成核层的上面,AlN或GaN隔离层设置在掺杂GaN缓冲层的上面,氧化铝栅介质设置在GaN帽层的上面。本发明改善了GaN基晶体管的性能,提高了GaN芯片的工作可靠性,应用于可穿戴设备导航芯片,提升了导航精度。

技术研发人员:何宏波;徐静
受保护的技术使用者:四川北斗卫星导航平台有限公司
技术研发日:2017.04.21
技术公布日:2017.09.05
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