CMOS图像传感器及其形成方法与流程

文档序号:14942014发布日期:2018-07-13 21:10阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
一种CMOS图像传感器及其形成方法,所述方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底包括光电二极管区域、掺杂区域以及沟道区域;在所述光电二极管区域周围的半导体衬底内形成沟槽,所述沟槽自所述沟道区域开始并向所述光电二极管区域的远端延伸,所述远端为所述光电二极管区域远离所述沟道区域的一端;在所述沟槽内形成隔离介质层以及延伸栅极;对所述光电二极管区域以及掺杂区域进行离子注入;在所述沟道区域的半导体衬底表面依次形成栅介质层和传输栅极,所述传输栅极位于所述栅介质层表面,其中,所述传输栅极与所述延伸栅极连接。本发明方案可以减少在光电二极管区域远端的电荷残留,有助于提高器件性能。

技术研发人员:汤茂亮;柯天麒;姜鹏
受保护的技术使用者:德淮半导体有限公司
技术研发日:2018.01.15
技术公布日:2018.07.13
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