集成电路芯片的封装结构及其制造方法与流程

本发明涉及半导体集成电路领域，特别是涉及一种集成电路芯片的封装结构。本发明还涉及一种集成电路芯片的温度保持方法。

背景技术：

由于集成电路芯片应用环境多变，当出现低温环境时，芯片的集成电路特性将发生偏移。在极端情况下甚至出现短暂失效或经过内部误触发的不可逆操作导致永久失效，造成用户损失。

目前已知的保持芯片的集成电路温度的方法有若干，例如芯片外加装加热器的方法、对电路板整体覆盖保温层或液体循环系统加热的方法等等，协助芯片维持工作温度不致过低。。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是提供一种集成电路芯片的封装结构，能减少芯片的热散失，避免集成电路在过度低温工况下出现异常以及由此导致的客户损失。为此，本发明还提供一种集成电路芯片的温度保持方法。

为解决上述技术问题，本发明提供的集成电路芯片的封装结构中，芯片上的集成电路中包括温度敏感电路，所述温度敏感电路在工作温度降低时出故障几率增加；封装结构包括：

导热层，所述导热层至少将所述温度敏感电路的正面和侧面完全包覆；

绝热层，所述绝热层形成在所述导热层的表面并将所述导热层包覆；

所述导热层形成使所述导热层包覆的区域的各位置的温度均匀的结构，所述绝热层形成防止所述绝热层包覆的区域散热从而使所述绝热层包覆的区域的温度得到保持的结构，从而能使所述芯片的工作温度的范围的低温端得到扩展。

进一步的改进是，所述导热层将整个所述芯片的正面和侧面完全包覆。

进一步的改进是，所述芯片的正面形成有钝化层。

进一步的改进是，所述导热层的材料采用导热硅橡胶；所述绝热层的材料采用发泡聚酰亚胺。

进一步的改进是，在所述钝化层中形成有开口，在所述开口处形成由所述集成电路的电极引出衬垫。

进一步的改进是，所述芯片上的集成电路中设置有由加热金属层组成的加热电路，所述导热层也将所述加热电路包覆。

进一步的改进是，所述封装结构还包括外部封装装置，所述外部封装装置将形成有所述导热层和所述绝热层的所述芯片完全包覆；所述外部封装装置的材料包括塑料或陶瓷。

进一步的改进是，在所述芯片的底部表面还形成有框架和地线板，所述芯片底部的所述外部封装装置将所述框架和地线板的底部表面覆盖。

进一步的改进是，金线穿过所述外部封装装置、所述绝热层和所述导热层和对应的所述电极引出衬垫连接。

为解决上述技术问题，本发明提供的集成电路芯片的封装结构的制造方法，其特征在于，芯片上的集成电路中包括温度敏感电路，所述温度敏感电路在工作温度降低时出故障几率增加；所述芯片的正面形成有钝化层，在所述钝化层中形成有开口，在所述开口处形成由所述集成电路的电极引出衬垫；封装结构的形成步骤包括：

步骤一、以所述钝化层为衬底，采用沉积或涂布工艺形成导热层，所述导热层至少将所述温度敏感电路的正面和侧面完全包覆；所述导热层形成使所述导热层包覆的区域的各位置的温度均匀的结构。

步骤二、采用沉积或涂布工艺形成绝热层，所述绝热层形成在所述导热层的表面并将所述导热层包覆。

所述绝热层形成防止所述绝热层包覆的区域散热从而使所述绝热层包覆的区域的温度得到保持的结构，从而能使所述芯片的工作温度的范围的低温端得到扩展。

进一步的改进是，所述导热层将整个所述芯片的正面和侧面完全包覆。

进一步的改进是，所述导热层的材料采用导热硅橡胶；所述绝热层的材料采用发泡聚酰亚胺。

进一步的改进是，所述芯片上的集成电路中设置有由加热金属层组成的加热电路，所述导热层也将所述加热电路包覆。

进一步的改进是，还包括步骤：

步骤三、所述芯片的底部表面形成框架和地线板。

步骤四、形成外部封装装置，所述外部封装装置将形成有所述导热层、所述绝热层和所述框架和地线板的所述芯片完全包覆；所述外部封装装置的材料包括塑料或陶瓷。

进一步的改进是，还包括步骤：

步骤五、形成金线，所述金线穿过所述外部封装装置、所述绝热层和所述导热层和对应的所述电极引出衬垫连接。

本发明针对芯片上的集成电路中包括在低温可能会出故障的温度敏感电路的特点专门设计了至少覆盖温度敏感电路的导热层和绝热层，导热层能使所覆盖的区域的温度均匀，绝热层能防止所覆盖的区域散热，最后能很好的使绝热层包覆的区域的温度得到保持，从而能使所述芯片的工作温度的范围的低温端得到扩展，也从而能扩宽温度敏感电路的工作温度的范围，而由于其他集成电路本身能在低温范围工作，所以本发明能扩宽整个芯片的工作温度的范围，也即能防止芯片在低温工作时出现短暂失效或永久失效。

另外，本发明仅是通过对封装结构进行改进即可实现，工艺简单且成本低；还能大大降低芯片器件的温漂精度要求，降低可靠性风险，提升制造工艺窗口，帮助客户延长芯片低温寿命、降低低温出错率，提升客户段位。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：

图1是本发明实施例集成电路芯片的封装结构的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，是本发明实施例集成电路2芯片1的封装结构的结构示意图，本发明实施例集成电路2芯片1的封装结构中，芯片1上的集成电路2中包括温度敏感电路，所述温度敏感电路在工作温度降低时出故障几率增加；封装结构包括：

导热层4，所述导热层4至少将所述温度敏感电路的正面和侧面完全包覆。

绝热层5，所述绝热层5形成在所述导热层4的表面并将所述导热层4包覆。

所述导热层4形成使所述导热层4包覆的区域的各位置的温度均匀的结构，所述绝热层5形成防止所述绝热层5包覆的区域散热从而使所述绝热层5包覆的区域的温度得到保持的结构，从而能使所述芯片1的工作温度的范围的低温端得到扩展，也从而能扩宽所述芯片1的工作温度的范围。

本发明实施例中，所述导热层4将整个所述芯片1的正面和侧面完全包覆。

所述芯片1的正面形成有钝化层3。所述钝化层3的材料为氮化硅。

在所述钝化层3中形成有开口，在所述开口处形成由所述集成电路2的电极引出衬垫。

本发明实施例中，所述芯片1上的集成电路2中设置有由加热金属层组成的加热电路，所述导热层4也将所述加热电路包覆。在其它实施例中，也能不设置所述加热电路。也即所述加热电路能根据实际需要进行选择性的设置，设置所述加热装置时能进一步提供加热功能。

所述封装结构还包括外部封装装置7，所述外部封装装置7将形成有所述导热层4和所述绝热层5的所述芯片1完全包覆。

在所述芯片1的底部表面还形成有框架和地线板6，所述芯片1底部的所述外部封装装置7将所述框架和地线板6的底部表面覆盖。

金线8穿过所述外部封装装置7、所述绝热层5和所述导热层4和对应的所述电极引出衬垫连接。

本发明实施例针对芯片1上的集成电路2中包括在低温可能会出故障的温度敏感电路的特点专门设计了至少覆盖温度敏感电路的导热层4和绝热层5，导热层4能使所覆盖的区域的温度均匀，绝热层5能防止所覆盖的区域散热，最后能很好的使绝热层5包覆的区域的温度得到保持，从而能使所述芯片1的工作温度的范围的低温端得到扩展，也从而能扩宽温度敏感电路的工作温度的范围，而由于其他集成电路2本身能在低温范围工作，所以本发明实施例能扩宽整个芯片1的工作温度的范围，也即能防止芯片1在低温工作时出现短暂失效或永久失效。

另外，本发明实施例仅是通过对封装结构进行改进即可实现，工艺简单且成本低；还能大大降低芯片1器件的温漂精度要求，降低可靠性风险，提升制造工艺窗口，帮助客户延长芯片1低温寿命、降低低温出错率，提升客户段位。

本发明实施例集成电路2芯片1的封装结构的制造方法中，芯片1上的集成电路2中包括温度敏感电路，所述温度敏感电路在工作温度降低时可能会出故障；所述芯片1的正面形成有钝化层3，在所述钝化层3中形成有开口，在所述开口处形成由所述集成电路2的电极引出衬垫；封装结构的形成步骤包括：

步骤一、以所述钝化层3为衬底，采用沉积或涂布工艺形成导热层4，所述导热层4至少将所述温度敏感电路的正面和侧面完全包覆；所述导热层4形成使所述导热层4包覆的区域的各位置的温度均匀的结构。

本发明实施例方法中，所述导热层4将整个所述芯片1的正面和侧面完全包覆。

所述钝化层3的材料为氮化硅。

所述芯片1上的集成电路2中设置有由加热金属层组成的加热电路，所述导热层4也将所述加热电路包覆。在其它实施例方法中，也能不设置所述加热电路。也即所述加热电路能根据实际需要进行选择性的设置，设置所述加热装置时能进一步提供加热功能。

步骤二、采用沉积或涂布工艺形成绝热层5，所述绝热层5形成在所述导热层4的表面并将所述导热层4包覆。

所述绝热层5形成防止所述绝热层5包覆的区域散热从而使所述绝热层5包覆的区域的温度得到保持的结构，从而能使所述芯片1的工作温度的范围的低温端得到扩展，也从而能扩宽所述芯片1的工作温度的范围。

步骤三、所述芯片1的底部表面形成框架和地线板6。

步骤四、形成外部封装装置7，所述外部封装装置7将形成有所述导热层4、所述绝热层5和所述框架和地线板6的所述芯片1完全包覆。

步骤五、形成金线8，所述金线8穿过所述外部封装装置7、所述绝热层5和所述导热层4和对应的所述电极引出衬垫连接。

以上通过具体实施例对本发明进行了详细的说明，但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下，本领域的技术人员还可做出许多变形和改进，这些也应视为本发明的保护范围。