一种晶元测试矫正抓手的制作方法

文档序号:14440602阅读:来源:国知局
一种晶元测试矫正抓手的制作方法

技术特征:

1.一种晶元测试矫正抓手,其特征在于,包括固定底座,所述固定底座上设有底板,所述底板上设有两个相背设置的气缸,所述气缸的输出端连接有安装板,所述安装板上连接有固定板,并通过两个第一螺钉固定;所述固定板的两端分别设有抓手,所述抓手包括L形板体,所述L形板体的短边下部设有安装部,所述L形板体的短边从所述固定板的边缘插入,并通过第二螺钉插于所述安装板上。

2.根据权利要求1所述的晶元测试矫正抓手,其特征在于,所述固定底座上设有两个端部贴合连接的定位板,所述底板通过第三螺钉固定于所述定位板上。

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